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文档简介

道南坑社区雅宝路1号星河WORLDF栋本发明提供一种光电S参数测试装置、系统行调制。本发明的光电S参数测试装置及系统可2矢量网络分析仪及光信号产生模块;所述矢量网络分析仪为3.根据权利要求1或2所述的光电S参数测试装4.根据权利要求1或2所述的光电S参数测试装置,其特征在待测器件及如权利要求1_4任意一项所述的光电S参所述待测器件接收所述光电S参数测试装置提供的调制光信号,并基于所述调制光信所述光电S参数测试装置接收所述测试电信号,并将所述测试电信号与射频信号进行7.根据权利要求6所述的光电S参数测试系统8.根据权利要求7所述的光电S参数测试系统,其基于矢量网络分析仪分别单独测量光信号产生模块和夹具的S参数;所述夹具位于所应用逆矩阵法去除所述光信号产生模块和所述夹具的影响,得到所述待测器件的S参snor为所述待测器件的S参数;srz为所述光信号产生模块的S参数;3[0001]本发明涉及测量技术领域,特别是涉及一种光电S参数测试装置、系统及去嵌方参数测量,通常用于描述光电器件的频率响应特性;具体来说,是通过测量器件从光信号[0003]如图1所示,传统的光输入到电输出的S参数的测量装置1一般由仪器厂商直接提[0005]应该注意,上面对技术背景的介绍只是为了方便对本发明的技术方案进行清楚、背景技术部分进行了阐述而认为上述技术方案为本领域技术人所述调制器接收所述光信号,并在所述调制信号的作用下对所述光信号进行调4所述待测器件接收所述光电S参数测试装置提供的调制光信号,并基于所述调制所述光电S参数测试装置接收所述测试电信号,并将所述测试电信号与射频信号[0012]可选地,所述光电S参数测试装置中光源输出的光信号的波长与所述待测器件的基于矢量网络分析仪分别单独测量光信号产生模块和夹具的S参数;所述夹具位;5明的基本构想,遂图式中仅显示与本发明中有关的组件而非按照实际实施时的组件数目、6[0043]2)基于本发明的光电S参数测试系统获取光信号产生模块32、待测器件4和夹具2db的尖峰。;789

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