CN119254221B 一种自校准本振信号发生装置及其校准方法 （爱科微半导体(上海)有限公司）

WO0122040A1,2001.03.29一种自校准本振信号发生装置及其校准方法本公开提供了一种自校准本振信号发生装当第二本振工作信号与第一本振工作信号的相位差不同于第二本振基准信号与第一本振基准第二本振工作信号与第一本振工作信号的相位差等于第二本振基准信号与第一本振基准信号2第一信号生成模块，被设置成在所述基准状态时输出第生成并输出所述第一本振基准信号或所述第一第二信号生成模块，被设置成在所述基准状态时输出第生成并输出所述第二本振基准信号或所述第二第一相位检测与调整模块，被设置成通过第一时序调整模块所述第一时序调整模块，被设置成将来自所述第一信号生成模块的信号参考信号来生成并向所述第一相位检测与调整模块传输调整后的第一本振基准信号或调所述第一信号生成模块被设置成除2分频器，所述除2分频器用于将所的频率除以2，使得输出的所述第一本振基准信号或所述第一本振工作信号的频率为所述所述第二信号生成模块被设置成除2带延迟分频器，所述除2带延迟分频器包括除以2频器用于将所述第二参考信号的频率除以2，使得输出的所述第二本振基准信号或所述第二本振工作信号的频率为所述第二参考信号的频率的二分之一；在所述除2带延迟分频器的延迟分频模式中，所述除2带延迟分频器被设置成维持当前时刻所输出信号的信号波形当检测到所述第二本振工作信号与所述第一本振工作信号的相位差不同于所述第二本振基准信号与所述第一本振基准信号的相位差时，所述除2带延迟分频器被设置成延迟的频率除以3，使得所输出的所述第二本振基准信号或所述第二本振工作信号的频率为所当所述第一时序调整模块检测到来自所述第一信号生成模块的信号的上升沿或下降3当所述第一时序调整模块检测到来自所述第一信号生成模块的信号的上升沿或下降沿与所述第二参考信号都处于上升沿或下降沿重合时，所述信号的相位被调整成延迟2个所述第一相位检测与调整模块还包括使能信号输入端，当所述第一相位成检测来自所述第一时序调整模块的信号与来自所述第二信号生成模块的信号之间的相所述第一相位检测与调整模块在所述第二参考信号的上升沿阶段被设置成开始输出来自所述第一信号生成模块的信号与来自所述第二信号生成模块的信号之间的当所述第一相位检测与调整模块检测到来自所述第一时序调整模块的信号与来自所述第二信号生成模块的信号之间的相位差为180度时，所述第一相位检测与调整模块通过当所述第一信号生成模块被设置成所述除2分频器，所述第二信号生成模块被设置成当所述第一相位检测与调整模块在所述第二参考信号的上升沿阶段检测到来自所述第一时序调整模块的信号与来自所述第二信号生成模块的信号之间的相位差为180度时，所述第二信号生成模块被设置成由所述除以2分频模式切换至所述延当所述第一相位检测与调整模块在所述第二参考信号的上升沿阶段检测到来自所述第一时序调整模块的信号与来自所述第二信号生成模块的信号之间的相位差为0度时，所述第二信号生成模块由所述延迟分频模式切换至所述除以第N信号生成模块，被设置成在所述基准状态时输出第N本振第N+1信号生成模块，被设置成在所述基准状态时输出第N+1第N相位检测与调整模块，被设置成当检测到所述第N+1本振工作信号与所述第N本振整所述第N+1本振工作信号，使得所述第N+1本振工作信号与所述第N本振工作信号的相位差等于所述第N+1本振基准信号与所述第N本振基准信所述第N信号生成模块被设置成基于第N参考信号来生成并输出所述第N本振基准信号4所述第N+1信号生成模块被设置成基于第N+1参考信号来生成并输出所述第N+1本振基第N时序调整模块，被设置成将来自所述第N信号生成模块的信号基于所述第N+1参考信号来生成并向所述第N相位检测与调整模块传输调整后的第N本振基准信号或调整后的11.一种如权利要求1_10中任一项所述的自校准本振信号发生装置的校准方法，其特基于所述基准状态来接收所述第一本振基准信号和所述第二工作状态来接收所述第一本振工作信号和所述第二在所述工作状态时，当检测到所述第二本振工作信号与所5本振信号相位的不确定性使得系统无法正常工作。若采用整个芯片使用一个除2电路的方[0005]应该注意，上面对技术背景的介绍只是为了方便对本申请的技术方案进行清楚、背景技术部分进行了阐述而认为上述技术方案为本领域技术人[0006]为了解决上述问题中的至少一个问题，以及其他潜在问本振工作信号与上述第一本振工作信号的相位差不同于上述第二本振基准信号与上述第上述第一本振工作信号的相位差等于上述第二本振基准信号与上述第一本振基准信号的6分频器用于将上述第一参考信号的频率除以2，使得输出的上述第一本振基准信号或上述上述除2带延迟分频器的除以2分频模式中，上述除2带延迟分频器用于将上述第二参考信号的频率除以2，使得输出的上述第二本振基准信号或上述第二本振工作信号的频率为上带延迟分频器被设置成维持该时刻所输出信号的信号波形输出状态、直至上述除2带延迟将上述第二参考信号的频率除以3，使得所输出的上述第二本振基准信号或上述第二本振工作信号的频率为上述第二参考信号的频率的三设置成将来自上述第一信号生成模块的信号基于上述第二参考信号来生成并向上述第一第一相位检测与调整模块才被设置成检测来自上述第一时序调整模块的信号与来自上述的上升沿阶段被设置成开始输出来自上述第一信号生成模块的信号与来自上述第二信号一时序调整模块的信号与来自上述第二信号生成模块的信号之间的相位差为180度时，上7模块的信号与来自上述第一时序调整模块的信号之间的相位差上述第二信号生成模块被设置成上述除2带延迟分频器时；并且当上述第一相位检测与调整模块在上述第二参考信号的上升沿阶段检测到来自上述第一时序调整模块的信号与来自上述第二信号生成模块的信号之间的相位差为180度时，上述第二信号生成模块被设置成由上述除以2分频模式切换至上述延迟分频模式；当上述第一相位检测与调整模块在上述第二参考信号的上升沿阶段检测到来自上述第一时序调整模块的信号与来自上述第二信号生成模块的信号之间的相位差为0度时，上述第二信号生成模块由上述延迟分频模式到上述第N+1本振工作信号与上述第N本振工作信号的相位差不同于上述第N+1本振基准信工作信号与上述第N本振工作信号的相位差等于上述第N+1本振基准信号与上述第N本振基准信号的相位差；上述第N信号生成模块被设置成基于第N参考信号来生成并输出上述第N本振基准信号或上述第N本振工作信号；上述第N+1信号生成模块被设置成基于第N+1参考被设置成将来自上述第N信号生成模块的信号基于上述第N+1参考信号来生成并向上述第N[0020]在本公开的第二方面，还提出了针对上述的自校准本振信号发生装置的校准方上述第二本振基准信号与上述第一本振基准信号的相位差时，调整上述第二本振工作信信号与第一本振工作信号的相位差不同于第二本振基准信号与第一本振基准信号的相位检测到第二本振工作信号与第一本振工作信号的相位差不同于第二本振基准信号与第一8[0034]图10示出了根据本公开一些实施例的一种自校准本振信号发生装置的校准方法9不同于在基准状态时所记录的上述第二本振基准信号与上述第一本振基准信号的相位差号与第一本振工作信号的相位差等于上述第二本振基准信号与上述第一本振基准信号的[0044]图3示出了根据本公开一些实施例的自校准本振信号发生装置的时序图。在图3[0045]图4示出了根据本公开一些实施例的第二信号生成模块的电路示图。在该示例实[0046]图5示出了根据本公开一些实施例的第一相位检测与调整模块的电路示图。在该在除2带延迟分频器处于除以2分频模式时，除2带延迟分频器用于将第二参考信号的频率除以2，使得输出的第二本振基准信号或第二本振工作信号的频率为第二参考信号的频率本振工作信号的相位差不同于第二本振基准信号与第一本振基准信号的相位差时（例如，[0052]图6示出了根据本公开一些实施例的另一自校准本振信号发生装置的示图。在该整模块的out端）向左部下方的第一相位检测与调整模块传输调整后的第一本振基准信号调整模块检测到来自第一信号生成模块的信号的上升沿或下降沿与第二参考信号都处于检测与调整模块才被设置成检测来自上述第一信号生成模块的信号与来自上述第二信号上升沿阶段被设置成开始检测来自上述第一信号生成模块的信号与来自上述第二信号生模块检测到来自第一时序调整模块的信号与来自第二信号生成模块的信号之间的相位差模块的信号与来自第一时序调整模块的信号之间的相位差生成模块被设置成除2带延迟分频器时；并且设置在基准模式下来自第一时序调整模块的检测与调整模块在第二参考信号的上升沿阶段检测到来自上述第一时序调整模块的信号与来自上述第二信号生成模块的信号之间的相位差为180度时，第二信号生成模块被设置在第二参考信号的上升沿阶段检测到来自第一时序调整模块的信号与来自第二信号生成号与第N本振工作信号的相位差不同于第N+1本振基准信号与第N本振基准信号的相位差号来生成并输出第N本振基准信号或第N本振工作信号；第N+1信号生成模块被设置成基于第N+1参考信号来生成并输出第N+1本振基准信号或第N+1本振工作信号；第N时序调整模块，被设置成将来自第N信号生成模块的信号基于第N+1参考信号来生成并向第N相位检测