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Q/LB.□XXXXX-XXXX错误!文档中没有指定样式的文字。目次TOC\o"1-1"\h\t"标准文件_一级条标题,2,标准文件_附录一级条标题,2,"前言 II1范围 32规范性引用文件 33术语和定义 34技术要求 34.1尺寸要求 34.2额定极限参数 34.3电特性 45试验条件及检验要求 55.1抽样 55.2试验 66标志、包装、运输及贮存 76.1标志 76.2包装 76.3运输 86.4贮存 87可追溯性 8前言本文件按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规定起草。请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。本文件由中国中小企业协会提出、解释并归口管理。本文件主要起草单位:杭州视芯科技股份有限公司。本文件参与起草单位:XXXXXXXX。本文件主要起草人:XXXXXXXX。范围本文件规定了应用于16路LED屏恒流驱动集成电路的术语和定义、技术要求、试验条件及检验要求、标志、包装、运输、贮存、可追溯性。本文件适用于半导体材料为单晶硅,封装形式为SSOP、QFN,质量评定等级为Ⅰ类的驱动集成电路(以下简称“集成电路”)。规范性引用文件下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中,注日期的引用文件,仅该日期对应的版本适用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。GB/T2828.1计数抽样检验程序第1部分:按接受质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划GB/T4589.1—2006半导体器件第10部分:分立器件和集成电路总规范GB/T7092半导体集成电路外形尺寸GB/T12750—2006半导体器件集成电路第11部分:半导体集成电路分规范(不包括混合电路)GB/T17574—1998半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路GB/T35010.3—2018半导体芯片产品第3部分:操作、包装和贮存指南SJ/T10745—1996半导体集成电路机械和气候试验方法SJ/T11141—2017发光二极管(LED)显示屏通用规范术语和定义GB/T17574—1998、SJ/T11141—2017界定的术语和定义适用于本文件。技术要求尺寸要求尺寸规格按GB/T7092规定执行。额定极限参数额定极限参数见表1。额定极限参数参数符号范围单位工作电源电压VDD0~6V输入电压VIN﹣0.4~VDD+0.4V恒流源输出电流IOUT1~35mA输出端耐压VDS﹣0.5~11V工作温度范围T0PR﹣55~150℃贮存温度范围T0PR﹣40~85℃电特性静态特性静态特性技术参数见表2。测试条件按Tamb为25℃执行。静态特性技术参数参数符号测试条件最小值典型值最大值单位工作电源电压VDD-3-5V恒流源输出电流IOUTVDD=5.0V,VOUT=1.0V1.00-35.00mAVDD=3.3V,VOUT=1.0V1.00-20.00恒流源端口电压VDS恒流源开启,1RR-EXT=2kΩ0.5--V恒流输出精度△IOUT芯片间(平均值)VOUT=1.0V1RR-EXT=2kΩ-±1.5-%输出漏电流ILEAK恒流源关断,VOUT=VDD--1μASDO高电平输出电流2ISDOHVDD=5.0V,2VSDO=4.5V2--mASDO低电平输出电流2ISDOLVDD=5.0V,2VSDO=0.5V2--mA3SDI高电平输入电压VIH-0.7VDD-VDDV3SDI低电平输入电压VIL-4GND-0.3VDDV工作电流IOFF恒流源关断,1RR-EXT=806Ω4.85.86.8mAION恒流源开启,1RR-EXT=806Ω5.86.87.8时钟频率FSCLK30mHZ1R-EXT指恒流设置端口,可外接电阻到地来设定恒流源最大电流值。2SDO指移位寄存器串行数据输出端口。3SDI移位寄存器串行数据输入端口。4GND指接地端。动态特性动态特性技术参数见表3。测试条件按Tamb为25℃执行。动态特性技术参数单位:ns参数符号测试条件最小值典型值最大值1SDO的建立时间tsu(C-SDO)VDD=5.0V/3.3VREXT=806ΩVL=5.0VRL=100ΩCL=10pF3--1SDO的保持时间th(C-SDO)10--2SDI的建立时间tsu(C-SDI)--252SDI的保持时间th(C-SDI)--253OE高脉冲宽度tHIGH(OE)15--3OE低脉冲宽度tHIGH(OE)15--1SDO指移位寄存器串行数据输出端口。2SDI移位寄存器串行数据输入端口。3OE输出通道应保持输出一致性条件。试验条件及检验要求抽样抽样要求按GB/T12750—2006对质量评定等级Ⅰ类的抽样规定执行。批次按GB/T12750—2006中5.1.1的规定执行。A组抽样按GB/T2828.1一次抽样方案的规定执行,AQL值应符合表4的要求。A组抽样要求分组AQLA11.0A30.65A41.5B组抽样按表5的规定执行。B组抽样要求单位:片分组数量B115B410B510B810C组抽样按表6的规定执行。C组抽样要求单位:片分组数量C120C315C410C510C715C810C915C1120试验试验条件环境温度:25℃±5℃;相对湿度:45%~75%;大气压力:86kPa~106%kPa。试验方法A组按逐批检验的方法执行,具体要求见表8。A组试验方法分组项目试验条件及方法要求A1外部目检GB/T4589.1—2006中的4.3.1.1标志清晰,外观无机械缺陷A325℃下的静态特性表2表2A425℃下的动态特性表3表3上述试验均为非破坏性试验。B组按逐批检验的方法执行,具体要求见表9。B组试验方法分组项目试验条件及方法要求B1尺寸GB/T4589.1—2006中的4.3.2及附录BGB/T7092B4可焊性SJ/T10745—1996中的2.5(按方法b)SJ/T10745—1996中的2.5.6B5温度快速变化SJ/T10745—1996中的3.2严格度A,不加电,10次循环随后进行外部目检GB/T4589.1—2006中的4.3.1.1标志清晰,外观无机械缺陷稳态湿热SJ/T10745—1996中的3.7严格度A,24h电测试表2表2B8电耐久性表2168h,应小于1.3USL、大于0.8SRLCRRL放行批证明记录B4、B5、B8分组提供计数检查结果USL和SRL分别表示A组规范值的最大值和最小值。C组按周期检验的方法执行,具体要求见表10。C组试验方法分组项目试验条件及方法要求C1尺寸GB/T4589.1—2006中的4.3.2及附录BGB/T7092C3引线强度拉力SJ/T10745—1996中的2.1F=5N,SJ/T10745—1996中的2.5.6弯曲SJ/T10745—1996中的2.2(按试验a的方法2)F=2.5N,无断裂C4耐焊接热SJ/T10745—1996中的2.6(按方法1)表2C5温度快速变化SJ/T10745—1996中的3.2严格度A,槽内液体为水随后进行外部目检GB/T4589.1—2006中的4.3.1.1标志清晰,外观无机械缺陷稳态湿热SJ/T10745—1996中的3.7严格度A,24h电测试表2表2C7稳态湿热SJ/T10745—1996中的3.7严格度A,不加电,500h随后进行电测试表2168h,应小于1.3USL、大于0.8SRLC8电耐久性表21000h,应小于1.3USL、大于0.8SRLC9高温贮存SJ/T10745—1996中的3.3严格度C,1000hC11标志耐久性SJ/T10745—1996中的4.3(方法1)SJ/T10745—1996中的4.3.2CRRL放行批证明记录C3、C4、C5、C7、C8和C11分组提供计数检查结果USL和SRL分别表示A组规范值的最大值和最小值。在连续3次通过该试验后,周期可放宽为1年1次。标志、包装、运输及贮存标志应符合GB/T4589.1—2006中2.5的要求。包装包装的选择应符合GB/T35010.3—2018中7.3.5的要求。牺牲性包装材料的使用应符合GB/T35010.3—2018中7.3.6的要
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