武汉大学分析化学表面分析方法

第7章表面分析办法7.1.概论在仪器分析中，把物体与真空或气体间的界面称为表面，普通研究的是固体表面；当分析区域的横向线度不大于100μm量级时称为微区。表面是固体的终端，表面原子有部分化学键伸向空间，含有很活跃的化学性质。表面的化学构成、原子排列、电子状态等往往和体相不同，并将决定表面的化学反映活性、耐腐蚀性、粘性、湿润性、摩擦性及分子识别特性等。表面涉及微分辨析，涉及微电子器件、催化、材料及高新技术等众多领域。本章介绍表面及微分辨析及表征的办法和技术。/?k10358357.1.概论表面分析是指对表面及微区的特性和表面现象进行分析、测量的办法和技术，涉及表面构成、构造、电子态和形貌等。表面分析与表征涉及的内容诸多，没有一种单独的办法能提供全部这些信息。表面分析按表征技术分为4类：电子束激发、光子激发、离子轰击、近场显微镜法。按用途划分：组分分析、构造分析、原子态分析、电子态分析等。7.2.光电子能谱法

光电子能谱法是指采用单色光或电子束照射试样，使电子受到激发而发射，通过测量这些电子的（相对）强度与能量分布的关系，从中获得有关信息。用X射线作激发源的称X射线光电子能谱(XPS)、用紫外光作激发源的称紫外光电子能谱(UPS)、测量俄歇电子能量分布的称俄歇电子能谱(AES)。有的教材将前两者称为光子探针技术，而将AES称为电子探针技术。物质受光作用释放出电子的现象称为光电效应。光电离作用：光子的能量：7.2.1.光电子能谱法基本原理电子能谱法所能研究的信息深度d取决于逸出电子的非弹性碰撞平均自由程λ。所谓平均自由程(电子逸出深度)是指电子在经受非弹性碰撞前所经历的平均距离。电子平均自由程λ与其动能大小和样品性质有关，金属中为0.5～2nm，氧化物中为1.5～4nm，有机和高分子化合物中为4～10nm。普通认为d=3λ。电子能谱的取样深度普通很浅，在30nm以内，是一种表面分析技术。7.2.1.光电子能谱法基本原理瑞典Uppsala大学SiegbahnKM(1981年诺贝尔物理学奖获得者)及其同事建立的一种分析办法。理论根据是Einstein的光电子发射公式（光电效应），实际分析中，不仅用XPS测定轨道电子结合能，还经惯用量子化学办法进行计算，并将两者进行比较。由于多个原子、分子的轨道电子结合能是一定的，XPS可用来测定固体表面的电子构造和表面组分的化学成分，因此，XPS又称为化学分析光电子能谱法（ElectronSpectroscopyforChemicalAnalysis，ESCA）。7.2.2.X射线光电子能谱法.电子结合能电子结合能是指一种原子在光电离前后的能量差，即原子终态(2)与始态(1)之间的能量差：Eb=E(2)-E(1)气体试样能够视为自由原子或分子。固体试样：.X射线光电子能谱图X射线光电子能谱图是以检测器单位时间内接受到的光电子数(光电子强度)对电子结合能或光电子动能作图。XPS重要是研究原子的内层电子结合能。.谱峰的物理位移和化学位移由固体的热效应及表面荷电作用等物理因素引发的谱峰位移称为物理位移。由电子所处的化学环境不同而引发的谱峰位移称为化学位移。7.2.3.紫外光电子能谱法.电离能由于紫外线的能量比X射线能量低，只能激发原子或分子的价电子，因此，它所测定的是价电子的结合能，习惯上称为电离能。.紫外光电子能谱图

紫外光电子能谱图的形状取决于入射光子的能量和电离后离子的状态以及具体的实验条件。7.2.4.俄歇电子能谱法Auger电子能谱法(AES)是用品有一定能量的电子束(或X射线)激发试样，以测量二次电子中的那些与入射电子能量无关，而本身含有拟定能量的Auger电子峰为基础的分析办法。.Auger电子能谱的产生.Auger电子产额

对于K型跃迁，设发射X射线荧光的概率为PKX，发射K系Auger电子的概率为PKA，则K层X射线荧光的产额YKX为：

YKX＝PKX/(PKX+PKA)K系Auger电子的产额为

YKA=1-YKX

.Auger电子峰的强度Auger电子峰的强度IA重要由电离截面Qi和Auger电子发射概率PA决定：IA∝Qi•PA电离截面与被束缚电子i的能量(Ebi)和入射电子束能量(Ein)有关。普通来说，当Ein≈3Ebi时，Auger电流较大。若Ein<Ebi，入射电子的能量局限性以使i能级电离，Auger电子产额等于0；若Ein过大，入射电子与原子互相作用时间过短，也不利于产生Auger电子。普通采用较小的入射角(10°30°)，可增大检测体积，获得较大的Auger电流。.Auger电子的能量

Auger电子的动能只与电子在物质中所处的能级及仪器的功函数有关，与激发源的能量无关。因此，要在X光电子能谱中识别Auger电子峰，可变换X射线源的能量，X光电子峰会发生移动，而Auger电子峰的位置不变。据此可加以区别。固体物质的KLILIIAuger电子的能量应为：.Auger电子能谱1.Auger电子峰Auger电子的能量只与所发生的Auger跃迁过程有关，因此它含有特性性，可据此进行定性分析。.Auger电子能谱2.化学环境的影响Auger电子能谱能反映3类化学效应—即原子化学环境的变化引发Auger电子能谱构造的变化：电荷转移、价电子谱、等离子激发。7.2.5.电子能谱仪电子能谱仪普通采用的激发源有三种：X射线源、真空紫外灯和电子枪。由于各能谱仪之间除激发源不同外，其它部分基本相似，因此，配备不同激发源，可使一台能谱仪含有多个功效。.激发源．单色器—电子能量分析器电子能量分析器的分辨率定义为：(E/EK)100%,表达分析器能够分辨两种相近能量电子的能力。电子能量分析器可分为磁场型和静电型两类。1.半球形电子能量分析器．单色器—电子能量分析器2.筒镜电子能量分析器．单色器—电子能量分析器3.检测器由于原子和分子的光电子截面都较小，因此从原子或分子产生并经能量分析器出来的光电子流仅10-1310-19A，要接受这样弱的信号，必须采用电子倍增器，如单通道电子倍增器或多通道电子倍增器。4.试样室系统和真空系统试样预解决(如氢离子清洗等)，进样系统和试样室三部分构成了试样室系统；真空系统提供高真空环境。7.2.6．电子能谱法的应用．电子能谱法的特点1．可分析除H和He之外的全部元素；能够直接测定来自试样单个能级光电发射电子的能量分布，且直接得到电子能级构造的信息。2．能提供有关化学键方面的信息，直接测量价层电子及内层电子轨道能级。而相邻元素的同种谱线相隔较远，互相干扰少，元素定性标记性强。3．是一种无损分析。4．是一种高敏捷超微量表面分析技术。分析所需试样约10-8g即可，绝对敏捷度达10-18g，试样分析深度约2nm。．X射线光电子能谱法的应用X射线光电子能谱法是研究表面及界面化学最佳的办法之一。可进行多元素同时分析、定性分析、定量分析、化学状态分析、构造鉴定、无损深度剖析、微分辨析等；可进行不同形状（如平面、粉末、纤维及纳米构造）材料，涉及有机材料的分析（对X射线敏感材料除外），分辨率为0.2eV。．X射线光电子能谱法的应用1．元素定性分析元素周期表中每一种元素的原子构造互不相似，原子内层能级上的电子结合能是元素特性的反映，据此能够进行定性分析。2．元素定量分析根据是光电子谱线的强度(光电子峰的面积或峰高)与元素含量有关。(C3H7)4N＋S2PF2-的X射线光电子能谱图．X射线光电子能谱法的应用3．固体表面状态分析4．化合物构造鉴定不同状况下Pd催化剂X射线光电子能谱1,2,4,5-苯四甲酸、邻苯二甲酸和苯甲酸钠的Ｃ1s电子能谱．X射线光电子能谱法的应用5．生物大分子研究6．深度剖析及微分辨析维生素B12的X射线光电子能谱.紫外光电子能谱法的应用紫外光电子能谱的特点是研究原子或分子的价电子：1.定性分析：含有分子“指纹”性质2.表面分析：可用于研究固体表面吸附、催化及表面电子构造等。3.测量电离能。4.研究化学键：观察紫外光电子能谱多个谱带的形状，能够得到有关分子轨道成键性质的某些信息。.Auger电子能谱的应用Auger电子能谱原则上合用于任何固体，敏捷度高，能够探测的最小面浓度达0.1％单原子层；其采样深度为1～2nm，比XPS还要浅；它的分析速度比XPS更快，因此有可能跟踪某些快的变化。1.定性分析2.定量分析3.表面元素的化学状态分析4.微分辨析7.3.二次离子质谱法7.3.1.二次离子质谱法原理当时级离子束（Ar+、O2+、N2+、O-、F-、N-、或Cs+等）轰击固体试样表面时，它能够从表面溅射出多个类型的二次离子（或称次级离子），运用离子在电场、磁场或自由空间中的运动规律，通过质量分析器，能够使不同质荷比（m/z）的离子分开，经分别记数后可得到二次离子强度-质荷比关系曲线，这种分析办法称为二次离子质谱法（secondaryionmassspectrometry,简称SIMS）。二次离子质谱有“静态”和“动态”两种。7.3.2.二次离子质谱仪7.4.扫描隧道显微镜和原子力显微镜7.4.1.扫描隧道显微镜的基本原理基于量子力学的隧道效应。7.4.2.仪器装置由xyz位移器、针尖和计算机接口等三部分构成。仪器构造的两个核心问题分别是获得单原子直径的尖端和维持隧道结间隙的稳定性。通过切削Pt/Ir丝或电解腐蚀W丝，并采用进一步精细解决(例如用针尖与试样之间加较大直流或交流电流以及预扫描10~60min)能够制备这种单原子针尖；后一问题的解决办法是采用严密的振动隔离系统、使用刚性和热胀系数相近的构件连接针尖或试样、保持恒温和绝热等，这些方法能够使针尖与表面之间距离变化不不不大于0.001nm。7.4.3.应用STM实验能够在大气、真空、溶液、惰性气体甚至反映性气体等多个环境中进行，工作温度能够从热力学零度到摄氏几百度。STM的用途非常广泛，可用于原子级空间分辨的表面构造观察，用