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文档简介
Visualinspectionmethodsofscreenqualityformicrolightemittingdiode（MicroI 3 4 4 4 4 4 5 57.2外观缺陷 6 本文件按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。微电子有限公司、天马微电子股份有限公司、TCL华星光电技术有限公司、厦门天马微电子有限公司、厦门大学、利亚德光电股份有限公司、深圳创云科技股份有限公司、深圳市壹倍科技有限公司、深圳市晶台股份有限城、顿胜堡、高兆峰、任丽美、樊心仪、孔一帆、王俊杰1MicroLED显示屏质量视觉测试方法本文件描述了用人眼对MicroLED3.1采用长边小于100微米，短边小于50微米且不含衬底3.23.3任何出现在有效显示区域内的可观察到的异常3.43.53.63.723.8子像素簇缺陷clusteredsubpix聚集在特定区域或在特定距离内的子像素。3.93.103.113.123.133.143.153.163.1733.183.194视觉缺陷分类有必要为MicroLED显示屏视觉缺陷规定一个标准的分类方案4测试装置的系统框图和/或测试条件应满足每个测试件下进行。若使用不同的环境条件，应在视觉检查测试报告中注者的视觉疲劳，以致对缺陷敏感性的降低或丧失。目视检查者在开始检测的10min前先适应照明条件。在检查环境中应注意使用漫射照明和漫射纹理以避免检查者的视野内出现炫光。如图2所示，将待（吸光材料）5a)将被测显示屏安装测试台，打开直流电源和信号源。将驱动电流和图案提供至缺陷检测规定d)全屏白色测试图案(100%灰度等级)适用于检测暗子像素缺陷。红绿蓝彩色通道的测试图案可应用于识别和分类子像素的缺陷性质以及不均匀性的612345以暗子像素缺陷总数量占显示屏子像素总数量的比例67至目视检查者的视野内。外观缺陷的检测应在观看方向的宽范围上进行（见图3）。应注意阻挡检测者外观缺陷检测一般在熄屏状态下进行，也可选用检测图案辅助观察，如：全屏白色测试图案(100%712X≤3mm,Y≤3mm,Z≤T，允许(应不伤及线路，无可扩展83X≤5.0mm，Y≤1mm，Z≤T，允许(应不4mm；M：规定面积，单位：cm2；N：点缺陷的数量，单5最小值(mm)≤W≤最大值(mm)，最小值(mm)≤L≤最大
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