CN119473740A 一种存储性能测试方法、设备及介质 （超聚变数字技术有限公司）

使用所述目标队列深度在所述测试对象中执行2响应用户选择的测试模式，在确定选择的测试模式在测试对象中以初始队列深度执行至少一次预测试，根据所述预测试使用所述目标队列深度在所述测试对象中执行存储性能测试，在确定所述预测试的测试时延小于或等于所述目标时延时，基在确定所述预测试的测试时延大于所述目标时延时，利用所述调节系数3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述调节系数增加当前队列深4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述利用所述调节系数缩小当前队列深在确定选择的测试模式为指定命中率模式时，获取在测试对象中执行至少一轮存储性能测试，获得至少一个测试基于所述至少一个测试结果，确定所述测试对象的命中率在第3接收所述用户通过所述测试参数输入选项输入的目标在测试对象中以初始队列深度执行至少一次预测试，根据所使用所述目标队列深度在所述测试对象中执行存储性能测试，4[0008]在测试对象中以初始队列深度执行至少一次预测试，根据所述预测试的测试时56述第一命中率时的第一时刻、以及命中率首次小于或者等于所述第二命中率时的第二时[0042]通过测试参数输入界面或者测试参数输入对话框，向用户展示测试参数输入选[0045]在测试对象中以初始队列深度执行至少一次预测试，根据所述预测试的测试时7[0061]通过测试参数输入界面或者测试参数输入对话框，向用户展示测试参数输入选述第一命中率时的第一时刻、以及命中率首次小于或者等于所述第二命中率时的第二时8[0077]通过测试参数输入界面或者测试参数输入对话框，向用户展示测试参数输入选9述第一命中率时的第一时刻、以及命中率首次小于或者等于所述第二命中率时的第二时[0107]通过测试参数输入界面或者测试参数输入对话框，向用户展示测试参数输入选[0126]通过测试参数输入界面或者测试参数输入对话框，向用户展示测试参数输入选述第一命中率时的第一时刻、以及命中率首次小于或者等于所述第二命中率时的第二时[0142]通过测试参数输入界面或者测试参数输入对话框，向用户展示测试参数输入选设备中的任一终端设备110和多个服务器中的任一个服务及大数据和人工智能平台等基础云计算服务的[0177]步骤205，服务器120通过终端设备110向用户输出有效数据作为存储性能测试结[0181]上面结合具体应用场景对本申请实施例提供的存储性能测试方法的应用场景和[0228]在测试对象中初始化队列深度为1，执行20s预测试，获得当前测试时延tc为达到预设值或者测试时长大于预设测试时长时，根据实时命中率及测试时刻的对应关系，系。若指定命中率为50偏移量为5则第一命中率为45第二命中率为55在图6示[0247]下面结合图7，对本申请实施例提供的存储性能测试方法中指定命中率模式的具命中率首次大于或等于第一命中率的时刻t1和命中率首次小于或者等于第二命中率的时命中率和第二命中率之间的存储性能数据，作为测试对象在目标命中率下的存储性能数于命中率下限45％(目标命中率与偏移量之差)的命中率为45.20对应的测试时刻t1为[0282]通过测试参数输入界面或者测试参数输入对话框，向用户展示测试参数输入选[0298]通过测试参数输入界面或者测试参数输入对话框，向用户展示测试参数输入选[0328]通过测试参数输入界面或者测试参数输入对话框，向用户展示测试参数输入选[0347]通过测试参数输入界面或者测试参数输入对话框，向用户展示测试参数输入选率和第二命中率之间时的存储性能数据，作为测试对象在目标命中率下的存储性能数据，[0363]通过测试参数输入界面或者测试参数输入对话框，向用户展示测试参数输入选算机可读存储介质可以是计算机能够存取的任何可用介质或者是包含一个或多个可用介路(applicationspecificintegratedcircuit，ASIC)、现场可编程门阵列[0371]当电子设备采用图13所示的形式时，图13中的处理器1301可以通过调用存储器功能/实现过程均可以通过图13中的处理器1301调用存储器1303中存储的计算机执行指令器1301调用存储器1303中存储的计算机执行程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功[0375]这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一[0377]显然，本领域的技术人员可以对本申请进行各种改动和变型而不脱离本申请范