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文档简介

CCSV20/2931I Ⅱ 4.3基于数据的抗辐射性能分析 6.1抗电离总剂量效应加固设计 II请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。1元器件抗辐射性能评估指南本文件适用于空间飞行器用电子元器件的抗辐射性3.13.2单个高能粒子作用于器件所引发的翻转、锁定、烧毁、3.3粒子在材料中通过弹性或非弹性碰撞导致材料晶格结构损伤导致的辐射损伤2选择有加固指标的元器件或在其它宇航型号上有应用经历的元器件,在无法确定元器件抗辐射指标的情况下,选择有故障分析服务的器件或者内部结构已f)元器件宜区分功能失效与参数失效。3综合4.3.2.1~4.3.2.3中各因素判断拟选用的元器件的抗辐射性能4.4抗辐射性能评估试验测试参数。记录试验过程中可能出现的异常、处理方式和将受试元器件的抗辐射性能评估结果与宇航型号的抗辐射指标要求进行比6.1抗电离总剂量效应加固设计当拟选用元器件抗电离总剂量效应性能无法满足宇航型号4当拟选用元器件抗位移效应性能无法满足宇航型号抗辐射指5一一一一一一一6一一一一一7钴60γ辐射源-6~-2钴60γ辐射源)

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