CN119403162A 一种异构沟槽栅碳化硅vdmos及其制备方法 (泰科天润半导体科技(北京)有限公司)_第1页
CN119403162A 一种异构沟槽栅碳化硅vdmos及其制备方法 (泰科天润半导体科技(北京)有限公司)_第2页
CN119403162A 一种异构沟槽栅碳化硅vdmos及其制备方法 (泰科天润半导体科技(北京)有限公司)_第3页
CN119403162A 一种异构沟槽栅碳化硅vdmos及其制备方法 (泰科天润半导体科技(北京)有限公司)_第4页
CN119403162A 一种异构沟槽栅碳化硅vdmos及其制备方法 (泰科天润半导体科技(北京)有限公司)_第5页
已阅读5页,还剩17页未读 继续免费阅读

下载本文档

版权说明:本文档由用户提供并上传,收益归属内容提供方,若内容存在侵权,请进行举报或认领

文档简介

司本发明提供了一种异构沟槽栅碳化硅VDMOS形成漏极金属层;在碳化硅衬底上侧面外延生22.如权利要求1所述的一种异构沟槽栅碳化硅VDMO3.如权利要求1所述的一种异构沟槽栅碳化硅VDM4.如权利要求1所述的一种异构沟槽栅碳化硅VDMOS的制备5.如权利要求1所述的一种异构沟槽栅碳化硅VDM6.如权利要求1所述的一种异构沟槽栅碳化硅VDMO3[0004]第一方面,本发明提供了一种异构沟槽栅碳化硅VDMOS的制备方法,包括如下步一方面所述的一种异构沟槽栅碳化硅VDMOS的制备方法45[0029]如图1至16所示,本申请实施例通过提供一种异构沟槽栅碳化硅VDMOS的制备方6以及N型源区41内侧面,所述绝缘介质层5内设有悬浮栅51,所述绝缘介质层5上设有沟槽发明的栅极金属层6通过在不影响器件栅极对P型阱区4特性的基础上,增加了器件栅极中7栅极金属层6降低了器件的栅漏电容,但是会影响器件绝缘介质底部的载流子浓在增加其底部载流子浓度的同时通过左右两侧的绝缘介质可以增加器件从N型源区41到掩89

温馨提示

  • 1. 本站所有资源如无特殊说明,都需要本地电脑安装OFFICE2007和PDF阅读器。图纸软件为CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.压缩文件请下载最新的WinRAR软件解压。
  • 2. 本站的文档不包含任何第三方提供的附件图纸等,如果需要附件,请联系上传者。文件的所有权益归上传用户所有。
  • 3. 本站RAR压缩包中若带图纸,网页内容里面会有图纸预览,若没有图纸预览就没有图纸。
  • 4. 未经权益所有人同意不得将文件中的内容挪作商业或盈利用途。
  • 5. 人人文库网仅提供信息存储空间,仅对用户上传内容的表现方式做保护处理,对用户上传分享的文档内容本身不做任何修改或编辑,并不能对任何下载内容负责。
  • 6. 下载文件中如有侵权或不适当内容,请与我们联系,我们立即纠正。
  • 7. 本站不保证下载资源的准确性、安全性和完整性, 同时也不承担用户因使用这些下载资源对自己和他人造成任何形式的伤害或损失。

最新文档

评论

0/150

提交评论