【正版授权-英语版】 IEC 60749-26:2025 EN Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)

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标准号：IEC 60749-26:2025 EN
标准名称：半导体器件-机械和气候测试方法-第26部分：静电放电(ESD) 灵敏度测试-人体模型(HBM)
英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)
标准状态：现行
发布日期：2025-12-23

静电放电(ESD)灵敏度测试-人体模型(HBM)标准的内容如下：

静电放电敏感度测试是半导体器件的重要测试之一，它用于评估半导体器件在受到静电放电时的性能。IEC60749-26:2025EN半导体器件机械和气候试验方法第26部分：静电放电(ESD)灵敏度测试-人体模型(HBM)规定了静电放电敏感度测试的详细方法和要求。

测试方法包括以下步骤：

1.准备测试环境：测试应在无尘室进行，温度和湿度应控制在规定范围内。

2.测试样品准备：半导体器件应放置在适当的包装中，以确保在测试过程中不受外部干扰。

3.静电放电模拟器：使用静电放电模拟器产生模拟静电放电的电压和电流，对半导体器件进行放电。

4.测量参数：测试过程中，应测量半导体器件的电位、电流、功率等参数，以评估其受静电放电影响的程度。

人体模型(HBM)测试是一种常用的静电放电敏感度测试方法，它通过模拟人体的带电情况和与半导体器件的接触来评估器件的抗静电能力。在进行人体模型测试时，应注意以下事项：

1.测试人员应穿戴防静电服和鞋帽等，并使用防静电设备与半导体器件接触。

2.测试前，应进行人体模型与半导体器件之间的接地处理，以确保测试结果的准确性。

3.测试过程中，应密切关注半导体器件的参数变化，以确保其符合规定要求。

IEC60749-26:2025EN半导体器件机械和气候试验方法第26部分：静电放电(ESD)灵敏度测试-人体模型(HBM)标准规定了静电放电敏感度测试的详细方法和要求，以确保半导体器件在生产和使

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