CN119248628B 基于人工智能的芯片功耗评估方法、系统和存储介质 （江苏优众微纳半导体科技有限公司）

司模块用于对芯片的静态测试结果进行分析并将静态测试对象i标记为静态正常对象或静态异常2所述静态测试模块用于对芯片功耗进行静态测试：将待测试的芯片标所述静态分析模块用于对芯片的静态测试结果进行分析并将i标记为静态正常对象或所述动态测试模块用于对芯片功耗进行动态测试：将静态正常对象标km+1_k]k为动态测试过程中为k设置的处理任务的数据量，JG+H1m+1_k为动态测试过程中处理任务执行动态测试过程中实时获取k的表面温度值并标记为实温值，在实温值达到预设的温度阈值所述动态分析模块用于对芯片的动态测试结果进行分析并将k标记为动态正常对象或所述性能评估模块用于对芯片的功耗性能进行评估分析：将静态异常到芯片的评估系数PG，其中t1与t2均为比例系数，且t1>t2>1；通过数据库调取评估阈值析模块用于对芯片的功耗性能进行优化分析：由动态异常对象在动态测试对象k中对应的序号构成动态分析集合，对动态分析集合进行方差计算得到动态集中值DJ，通过公式YH=对动态分析集合的所有元素进行求和取平均值得到分布表现值，将分布表现值与m/23步骤五：对芯片的功耗性能进行评估分析并对芯片的步骤六：对芯片的功耗性能进行优化分析并向管理人员的手机终端发送电路优化信所述处理器执行所述存储器存储的计算机程序，以使计算机设备执行如权利要求4所述的4于解决现有技术无法在芯片的功耗异常时根据测试数据进静态测试对象i全部完成静态测试之后将所有静态测试对象i的静态系数JTi发送至静态分[0010]所述静态分析模块用于对芯片的静态测试结果进行分析并将静态测试对象i标记k5[0012]所述动态分析模块用于对芯片的动态测试结果进行分析并将动态测试对象标记基础负载值JF与基础间隔值JG，基础负载值JF为静态测试过程中为静态测试对象i设置的获取静态测试对象i的表面温度值并标记为温测值i，将温测值i在静态测试结束时刻的数数据库调取静态阈值JTmax，将静态测试对象i的静态系数JTi与静态阈值JTmax进行比较：静态测试对象i的静态功耗性能不满足要求，将对应的静态测试对象i标记为静态异常对数据库调取动态阈值DTmin，将动态测试对象k的动态系数DTk与动态阈值DTmin进行比较：动态测试对象k的动态功耗性能不满足要求，将对应的动态测试对象k标记为动态异常对与动态异常对象的数量分别标记为静异数据JY与动异数据DY；通过公式PG=（t1*JY+t2*对象在动态测试对象k中对应的序号构成动态分析集合，对动态分析集合进行方差计算得优化系数YH大于等于优化阈值YHmax，则生成电路优化信号并将电路优化信号发送至管理6将所有静态测试对象i的静态系数JTi发送至静[0023]步骤二：对芯片的静态测试结果进行分析并将静态测试对象i标记为静态正常对[0025]步骤四：对芯片的动态测试结果进行分析并将动态测试对象k标记为动态正常对[0034]4、通过优化分析模块可以对芯片在静态测试过程与动态测试过程中的测试参数7处理任务即静态测试终止，在静态测试过程中实时获取静态测试对象i的表面温度值并标有静态测试对象i全部完成静态测试之后将所有静态测试对象i的静态系数JTi发送至静态[0044]静态分析模块用于对芯片的静态测试结果进行分析：通过数据库调取静态阈值km+1_k]态测试过程中处理任务执行完成至下一处理任务开始执行之间的间隔时长；H1为数值常象k对应动态测试过程的执行时长并标记为动态系数DTk；将所有动态测试对象k的动态系[0046]动态分析模块用于对芯片的动态测试结果进行分析：通过数据库调取动态阈值8到芯片的评估系数PG，其中t1与t2均为比例系数，且t1>t2>1；通过数据库调取评估阈值将所有静态测试对象i的静态系数JTi发送至静[0052]步骤二：对芯片的静态测试结果进行分析并将静态测试对象i标记为静态正常对[0054]步骤四：对芯片的动态测试结果进行分析并将动态测试对象k标记为动态正常对9简称CPU）、网络处理器（NetworkProcessor，简称NP）等；还可以是数字信号处理器果进行分析并将静态测试对象i标记为静态正常对象或静态异常对象，然后将静态正常对分析模块；对芯片的动态测试结果进行分析并将动态测试对象k标记为动态正常对象或动足要求时对芯片的功耗性能进行优化分析，并向管理人员的手机终端发送电路优化信号、[0062]上述公式均是采集大量数据进行软件模拟得出且选取与真实[0063]系数的大小是为了