CN119451916A 膜及其制造方法 （株式会社村田制作所）

2024.12.20PCT/JP2023/0155822023.04.19WO2023/248598JA2023.12.28本发明的目的在于提供一种经时的电导率使在高温高湿下经时的电导率降低也受到了抑二维粒子是具有1个或多个层的二维粒子，包含甲基甲酰胺的含有率相对于1摩尔的MmXn为2所述膜中的N甲基甲酰胺的含有率相对于1摩尔的MmXn为0.104摩mAXn所示的前体的步骤，4.根据权利要求3所述的制造方法，其中，使所述前体膜mAXn所示的前体的步骤，34anddirectprintingofmicro_supercapacitors”NATURECOMMUNICATIONS2019,10,5[0040]图1是表示本发明的1个实施方式中的层状材料的MXene粒子的概略示意截面图，6[0054]在本发明中，上述二维粒子可以理解为层状材料或层状化合物，也表示为不限于此。C、Mo2N23C23C22Nb22Ta22Mn22V22Mn222Ti22V2、Cr2Ta22Sc22Ti2、Mo2Hf22V22Nb22Ta22Ti22Zr2C34C34C34C34C32Nb232Ta2332Ta2332Ti23、Cr2Nb232Ta232Ti232Zr232Hf232V23Mo2Ta232Ti232Zr232Hf233[0066]需要说明的是，在本发明中，MXene可以包含较少量的来自于前体的MAX相的A原7[0070]在一个方式中，本实施方式中的二维粒子优选包含上述可包含的多层MXene粒子以下。另外，层数少的多层MXene粒子的层叠方向的厚度优选为15nm以下，进一步优选为[0072]在一个方式中二维粒子的二维面的长径的平均值）/（二维粒子的厚度的平均均值和上述二维粒子的厚度的平均值通过后述的方大部分的MXene小径化至长径约数百nm，因此可以认为，由通过超声波处理层离的单层8[0077]如后述的实施例所示，上述二维面的长径是指在电子显微镜照片中将各MXene粒[0078]本实施方式的二维粒子的长径的平均值可以通过使包含该二维粒子的膜溶解于[0080]本实施方式的二维粒子的厚度的平均值优选为1nm以上且15nm以下。上述厚度优基甲酰胺能够在1个二维粒子的最表层和其他二维粒子的最表层之间形成氢键，可认为能002002002对应的峰的如，在以10℃/分钟或20℃/分钟从150℃升温至450℃的情况下，可以将150℃时的质量与n的物质的量可以通过将升温至1509n中除去A原子的至少[0122]作为上述金属化合物，可举出上述金属阳离子与阴离子键合而成的离子性化合溶解参数作为指标来进行评价。上述有机化合物的Hildebrand溶解参数（Hildebrand够得到在2个相邻的MmXn层之间插层有上述有机化合物的插层[0136]作为上述蚀刻和插层处理中使用的蚀刻液和金属化合物，分别可以使用与工序层离处理物和N甲基甲酰胺的混合物中的层离处理物的含有率例如为0.5质量%以上且10[0193]天线用电极是用于向空间辐射电磁波和/或接收空间中的电磁波的电极。天线用2220℃/分钟从室温升温至100℃,在100℃下保持10分钟后，以升温速度20℃/分Å),在2θ=2度～50度的范围内得到了θ轴方向扫描的XRD曲线。步长设为0.02度[0249]求出所得到的膜的电导率。关于电导率，对1个样品在3个部位测定电阻率(Ω)和厚度(μm根据这些测定值算出电导率（S/cm采用由此得到的3个电导率的平均值。在电AXMCPT370通过四端子法测定膜的表面电阻。厚度测定使用触针式表面形状测定装置制以升温速度10℃/分钟从室温升温至100℃,在100℃保持10分钟后，以升温速度10℃/作了膜。