2检试验工艺规程

超声波检测工艺规程1超声检测通用工艺规程2承压设备用钢板超声检测专用工艺3承压设备用锻件超声检测专用工艺4承压设备用奥氏体钢超声检测专用工艺5承压设备用无缝钢管超声检测专用工艺6承压设备用复合钢板超声检测专用工艺7承压设备对接焊接接头超声检测专用工艺8承压设备T型焊接接头超声检测专用工艺9钢制承压设备管子和管道环向对接焊接接头超声检测专用10承压设备用钢螺栓坯件超声检测专用工艺11在用承压设备超声检测专用工艺12超声测厚检测通用工艺13模拟式超声检测仪操作规程14数字式超声检测仪操作规程15超声波探伤仪系统自校规程16超声测厚仪操作规程1超声检测通用工艺规程1.1范围1.1.1本工艺规定了承压设备采用A型脉冲反射式超声波探伤仪检测工件缺陷的超声检测方法。1.1.2本工艺适用于金属材料制承压设备用原材料、零部件和焊接接头的超声检测，也适用于金属材料制在用承压设备的超声检测。1.2引用标准1.2.1GB150-981.2.2劳部发[1996]276号1.2.3JB/T4730-2005《承压设备无损检测》1.3一般要求1.3（1）凡从事超声波检测的人员，必须经过国家劳动部门考核，取得各级资格的人员是能从事与其资格相适应的工作。（2）检测人员必须掌握仪器的综合性能，并能独立进行检测。（3）检测人员必须熟悉超声波检测有关标准，能按标准要求选择适当方法校正仪器，并能进行熟练的检测操作。（4）检测人员应能根据被检工件的材质、规格、加工工艺过程、材料曲率等，预计缺陷可能产生的部位和类型，并能进行正确的定位和定量。1.3.2检测设备（1）超声检测设备均应具有产品质量合格证或合格的证明文件。（2）探伤仪、探头和系统性能（a）探伤仪采用A型脉冲反射式超声波探伤仪，其工作频率范围为1-5MHz，仪器至少在荧光屏满幅度的80%范围内呈线形显示，探伤仪应具有80dB以上的连续可调衰减器，步进级每档不大于2dB，其精度为任意相邻12dB误差在±1dB以内，最大累计误差不超过1dB。水平线性误差不大于1%，垂直线性误差不大于5%。其余指标应符合JB/T9214的规定。（b）探头a.检测常用探头有单直探头，单斜探头等。b.晶片有效面积一般不应超过500mm2，且任一边长不应大于25mm。c.单斜探头声束轴线水平偏离角不应大于2°，主声束垂直方向不应有明显的双峰。（c）超声探伤仪和探头的系统性能a.在达到所探工件的最大检测声程时，其有效灵敏度余量应大于或等于10dB。b.仪器和探头的组合频率与公称频率误差不得大于±10%。c.仪器和直探头组合的始脉冲宽度：对于频率为5MHz的探头，其占宽不得大于10mm；对于频率为2.5MHz的探头，其占宽不得大于15mmd.直探头的远场分辩力应大于或等于30dB，斜探头的远场分辨力应大于或等于6dB。e.仪器和探头的系统性能应按JB/T9214和JB/T10062的规定进行测试。1.3.3超声检测一般方法（1）检测准备（a）承压设备的制造、安装和在用检验中，超声检测的检测时机及抽检率的选择等应按相关法规、标准及有关技术文件的规定。（b）所确定检测面应保证工件被检部分均能得到充分检查。（c）焊缝的表面质量应经外观检测合格。所有影响超声检测的锈蚀、飞溅和污物等都应予以清除，其表面粗糙度应符合检测要求。表面的不规则状态不得影响检测结果的正确性和完整性，否则应做适当的处理。（2）扫查覆盖率为确保检测时超声声束能扫查到整个被检区域，探头的每次扫查覆盖率应大于探头直径（斜探头的宽）的15%。（3）探头的移动速度探头的移动速度不应超过150㎜/s。（4）扫查灵敏度扫查灵敏度不应低于基准灵敏度。（5）耦合剂应采用透声性好，且不损伤检测表面的耦合剂，如机油、浆糊、甘油和水等。（6）耦合补偿（a）表面粗糙度补偿在检测和缺陷定量时，应对由表面粗糙度引起的能量损耗进行补偿。（b）衰减补偿在检测和缺陷定量时，应对材质衰减引起的检测灵敏度下降和缺陷定量误差进行补偿。（c）曲面补偿对于探测面是曲面的工作，应采用曲率半径与工件相同或相近的参考试块，对比进行曲率补偿。1.3.4系统校准和复核（1）一般要求系统校准应在标准试块上进行，校准中应使探头主声束垂直对准反射体的反射面，以获得稳定和最高的反射信号。（2）仪器校准每隔3个月至少应对仪器的水平线性和垂直线性进行一次测定，测定方法按JB/T10061的规定。（3）新购探头测定新购探头应有探头性能说明书，新探头使用前应进行前沿距离、K值、主声束偏离、灵敏度余量和分辨力等主要参数的测定。测定应按JB/T10062的有关规定进行，并满足要求。（4）检测前仪器和探头系统的测定（a）使用仪器—斜探头系统,检测前应测定前沿距离、K值、主声束偏离，调节或复核扫描量程和扫查灵敏度。（b）使用仪器—直探头系统,检测前应测定是脉冲宽度、灵敏度余量和分辨力,调节或复核扫描量程和扫查灵敏度。（5）检测过程中仪器和探头系统的复核遇到下述情况应对系统进行复核：（a）校准后的探头、耦合剂和仪器调节旋钮发生改变时。（b）检测人员怀疑检测量程或扫查灵敏度有变化时。（c）连续工作4h以上时。（d）工作结束时。（6）检测结束前仪器和探头系统的复核（a）每次检测结束前，应对扫描量程进行复核。如果任意一点在扫描线上的偏移超过扫描线读数的10%，则扫描量程应重新调整，并对上一次复核以来所有的检测部位进行复检。（b）每次检测结束前，扫查灵敏度进行复核。一般对距离—波幅曲线的校核不少于3点。如曲线上任何一点幅度下降2dB，则应对上一次复核以来所有的检测部位进行复检；如幅度上升2dB，则应对所有的记录信号进行重新评定。（7）校准、复核的有关注意事项校准、复核和对仪器进行线性检测时，任何影响仪器线性的控制器（如抑制或滤波开关等）都应放在“关”的位置或处于最低水平上。1.3.5试块（1）标准试块（a）标准试块a.标准试块是指本部分规定的用于仪器探头系统性能校准和检测校准的试块,本部分采用的标准试块有：a)钢板用标准试块：CBⅠ、CBⅡ。b)锻件用标准试块：CSⅠ、CSⅡ、CSⅢ。c)焊接接头用标准试块：CSK-ⅠA、CSK-ⅡA、CSK-ⅢA、CSK-ⅣA。b.标准试块应采用与被检工件相同或近似声学性能的材料制成，该材料用直探头探测时，不得有大于或等于φ2㎜平底孔当量直径的缺陷。c.标准试块尺寸精度应符合相关标准要求。d.标准试块的其他制造要求应符合JB/T10063和JB/T7913的规定。（b）对比试块a.对比试块是指用于检测校准的试块。b.对比试块的外形尺寸应能代表被检工件的特征，试块厚度与被检工件厚度相对应。如果涉及到两种或两种以上不同厚度部件焊接接头的检测，试块的厚度由其最大厚度来决定。c.对比试块反射体的形状、尺寸和数量应符合相关标准的要求。1.3.6检测报告及底片资料存档（1）检测报告至少应包括：（a）委托单位。（b）被检工件：名称、编号、规格、材质、坡口型式、焊接方法和热处理状况。（c）检测设备：探伤仪、探头、试块。（d）检测规范：技术等级、探头K值、探头频率、检测面和检测灵敏度。（e）检测部位及缺陷类型：尺寸、位置和分布应在草图上予以标明，如有因几何形状限制而检测不到的部位，也应加以说明。（f）检测结果及质量分级、检测标准名称和验收等级。（g）检测人员和责任人员签字及其技术资格。（h）检测日期。(2)超声检测的有关资料（检测位置示意图、检测原始记录、检测报告等过程结果质量记录资料）必须妥善保管7年以上。2承压设备用钢板超声检测专用工艺2.1适用范围2.1.1本工艺适用于板厚为6-250mm的碳素钢、低合金钢制承压设备用板材的超声检测和质量分级。2.1.2奥氏体钢板材、镍及镍合金板材以及双相不锈钢板材的超声检测也可参照本章执行。2.2引用标准2.2.12.2.2JB/T4730-20052.2.32.3.12.3.22.3.32.3.42.2.4探头2.4.1探头选用应按表1的规定进行。2.4.2双晶探头的性能应符合JB/T4730-2005《承压设备无损检测》标准附录A（规范性附录）的要求。表1承压设备用板材超声检测探头选用板厚，㎜采用探头公称频率，MHz探头晶片尺寸6～20双晶直探头5晶片面积不小于150㎜2＞20～40单晶直探头5φ14㎜～φ20㎜＞40～250单晶直探头2.5φ20㎜～φ25㎜2.2.5标准试块2.5.1T≤20mm的钢板，采用JB/T4730-2005标准要求的CBⅠ标准图1CBI标准试块2.5.2T＞20mm的钢板，采用JB/T4730-2005标准要求的CBⅡ图2CBⅡ标准试块2.6基准灵敏度2.6.1T≤20mm的钢板，用CBⅠ试块将工件等厚部分的第一次底波高度调整到满幅度的50%。再提高10dB作为基准2.6.2T＞20mm时，将CBⅡ试块φ5平底孔第一次反射波调整到满幅度的50%，作为基准2.6.3板厚不小于探头的3倍近场区时，可取钢板无缺陷的完好部位的第一次底波满幅度50%来校准灵敏度，符合2.6.22.7检测方法2.7.1可选钢板任一扎制平面进行检测，如需要也可两面进行检测。2.7.2耦合方式可采用直接接触法或液浸法。2.7.（1）探头沿垂直于钢板压延方向，间距为100mm的平行线进行扫查。在钢板剖口预定线两侧各50mm（当钢板厚度超过100mm时，以钢板厚度的一半为准）内应作100%扫查，如图所示：图3探头扫查示意图（2）根据合同、技术协议书或图样的要求，也可采用其他形式的扫查。2.8缺陷记录2.8.1在检测过程中发现下列情况之一者，作为缺陷（1）缺陷第一次反射波高≥50%，F1≥50%者。（2）B1＜100%，而F1/B1≥50%者。（3）B1＜50%者。2.2.8（1）检出缺陷后，在其周围继续进行检测，以确定其延伸。（2）单直、双直探头在检测面使F1=25%满刻度或F1/B1=50%，此时探头移动的距离指示长度，但双直探头移动方向应与声波分割面相垂直。（3）当采用F2与B2来评定缺陷时，检测灵敏度以相应的第二次反射波来校准。2.8.3（1）在坡口预定线两侧各50mm（T＞100mm时，以板厚的一半为准）内，缺陷指示长度≥50mm时，应判废，不评级。（2）检测中确认钢板中有白点。裂纹等危害缺陷存在时，应判废，不评级。（3）评级按JB/T4730-2005或图纸设计要求来进行评定。3承压设备用钢锻件超声检测专用工艺3.1适用范围3.1.1本工艺适用于承压设备用碳素钢和低合金钢锻件的超声检测和质量分级。3.1.2本工艺不适用于奥氏体钢粗晶锻件的超声检测，也不适用于内外径之比小于80%的环形和筒形锻件的周向横波检测。3.2引用标准3.2.1《钢制压力容器》3.2.2《承压设备无损检测》3.3检测人员3.3.13.3.23.3.33.3.43.4试块3.4.1试块应采用CSⅠ试块，其形状和尺寸应按JB/T4730-2005表4和图4的规定。3.4.2（1）工件检测距离小于45mm时，应采用纵波CSⅡ标准试块。（2）CSⅡ标准试块的形状和尺寸应符合JB/T4730-2005图5和表5的规定。（3）检测面是曲面时，应采用CSⅢ对比试块来测定由于不同曲率而引起的声能损失，其形状和尺寸按JB/T4730-2005图6所示。3.5检测时机原则上应安排在热处理后，槽、孔、台阶加工前进行，检测面表面粗糙度Ra不大于6.3µm。3.6检测方法3.6.1锻件一般应进行纵波检测，对筒形锻件还应进行横波检测，横波检测应按JB/T4730-2005标准附录C（规范性附录3.6.2（1）原则上应从两个垂直的方向进行检测，尽可能的检测到锻件的全体积。（2）锻件的厚度超过400mm时，应从相对两端面进行100%的扫查。3.7检测灵敏度的确定3.7.1单直探头基准灵敏度的确定当被检部位的厚度大于或等于探头的三倍近场区时，且与探测面平行时，原则上可选用底波计算法确定基准灵敏度。对于几何形状所限，不能获得底波或壁厚小于探头的三倍近场区时，可直接采用试块法确定基准灵敏度。3.7.2使用CSⅡ试块，依次测试一组不同检测距离的φ3㎜平底孔（至少3个）。调节衰减器，使其中最高的回波幅度达到满刻度的80%，不改变仪器的参数，测出其他平底孔回波的最高点，将其标在荧光屏上，连接这些点，即是对应不同直径平底孔的纵波双晶直探头的距离—波幅曲线，并以此作为检测基准灵敏度。3.7.3扫查灵敏度一般不得低于最大检测距离的φ2mm3.7.4采用计算法确定检测灵敏度当被检部位的厚度大于或等于探头的三倍近场区时，且与探测面平行时，原则上可选用底波计算法确定检测灵敏度。（1）首先应算出公式：λ=C/fN=D2/4λ确定XB≥3NXf≥3N（2）平底面和实心圆柱体曲底面调节探伤灵敏度当量计算公式△=20lg（2λX/πφ²）（3）用空心圆柱体内孔或外孔圆曲底面调节灵敏度当量计算公式△=20lg（2λX/πφ²）±10﹒lg(d/D)（+外探-内探D外径d内径）（4）用试块法，不同距离、不同孔径调节检测灵敏度计算公式△=40lg{φ1﹒X2/(φ2﹒X1)}3.8工件材质衰减系数的测定3.8.1在工件无缺陷完好区域，选取三处检测面与底面平行且具有代表性的部位，调节仪器使第一次底波回波幅度（B1或Bn）为满刻度的50%，记录此时衰减器的读数，再调节衰减器，使第二次底面回波幅度（B2或Bm），两次衰减器之差即为（B1或Bn）或（B2或Bm）的dB3.8.2衰减系数（T＜3N，且满足n＞3N/T,m=2n）按下式（1）计算：α=〖（Bn-Bm）-6〗/2（m-n）T（1）式中:α—衰减系数；Bn-Bm—两次衰减器的读数之差，dB。T—工件检测厚度，㎜。N—单直探头近场区长度，㎜。m、n—底波反射次数。3.8.3衰减系数（T≥3N）按下式（2）计算：α=〖（B1-B2）-6〗/2T（2）式中：（B1-B2）—两次衰减器的读数差，dB。其余符合意义同式（1）。3.8.4工件上三处衰减系数的平均值即为该工件的衰减系数。3.9缺陷当量的确定3.9.1当缺陷的深度不小于3倍近场区时，采用AVG曲线及计算法确定缺陷当量。对于3倍近场区以内的缺陷，可采用单直探头或双晶直探头的距离—波幅曲线来确定当量。也可采用其他等效方法确定。3.9.2计算缺陷当量时，当材质衰减系数超过4dB/m，应考虑修正。3.10缺陷记录3.10.1记录当量直径超过φ4mm3.10.2密集性缺陷：记录密集缺陷中最大当量缺陷的位置和分布。饼形锻件应记录大于或等于φ4mm当量直径的缺陷密集区，其它锻件应记录大于或等于φ3mm当量直径的缺陷密集区。缺陷密集区面积以50mm×50mm的方块作为最小量度单位，其边界可由6dB法决定。3.11评级3.11.1单个缺陷：根据当量dB值φ4mm加多少dB3.11.2底波降低量：先确定出靠近缺陷处的无缺陷完好区域内第一次底波幅度BG,再确定出缺陷区域内底波幅度降至最低时的第一次底波的幅度BF,则可确定出BG与BF的dB幅度差值。据此,可按JB/T4730-2005超声检测部分表6来3.11.3密集（1）若在荧光屏扫描线相当于50㎜声程范围内同时有5个或5个以上的缺陷反射信号；或是在50㎜×50㎜的检测面上发现同一深度范围内有5个或5个以上的缺陷反射信号。其反射波幅均大于某一特定当量缺陷基准反射波幅。则此缺陷被称为密集区缺陷。（2）根据密集性缺陷占探伤总面积的百分比来评级。3.11.4上述评级，独立进行。以上述评级的最低级别作为被检件的质量级别。3.11.5当缺陷被检测人员判定为危害性缺陷时，锻件的质量等级应评为最低级别—Ⅴ级。3.12返修处理及复验不合格的锻件可进行处理或修复，修复后仍按以上方法进行检测和评级。4承压设备用奥氏体钢锻件超声检测专用工艺4.1适用范围4.1.1本工艺适用于承压设备用奥氏体钢锻件的超声检测和质量分级。4.2探头4.2.1探头的工作频率为0.5MHz～2MHz。4.2.2直探头的晶片直径为14㎜～30㎜。4.2.3斜探头的K值一般为0.5～2。4.2.4为了准确测定缺陷，必要时也可采用其他探头。4.3试块4.3.1对比试块应符合的规定。4.3.2对比试块的晶粒大小和声学特性与被检锻件大致相近。4.3.3在条件允许时，可在锻件有代表性的部位加工一个或几个适当大小的对比孔或槽，代替试块作为校正和检测的基准。4.4检测时机和工件要求4.4.1检测时机可按2.3.5条规定执行。4.4.2被检件表面应无氧化皮、漆皮、污物等。4.5检测方法一般应进行直探头纵波检测。对筒形锻件和环形锻件必要时还应进行斜探头检测，但扫查部位和验收标准由合同双方商定。4.5.1斜探头检测可按JB/T4730-2005《承压设备无损检测》超声部分附录E执行。4.5.2直探头纵波检测可执行2.3.6.2的规定。4.6灵敏度的校正4.6.1当被检锻件厚度不大于600㎜时，应根据订货锻件厚度和要求的质量等级，在适当厚度的平底孔试块上校正，并根据实测值作出距离—波幅曲线（定量线）；当被检锻件厚度大于600㎜时，在工件无缺陷部位将底波调至满刻度的80%，以此作为基准灵敏度。4.6.2扫查灵敏度至少应比距离—波幅曲线（定量线）或基准灵敏度提高6dB。2.4.7缺陷记录4.7.1由于缺陷的存在，而是底波降为满刻度25%以下的部位。4.7.2波幅幅度大于基准线高度50%的缺陷信号。4.8质量分级4.8.1单直探头检测的质量分级见表JB/T4730-2005超声部分的表15。2.4.8.1斜探头检测的质量分级见表JB/T4730-2005超声部分的表16。4.8.2以上评级独立进行，以最低级别作为被检件的质量级别。5承压设备用无缝钢管超声检测专用工艺5.1适用范围5.1.1本工艺适用外径为12-660mm，T≥2mm的承压设备用碳钢和低合金无缝钢管或外径为12-400mm，壁厚为2-35mm的承压设备用奥氏体不锈钢无缝钢管的超声检测和质量分级。5.1.2本条不适用于内外径之比小于80%的钢管周向直接接触法横波检测，也不适用于分层缺陷的超声检测。5.2引用标准5.2.1GB150《钢制压力容器》5.2.25.2.3劳部发[1996]276号《蒸汽锅炉安全技术监察规程》5.2.4GB11345—1989《钢焊缝手工超声波探伤方法和探伤结果的分级》5.2.5SY/T4109—2005《石油天燃气钢质管道无损检测》5.3检测人员5.3.15.3.25.3.35.3.45.4检测设备及辅助器材5.4.1检测设备由超声波检测仪、探头和其他机械传动装置及辅助装置组成。检测频率为2.5MHz～5MHz。5.4.2液浸法检测使用线聚集或点聚集探头。接触法检测使用与钢管表面吻合良好的斜探头或聚集探头。单个探头压电晶片长度或直径不大于1检测设备应每年按期进行计量校验。5.4.5.4.4对比试块人工缺陷的示意图图4对比试样表2对比试样上人工缺陷尺寸级别长度，㎜深度t占壁厚的百分比，%Ⅰ405（0.2㎜≤t≤1㎜）Ⅱ408（0.2㎜≤t≤2㎜）Ⅲ4010（0.2㎜≤t≤3㎜）5.5检测方法5.5.1钢管的检测主要针对纵向缺陷。横向缺陷的检测执行JB/T4730-2005超声部分的附录D，相关事宜由合同双方协商解决。5.5.2钢管的检测可根据钢管规格选用液浸法或接触法检测。5.5.3检测纵向超声波束应由钢管截面中心线一侧倾斜入射，在管壁内沿周向程锯齿形传播（见图5）。检测横向缺陷时超声波束应沿轴向倾斜入射呈锯齿形传播（见图6）。图5管壁内声束的周向传播图6管壁内声束的轴向传播5.5.4探头相对钢管螺旋进给的螺距应保证超声波束对钢管进行100%扫查时,有不少于15%的覆盖率。5.5.5自动检测应保证动态时的检测灵敏度，且内、外槽的最大反射波幅差不超过2dB。5.5.6每根钢管应从管子两端沿相反方向各测一次。5.6检测技术操作要求（1）清除表面氧化皮、锈蚀及油污。（2）以水浸法采用回声透镜聚焦的探头进行探伤。（3）水层清洁，并需保持足够的水层高度。（4）探测频率为2.5-5MHz。（5）探伤时，探头与被检管表面的相对运动的轨迹为螺旋线。（6）检测灵敏度的确定（a）直接接触法可在人工标准式样上调节探伤灵敏度，使试样内表面人工缺陷所产生的反射波幅度等于满幅度的80%，移动探头，找出外壁人工缺陷的最大反射波，并在屏上标出，连接两点，即为该探头的距离—波幅曲线，作为检测时的基准灵敏度。（b）液浸法检测灵敏度按下述方法确定a.水层距离应根据聚焦探头的焦距确定由公式H=F-（R2-X2）1/2图7水层厚度选择示意图b.调整时，一面适当转动管子，一面将探头慢慢偏心，使对比试样内外表面人工缺陷产生的回波幅度均达到满幅度的50%，以此作为基准灵敏度。c.扫查灵敏度应比基准灵敏度提高6dB。5.7验收要求其判废要求按相应的技术文件规定。5.8结果评定缺陷回波幅度≥人工缺陷回波，则不合格。5.9返修复检不合格品允许重新处理后按本工艺进行超声检测和质量等级评定。6承压设备用复合钢板超声检测专用工艺6.1适用范围6.1.1适用于基板厚度为不小于6mm以上的承压设备用不锈钢、钛及钛合金、铝及铝合金、镍及镍合金、铜及铜合金复合钢板的超声波检测。基板和复板的质量要求应符合复合钢板制造技术条件。6.1.2本工艺主要用于复合板复合面结合状态的超声检测。6.2引用标准6.2.1GB1506.2.2JB/T4730-20056.3检测人员6.3.1凡从事超声波检测的人员，必须经过国家劳动部门考核，取得不同等级资格的人员只能从事与其资格相适应的工作。6.3.26.3.36.3.46.4探头选用6.4.1探头按2.2.4条表16.5检测方法6.5.1检测面选择根据声阻抗、表面状态及复合钢板的形状决定从复板一侧或从基板一侧进行检测。6.5.2耦合方式可采用直探头接触法或液浸法。6.5.3扫查方法（1）可采用100%扫查或沿钢板宽度方向，间隔50㎜的平行线扫查。（2）根据合同、技术协议或图样的要求，也可采用其他扫查方式。（3）在坡口预定线两侧各50㎜内作100%扫查。2.6.6基准将探头置于复合钢板完全结合部分，调节第一次底波至示波屏满幅度的80%，做为基准灵敏度。6.7未接合区的测定第一次底波高度低于荧光屏满刻度的5%，且明显有未接合缺陷反射波存在（≥5%），该部分称为未接合区。移动探头，使第一次底波升高到荧光屏满刻度的40%，以此时探头中心作为未接合区边界点。6.8未接合缺陷的评定方法6.8.1缺陷指示长度的评定（1）一个缺陷按其指示的最大长度作为该缺陷的指示长度。若单个缺陷的指示长度小于25㎜时，可不作记录。6.8.2缺陷面积的评定多个相邻的未接合区，当其最小间不小于20㎜时，应作为单个未接合区处理，其面积为各个未接合区面积之和。6.8.3未接合率的评定未接合区总面积占复合板总面积的百分比。6.9质量分级6.9.1复合板质量分级按JB/T4730-2005超声检测部分表10执行。6.9.2在坡口的预定线两侧各50㎜的范围内，未接合的指示长度不小于25㎜时，须评为Ⅳ级。6.10处理及复验不合格的复合钢板可进行处理或修复，修复后仍按以上方法进行检测和评级。7承压设备对接焊接接头超声检测专用工艺7.1适用范围7.1.1本条规定了钢制承压设备对接焊接接头的超声检测专用工艺。7.1.2本条适用于母材厚度为8～400㎜全熔化焊对接接头的超声检测。7.2超声检测技术等级7.2.1超声检测技术等级选择超声检测技术等级分为A、B、C三个检测级别。超声检测技术等级选择应符合制造、安装、在用等有关规范、标准及设计图样规定。（1）A级仅适用于母材厚度为8～46㎜的对接焊接接头。可用一种K值探头采用一次波和二次波法在对接焊接接头的单面单侧进行检测。可不进行横向缺陷检测。（2）B级检测（a）母材厚度为8㎜～46㎜时，一般用一种K值探头采用直射波和一次反射波法在对接焊接接头的单面双侧进行检测。（b）母材厚度为46㎜～120㎜时，一般用一种K值探头采用直射波在对接焊接接头的双面双侧进行检测。受结构限制,也可在焊接接头的双面单侧或单面双侧采用两种K值探头进行检测。（c）母材厚度为120㎜～400㎜时，一般用两种K值探头采用直射波法在对接焊接接头的双面双侧进行检测。两种探头的折射角相差应不小于10°。（d）应进行横向缺陷的检测。检测时，可在焊接接头两侧边缘使探头与焊接接头中心线成10°～20°作两个方向的斜平行扫查，如图8所示。如焊接接头余高磨平，探头应在焊接接头及热影响区上作两个方向的平行扫查，如图9所示。（3）C级检测采用C级检测时应将焊接接头的余高磨平，对焊接接头两侧斜探头扫查经过的母材区域要用直探头进行检测。（a）母材厚度为8㎜～46㎜时，一般用两种K值探头采用直射波和一次反射波法在对接焊接接头的单面双侧进行检测。两种探头的折射角相差应不小于10°，其中一个折射角应为45°。（b）母材厚度为46㎜～400㎜时，一般用两种K值探头采用直射波法在对接焊接接头的双面双侧进行检测。两种探头的折射角相差应不小于10°。对于单侧坡口角度小于5°的窄间隙焊缝，宜可增加对检测坡口表面平行缺陷有效检测方法。（c）应进行横向缺陷的检测。如图8、图9所示。7.3试块7.3.1采用的标准试块为CSK-ⅠA、CSK-ⅡA、CSK-ⅢA和CSK-ⅣA。7.3.2CSK-ⅠA、CSK-ⅡA、CSK-ⅢA试块适用于壁厚范围为6㎜～120㎜的焊接接头，CSK-ⅠA和CSK-ⅣA系列试块适用于120㎜～400㎜的焊接接头。在满足灵敏度要求时，试块上的人工反射体根据需要可采取其他布置形式或添加，也可采用其他型式的等效试块。7.3.3检测曲面工件时，如检测面曲率半径R≤W2/4时（W为探头接触面宽度，环缝检测时为探头宽度，纵缝检测时为探头长度），应采用与检测面曲率相同的对比试块，反射孔的位置可参照标准试块确定。试块宽度b一般应满足：b≥2λS/D0式中：b——试块宽度，㎜。λ——超声波波长，㎜。S——声程，㎜。D0——声源有效直径。7.4检测准备7.4.1（1）检测区域的宽度应是焊缝本身，再加上焊缝两侧各相当于母材厚度30%的一段区域，这个区域最小为5，最大为10mm，见下图10：图10检测面和探头移动区（2）探头移动区应清除焊接飞溅、铁屑、油污及其它杂质。检测表面应平整光滑，便于探头的自由扫查，其表面粗糙度Ra应为6.3µm，一般应进行打磨。（a）采用一次反射法或串列式扫查检测时，探头移动区应不小于1.25P：P=2TK或或P=2Ttgβ式中：P——跨距，mmT——母材厚度，mmK——探头K值β——探头折射角，（°）（b）采用直射法检测时，探头移动区应不小于0.75P。（3）去除余高的焊缝，应将余高打磨到与邻近母材平齐。保留余高的焊缝表面有咬边、较大的隆起和凹陷等也应适当的修磨，并作圆滑过渡以免影响检验结果的评定。7.4.2探头K值（角度）(1)斜探头的K值选取参照JB/T4730-2005标准的具体规定。条件允许时，可采用较大的K值探头。表3推荐采用的斜探头K值板厚T,mmK值6～253.0～2.0（72°～60°）＞25～462.5～1.5（68°～56°）＞46～1202.0～1.0（60°～45°）＞120～4002.0～1.0（60°～45°）（2）检测频率一般为2MHz～5MHz。7.4.3在需要时参照JB/T4730-2005标准规定进行检测。7.5距离—波幅曲线的绘制7.5.1距离—波幅曲线按所用探头和仪器在试块上实测的数据绘制而成，该曲线由评定线、定量线和判废线组成。评定线与定量线之间（包括评定线）为Ⅰ区，定量线与判废线之间（包括定量线）为Ⅱ区，判废线以上为Ⅲ图11距离-波幅曲线7.5.2距离—波幅曲线的灵敏度选择（1）根据不同壁厚条件按照JB/T4730-2005标准分别来确定斜探头和直探头的检测灵敏度。（2）检测横向缺陷时，应将各线灵敏度均提高6dB。（3）检测面曲率半径R小于或等于W2/4时，距离—波幅曲线的绘制应在曲面对比试块上进行。（4）工件的表面耦合损失和材质衰减应与试块相同，否则应按JB/T4730-2005附录F的规定进行传输损失补偿。在一跨距声程内最大传输损失差不大于2dB时可不进行补偿。（5）扫查灵敏度不低于最大声程处的评定线灵敏度。7.6检测方法7.6.1平板对接焊缝的检测（1）为检测纵向缺陷，斜探头应垂直于焊缝中心线放置在检测面上，作锯齿型扫查。如下图12所示。图12锯齿形扫查探头前后移动范围应保证扫查到全部焊缝截面。在保持探头垂直焊缝作前后移动的同时，还应作10°～15°的左右转动。不同检测技术等级对纵向缺陷的检测要求见2.7.2条的规定。（2）不同检测技术等级对横向缺陷的检测要求见2.7.2条的规定。（3）对电渣焊焊接接头还应增加与焊缝中心线成45°的斜向扫查。（4）为确定缺陷位置，方向和形状，观察缺陷动态波形和区分缺陷信号，可采用前后、左右、转角、环绕等四种探头基本扫查方式。图13四种基本扫查方法7.6.2曲面对接接头的超声检测检测（1）检测面为曲面时，可尽量按平板对接焊缝的检测方法进行检测。对于受几何形状限制，无法检测的部位应予以记录。（2）纵缝检测时，对比试块的曲率半径与检测面曲率半径之差应小于10%。（a）根据工件的曲率和材料厚度选择探头K值，并考虑几何临界角的限制，确保声束能扫查到整个焊缝。（b）探头接触面修磨后，应注意探头入射点和K值的变化，并用曲率试块作实际测定。（c）当检测面半径R大于W2/4且采用平面对比试块调节仪器时，应注意到荧光屏指示的缺陷深度或水平距离与缺陷实际的径向埋藏深度或水平距离弧长的差异，必要时应进行修正。（3）环缝检测时，对比试块的曲率半径应为检测面曲率半径的0.9～1.5倍。7.6.3在选择检测面和探头时应考虑到各种类型的缺陷的可能性，并使声束尽可能垂直于该焊缝结构中的主要缺陷。检测方式一般有五种，见下图所示：（1）在接管内壁采用直探头检测,见图14位置1。（2）在容器内壁采用直探头检测,见图15位置1。在容器内壁采用斜探头检测，见图14位置4。（3）在接管外壁采用斜探头检测,见图14位置2。（4）在接管内壁采用直探头检测,见图14位置3和图15位置3。（5）在容器外壁采用斜探头检测,见图14位置2。图14插入式管座角焊缝图15安放式管座角焊缝7.7缺陷定量检测7.7.1灵敏度应调到定量线灵敏度。7.7.2对所有反射波幅达到或超过定量线的缺陷，应确定其位置、最大反射波幅和缺陷当量。7.7.3缺陷位置测定缺陷位置测定以获得缺陷最大反射波幅的位置，测定波幅大小，并确定它在距离-波幅曲线图中区域。7.7.4缺陷定量应根据缺陷最大反射波幅确定缺陷当量直径φ或缺陷指示长度ΔL。（1）缺陷当量直径φ，用当量平底孔直径表示，主要用于直探头检测，可采用公式计算，距离—波幅曲线和试块对比来确定缺陷当量尺寸。（2）缺陷指示长度ΔL的测定采用以下方法：（a）当缺陷反射波只有一个高点，且位于Ⅱ区时，用6dB法测其指示长度。（b）当缺陷反射波峰值起伏变化，有多个高点，且位于Ⅱ区时，应以端点6dB法测其指标长度(c）当缺陷反射波位于Ⅰ区，如认为有必要记录时，将探头左右移动，使波幅降到评定线，以此测定缺陷的指示长度。(d)根据具体情况，亦可采用绝对灵敏度测长法。7.8缺陷评定7.8.1超过评定线的信号应注意其是否具有裂纹等危害性缺陷特征，如有怀疑时，应采取改变探头K值，增加检测面、观察动态波形并结合结构工艺特征进行判定，如对波形不能判断时，应辅助以其它检测方法作综合判定。7.8.2缺陷指示长度小于10mm时按5mm7.8.3相邻两缺陷在一直线上，其间距小于其中较小的缺陷长度时，应作为一条缺陷处理，以两缺陷长度之和作为其指示长度（不考虑间距）。7.9等级评定7.9.7.9.2反射波幅位于判废线及Ⅲ区的缺陷。7.9.3检测人员判定为裂纹等危害性的缺陷。7.9.4最大反射波幅低于定量线的非裂纹类缺陷，均评为Ⅰ级。7.9.5最大反射波幅位于Ⅱ区的缺陷，按照JB/T4730-2005标准表23规定进行评级。7.10返修和复验不合格的缺陷予以返修。返修部位和热影响区仍按本工艺规定进行检测和等级评定。8承压设备T型焊接接头超声检测专用工艺8.1适用范围8.1.1本工艺适用于厚度为6mm～50mm的锅炉、压力容器全熔化焊T型焊接接头的超声检测。8.1.2其他用途的全熔化焊T型焊接接头的超声检测也可参照本工艺的规定进行。8.2基本原则在选择检测面和探头时应尽考虑到检测各类缺陷的可能性，并使声束尽可能垂直于该类焊接接头结构中的主要缺陷。8.3检测方式根据焊接接头结构型式，T型焊接接头的检测如下三种检测方式。可选择其中一种或几种方式组合实施检测，检测方式选择有合同双方商定，并应考虑主要检测对象和几何条件的限制。图16T型焊接接头（型式Ⅰ）图17T型焊接接头（型式Ⅱ）图18T型焊接接头（型式Ⅲ）8.3.1用斜探头从翼板外侧用直射法进行探测，见图16位置1、图17位置1、图18位置1。8.3.2用斜探头从翼板外侧用直射法或一次反射法进行探测，见图16位置2和位置4、图17位置2和位置4、图18位置2和位置4。8.3.3用直探头或双晶直探头在翼板外侧沿焊接接头探测，或使用斜探头（K约为1）在翼板外侧沿焊接接头探测，见图16位置3、图17位置3、图18位置3。8.4斜探头K值的确定用斜探头在翼板外侧进行探测时，一般使用K1探头；用斜探头在腹板一侧探测时，按JB/T4730.3-2005表18执行。8.5距离-波幅曲线灵敏度的确定用斜探头探测时,距离-波幅曲线灵敏度应以腹板厚度按JB/T4730.3-2005表19确定；用直探头探测时，距离-波幅曲线灵敏度应以翼板厚度表4确定。表4T型焊接接头直探头距离-波幅曲线的灵敏度评定线定量线判废线φ2㎜平底孔φ3㎜平底孔φ4㎜平底孔2.8.6按2.7.6执行。2.8.79钢制承压设备管子和管道环向对接焊接接头超声检测专用工艺9.1范围9.1.1本工艺规定了承压设备管子和压力管道环向对接焊接接头的超声检测工艺。9.1.2本工艺适用于壁厚不小于4㎜，外径为32㎜～159㎜或壁厚为4㎜～6㎜，外径不小于159㎜的承压设备管子和压力管道环向对接焊接接头的超声检测。9.2试块9.2.1试块的曲率应与被检管径相同或相近，其曲率半径之差不应大于管径的10%。9.2.2试块适宜的被检件的曲率半径范围（1）GS-1适用于曲率半径大于16㎜至24㎜的承压设备管对接环向对接焊接接头的检测。（2）GS-2适用于曲率半径大于24㎜至35㎜的承压设备管对接环向对接焊接接头的检测。（3）GS-3适用于曲率半径大于35㎜至54㎜的承压设备管对接环向对接焊接接头的检测。9.3探头9.3.1应采用线聚集斜探头和双晶斜探头，其性能应能满足检测要求。9.3.2探头频率一般采用5MHz,当管壁厚度大于15㎜时，采用2.5MHz的探头。探头主声束偏离角不应大于2°。斜探头K值的选取表5的规定。如有必要，也可采用其他K值的探头。9.3.3探头楔块的曲率应加工成与管子外径相吻合的形状。加工好曲率的探头应对其K值和前沿距离进行测定，要求一次波至少扫查到焊接接头根部。表5斜探头K值的选择管壁厚度，mm探头K值探头前沿，mm4.0～82.5～3.0≤6＞8～152.0～2.5≤8＞151.5～2.0≤129.4检测位置及探头移动区9.4.1一般应单面双侧扫查，却因条件限制只能从焊接接头一侧检测时，应采用两种或两种以上的不同K值探头进行检测，并在报告中加以说明。9.4.2探头移动区应清除焊接飞溅、铁屑、油垢及其他杂质，其表面粗糙度Ra≤6.3μm,探头移动区应大于1.5P,P=2TK。9.5距离-波幅曲线的绘制9.5.1一般按水平1：1调节扫描时基线。9.5.2选择与实际工件曲率相对应的对比试块。9.5.3距离-波幅曲线按所用探头和仪器在所选择的试块上实测的数据绘制而成，该曲线族图由评定线、定量线和判废线组成。评定线与定量线之间（包括评定线）为Ⅰ区，定量线与判废线之间（包括定量线）为Ⅱ区，判废线及其以上区域为Ⅲ区，图19距离-波幅曲线示意图9.5.4不同管壁厚度的距离—波幅曲线灵敏度应符合表6的规定。表6距离—波幅曲线的灵敏度壁厚，mm评定线定量线判废线≤8φ2×20-16dBφ2×20-16dBφ2×20-10dB＞8～15φ2×20-13dBφ2×20-7dB＞15φ2×20-10dBφ2×20-4dB2.9.5.5检测灵敏度不得低于最大声程处的评定线灵敏度。9.6扫查方法9.6.1一般将探头从对接焊接接头两侧垂直于焊接接头作锯齿形扫查，探头前后移动距离应符合要求，探头左右移动距离应小于探头晶片宽度的一半。9.6.2为观察缺陷的动态波形或区分伪缺陷信号以确定缺陷的位置、方向、形状，可采用前后、左右、转角等扫查方法9.7缺陷定量检测9.7.1对反射波幅位于Ⅱ区或Ⅱ区以上的缺陷，均应对缺陷位置、缺陷最大反射波幅和缺陷指示长度等进行测定。9.7.2缺陷位置测定应以获得缺陷最大反射波幅的位置为准。9.7.3缺陷最大反射波幅的测定将探头移至缺陷出现最大反射波幅信号的位置，测定波幅大小，并确定它在距离—波幅曲线图中区域。9.7.4缺陷指示长度的测试按下述方法进行：（1）缺陷反射波只有一个高点，且位于Ⅱ区或Ⅱ区以上时，用定量线的绝对灵敏度法测量其指示长度。（2）缺陷反射峰值起伏变化，有多个高点，且位于Ⅱ区或Ⅱ区以上时，用定量线的绝对灵敏度法测量其指示长度。（3）缺陷最大反射波幅位于Ⅰ区，如认为有必要时，用评定线绝对灵敏度法测量其指示长度。（4）缺陷的指示长度I应按下式计算：I=L×（R-H）/R式中：L——探头左右移动距离，毫米。R——管子外径，毫米。H——缺陷距外表面深度（指示深度），毫米。9.8缺陷的评定9.8.1超过评定线的信号应注意其是否具有裂纹等危害性缺陷特征，如有怀疑时，应采取改变K值，观察缺陷动态波型并结合焊接工艺等进行综合分析。9.8.2相邻两缺陷在一条直线上，其间距小于其中较小的缺陷长度时，应作为一条缺陷处理，以两缺陷长度之和作为其单个缺陷指示长度（不考虑间距）。9.8.3单个缺陷点状缺陷指示长度按5毫米计。9.9质量分级执行JB/T4730.3-2005表31。10承压设备用钢螺栓坯件超声检测专用工艺10.1范围和一般要求10.1.1本工艺适用于对直径大于M36的承压设备用碳钢和低合金钢螺栓坯件进行超声检测的工艺。10.1.2本工艺不适用于奥氏体钢螺栓坯件的超声检测。10.2探头采用2.5MHz～5MHz的单晶直探头或双晶直探头。10.3试块试块的尺寸和形状应符合2.3.4的规定。10.4检测方法锅炉、压力容器及压力管道落实坯件一般采用纵波检测，尽可能检测到工件的全体积。检测表面粗糙度Ra≤6.3μm。10.4.1纵波径向探测应按螺旋线或圆周进行扫查，行程应有重叠，扫查面应包括整个圆周面。10.4.2纵波轴向探测应从螺栓坯件的两端面进行扫查，尽可能避免边缘效应对检测结果的影响。10.5灵敏度的确定10.5.1基准灵敏度地确定按本工艺2.3.7条的规定执行。10.5.2扫查灵敏度一般不得低于最大探测距离处φ2㎜平底孔当量直径。10.6缺陷当量的确定10.6.1一般应采用距离—波幅曲线或计算法确定缺陷当量。10.6.2计算缺陷当量时，若材质衰减系数超过4dB/m,应考虑修正。衰减系数的测定按本工艺2.3.8条执行。10.7缺陷记录10.7.1按JB/T4732.3-2005表12要求,记录当量直径大于φ2㎜的单个缺陷的波幅和位置。10.7.2按JB/T4732.3-2005表13要求,记录底波降低量。10.8质量分级10.8.1单个缺陷的质量分级执行JB/T4732.3-2005表12的规定。10.8.2由缺陷引起的底波降低量的质量分级执行JB/T4732.3-2005表13的规定。10.8.3上述评定应独立进行。10.8.4当缺陷被检测人员判定为危害性缺陷时，螺栓坯件的质量等级为Ⅴ级。11在用承压设备超声检测专用工艺11.1范围本工艺适用于在用承压设备超声检测。11.2在用承压设备用原材料、零部件的超声检测在用承压设备用原材料、零部件进行超声检测时，其主要内容应符合2.2的规定。11.2.1对于在用螺栓、螺柱的超声检测，除执行2.10的有关规定外，还应对螺纹根部是否有裂纹进行检测，主要检测内容如下：（1）在螺栓或螺柱端部采用纵波小K值斜探头进行纵波斜射检测。（2）在螺栓或螺柱无螺纹部位采用K1.5～K2.5,频率为2.5MHz的横波斜探头进行轴向检测。（3）纵波斜射检测和横波周向检测的对比试样应采用与被检工件材料、形式和规格相同或相近的螺栓或螺柱制作。人工缺陷反射体（切槽）位于最大探测声程处并垂直于螺栓或螺柱制作。人工缺陷反射体（切槽）位于最大探测声程处并垂直于螺栓或螺柱的轴线。人工缺陷反射体的形状和尺寸如图20所示：注1：螺纹内半径，㎜；L—人工切槽长度，㎜；b—人工切槽深度,㎜。注2：当切槽加工在螺纹根部时，切槽应顺着螺纹的螺旋角，此时b为螺纹根部以下的深度。图20人工切槽（4）在用螺栓或螺柱超声检测时，如在螺纹根部出现比切槽回波高的缺陷反射波时，应予以判废。11.3在用承压设备对接焊接接头的超声检测11.3.1检测方法和检测技术要求对在用承压设备对接焊接接头进行超声检测时，其检测方法和主要检测技术要求应符合本工艺2.7～2.9条的规定。在实际检测发现回波时，应对位于定量线及定量线以上的超标缺陷进行回波幅度、埋藏深度、指示长度、缺陷取向、缺陷位置和自身高度的测定，并对缺陷的类型和性质尽可能的作出判断。对能判定为危害性的缺陷，即使位于定量线以下，也应对其进行上述参数的测定。在测定上述参数时，一般采用直射波，扫查灵敏度可根据需要确定，但不得使噪声回波高度超过满刻度的20%。11.3.2缺陷波幅测定将探头置于出现最高缺陷回波的位置，用衰减器读出该波幅比该位置的定量线高出的dB值。11.3.3缺陷位置和指示长度的测定缺陷位置通常包括缺陷埋藏深度和平面位置，缺陷埋藏深度是指缺陷距单侧面的距离，将探头置于出现最高缺陷回波的位置，根据最高反射波出现在扫描线上的位置确定其埋藏深度和水平距离。指示长度应按本工艺2.7.7条规定执行。11.3.4缺陷几何尺寸的确定（1）两个方向（长度方向×高度方向）均属模式1〖模式识别见JB/T4730.3-2005附录H〗的缺陷，即点状缺陷，可采用AVG法估计缺陷的尺寸。（2）长度方向属模式2、高度方向属模式1的缺陷（线状缺陷）。缺陷自身高度的尺寸，可采用AVG法进行估计。（3）长度方向、高度方向均呈模式2的缺陷，可用端点衍回波射法或端部最大回波法测定其高度方向的尺寸，测定方法见JB/T4730.3-2005附录I附录J。如测定时无法确定端点衍射回波和端部最大回波，可用6dB法进行测定，测定方法见JB/T4730.3-2005附录K。（4）长度方向、高度方向均呈JB/T4730.3-2005附录H3a或3b的缺陷，可用端点衍射回波法或端部最大回波法测定其高度方向尺寸，如测定时无法确定端点衍射回波和端部最大回波，可用6dB法进行测定。（5）多重缺陷和群集缺陷的尺寸确定方法。（a）若在A型扫描回波包络线中，各反射回波波峰在荧光屏扫描线中不能分辨时（即不能用手工操作确定各反射体的间距），则只能作为一个缺陷考虑（由多个反射回波的波形轮廓线来确定）。其高度方向尺寸由上述方法确定。(b)若在A型扫描回波包络线中，各反射回波波峰在荧光屏扫描线中能够分辨，则各缺陷高度方向的尺寸可采用本条（1）～（4）的方法分别进行测定。11.3.5缺陷类型的确定（1）对超标缺陷应根据缺陷的波幅高度、位置、取向、指示长度，再结合缺陷的静态波形、动态波形、回波包络线和扫查方法，以及焊接接头的焊接方法、焊接工艺、工件结构、坡口型式、材料特性及热处理状态来判断缺陷类型和性质。通常应确定点状缺陷、线状缺陷（条状夹渣、未焊透、未熔合）、面状缺陷（裂纹、面状未熔合、面状未焊透等）。（2）对采用超声检测确定缺陷尺寸和类型比较困难或分布比较密集的缺陷，应增加X射线检测或其他检测，以便进一步综合判断。（3）对再用锅炉、压力容器超声检测发现的缺陷，应与制造和安装的原始资料或上一检测周期的检测资料核对，以进一步判定本次发现的缺陷是否是新产生的，以及是否有扩展。11.3.6缺陷记录（1）应根据在用压力容器定期检验规则、锅炉定期检验规则的技术规程的要求对缺陷的超声检测结果进行记录。（2）根据需要，也可由安全评定人员根据容器设计、制造、使用和检测记录提供允许缺陷的临界尺寸（缺陷位置、长度和自身高度），检测时，只记录大于该界限尺寸的缺陷，交由评定人员评定处理。（3）记录内容应包括缺陷位置、类型、取向、波幅、指示长度和自身高度，并提供缺陷分布图和缺陷纪录。纪录应由操作人员和责任人员签字。2.11.411.4.1在用钢制承压设备管子和压力管道环向对接焊接接头超声检测（1）在用钢制承压设备管子和压力管道环向对接焊接接头超声检测时，其检测方法和检测技术要求应符合本工艺2.9条的有关规定。当检测时如发现反射波幅位于Ⅲ区的缺陷、按2.9条的有关规定评定为不合格的缺陷、以及检测人员判定为危害性的缺陷，应按本工艺2.11.3条的有关规定进行处理。（2）应根据在用工业管道定期检验规程等技术规程的要求对缺陷的超声检测结果进行记录。12超声测厚检测通用工艺12.1主题内容与适用范围12.1.112.1.212.2检测人员检测人员须熟练掌握超声波测厚检测理论，具有UTⅠ级或以上资格者。12.3设备、工具12.3.1超声波测厚检测仪必须由国家有关部门定点制造，符合国家相关制造标准，且每年定期到质量技术监督部门指定的计量校验单位进行计量校验合格后，方可使用。12.3.2（1）对比试块用来校验超声波测厚检测仪测定被检材料厚度的精确程度。（2）对比试块使用前后都应彻底清洗，保持表面平整、清洁。12.4被检表面的制备被检表面应满足下列条件：12.4.112.4.212.4.312.4.412.5检测程序12.5.112.5.212.5.312.5.412.5.512.6测定方法12.6.1一次测定法在测定点只进行一次测定的方法，一般适用于单晶直探头的场合。12.6.2二次测定法在用双晶直探头测定时，将分割面转动90°，在同一测定点测两次的测定方法。测定值以小的数值为准。12.6.3φ30mm的多点测定法当测定值不稳定时，以一个测定点为中心，在φ30mm的范围内进行多点测定。测定值以最小值为准。12.6.4管子壁厚的测定方法单直探头测定时，应使探头探头中心线垂直，并通过管轴中心线；使用双晶直探头测定时，探头分割线必须与管轴中心线垂直。12.7报告12.7（1）技术草图、被检区域；（2）检测仪器型号、试块规格、耦合剂；(3)工件状况（材质、表面粗糙度、规格、编号等）；(4)数据记录；(5)检测日期、操作者、审核者。12.7.2报告按“超声波测厚检测报告”的格式填写，经检测责任工程师或有资格的授权人员审核后签字确认。12.8存档检测资料应归档交相关部门保管，保存时间不少于7年。13模拟式超声检测仪操作规程13.1适用范围本规程适用于本单位人员操作模拟式超声波探伤仪。13.2操作人员13.2.1操作人员操作前，应接受必要的上岗培训1313131313.3操作程序根据超声检测工艺的要求,正确地选择检测方法、探头、探头线、试块及耦合剂，然后按下列程序进行操作。13（1）将电源线、电缆线分别和超探仪连接。（2）检查使用电源电压是否为220V。（3）检查插头的型式与接口的型式是否匹配。13若直接使用充电器，接通电源后，仪器面板上的电压指示器指针应稳定的位于红区中段正常位置，则仪器可正常使用；若位于黑区，表明电压过低，应予检查。当使用电池时，电压指示器指针应位于红区较右端位置，说明电池电量较足，可正常使用；若电压指示器指针接近于中间或偏左的位置，说明电池电量较低，可考虑充电后再使用。13.3.3（1）聚焦调节调节聚焦旋钮，使扫描线聚焦至最清晰为止。（2）工作方式和发射强度调节（a）当工作方式开关置于一发一收时，仪器为双探头一收一发的工作状态。（b）当工作方式开关置于单探头发射、接收即单的工作状态时，仪器为双探头一收一发的工作状态。发射插座和接收插座联通，任意一插孔可单独使用。a.工作方式1档为固定的中等发射强度，此时仪器具有较高的探伤灵敏度和分辨力。b.工作方式2档的发射强度是可变的，并通过发射强度旋钮调节,主要适用于配用窄脉冲系列探头及部分进口的窄脉冲探头,以获得较高的分辨力。（3）增益旋钮调节调节增益旋钮,可连续地改变回波的幅度值的高低，但不能表示出改变量的多少。（4）衰减器旋钮调节按不同的步进档，可定量的改变回波幅度值的高低。（5）抑制旋钮调节一般应将其调至关或零的位置，尽量避免对仪器垂直线性的影响。（6）探测范围的调节（a）深度粗调粗调开关分10㎜、50㎜、250㎜及1m（钢纵波）四个档。当微调置于0时，荧光屏显示的探测深度范围略小于粗调档的标称值；而当微调置于10时，显示的探测范围比它置于0时增大5倍以上，即此时的探测范围大于粗调开关下一档级的标称值。（b）深度细调可连续的改变可探的声程范围，正如拉伸压缩一根半固定的弹簧一样，通过与水平移位旋钮的配合，可对扫描时基线的比例进行符合要求的调节。（c）水平移位调节调节水平移位旋钮，可使水平时基线及其上面的波形整体左右移动，通过和以上旋钮配合使用，可调节扫描声程或扫描时间比例。13.3.4（1）当充电器装有探伤仪使用时，应将充电器盖板上的供电/充电开关拨至供电，把电源拨至关的位置，然后装入仪器后部并拧紧两个紧固螺钉，即可使用。（2）维修探伤仪时，可把充电器置于机外，并用电缆线将仪器和充电器连接，这时充电器两开关分别处于供电和关的位置。探伤仪电源的通断则由仪器面板上的电源开关控制。13.3.5（1）充电时用充电电缆连接线将充电器和电池连接。（2）充电时一般在机外进行，但当电池已插入机内时，仍可利用电池背面插座充电。不过，此时应注意将仪器面板上的电源开关置于关的位置，否则在交流电停电后电池将不断放电，有损坏的可能。（3）充电时，充电器上供电/充电开关应在充电位置。接通电源后，电源与充电两只指示灯均发亮，表示充电正在进行。若此时充电指示灯闪动，则说明充电器与电池之间接触不良或充电器内部保险丝已烧断，充电无法进行，应予检修。充电完毕后，充电灯熄灭，电池可取下待用。（4）通常充电应在15℃～35℃的环境温度下进行，环境温度过高或过低，则充电效果会变差。（5）通常的充电时间约为14小时。（6）充电完毕的电池即可对仪器供电。工作时，仪器面板上的电压指示器表针处在红区，表示电池电压正常。若表针下降至红黑交界处，表示电池电已用完，需要充电。若电池电压再下降，仪器会自动切断显示（无基线）。需注意，此时仅是仪器主电路电源被切断，但表针仍有指示，保护电路仍在工作，电池仍处于放电状态，所以要把探伤仪的电源开关置于关，停止使用。（7）放电后的电池应及时充电，若搁置时间太长，会影响电池容量甚至难于重新充电。（8）已充电的电池搁置时间1～2个月后，由于自放电结果，在使用前必须再次充电，否则无法达到规定的放电时间。13.3.6操作步骤（1）测定探头参数。（2）测试和绘制距离—分贝曲线。（3）确定检测灵敏度。（4）扫查探测。（5）缺陷的判定、缺陷位置的确定、评级及记录。13.3.7检测结束，关闭电源，拆卸电缆线和回收仪器。13.4其他要求13.4.1搬动仪器时应防止强烈振动，现场探伤尤其高空作业时，应采取可靠保护措施，防止仪器碰撞。13.4.2尽量避免在靠近强磁场、灰尘多、电源波动大、有强烈振动及温度过高或过低的场合使用仪器。13.4.3仪器工作时应防止雨、雪、水、机油等进入仪器内部，以免损坏线路和元件。13.4.4连接交流电源时，应仔细核对仪器额定电源电压和供电电压，防止错接电源，烧坏元件。13.4.5转动旋钮时不宜用力过猛，尤其是旋钮在极端位置时更应注意，否则会使旋钮错位甚至损坏。13.4.6拔接电源插头或探头插头时，应用手抓住插头壳体操作，不要抓住电缆线拔插。探头线和电缆线应理顺，不要弯折扭曲。13.4.7仪器每次用完后，应及时擦去表面灰尘、油污，放置于干燥地方。14数字式超声检测仪操作规程14.1适用范围本规程适用于本单位人员操作数字式超声波探伤仪。14.2操作人员符合2.13.2条的规定。14.3检测过程操作14.3.1确定工艺方法按超声检测工艺文件确定超声检测工艺方法。14.3.2探伤范围的校准扫描范围的校准与探头的延时和材料的声速有关。固应先对延时和声速进行标定（如声速确定，仅需对前者进行标定），再调节探伤范围。14.3.3探伤灵敏度校准根据探伤工艺规定发现缺陷的大小及探头性能调整仪器的衰减量。14.3.4报警器的使用根据需要进行设置。14.4探头的标定14.4.1声速的测定对新材料或新探头,要进行声速的测量,缺陷定位才准确.14.4.2探头延时的测定直探头的延时及折射角（应为°）偏差通常都很小，可不标定。斜探头的折射角（K值）是一个重要参数，使用前需标定。14.4.3斜探头K值的测定保留实测的延时和声速值，利用CSK-ⅠA试块对斜探头的K值进行标定。14.5冻结键与功能键用这两个键对需存储的波形进行存储保存。14.6DAC曲线的应用14.6.1DAC曲线的制作制作步骤如下：（1）按工艺要求输入三条DAC曲线的dB值（2）按规程调节扫描范围至探伤使用的最大探测范围。（3）根据规程以及工件厚度和曲率，选择合适的对比试块。在试块上所有孔深不大于探测深度的横孔中，选取能产生最大反射波幅的横孔为第一基准孔，调节衰减，使该孔的反射波为荧光屏满幅度高度的80%.调节A闸门，使闸门A选取该波，按回车，则得第一个标记点。（4）选定另一较深的孔，找到最大反射波高，调节A闸门，选取该波，按回车，即获得该标定点与以前标定点的连线。（5）依次探测其他横孔，重复（3）步骤，直至整个探测范围，这样，就制作出一条基准DAC曲线。若较深孔回波较低，则可通过ΔdB调节，升高回波，这不影响DAC曲线的形状。（6）完成全部孔输入后，把光标移到A门外，按下页键，得到一组三条DAC曲线。（7）已制作的DAC曲线可随探伤条件存储。14.6.2DAC曲线调用对已存储的DAC曲线，到探伤现场可直接调用。14.7存储功能根据需要，对工艺条件（含DAC曲线）进行存储，也可对需记录的波形进行存储。14.8文件打印（1）现场打印在探伤作业中，如遇缺陷需打印，先按冻结键，将波形固定。可实现打印。（2）回放打印对存储的波形，通过回放显示需打印的波形，根据需要可打印。14.9检测结束，关闭电源，拆卸电缆线和回收仪器。14.10其他要求符合2.13.4的要求。15超声波探伤仪系统自校15.1主题内容与适用范围15.1.1本工艺规定了超声波探伤仪系统自校人员的资格、所用器材、检测技术及操作步骤。15.1.2本工艺依据JB/T4730.3-2005及JB/T10061-1999编写，满足相关标准规范的要求。适用于本单位对超声波探伤仪系统进行的自校。15.1.3采用按规定条件来比较测试超声波探伤仪系统特定参数及使用性能的方法进行校验。15.2检测人员15.2.1检测人员必须经考核取得国家有关部门颁发的与其工作相适应的Ⅱ级或以上资格证书，方可从事超声波探伤仪系统的自校工作及签发自校记录。15.3.自校条件15.3.115.3.215.3.315.3.4CSK-ⅠA试块、CSK-Ⅲ15.4.操作步骤15.4.1（1）测试步骤（a）连接探头并固定在试块上。调节探伤仪，使荧光屏上显示的图形中，孔波幅度恰为垂直刻度的100%，且衰减器至少有30dB的衰减器余量。（b）调节衰减器，依次记下每衰减2dB孔波幅度的百分数，直到26dB。然后将孔波幅度的实测值与表1中的理论值相比较，取最大正偏差值d（+）与最大负偏差值d（—）之绝对值的和为垂直线性误差Δd，如式（1）：Δd=︱d（+）︱+︱d（—）︱………（1）式中：Δd——垂直线性误差，%。表1衰减量（dB）02468101214161820222426波高理论值（%）10079.463.150.139.831.625.120.015.812.510.07.96.35.0（c）将底波幅度调为垂直刻度的100%，重复上条的测试。（d）在工作频率范围内，改用不同频率的探头，重复上述两项的测试。15.4.2（1）测试步骤（a）仪器的调节同2.15.4.1条。（b）调节衰减器，读取孔波幅度自垂直刻度100%下降至刚能辨认之最小值时（衰减器）的调节量，定为探伤仪在该探头所给定的工作频率下的动态范围。（c）按（a）和（b）项的方法，测试不同回波、不同频率时的动态范围。15.4.3（1）测试步骤（a）连接探头并根据被测探伤仪中的扫描范围档级的要求将探头固定于适当厚度的试块上，再调节探伤仪，使显示多次无干扰底波。（b）在不具有“延迟扫描”功能的探伤仪中，在分别将底波调到某一设定幅度（如垂直刻度的80%）的条件下，使第一次底波B1的前沿对准水平刻度“2”，第五次底波B5的前沿对准水平刻度“10”；然后在依次将每次底波调到上述相同幅度时，分别读取第二、三、四次底波前沿与水平刻度“4”、“6”、“8”的偏差Ln，然后取其最大偏差Lmax按式（2）计算水平线性ΔL。ΔL=（︱Lmax︱/0.8b）×100%……（2）（c）在具有“延迟扫描”功能的探伤仪中,按4.3.1.2条方法，将底波B1前沿对准水平刻度“0”,底波B6前沿对准水平刻度“10”,然后读取第二至第五底波中的最大偏差值Lmax，再按式（3）计算水平线性误差ΔL。ΔL=（︱Lmax︱/b）×100%…………（3）（d）在探伤仪扫描范围的每个档级，至少应测试一种扫描速度下的水平线性误差。15.4.4（1）测试步骤（a）被测探伤仪的（发射强度）置于产品标准所规定的调节度上。（b）连接石英标定探头，将探伤仪的灵敏度和扫描范围调至最大，然后调节衰减器或增益，使电噪声电平≤10%，并记下此时（衰减器）的读数 S0。（c）将石英标定探头置于CSK-ⅠA标准试块上厚度100mm处并使底波最高，调节衰减器，使底波B1幅度恰为垂直刻度的50%，记下此时（衰减器）的读数S1，则探伤灵敏度余量按式（3）计算。SQ=S1—S0…………………（3）式中：SQ——石英标定探头的探伤灵敏度余量，dB。（d）连接常用直探头并置于CSⅠ—2试块上，移动探头，获得平底孔最高回波，调节衰减器使孔波幅度为垂直刻度的50%，记下此时衰减器的读数S2,则探伤灵敏度余量按式（4）计算。Sp=S2—S0…………………（4）式中：Sp——常用直探头的探伤灵敏度余量，dB。2.15.4（1）测试步骤按规定调好灵敏度并校准“0”点，然后读出此始波前沿始点至其后沿和垂直刻度20%线交点的水平距离Wn，此宽度即为始脉冲宽度。15.4.6（1）远场直探头分辨力的测量（a）测量步骤a.将待测直探头置于CSK—ⅠA试块上端面正对阶梯槽处，使荧光屏上出现85、91、100毫米阶梯面的三个回波A、B、C，使三个回波的波峰处于大致同一水平位置，记下此时衰减器读数h1。b.调节衰减器，使A、B间的波谷升至波峰位置，记下衰减器的读数h2。则仪器探头的分辨力为：Δh=h1-h2（2）斜探头分辨力的测量（a）测量步骤a.将待测直探头置于CSK—ⅠA试块上端面正对阶梯孔处，使荧光屏上出现φ50、φ44、φ40毫米阶梯面的三个回波A、B、C，使三个回波的波峰处于大致同一水平位置，记下此时衰减器读数H1。b.调节衰减器，使A、B间的波谷升至波峰位置，记下衰减器的读数H2。则