CN116416190B 瑕疵检测方法及装置、电子设备及存储介质 （鸿海精密工业股份有限公司）

像素差值生成所述测试样本图像的多个特征连2基于所述测试样本图像中的像素点，确定在所述多张正样本图像根据所述色差阈值及所述像素差值生成所述测试样本图像的多个特征根据每个特征连通区域中像素点的数量及所述第一阈值，从所述多根据所述目标区域的面积及所述第二阈值，确定所述测试样本将所述色差值作为横坐标，及将所述色差值对应的像素点数量作为根据预设值从所述色差直方图的坐标值中选取多个连续色差值，从所述目标色差值集合中筛选出最大色差值作为所述色将除所述目标色差值集合外的特征集合确定为多个背从所述多张正样本图像中筛选与所述多个背景色差值集合中的色差值对应的像素点将小于或者等于所述色差阈值的像素差值确定为背景差值，从所将大于所述色差阈值的像素差值确定为目标差值，从所述测试3将大于所述第一阈值的第一数量所对应的特征连通区域确定为所述获取每张负样本图像的每个像素点的第一像素值，并获取将小于或者等于所述色差阈值的负样本差值确定为特征差值，将大于所述色差阈值的负样本差值确定为瑕疵差值，从所述多张负样若所述第二瑕疵面积小于或者等于所述第二阈值，将所述检测结果确定为无瑕疵样确定单元，用于基于所述测试样本图像中的像素点，确定在所所述生成单元，还用于根据所述色差阈值及所述像素差值生成所述测筛选单元，用于根据每个特征连通区域中像素点的数量所述确定单元，还用于根据所述目标区域的面积及所述第二阈值处理器，执行所述至少一个指令以实现如权利要求1至7中任意一项所述瑕疵检测方45[0014]将任意两张正样本图像中对应的像素点的像素值进行相减运算处理，得到色差6[0023]从所述多张正样本图像中筛选与所述多个背景色差值集合中的色差值对应的像[0041]根据所述目标区域中的所有像素点计算所述目标区域的面积，得到第二瑕疵面78[0078]在本申请的至少一个实施例中，所述电子设备基于所述测试样本图像中的像素[0079]所述电子设备获取所述测试样本图像中的像素点对应的9[0083]所述电子设备将任意两张正样本图像中对应的像素点的像素值进行相减运算处所述电子设备将所述色差值作为横坐标，及将所述色差值对应的像素点数量作为纵坐标，[0092]S13，根据所述色差阈值及所述像素差值生成所述测试样本图像的多个特征连通[0103]所述电子设备将除所述目标色差值集合外的特征集合确定为多个背景色差值集所述电子设备将所述第一数量大于所述第一阈值所对应的特征连通区域确定为目[0132]所述获取单元110控制所述摄像装置以相同的位置和角度拍摄多个正样本、负样[0133]确定单元111基于所述测试样本图像中的像素点，确定在所述多张正样本图像中[0135]在本申请的至少一个实施例中，所述确定单元111基于所述测试样本图像中的像[0136]所述确定单元111获取所述测试样本图像中的像素点对应的像素值作为第一像素[0139]在本申请的至少一个实施例中，所述生成单元112根据所述多张正样本图像生成[0140]所述生成单元112将任意两张正样本图像中对应的像素点的像素值进行相减运算[0141]所述生成单元112统计每个特征集合中的元素数量，将所述元素数量最大的特征[0149]所述生成单元112根据所述色差阈值及所述像素差值生成所述测试样本图像的多[0151]在本申请的至少一个实施例中，所述生成单元112根据所述色差阈值及所述像素[0152]所述生成单元112将大于所述色差阈值的像素差值确定为目标差值，从所述测试样本图像中筛选与所述目标差值对应的像素点作为目标像素点。所述生成单元112根据相[0159]在本申请的至少一个实施例中，所述生成单元112根据所述多张正样本图像的图[0160]所述生成单元112将除所述目标色差值集合外的特征集合确定为多个背景色差值[0163]筛选单元113根据每个特征连通区域中像素点的数量及所述第一阈值，从所述多[0165]在本申请的至少一个实施例中，所述筛选单元113根据每个特征连通区域中像素地，所述筛选单元113将所述第一数量大于所述第一阈值所对应的特征连通区域确定为目[0170]在本申请的至少一个实施例中，所述生成单元112根据所述多张负样本图像的瑕[0171]所述生成单元112获取每张负样本图像的第三像素值，并获取每张正样本图像的所述生成单元112将小于或者等于所述色差阈值的负样本差值确定为特征差值，从所述多述生成单元112将所述第二数量大于所述第一阈值所对应的第二连通区域确定为瑕疵区[0177]所述确定单元111根据所述目标区域的面积及所述第二阈值，确定所述测试样本[0179]在本申请的至少一个实施例中，所述确定单元111根据所述目标区域的面积及所[0180]所述确定单元111根据所述目标区域中的所有像素点计算所述目标区域的面积，以及存储在所述存储器12中并可在所述处理器13上运行的计算机程序，例如瑕疵检测程立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等，所述处理器13是所述电子设备1的运算核心和控制中心，利用各种接口和线路连接整个电[0187]所述处理器13获取所述电子设备1的操作系统以及安装的各类应用程序。所述处理器13获取所述应用程序以实现上述各个瑕疵检测方法实施例中的步骤，例如图2所示的或多个模块/单元可以是能够完成特定功能的一系列计算机程序指令段，该指令段用于描[0189]所述存储器12可用于存储所述计算机程序和/或模块，所述处理器13通过运行或实现所述电子设备1的各种功能。所述存储器12可主要包括存储程序区和存储数据区，其[0191]所述电子设备1集成的模块/单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的现上述实施例方法中的全部或部分流程，也可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完[0194]具体地，所