标准解读

《GB/Z 276-2026 光电计算 光脉冲神经元性能测试方法》是一项指导性技术文件，旨在为光电计算领域内的光脉冲神经元提供一套标准化的性能评估体系。该标准详细规定了用于测量和分析光脉冲神经元关键特性的方法与流程，包括但不限于响应时间、信号传输效率、能耗比等指标。通过设定统一的测试条件（如环境温度、光源参数等）以及明确的数据处理规则，确保不同研究机构或企业间能够获得可比较的结果，从而促进技术交流与发展。

标准中还特别强调了实验设置的重要性，比如推荐使用特定类型的探测器来捕捉光信号变化，并对如何校准这些设备给出了具体指南。此外，对于数据记录与报告格式也提出了要求，以便于信息共享及后续分析工作。此标准适用于所有涉及光脉冲神经元设计、制造及其应用的相关方，在推动光电计算技术向更高效、可靠方向发展方面发挥着重要作用。


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....

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  • 2026-09-24 颁布
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文档简介

ICS0104035

CCSL.50.

中华人民共和国国家标准化指导性技术文件

GB/Z276—2026

光电计算光脉冲神经元性能测试方法

Optoelectroniccomputing—Performancetestingmethodforphotonicspikingneurons

2026-09-24发布

国家市场监督管理总局发布

国家标准化管理委员会

GB/Z276—2026

目次

前言

…………………………Ⅲ

范围

1………………………1

规范性引用文件

2…………………………1

术语和定义

3………………1

神经元控制方式

4…………………………1

测试系统

5…………………1

概述

5.1…………………1

技术要求

5.2……………2

环境条件

6…………………2

测试方法

7…………………2

兴奋性阈值

7.1…………………………2

时域累积

7.2……………3

不应期

7.3………………4

测试报告

8…………………4

附录资料性测试报告模板

A()…………5

Ⅰ

GB/Z276—2026

前言

本文件为规范类指导性技术文件

。

本文件按照标准化工作导则第部分标准化文件的结构和起草规则的规定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别专利的责任

。。

本文件由全国智能计算标准化工作组提出并归口

(SAC/SWG32)。

本文件起草单位西安电子科技大学之江实验室北京航天计量测试技术研究所华中科技大学

:、、、、

杭州爱杰光电科技有限公司上海曦智科技股份有限公司联合微电子中心有限责任公司西南交通

、、、

大学苏州大学电子科技大学甬江实验室南通奇波科技有限公司中移苏州软件技术有限公司

、、、、、()。

本文件主要起草人项水英张萌虞绍良张雅慧李振廷冯宇祥郭星星王忠新董建绩

:、、、、、、、、、

周治平于山山李强张力月李念强江宁施跃春田野张强黄于方英俊杨毅郭良帅

、、、、、、、、、、、、。

Ⅲ

GB/Z276—2026

光电计算光脉冲神经元性能测试方法

1范围

本文件给出了光脉冲神经元的测试系统和测试环境描述了光脉冲神经元的兴奋性阈值时域累积

,、

和不应期特性的测试方法

。

本文件适用于采用半导体材料研制的光脉冲神经元以下简称神经元性能测试

(“”)。

2规范性引用文件

本文件没有规范性引用文件

。

3术语和定义

下列术语和定义适用于本文件

。

31

.

光脉冲神经元photonicspikingneuron

模拟生物神经元特性的光电元器件

。

32

.

兴奋性阈值excitabilitythreshold

触发光电元器件产生一个脉冲输出的最小输入光脉冲信号强度

。

33

.

时域累积temporal-integration

光电元器件在一段时间窗口内对连续或先后输入的多个弱光脉冲信号进行能量叠加载流子累

,、

积使总累积量达到兴奋性阈值从而触发一个输出光脉冲的过程

,,。

34

.

不应期refractoryperiod

光电元器件在发放一次光脉冲之后在一段有限的时间内对新的输入光脉冲信号无法再次触发脉

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