品质部卡尺MSA分析

UCLx17.902017.902017.90207.902017.902017.902017.902017.9001.9001.9020LCL1784691784691784697.846917.846917.846917.846917.8469178469178469UCLR0069400694006940.06940.06940.06940.06940.0694006940069LC=0000000000000000.00000.00000.00000.00000.00000000000000量具重复性和再现性数据表量具名称:数显卡尺样件名称:安规电容测量日期:2016.11.22量具编号:VC033测量参数:GX4043外壳长度测量人员:A:韩美芳B:杨彩霞C:黄丽群量具量程:0-150mm参数规格:18±0.5mm口定期口修复后口量具更换口新控制计划PPAP评价人数3试验次数3平均值17.87502.217.874017.86904.均值17.87017.89317.87317.85717.88017.87317.88317.86017.86717.870XA=17.87275.极差0.0000.0100.0600.0200.0200.0300.0300.0200.0100.030RA=0.023017.877017.879017.87109.均值17.87017.89317.83017.89717.87017.87717.91717.91717.87317.813XB=17.87570.0300.0300.0300.0300.0300.0400.0200.0200.0400.020RB=0.029017.868017.872017.885017.87317.86717.81017.85317.89317.86017.90717.85017.91717.920XC=17.87500.0400.0200.0500.0100.0300.0300.0100.0300.0400.030RC=0.0290零件均值XP17.87117.88417.83817.86917.88117.87017.90217.87617.88617.868X=17.8744RP=0.0644极差均值R=(RA+RB+RC)/评价人数=0.027试验次数23最大均值差XDIFF=MaxX-MinX=0.00303.272.57均值上限UCLX=X+A2R=17.9020极差上限UCLR=D4R=0.069400均值下限LCLX=X-A2R=17.8469极差下限LCLR=D3R=0A2注:圈出那些超出控制限的值。查明原因並纠正。同一评价人采用最初的仪器重复这些读数或剔除这些值并由其余观测值再次平均并计算R和极限值.均值图极差图量具重复性和再现性分析表NO:版号:A修订号:1表格编号:量具名称：数显卡尺零件名称：安规电容分析日期：2016.11.22量具编号：VC033测量参数：GX4043外壳长度评价人员：量具量程：150mm参数规格：18±0.5mm评价人数量：3来自数据表：R=0.027XDIFF=0.0030RP=0.064试验次数r=3零件数量n=10%总变差（TV）重复性－设备变差(EV)EV=R×K1试验次数24.5633.05试验次数24.5633.05=0.082%EV=100×(EV/TV)=100×（0.082/0.133）=61.9%评价人数23.6532.7评价人数23.6532.7%AV=100×(AV/TV)=100×（0.000/0.133)=0.0%重复性和再现性(R&R)=0.08242.30 52.08零件变差(PV)61.93PV=RP×K371.82=0.0644×1.62=0.104%R&R=100×(R&R/TV)=100×（0.082/0.133)=61.9%%PV=100×(PV/TV)=100×（0.104/0.133)=78.5%总变差(TV)TV==0.133有效分辨率=1.41(PVR&R)=1.41×(0.104/0.082)判定：%R＆R≥30%，测量系统不可以接受！分析评价措施量具可用备注：所有计算都基于预期5.15σ(在正态分布曲线之下99.0%的面积)。K1为5.15／d2，