CN119479768A 一种存储芯片的测试方法及测试装置 （合肥康芯威存储技术有限公司）_第1页
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区宿松路3963号智能装备科技园D3栋本发明提供一种存储芯片的测试方法及测2检测所述数据坏块上的有效数据是否被转移至备用闪存块，以及若所述目标闪存块符合复写条件，则向所述目标闪存块中复写块的总容量x（每个字符串单元中存储的数据位数一1）/每个字符串单元中3重复交替进行随机写，以及对已写入数据的所述存储位置进行复处理器，运行所述程序命令实现如权利要求1至权利要求10任意一项所述存储芯片的4闪存块不符合复写条件，则选取所述目标闪存块的后一个闪存块作为新的所述目标闪存56明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或组件必须具有特定的方位、以特定的方位述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或组件必须具有高低，因此不能理解相对重要性。标准规格（EmbeddedMultiMediaCard，eMMC通用闪存存储（UniversalFlash机存取数据存储设备（randomaccessmemory，RAM中间层22例如为闪存转换层(Flash7照实际需求配置为不同的存储模式，存储器单元例如包括SLC(单层单元闪存，Single_指的是闪存块231中的每个存储器单元存放多个比特数据，且XLC包括MLC(多层单元闪存，8的存储位置中进行随机写数据，直至存储芯片20的存储位置中写满数据并启动垃圾回收。[0042]在本发明一实施例中，选取的目标闪存块可以为后端层23中的任意一个闪存块个闪存块。在其他实施例中，选取的目标闪存块也可以为通道地址为1中的任意一个闪存块的中的存储器单元是否为单层单元闪存，若目标闪存块中的存储器单元为单层单元闪9[0049]在本发明一实施例中，在选取目标闪存块的后一个闪存块231作为新的目标闪存也包括外部存储设备。存储器不仅可以用于存储安装于测试装置的应用软件及各类数据，还可以用于暂时地存储已经输出或者将要输出个封装的集成电路所组成，也可以是由多个相同功能或不同功能封装的集成电路所组成，

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