CN119515708A 页岩fib-sem图像的处理方法、装置、设备及存储介质 （中国石油化工股份有限公司）

本申请提供了一种页岩FIB_SEM图像的处理图像；对待处理FIB_SEM图像进行水平边缘保持保水平边缘稳定的情况下分解并消除垂直的条在大量条形噪声的页岩FIB_SEM图像，能够解决成像过程中形成的条纹缺陷对孔隙结构提取的2获取页岩岩样的待处理聚焦离子束扫描电镜基于所述水平滤波结果进行垂直条形噪声的分解和去除，得到所述岩样的目标FIB_2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述对所述待处理FIB_SEM图像进行水平边缘保持滤波，将所述待处理FIB_S所述基于所述水平滤波结果进行垂直条形噪声的分解和去除，得到所述岩样的目标基于所述平滑图像以及所述水平高频分量进行垂直条形噪声分解和去3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对所以所述待处理FIB_SEM图像为输入图像和引导图像，采用一维行引导滤波算法对所述基于所述线性关系从所述水平高频分量中提取条形噪声并进行条wk中的像素均值和像素方差。37.根据权利要求1至5任一所述的方法，其基于预设尺寸的像素模板，对所述目标FIB_SEM图像进行中值滤波处理，将所述目标FIB_SEM图像中各个目标像素点的像素值替换为所述目标像素点周围像素滤波模块，用于对所述待处理FIB_SEM图像进行水平边缘保持滤波，得到水平滤波结分解模块，用于基于所述水平滤波结果进行垂直条形噪声的9.一种电子设备，其特征在于，包括存储器理器加载并执行以实现如权利要求1至7中任一项所4且能够实现三维空间化的实验为聚焦离子束扫描电镜(FocusedIonBeam_Scanning导致FIB_SEM图像中存在条形噪声。这对后续的图像处理和孔隙结构提取有很大的负面影[0008]基于所述水平滤波结果进行垂直条形噪声的分解和去除，得到所述岩样的目标页岩FIB_SEM图像先后进行水平边缘保持滤波以及垂直条形噪声分解，在确保水平边缘稳5形噪声的页岩FIB_SEM图像，能够解决成像过程中形成的条纹缺陷对孔隙结构提取的负面[0022]图5是本申请一个示例性实施例提供的直接利用待处理FIB_SEM图像直接进行阈[0023]图6是本申请一个示例性实施例提供的利用目标FIB_SEM图像先经过一维引导滤[0024]图7是本申请一个示例性实施例提供的对目标FIB_SEM图像先经过中值滤波和一[0025]图8是本申请一个示例性实施例提供的对目标FIB_SEM图像通过本发明的流程完[0029]随着非常规气藏勘探的逐步精细化，已经发展了多种微其中最具有代表性且能够实现三维空间化的实验为聚焦离子束扫描电镜。目前FIB_SEM实验的相关研究主要集中在孔隙结构表征和图像分割质量提高[0031](2)图像分割质量提高：微纳米孔隙结构的量化分析对图像质量要求较高。FIB_SEM图像分割质量的提高主要体现在两方面，一为图像的降噪。常用的降噪手段有中值滤6[0038]电子设备通过边缘保持滤波算法对待处理FIB_SEM图像进行滤波处理，消除水平[0040]步骤103，基于水平滤波结果进行垂直条形噪声的分解和去除，得到岩样的目标7[0057]以待处理FIB_SEM图像为输入图像和引导图像，采用一维行引导滤波算法对待处被视为输入图像和引导图像。再通过一个尺寸为1×w的行窗口对其中的像素进行平滑处[0066]步骤203b，基于线性关系从水平高频分量中提取条形噪8SEM图像进行阈值分割的效果示意图，可以看出未进行滤波操作时二者均存在很多条形噪[0081]步骤303，基于水平滤波结果进行垂直条形噪声的分解和去除，得到岩样的目标[0083]图6示出了使用本申请实施例的方法对待处理FIB_SEM图像进行条形噪声去除后标FIB_SEM图像中各个目标像素点的像素值替换为目标像素点周围像素点本申请实施例在进行垂直条形噪声分解后，电子设备通过中值滤波算法对目标FIB_SEM图[0087]图7示出了一种FIB_SEM图像经过一维引导滤波以及中值滤波后再阈值分割的效9[0099]以所述待处理FIB_SEM图像为输入图像和引导图像，采用一维行引导滤波算法对处理，将所述目标FIB_SEM图像中各个目标像素点的像素值替换为所述目标像素点周围像同方法实施例相似的有益效果。对于本申请存储介质和设备实施例中未披露的技术细节，构或特性可以任意适合的方式结合在一个或多个实施例中。应理解，在本申请的各种实施例中，上述各过程的序号的大小并不意味着执行顺序的先后，各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定，而不应对本申请实施例的实施过程构成任何限定。上述本申请实施例例的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，