CN119446245A 一种针对芯片的存储单元的检测方法和装置 （龙芯中科技术股份有限公司）

一种针对芯片的存储单元的检测方法和装置本发明实施例提供了一种针对芯片的存储描链包括针对寄存器生成针对原生存储单元的链和第二存储内建自测试扫描链获取针对存储数值；基于扫描数据和第一计数值检测存储单2生成扫描模式进入指令，并调用所述联合测试行为组织在所述扫描模式下，通过所述寄存器生成针对所述储生成存储内建自测试模式进入指令，并采用所述联合控制所述存储单元在所述存储内建自测试模式下执行存通过所述第一存储内建自测试扫描链和第二存储内建自测试扫描链获取针对所述存生成存储内建自测试模式进入指令，并采用所述联合控制所述存储单元在所述存储内建自测试模式下执行存通过所述第一存储内建自测试扫描链和第二存储内建自测试扫描链获取针对所述存37.一种针对芯片的存储单元的检测装置，第一存储内建自测试模式进入指令生成子模块，用4存储内建自测试模式进入指令控制所述芯片进[0011]控制所述存储单元在所述存储内建自测试模式下执行存储内建[0013]通过所述第一存储内建自测试扫描链和第二存储内建自测试扫描链获取针对所5存储内建自测试模式进入指令控制所述芯片进[0017]控制所述存储单元在所述存储内建自测试模式下执行存储内建[0019]通过所述第一存储内建自测试扫描链和第二存储内建自测试扫描链获取针对所[0029]储存单元检测模块，用于基于所述扫描数据和所述第一计数值检测所述存储单6[0039]重置计数器和错误次数计数器停止子模块，用于当判定所述存储单元存在故障自测试扫描链获取针对所述存储单元的扫描数据，并通过所述重置计数器获取第一计数[0043]存储内建自测试逻辑操作重启子模块，用于当所述第二计数值未达到预设阈值[0045]存储内建自测试逻辑操作停止子模块，用于当所述第二计数值7[0055]图1是本发明实施例中提供的一种针对芯片的存储单元的检测方法的步骤流程机台ATE用低速时钟逐拍移入外部测试向量，测试时间长、测试效率低、且测试成本高。8[0067]针对上述问题，相关技术针对不同MBIST代码实现的诊断机制各不相同。一类用户自定义指令，使得MBIST状态机进入RAM组选择模式，在RAM组选择模式下，通过JTAG块待诊断的RAM块。再使用用户自定义指令，在诊断模式下执行MBIST操作。诊断模式下JTAGTDO端口将诊断寄存器的值按位移出，收集诊断寄存器的值可以分析RAM出故障的地要增加额外的诊断相关的寄存器且需要将内部的寄存器串链移入移出，有一定的硬件开9[0074]JTAG是联合测试工作[0075]BIST(Built_inSelfTest)是在设计时在电路中植入相关功能电路用于提供自的接口。所有要从特定的寄存器中输出的数据都是通过TDO接口一位一位串行输出的(由[0077]参照图1，示出了本发明实施例中提供的一种针对芯片的存储单元的检测方法的所述扫描链包括针对所述寄存器生成针对所述原生存储单元的第一存储内建自测试扫描以为内建自测试相关寄存器，并将内建自测试相关寄存器串成扫描链，以实现后续生成ATPG(Automatictestpatterngeneration)向量来测试明实施例可以生成扫描模式进入指令，扫描模式进入指令可以用于控制芯片进入扫描模式进入指令控制所述芯片进入所述扫描模式，从而实现了在MBIST下实现芯片在多模式下MBIST相关寄存器单独串成扫描链，从而为后续可以针对不同的扫描链生成相互独立的扫[0089]本发明实施例还可以对存储单元内建自测试逻辑配置对应的重置计数器bist_值检测存储单元，示例性地，由于第一计数值可以直接定位到执行MBIST时出现故障的时存储内建自测试模式进入指令控制所述芯片进[0097]控制所述存储单元在所述存储内建自测试模式下执行存储内建[0099]通过所述第一存储内建自测试扫描链和第二存储内建自测试扫描链获取针对所[0100]在具体实现中，本发明实施例的芯片还可以配置有存储内建自测试模式为组织接口基于所述存储内建自测试模式进入指令控制所述芯片进入所述存储内建自测试模式；控制所述存储单元在所述存储内建自测试模式下执行存储内建自测试逻辑操作，[0104]在具体实现中，本发明实施例除了可以向存储单元RAM配置重置计数器bist_存储内建自测试模式进入指令控制所述芯片进[0107]控制所述存储单元在所述存储内建自测试模式下执行存储内建[0109]通过所述第一存储内建自测试扫描链和第二存储内建自测试扫描链获取针对所扫描模式进入指令，在扫描模式下将原生存储单元的MBIST扫描链数据和定制存储单元的为组织接口基于所述存储内建自测试模式进入指令控制所述芯片进入所述存储内建自测试模式；控制所述存储单元在所述存储内建自测试模式下执行存储内建自测试逻辑操作，行存储内建自测试逻辑操作在MBIST操作执行过程中，如果发现故障RAM且需要将故障RAM扫描模式进入指令，在扫描模式下将原生存储单元的MBIST扫描链数据和定制存储单元的行存储内建自测试逻辑操作在MBIST操作执行过程中，如果发现故障RAM且需要将故障RAM扫描模式进入指令，在扫描模式下将原生存储单元的MBIST扫描链数据和定制存储单元的并可以停止执行存储内建自测试逻辑操作。[0121]可以将芯片寄存器串成扫描链，后续生成ATPG(Automatictestpattern单元的MBIST寄存器单独串成扫描链。实现的诊断机制可以是基于标准原生RAM的MBIST扫[0123]在扫描模式下按比特移位的原生RAM的MBIST扫描链和定制存储单元的MBIST扫描链，将诊断相关的寄存器赋相应的值，主要是两组寄存器bist_counter计数器和error_[0126]为实现诊断功能，可以在MBIST代码内部实现了计数机制，该机制能够准确统计[0132]参照图3，示出了本发明实施例中提供的一种针对芯片的存储单元的检测装置的[0136]储存单元检测模块304，用于基于所述扫描数据和所述第一计数值检测所述存储[0146]重置计数器和错误次数计数器停止子模块，用于当判定所述存储单元存在故障自测试扫描链获取针对所述存储单元的扫描数据，并通过所述重置计数器获取第一计数[0150]存储内建自测试逻辑操作重启子模块，用于当所述第二计数值未达到预设阈值[0152]存储内建自测试逻辑操作停止子模块，用于当所述第二计数值读存储介质，如只读存储器(Read_OnlyMemory，简称ROM)、随机存取存储器(Random[0159]电子设备通过网络模块402为用户提供了无线的宽带互联网访问，如帮助用户收[0160]音频输出单元403可以将射频单元401或网络模块402接收的或者在存储器409中子设备400执行的特定功能相关的音频输出(例如，呼叫信号接收声音、消息接收声音等[0161]输入单元404用于接收音频或视频信号。输入单元404可以包括图形处理器或图像捕获模式中由图像捕获装置(如摄像头)获得的静态图片或视频的图像数据进行处储在存储器409(或其它存储介质)中或者经由射频单元401或网络模块402进行发送。麦克电话通话模式的情况下转换为可经由射频单元401发送到移(OrganicLight_EmittingDiode,OLED)等形式[0164]用户输入单元407可用于接收输入的数字或字符信息，以及产生与电子设备的用(比如用户使用手指、触笔等任何适合的物体或附件在触控面板4071上或在触控面板4071面板4061是作为两个独立的部件来实现电子设备的输入和输出功能，但是在某些实施例将接收到的输入传输到电子设备400内的一个或多个元件或者可以用于在电子设备400和[0168]处理器410是电子设备的控制中心，利用各种接口和线路连接整个电子设备的各可以通过电源管理系统与处理器410逻辑相连，从而通过电源管理系统实现管理充电、放出贡献的部分可以以软件产品的形式