GB/T 47065-2026表面化学分析表面表征共聚焦荧光显微镜横向分辨的测量

ICS7104040

CCSG.04.

中华人民共和国国家标准

GB/T47065—2026/ISO183372015

:

表面化学分析表面表征

共聚焦荧光显微镜横向分辨的测量

Surfacechemicalanalysis—Surfacecharacterization—

Measurementofthelateralresolutionofaconfocalfluorescencemicroscope

ISO183372015IDT

(:,)

2026-01-28发布2026-08-01实施

国家市场监督管理总局发布

国家标准化管理委员会

GB/T47065—2026/ISO183372015

:

目次

前言

…………………………Ⅲ

引言

…………………………Ⅳ

范围

1………………………1

规范性引用文件

2…………………………1

术语和定义

3………………1

符号和缩略语

4……………1

概述

5………………………1

通过对小尺寸物体成像来测量横向分辨

6………………3

附录资料性样品制备数据示例与数据分析

A()、………7

参考文献

………………………9

Ⅰ

GB/T47065—2026/ISO183372015

:

前言

本文件按照标准化工作导则第部分标准化文件的结构和起草规则的规定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

。

本文件等同采用表面化学分析表面表征共聚焦荧光显微镜横向分辨的

ISO18337:2015《

测量

》。

本文件增加了规范性引用文件一章

“”。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别专利的责任

。。

本文件由全国表面化学分析标准化技术委员会提出并归口

(SAC/TC608)。

本文件起草单位中国计量科学研究院北京市计量检测科学研究院季华实验室清华大学北京

:、、、、

化工大学

。

本文件主要起草人王海周彦赵晓宁范燕孙悦王迪王梅玲任丹华张艾蕊李伟程斌

:、、、、、、、、、、、

陈铮

。

Ⅲ

GB/T47065—2026/ISO183372015

:

引言

共聚焦荧光显微镜是在荧光成像模式下进行操作的激光扫描共聚焦显微镜利用

(CFM)(LSCM),

它可获得样品的荧光图像荧光是分子或固体晶格在经过光子吸收和电子激发后的弛豫过程中所发出

。

的光荧光波长强度和光谱形状与材料的电子结构相关因此荧光光谱及其成像技术在化学表征和分

。、,

析中非常有用在光学成像和光谱技术中具有高的空间分辨这有利于对纳米材料和薄膜进行

。,CFM,

分析空间分辨是最重要的性能指标之一

。CFM。

一项技术的空间分辨是指其对两个相邻目标对象的最大可分辨能力制造商通常以不同的方式来

,

表征这一数值的空间分辨由横向分辨和轴向分辨来表征两者的数值不同且未必相互依赖本

。CFM,。

文件提供了一种测量横向分辨的方便有效方法

CFM、。

Ⅳ

GB/T47065—2026/ISO183372015

:

表面化学分析表面表征

共聚焦荧光显微镜横向分辨的测量

1范围

本文件描述了一种通过对尺寸比预期分辨小得多的物体成像来测定共聚焦荧光显微镜横

(CFM)

向分辨的方法

。

2规范性引用文件

本文件没有规范性引用文件

。

3术语和定义

下列术语和定义适用于本文件

。

31

.

点扩展函数pointspreadfunction

成像系统对点光源或点状物体的响应

。

32

.

横向分辨lateralresolution

在样品表面平面内或在与成像光学器件的轴线垂直的平面内能可信区分成分变化所对应的测量

,

距离

。

注见参考文献

:[1]。

4符号和缩略语

下列符号和缩略语适用于本文件

。

雪崩光电二极管

APD:(AvalanchePhotodiode)