JIS C 3216-6-2011 绕组线.试验方法.第6部分-热力性能

C3216-6:2011序文 11適用範囲 12引用規格 13耐熱衝撃(エナメル線及びテープ巻線に適用) 23.1試験片 23.2試験手順 23.3結果 24耐軟化(公称導体径0.100mmを超え1.600mm以下のエナメル丸線及びテープ巻丸線に適用) 24.1試験装置 24.2試験手順 35温度指数 4 45.2テープ巻線 46加熱減量(エナメル丸線に適用) 46.1試験片 46.2試験手順 4附属書A(参考)高温中破壊試験(エナメル丸線に適用) 6附属書JA(規定)代替試験方法 7 C3216-6:2011この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,社団法人日本電線工業会(JCMA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格である。これによって,JISC3003:1999及びJISC3006:1999は廃止され,この規格に置き換えられた。この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調查会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実川新案権に閃わる確認について,真任はもたない。この規格は,エナメル線及び横巻線の試験方法の統一並びに試験規格のIEC規格整合化を目的として制定したものである。この規格は,IEC規格への整合化に向け検討してきたが,内容によって大きな変更となり市場の混乱が予想されたため,整合化に向けた経過措置として整合化規格を主とし,従来のJISによJISC3216の規格群には,次に示す部編成がある。JISC3216-1JISC3216-2JISC3216-3JISC3216-4JISC3216-5JISC3216-6第1部:全般事項第2部：寸法第3部：機械的特性第4部:化学的特性第5部：電気的特性第6部:熱的特性日本工業規格JIS卷線試験方法一第6部:熱的特性序文この規格は,1996年に第2版として発行されたIEC60851-6,Amendment1(1997)及びAmendment2(2003)を基に,対応国際規格を翻訳し,市場にIEC整合規格のコンセンサスを得るまでの措置として,技術的内容を変更して作成した日本工業規格であるが,対応国際規格には規定されていない規定項目を日なお,この規格で点線の下線を施してある簡所及び附属書JAは,対応国際規格にはない事項である。変更の一覧表にその説明を付けて,附属書JBに示す。要求事項は,この規格を引用する個別規格で規定する。ム線の熱的特性の試験方法について規定する。なお,試験方法の全般小攻については,JISC3216-1による。注記この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。Amendment2:2003(MOD)なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IECGuide21-1に基づき,“修正している”引用規格のうちで,西層年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)は適用しない。西層年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。JISB1501転が2軸受一鋼球JISC3216-1巻線試験方法一第1部:全般事項注記対応国際規格:IEC60851-1:1996,Windingwires—Testmethods—Part1:General(MOD)JISC3216-3巻線試験方法一第3部:機械的特性注記対応国際規格:IEC60851-3:1996,Windingwires—Testmethods—Part3:Mechanicalproperties(MOD)JISC3216-5巻線試験方法一第5部:電気的特性2C3216-6:2011注記対応国際規格:IEC60851-5:1996,Windingwires—Testmethods—Part5:Electricalproperties(MOD)IEC60172:1987,Testprocedureforthedeterminationofthetemperatureindexofenamelledwindingwires3耐熱衝撃(エナメル線及びテープ巻線に適用)耐熱衝撃は,マンドレルへの巻付け,曲げ,引張りなどの負荷を加えた後に,個別規格に規定の温度に耐えるかを検査する。なお.受渡当事者間の協定によ2て.附属書JA.3の贰験方法を用いてもよい。3.1試験片試験片は,次によって1本作製する。一公称導体径1.600mm以下のエナメル線の場合,JISC3216-3の5.1.1(丸線)一公称導体径1.600mmを超えるエナメル線の場合,JISC3216-3の5.2[伸長試験(公称導体径が1.600mmを超えるエナメル丸線に適用)]一公称導体径1.600mm以下のテープ巻線の場合,JISC3216-3の5.1.1一公称導体径1.600mmを超えるテープ巻線の場合,JISC3216-3の5.5.4[テープ巻丸線及び平角線(融着テープ巻線)]平角線については,JISC3216-3の5.1.2(平角線)によって厚さ方向(flatwise)曲げの試験片1本を作製する。3.2試験手順试験片を規定の淵度(個別規格に規定した温度±5℃)に保った強制循環忙温柳中で30分問加熱する。強制循環恒温槽から取り出し,試験片の温度が常温に戻った後,皮膜に亀裂が生じていないかを表1に示す倍率の拡大鏡で調べる。試験は,丸線は3本,平竹線は2本の試験片で行う。表1一拡大鏡の倍率線の寸法倍率0.040mm以下の丸線10~15倍6～10倍0.500mmを超える丸線平角線6~10倍亀裂の発生した本数を記録する。4耐軟化(公称導体径0.100mmを超え1.600mm以下のエナメル丸線及びテープ巻丸線に適用)耐軟化は,試験片2本を互いに直交するように配置し,その交点に個別規格に規定の温度で規定のおも注記多くの場合,耐軟化は絶縁の破壊した温度で表す。なね..受渡当事者間の協定によって.附属書JA.4の贰験方法を用いて志よい。3C3216-6:20114.1試験装置试験装ǔは次による(図1参照)。黄銅又は銅製の金属プロックは,電気加熱ができ,温度の測定及び制御ができるものとする。ブロック中央の交点に2本の試験片を直交させて人れる二つの溝があり,その交差部分に垂直におもり変圧器は,100VA以上の容量をもち100±10Vの交流試験電圧を供給できるもので,5±1mAで動作する過電流装置,及び最大電流を50mAに制御する抵抗器を備えているものとする。図1一耐軟化試験装置①試験片②試験片⑧温度制御装置插入穴⑩試験片接続用絶緑端子4.2試験手順2本の正線状の試験片を,個別規格に規定の温度に前もって加熱した金屈ブロックに相らに此交させて插入する。温度は,できる限り交差部分の近くで測定し,個別規格に規定の温度に対し±3℃以内であるものとする。交差部分は,ピストンの中心の兵下になるようにする。公称導体径0.200mm未満の場合は,2本の直線状の試験片を平行に並べて置き,その上にもう1本の試験片をピストンの軸に対し最初の2本に試験出圧を上下の試験片に印加する。下側に2本の試験片を川いる場合には,その端末をつないで導通4C3216-6:2011交差部分にかける力及び試験電圧は2分間かける。試験は3本の試験片で行い,破壊した本数を記録すmm12mmNな招:受渡当事者間の協定によって.附属書JA.5の贰験方法を用いて志よ加熱滅量は,個別規格に規定の温度での皮膜の質量減少率を測定する。片は熱風循環恒温槽中にて130±3℃で1時間加熱する。恒温槽から取り出した後,試験片をデシケータ恒温槽から取り出し,試験片をデシケータ中に置き,室温まで30分以上冷却する。試験片は0.1mg単C3216-6:2011皮膜の剥離に用いる菜品は,導体に影響がないものでなければならない。剝離した後,裸導体を150±3℃にて15±1分屹燥する。その後,デシ个一夕中に置き,室温まで30分以上冷却する。裸導体を0.1mg单位までUよ3量する(M3)。實量損率(△M)は,次の式で計算する。試験は2回行い,それぞれの值を記録する。6C3216-6:2011附属書A高温中破壊試験(工ナ×儿丸線に適用)高温中破壊試験は,試験片を加熱中に個別規格に規定の試験電圧を印加した状態で加熱し,破壊した本数で表す。が最低15分としているので,数分以内での破壊は適用外であり,短時間で破壊する場合は,一恒温槽は,強制循環方式の有無にかかわらず,使用可能温度を450℃とする。また,設定温度の許容に,恒温槽は,表A.1の試験電圧を供給可能な電圧端子を備える。不具合を検知し,タイマで遮断する。mmV験上,試験のやりやすさから,通例は1種で公称導体径1.0mmとする。A.3試験手順試験片を端子に接続し,個別規格に規定の温度に保った恒温槽に設置する。設置後すぐに,個別規格に5本の試験片で行い,破壊した本数を記録する。15分未満で破壊した場合は,記録しない。過電流保護7C3216-6:2011附属書JA代替試験方法乙の附属書仗,本体の対応寸石簡条苍補足寸石古ので南n,本体で規定寸石試驗方法亿対l,置寺換之て適用炉可能女試驗方法亿彐,て規定す石。注記乙の附属書で規定寸石試驗方法仗,乙の規格苍IEC60851-6亿整合之甘石亿当忆n,乙の内容亿女→て大寺女变更匕女n市場の混乱炉予想之札石事項亿彐,て,完全整合化亿向圹忆經過措置匕lて,麂止l忆JISC3003:1999及述JISC3006:1999亿徉→忆試驗方法苍代替試驗方法匕lて饼記l忆古ので南石。JA.3耐熱衝撃丸線仗,導体径0.080～0.350mm亿彐,て仗次のa)伸長亿女→て,導体径0.370mm以上亿彐,て仗次のa)伸長时一卷梓扒兮長之約35cmの试驗片苍3本匕n,標緑圈離苍250mm匕lて1分問当忆n300mm以下の引張速之で規定の值支で伸戌l忆後,個別規格亿規定の温度亿保→忆恒温槽中で1時間加熱寸石。恒温槽扒兮取n出l,試驗片の温度炉常温亿戾→忆後,皮膜亿導体炉見之石龟裂炉生cて,女,b)巻付け同一卷棒扒兮長之約50cmの試驗片3本苍匕n,個別規格亿規定の径苍古彐表面滑兮扒女丸棒亿,線匕線匕炉接触寸石女亏亿緊密亿10回卷寺付圹忆後,個別規格亿規定の温度亿保→忆恒温槽中で1時問加熱寸石。恒温槽扒兮取n出l,試驗片の温度炉常温亿戾→忆後,皮膜亿導体炉見之石龟裂炉生c女,扒苍目JA.3.2平角線同一卷梓扒兮長之約35cmの試驗片3本苍匕n,そ札弋札亿彐,て標線距離苍250mm亿lて1分間当忆n300mm以下の引張速之で個別規格亿規定の值支で伸戌l忆後,個別規格亿規定の温度亿保→忆恒温槽中で1時間加熱寸石。恒温槽扒兮取n出l,試驗片の温度炉常温亿戾→忆後,皮膜亿導体炉見之石龟裂炉生cて,女,扒苍目視で調尺石。JA.4耐軟化導体径0.190mm以下の丸線亿彐,て仗次のa)輪状交差法亿女→て,導体径0.200mm以上の丸線亿彐,て仗b)交差法亿女→て,及述平角線亿彐,て仗c)鋼球法亿女→て行亏。試驗仗,導体間又仗導体匕鋼球匕の間亿50Hz又仗60Hzの正弦波亿近,波形苍古→忆交流電圧100V苍加之,その状態で1分間当忆n約2℃の割合で温度苍上昇之甘,短絡寸石温度苍試驗片亿最古近,部分亿熱電対苍固定lて測定寸石。そのa)輪状交差法同一卷梓扒兮長之約30cmの試驗片2本苍匕n,乙札苍各攵輪状亿lて囡JA.1の女亏亿交差之甘,下の試驗片亿表JA.1亿示寸打古n苍彐n下吠,乙札苍恒温槽亿入札て耐軟化温度苍測定寸8一一一335577——9C3216-6:2011JA.5温度指数JA.5.1概要温度指数は,導体径0.260～1.500mmを用いて次の方法で求める。平角線の場合は,同じ皮膜でエナメル丸線を作成し実施する。JA.5.2試験片JISC3216-5のJA.4.2b)(2個より法)に従って2個より試験片を作製する。ただし,試験片の数は各JA.5.3試験手順試験手順は,次による。a)試験片は,試験中外部応力を避けるため適切な方法で固定し,加熱する。b)試験片を表JA.2に規定する加熱温度及び加熱日数で加熱した後恒温槽から取り出し常温になるまで放置し,寿命時間を調べるため表JA.3に規定する電圧で耐電圧試験を行い,それを1サイクルとする。試験片が破壊されない場合は2サイクル目の試験を行い,その後試験片は破壊されるまでサイクルを繰り返す。なお,この試験に用いる変圧器の容量は500VA以上とし,検出装置は高圧側で5mA以上で動作すc)試験は3点以上の温度で行い,最低加熱温度は推定温度指数より20～40℃高い温度とし,加熱温度没足しなければならない。試験片の加熱温度は,±2℃以内にしなければならない。平均寿命のサイクル数は8～20サイクルに入るように加熱温度を選択する。なお,特定のサイクルで既に試験を行っている場合は,平均寿命のサイクル数を8～20サイクルにd)試験片の平均寿命時間は,その試験片が試験電圧で破壊しなかった合計の加熱時間に破壊したときのサイクル加熱時間の1/2を加えた値で示す。全ての試験片が破壊し終わったとき,各加熱温度での平均な命を計算する。計算した値は,図JA.2に示す耐熱な命グラフにプロットし,川州正線1を求める。注1)注記の回線直線の簡易計算方法を参照。e)温度指数は,回帰直線を20000時間まで外揮し,その交点から求めた温度で表す。C3216-6:2011表JA.2-1#亻ク儿の推奖加熱日数℃1214271427142741721427142747表JA.3一試験電庄両側皮膜厚さmmVC3216-6:201110⁵E10⁵E210時简L190200210220230240250260温度℃+10².K)023図JA.2一耐熱寿命グラフ注記回帰直線の簡易計算方法この注記の目的は寿命試験値に対して,簡単に回帰直線をプロットする方法を示すことにある。この方法は,各試験温度における多くの測定値に対して適用する。信頼限界が必要な場合は,IEC60216-3に従って詳細に解析することができる。多くの絶緑材料は,次の式に従って劣化される。ここに,L:絶緑材料の寿命(h)A,B:各絶緑材料に対する定数e:自然対数の底a:logi₀AX:1/Tb:(log1oe)·B高温での試験値をlogoL-1/Tグラフ用紙にプロットし,直線を引き,低温まで外揮してもよいが,対数プロットの性頭によって,武験値から最通直線を小こうとしても正確な外抑を行うことはできないので,精度及び一様性を上げるため,もっと厳密な方法を用いなければならなC3216-6:2011最小二乗法によって,定数a及びbを試験値から計算する。………………………数N:平均寿命の数Y:log₀L=破壊時間の対数値:N個の値についての総和参考文献JISC3003:1999エナメル線試験方法JISC3006:1999横卷線試験方法JISC3202エナメル線JISC3204横巻線IEC60216-3,Electri