CN114755301B 层状结构界面粘接质量自动识别及c扫描成像方法及系统 （中北大学）_第1页
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GB202012729D0,2020层状结构界面粘接质量自动识别及C扫描成本发明提供了一种层状结构界面粘接质量集人工缺陷标定试样和待检测层状粘接结构界列提取的指数特征与时域特征输入BP神经网络列提取的指数特征与时域特征输入脱粘缺陷识别模型中，输出脱粘缺陷识别结果并进行二维C扫描成像。本发明针对界面脱粘检测信号的特21.一种层状结构界面粘接质量自动识别及C扫描成像方法，其特征在于：包括如下步2.根据权利要求1所述的一种层状结构界面3.根据权利要求1所述的一种层状结构界4.根据权利要求1所述的一种层状结构界面粘接质量自5.根据权利要求1所述的一种层状结构界6.一种层状结构界面粘接质量自动识别及C扫描成像系统，应用于权利要求1～5任一训练集阵列构建单元：用于采集层状粘接结构测试集阵列构建单元：用于采集待检测层状粘接结构界3指数特征与时域特征提取单元：用于将构建的训练集阵脱粘缺陷识别模型构建单元：用于将训练集阵列提取的指数特征与时域特征脱粘缺陷识别与成像单元：用于将测试集阵列提取的指数特征与时4[0003]传统的超声界面粘接质量检测通常基于超声C扫描成像，其中成像采用单一幅值阈值以及阈值选取好坏直接影响检测识别的结果。随着人工智能及机器学习的快速发展，[0004]本发明的目的是提供一种层状结构界面粘接质量自动识别及C扫描成像方法及系[0006]本发明一方面提供了一种层状结构界面粘接质量自动识别及C扫描成像方法，包该人工缺陷标定试样脱粘缺陷区域以及无脱粘缺陷区域的超声回波信号，构建训练集阵建测试集阵列；5参数，即为所述指数特征。本发明中超声回波信慢的问题，提出改进的粒子群算法可实现超声回波信号上包络的最优特征参数的快速搜索。对应的超声回波信号上包络表征模型，并提取超声回波信号上包络的指数特征与时域特6[0032](1)本发明采用超声阵列检测技术实现层状粘接结构界面数据采集，较传统超声[0033](2)本发明根据层状粘接结构实际采集信号的形态特征，提出改进的超声回波信[0035](4)本发明提取的超声回波信号指数特征参数以及时域特征参数，可作为表征超[0036](5)本发明提出的整体方案可实现层状粘接结构界面脱粘缺陷的自动识别及成[0041]本发明的目的是提供一种层状结构界面粘接质量自动识别及C扫描成像方法及系构脱粘缺陷自动识别模型，实现层状粘接结构界面脱粘缺陷的自动识别及成像方法及系[0045]本实施例提出一种层状结构界面粘接质量自动识别及C扫描成像方法，如图1所该人工缺陷标定试样脱粘缺陷区域以及无脱粘缺陷区域的超声回波信号，构建训练集阵7建测试集阵列；[0063]本实施例提出一种层状结构界面粘接质量自动识别及C扫描成像系统，应用于实8对应的超声回波信号上包络表征模型，并提取超声回波信号上包络的指数特征与时域特

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