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文档简介

扫描电子显微镜成像特点成像特点放大倍率高(M=Ac/As)分辨率高(d0=dmin/M总)景深大(F≈d0/β)保真度好样品制备简单成像特点放大倍率高从几十放大到几十万倍,连续可调。放大倍率不是越大越好,要根据有效放大倍率和分析样品的需要进行选择。如果放大倍率为M,人眼分辨率为0.2mm,仪器分辨率为5nm,则有效放大率M=0.2

106nm

5nm=40000(倍)。如果选择高于40000倍的放大倍率,不会增加图像细节,只是虚放,一般无实际意义。放大倍率是由分辨率制约,不能盲目看仪器放大倍率指标。成像特点景深D大

景深大的图像立体感强,对粗糙不平的断口样品观察需要大景深的SEM。SEM的景深Δf可以用如下公式表示:Δf=

式中D为工作距离,a为物镜光阑孔径,M为放大倍率,d为电子束直径。可以看出,长工作距离、小物镜光阑、低放大倍率能得到大景深图像。成像特点多孔SiC陶瓷的二次电子像一般情况下,SEM景深比TEM大10倍,比光学显微镜(OM)大100倍。如10000倍时,TEM:D=1

m,SEM:10

m,100倍时,OM:10

m,SEM=1000

m。成像特点保真度好样品通常不需要作任何处理即可以直接进行观察,所以不会由于制样原因而产生假象。这对断口的失效分析特别重要。成像特点样品制备简单

样品可以是自然面、断口、块状、粉体、反光及透光光片,对不导电的样品只需蒸镀一层20nm的导电膜。另外,现在许多SEM具有图像处理和图像分析功能。有的SEM加入附件后

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