《整数匝与非整数匝在磁性元件应用中的比较分析》1300字_第1页
《整数匝与非整数匝在磁性元件应用中的比较分析》1300字_第2页
《整数匝与非整数匝在磁性元件应用中的比较分析》1300字_第3页
《整数匝与非整数匝在磁性元件应用中的比较分析》1300字_第4页
全文预览已结束

下载本文档

版权说明:本文档由用户提供并上传,收益归属内容提供方,若内容存在侵权,请进行举报或认领

文档简介

整数匝与非整数匝在磁性元件应用中的比较分析综述1.1建立整数匝在磁性元件中电磁场模型图1.1整数匝变压器结构图如图1.1所示,用Maxwell建立了整数匝在磁场中的模型,变压器为传统的E型,匝数为10匝。1.2建立分数匝变压器模型并分析对于采用铁氧体磁芯的传统E型磁性元件,在工程上其绕组匝数一般采用整数匝的形式,如图1.1所示。但在一些特殊的场合中,为了方便PCB布线等要求,也存在绕组多“半匝”或少“半匝”的情况(这里称之为分数匝绕组)。整数匝绕组磁件的分析方法目前已经研究较多,而分数匝绕组的分析则相对较少。分数匝绕组相对于整数匝绕组的理论分析是否是单纯将整数匝绕组的匝数换成相应的分数匝呢?它是否与整数匝绕组具有一样的磁芯饱和特性与变压器耦合特性呢?目前对于这些问题尚无完整的分析结果。(a)整数匝和分数匝绕组(b)分数匝变压器磁场结构图图1.1结构体1.2.1分数匝变压器的优势对于传统的中柱开气隙而边柱无气隙的整数匝磁件中,其磁通分布图如1.2(a)所示。(a)磁力线分布图(b)整数匝磁件中柱及边柱B大小图1.2整数匝磁件中磁芯的B的分布设中柱截面积为A。,则边柱的截面积为Ae/2。当磁件绕组为整数匝时。中柱中的磁通密度B0,边柱中的磁通密度且为: B0=B1=综合式(4-1)和式(3-2)可得整数匝磁芯中的B的大小,如图8(b)所示。图中磁芯中柱中的B与R0/R。无关。在传统的中边开气隙而边柱无气隙的分数匝磁件中,磁芯中的磁力线分布图如图9所示。其中Loopl是由中柱N匝绕组所产生的磁力线分布图;Loop1为1匝边柱绕组所产生的磁力线分布图。这里要说明的是Loop0中由于磁芯边柱无气隙而使得边柱的磁阻远小于中柱的磁阻,磁力线均集中在边柱中。图1.3分数匝磁件中磁芯的磁力线分布图综合式(2)、(3)及(7)可得分数匝磁芯中的B的大小,如图1.2所示。从图1.2(a)中可看出R<<R0中柱磁通密度B与R0/R1。变化无关而在边柱中,边柱磁通密度B随R0/R1的变化而剧烈变化。当R1越小时,边柱的B越大。因而对于传统边柱无气隙的E型磁件,分数匝绕组由于边柱气隙接近于零,因而极易出现边柱磁芯饱和的问题。(a)分数匝中柱B的大小(b)分数匝边柱B大小图1.4分数匝磁件中柱及边柱B大小1.2.2分数匝变压器的劣势由1.2.1部分的分析可知,传统边柱无气隙的E型磁件在分数匝的场合中易出现边柱磁饱和和漏感大的缺点。而导致这两个问题出现的根本原因为:1)分数匝绕组;2)磁芯中柱气隙远大于边柱气隙。分数匝绕组在不可避免的情况下,只能通过优化磁芯的结构,使中柱气隙不会远大于边柱气隙。在这方面可采用分布气隙的方式,即在E型磁件的三个柱上均开气隙,但这增加了磁件的生产和加工的难度。另一种方式即改变传统磁件的磁芯结构。UUI型磁件在损耗和成本控制上有相当的优势,是新生的优秀磁芯结构。1.3本章小结结论本文对分数匝式的磁件的电感稳定性、磁芯偏磁特性及耦合特性进行了详细的分析和比较,得到的结论如下:(1)传统的分数匝E型磁件的电感值依赖于边柱与中柱磁阻的比值,感量稳定性差;其磁心由于1匝原边边柱绕组及边柱无气隙的影响,边柱中存在较大的偏磁,极易饱和;同时其变压器漏感除了整数匝绕组所产生的漏感外;还包含由1匝原边边柱绕

温馨提示

  • 1. 本站所有资源如无特殊说明,都需要本地电脑安装OFFICE2007和PDF阅读器。图纸软件为CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.压缩文件请下载最新的WinRAR软件解压。
  • 2. 本站的文档不包含任何第三方提供的附件图纸等,如果需要附件,请联系上传者。文件的所有权益归上传用户所有。
  • 3. 本站RAR压缩包中若带图纸,网页内容里面会有图纸预览,若没有图纸预览就没有图纸。
  • 4. 未经权益所有人同意不得将文件中的内容挪作商业或盈利用途。
  • 5. 人人文库网仅提供信息存储空间,仅对用户上传内容的表现方式做保护处理,对用户上传分享的文档内容本身不做任何修改或编辑,并不能对任何下载内容负责。
  • 6. 下载文件中如有侵权或不适当内容,请与我们联系,我们立即纠正。
  • 7. 本站不保证下载资源的准确性、安全性和完整性, 同时也不承担用户因使用这些下载资源对自己和他人造成任何形式的伤害或损失。

最新文档

评论

0/150

提交评论