（正式版）DB34∕T 3368.1-2019 《印制电路板中有害物质分析方法 第1部分：铅、汞、铬、镉和溴的快速筛选X射线荧光光谱法》_第1页
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2019-08-01实施2019-08-01实施——第2部分：卤素(氯和溴)的测定离子色谱法；本部分为第1部分。工1本部分适用于印制电路板中有害物质铅、汞、铬、镉、溴的快速筛选，其中所测定的铬、溴是指样品中的总铬、总溴。荧光光谱，根据其特征谱线(能量或波长)进行分析。4.1X射线荧光光谱仪。5试剂仅供学习交流使用，请勿传播或其他用途5.2硼酸：分析纯(105℃烘1h,置于干燥器内储存)。将印制电路板剪切成小于10mmx10mm的方块(块数能满足2cm³体积的要求),经液氮冷却后，用粉碎机粉碎成粒径小于0.5mm的粉末，混匀后。取体积约为2cm³的样品粉末，用硼酸(5.2)衬2汞(Hg)铬(Cr)7.4测定——X结果为不确定，需要按照本系列标准第2部分～第6部分的规定定量分析。请勿传播或其他表2印制电路板中有害物质的筛选限值铅P≤(500-3S)<X<(1500+3S)≤F汞P≤(500-3S)<X<(1500+3铬溴镉

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