光电测试技术-n5ppt课件

1、光电测试技术,成都信息工程学院,第五章 激光干涉测试技术,1,概述,历史进程： 特点： 具有更高的测试灵敏度和准确度； 绝大部分的干涉测试都是非接触式的，不会对被测件带来表面损伤和附加误差； 较大的量程范围； 在精密测量、精密加工和实时测控的诸多领域获得广泛应用。 分类： 另外还可以利用有关干涉图的接收和数据处理技术计算出点扩散函数、中心点亮度、光学传递函数等综合光学象质评价指标。,2,5-1 激光干涉测试技术基础,1.1 干涉原理与干涉条件 1干涉原理 光干涉的基础是光波的叠加原理。由波动光学知道，两束相干光波在空间某点相遇而产生的干涉条纹光强分布为：,满足 的光程差相同的点形成的暗线叫暗纹

2、，亮纹和暗纹组成干涉条纹。 其中m是干涉条纹的干涉级次。,3,5-1 激光干涉测试技术基础,1.1 干涉原理与干涉条件 2干涉条件 通常能够产生干涉的两列光波必须满足三个基本相干条件： 频率相同 振动方向相同 恒定的位相差,在实际应用中，有时需要有意识地破坏上述条件。比如在外差干涉测量技术中，在两束相干光波中引入一个小的频率差，引起干涉场中的干涉条纹不断扫描，经光电探测器将干涉场中的光信号转换为电信号，由电路和计算机检出干涉场的位相差。,静态稳定干涉场的条件,4,5-1 激光干涉测试技术基础,1.2 影响干涉条纹对比度的因素 干涉条纹对比度可定义为,式中，Imax、Imin 分别为静态干涉场中

3、光强的最大值和最小值，也可以理解为动态干涉场中某点的光强最大值和最小值。,当 Imin = 0时K1，对比度有最大值；而当 Imax= Imin时K0，条纹消失。在实际应用中，对比度一般都小于1。 对目视干涉仪可以认为：当K0.75时，对比度就算是好的；而当K0.5时，可以算是满意的；当K0.1时，条纹尚可辨认，但是已经相当困难的了。 对动态干涉测试系统，对条纹对比度的要求就比较低。,5,5-1 激光干涉测试技术基础,1.2 影响干涉条纹对比度的因素 光源的单色性与时间相干性 如图，干涉场中实际见到的条纹是到 中间所有波长的光干涉条纹叠加的结果。 当 的第m级亮 纹与 的第m+1级亮纹重合后，

4、所有亮纹开始重合，而在此之前则是彼此分开的。则尚能分辨干涉条纹的限度为,6,7,在波动光学中，把光通过相干长度所需要的时间称为相干时间，其实质就是可以产生干涉的波列持续时间，（其对应产生干涉的两列波的光程差）。因此，激光光源的时间相干性比普通光源好得多，一般在激光干涉仪的设计和使用时不用考虑其时间相干性。,由此得最大干涉级m/ ，与此相应的尚能产生干涉条纹的两支相干光的最大光程差(或称光源的相干长度)为,8,5-1 激光干涉测试技术基础,1.2 影响干涉条纹对比度的因素 光源大小与空间相干性 干涉图样的照度，在很大程度上取决于光源的尺寸，而光源的尺寸大小又会对各类干涉图样对比度有不同的影响:

5、由平行平板产生的等倾干涉，无论多么宽的光源尺寸，其干涉图样都有很好的对比度。 杨氏干涉实验只在限制狭缝宽度的情况下，才能看清干涉图样。 由楔形板产生的等厚干涉图样，则是介于以上两种情况之间。,9,10,如取对比度为0.9，可得光源的许可半径,在干涉测量中，采取尽量减小光源尺 寸的措施，固然可以提高条纹的对比 度，但干涉场的亮度也随之减弱。 当采用激光作为光源时，因为光源上 各点所发出的光束之间有固定的相位 关系，形成的干涉条纹也有固定的分 布，而与光源的尺寸无关。激光光源 的大小不受限制，激光的空间相干性 比普通光源好得多。,11,5-1 激光干涉测试技术基础,1.2 影响干涉条纹对比度的因素

6、 相干光束光强不等和杂散光的影响 设两支相干光的光强为I2=nI1，则有,非期望的杂散光进入干涉场，会严重影响条纹对比度。 设混入两支干涉光路中杂散光的强度均为 ，则,于是,12,可见，没有必要追求两支 相干光束的光强严格相等。 尤其在其中一支光束光强 很小的情况下，人为降低 另一支光束的光强，甚至 是有害的。因为这会导致 不适当地降低干涉图样的 照度，从而提升了人眼的 对比度灵敏阈值，不利于 目视观测。,13,5-1 激光干涉测试技术基础,1.2 影响干涉条纹对比度的因素 相干光束光强不等和杂散光的影响 当n = 1时，有,在干涉仪中各光学零件的每个界面上都产生光的反射和折射，其中非期望的杂

7、散光线，能以多种可能的路径进入干涉场。尤其是在用激光作光源的干涉测量中，由于激光具有极好的空间相干性，使系统中存在的杂散光很容易形成寄生条纹。 解决杂散光的主要技术措施有：光学零件表面正确镀增透膜，适当设置针孔光阑，正确选择分束器。其中尤以第三点为问题的关键。,比较式 可见，在两支光强比n较小时，杂散 光对条纹对比度的影响远比两支干 涉光的光强不相等的影响要严重得多。,14,5-1 激光干涉测试技术基础,1.2 影响干涉条纹对比度的因素 小结： 对于所有类型的干涉仪，干涉条纹图样对比度降低的普遍原因是： 光源的时间相干性； 光源的空间相干性； 相干光束的光强不等； 杂散光的存在； 各光束的偏振

8、状态差异； 振动、空气扰动、干涉仪结构的刚性不足等。,15,5-1 激光干涉测试技术基础,1.3 共程干涉和非共程干涉 在普通干涉仪中，由于参考光束和测试光束沿着分开的光路行进，故这两束光受机械振动和温度起伏等外界条件的影响是不同的。因此，在干涉测量过程中，必须严格限定测量条件，采取适当的保护措施，否则干涉场上的干涉条纹是不稳定的，因而不能进行精确的测量。这类干涉仪，称为非共程干涉仪。,16,特点： 抗环境干扰； 在产生参考光束时，通常不需要尺 寸等于或大于被测光学系统通光口径 的光学标准件； 在视场中心两支光束的光程差一般 为零，因此可以使用白光光源。,若参考光路和测试光路经过同一光路，这类

9、干涉仪称为共程干涉仪。其特点有：,17,使参考光束只通过被检光学系统 的小部分区域，因而不受系统像差 的影响，当此参考光束和经过该光 学系统全孔径的检验光束相干时， 就可直观地获得系统的缺陷信息。 如散射板干涉仪、点衍射干涉仪等。 大多数的共程干涉仪中，参考光 束和测试光束都受像差的影响，干 涉是由一支光束相对于另一支光束 错位产生的。这时，得到的信息不 是直观的，需要作某些计算才能确 定被测波面形状，如各种类型的剪 切干涉仪。,共程干涉仪大致可分为两类：,共程干涉仪常常借助于部分散射面、双折射晶体、半反射面或衍射实现分束。,18,5-1 激光干涉测试技术基础,1.4 干涉条纹的分析与波面恢复

10、 在静态干涉系统中，干涉测量的关键是获得清晰稳定的干涉条纹图样，然后对其进行分析、处理和判读计算，以获得有关的被测量的信息。 波面偏差的表示 波面偏差为,n 是干涉仪的通道数（光速通过样品次数）,19,波面偏差的指标： 1）峰谷偏差EPV 。被测波面相对于参考波面峰值与谷值之差。 2）最大偏差Emax。被测波面与参考波面的最大偏差值。 3）均方根偏差ERMS。被测波面相对于参考波面的各点偏差值的均方根值，可由下式表示,20,5-1 激光干涉测试技术基础,1.4 干涉条纹的分析与波面恢复 被测波面的恢复 要正确求出被测波面的轮廓，首先要判断干涉条纹图的零级条纹位置和被测波面相对于标准波面的凸凹情

11、况。 1）零级条纹的判断。使产生干涉的两波面间的光程差减小，则条纹移动的方向是离开零级条纹的方向；反之，则干涉条纹朝着零级条纹的方向移动。,2）凸凹面的判断。如果移动W2，减小波面W1与W2间的光程差，条纹移动的方向与弯曲方向相同，则被测表面为凸起的(工厂通称为“高光圈”) ；反之，则被测表面为凹陷的(工厂通称为“低光圈”) 。,21,凸起（高光圈）,减小程差,移动、弯曲同向,22,5-1 激光干涉测试技术基础,1.4 干涉条纹的分析与波面恢复 3）求被测波面轮廓。 若采用图解法求旋转对称波面与倾斜平面波相干涉得到的干涉图样，只需求出通过干涉图中心与平面波倾斜方向相同的截面上的波面轮廓就可以了

12、。其步骤如下 ：,首先在干涉图上作截面AB，然后确定干涉条纹零级的位置。如本例中零级条纹在干涉图左边，且干涉级从左往右递增 。,在干涉图的上（下）方作若干条等间距的与截面AB相平行的直线，相邻两平行线间距表示光程差为 （n为干涉仪的通道数）的变化量。,将干涉条纹与截面AB相交的各点垂直引直线到平行线上，从左至右依次到与各对应平行线相交，然后把这些点连成曲线。,为了得到真实的波面轮廓，把倾斜因子减去。,23,24,5-1 激光干涉测试技术基础,1.5 提高分辨力的方法和干涉条纹的信号处理 光学倍频技术 分辨力,25,5-1 激光干涉测试技术基础,1.5 提高分辨力的方法和干涉条纹的信号处理 光学

13、相位细分技术 提高干涉仪分辨力，还可利用干涉条纹的相位细分技术。可以把干涉条纹每变化一个级次，看作相位变化了360。从一个干涉条纹变化中得到多个计数脉冲的技术称为相位细分技术。 相位细分的方法有机械相位细分、阶梯板相位细分、翼形板相位细分、金属膜相位细分和分偏振法相位细分等。,例：机械法相位细分。产生90相移信号的最简单方法是倾斜参考镜M1。当参考镜倾斜一定角度时，调节两光电接收器D1和D2间隔为条纹中心距离的1/4便可获得相移90的两个输出信号。 但这种方法容易因反射镜的稍微失调而改变条纹间隔，使输出信号的位相关系发生变化，引起计数误差。,26,27,5-1 激光干涉测试技术基础,1.5 提

14、高分辨力的方法和干涉条纹的信号处理 处理电路细分方法 电路细分方法有多种，如四细分辨向、计算机软件细分、鉴相法细分等。 综合来看，鉴相法细分的不确定度最小，使用灵活、方便、集成度高，适合于激光干涉信号的细分。其输出的是模拟信号，分辨率高达2/1000，但是鉴相范围较小(2)。,28,5-1 激光干涉测试技术基础,1.5 提高分辨力的方法和干涉条纹的信号处理 干涉条纹计数与判向,29,当cos信号超前时（设为正向）：脉冲信号的顺序为1、3、2、4， 当cos信号滞后时（应为反向）： 脉冲信号的顺序为1、4、2、3,30,光电测试技术,5-2 激光斐索(Fizeau)型干涉测试技术,31,5-2

15、激光斐索(Fizeau)型干涉测试技术,概述： 光学干涉测试技术最初在光学零件和光学系统的检验中获得广泛应用。 在光学零件面型、平行度、曲率半径等的测量中，斐索型干涉测量法与在光学车间广泛应用的牛顿型干涉测量法（样板法或牛顿型干涉法）相比，属于非接触测量。 接触测量存在以下问题：标准样板与被测表面必须十分清洁；清洁工作多拿在手中擦试，由于体温的影响，影响测试准确度；样板有一定重量压在被测表面上，必然会产生一定的变形，尤其是对大平面零件。 斐索型干涉测量法中由于样板和被测表面间距较大，必须用单色光源，一般采用激光光源。,32,影响测试准确度的因素 1）光源大小和空间相干性,5-2 激光斐索(Fi

16、zeau)型干涉测试技术,2.1 激光斐索型平面干涉测量 激光斐索型平面干涉仪的基本 光路和原理,计算例： 若h5mm，546.1nm，则17。 若取f500mm，则d5mm。,2）光源的单色性和时间相干性。,33,影响测试准确度的因素 3）杂散光的影响。 平行光在标准参考平板的上表面和被测件的下表面都会反射一部分光而形成非期望的杂散光。由于激光的相干性能非常好，这些杂散光叠加到干涉场上会产生寄生条纹和背景光，影响条纹的对比度。 消除该杂散光的主要措施是： 将标准参考平板做成楔形板，以使标准平板上表面反射回来的光线不能进入干涉场； 同样，将被测件做成楔形板或在它的背面涂抹油脂，也能消除或减小被

17、测件下表面产生的杂散光影响； 整个系统的所有光学面上均应镀增透膜。,5-2 激光斐索(Fizeau)型干涉测试技术,2.1 激光斐索型平面干涉测量,34,影响测试准确度的因素 4）标准参考平板的影响。 标准参考平板参考面M1在干涉仪中是作为测量基准用的，主要要求是：面形误差小；口径必须大于被测件。 当标准平板口径大于200mm时，其加工和检验都很困难。 为了保证参考平面面形精度： 严格控制加工过程； 材料的线膨胀系数较小、残余应力很小； 安装时使之不产生装夹应力； 在高质量平面（如标准参考平面）的面形测量中，可以考虑用液体的表面作为参考平面。,5-2 激光斐索(Fizeau)型干涉测试技术,2

18、.1 激光斐索型平面干涉测量,35,此时被测平面M2朝下对液体表面。 地球的曲率半径约为6370km，当液面口径为1000mm时，液面中心才高出约0.1光圈，当口径为250mm时，液面才高出约0.005光圈。 主要要求：使液体处于静止状态（对测量环境要求严格控制，还应该选用粘度较大，本身比较均匀和清洁的液体。） 常常用作标准参考平面的液体有液态石蜡、扩散泵油、精密仪表油和水银等。,36,5-2 激光斐索(Fizeau)型干涉测试技术,2.1 激光斐索型平面干涉测量 激光斐索平面干涉仪用于测量平行平板平行度 1）测量原理 设干涉场的口径为D，条纹数 目为m，长度D两端对应的厚 度分别为h1和h2

19、，有 则平板玻璃的平行度为,37,5-2 激光斐索(Fizeau)型干涉测试技术,2.1 激光斐索型平面干涉测量 激光斐索平面干涉仪用于测量平行平板平行度 2）测试范围的讨论 容易想象，当干涉场内的干涉条纹数m1时，该方法就不能测量其平行度。例如对直径D60mm的被测平板玻璃，n = 1.5147，632.8nm，当 时就测量不出来了。 另一方面，当干涉场中的条纹数目太密时，无法或比较困难分辨条纹，也无法进行测量。假设用人眼来识别条纹，一般人眼的分辨能力为0.33mm，当n = 1.5147， 632.8nm时，容易算出 。,38,5-2 激光斐索(Fizeau)型干涉测试技术,2.1 激光斐

20、索型平面干涉测量 激光斐索平面干涉仪用于测量平行平板平行度 3）测量不确定度。 根据间接测量不确定度的传递公式，可知 由上式可见，在的测量中引起误差的主要因素是： 宽度D的测量不确定度； 干涉条纹数m计数的不确定度； 折射率n的测量不确定度。 其中，干涉条纹数计数的不确定度影响最大。 激光斐索型平面干涉仪测量平板玻璃平行度的标准不确定度约为 。,39,5-2 激光斐索(Fizeau)型干涉测试技术,2.2 斐索型球面干涉仪 激光斐索型球面干涉仪基本原理,注意：为了获得需要的 干涉条纹，必须仔细调 整被测球面，使被测球 面的球心C与C0精确重 合。,40,5-2 激光斐索(Fizeau)型干涉测

21、试技术,2.2 斐索型球面干涉仪 激光斐索型球面干涉仪用于测量球面面形误差 如果干涉场中得到等间距的直条纹，表明没有面形误差； 若条纹出现椭圆形或局部弯曲，则按前述方法予以判读。,激光斐索型球面干涉仪用于测量曲率半径 原理：移动距离。通常干涉仪备有一套具有不同曲率半径参考球面的标准半径物镜组。 但当被测球面的曲率半径太大，超出仪器测长机构的量程时，可采用图示方法,41,42,5-3 激光全息干涉测试技术,43,5-3 激光全息干涉测试技术,3.1 全息术及其基本原理 概念：全息的概念早在1948年就由英国的Gabor提出。所谓全息就是在摄影底片上同时记录物光波的振幅和位相的全部信息，通过再现，

22、可以获得物光波的立体像。 全息术是一种两步成像技术：记录，即以干涉条纹的形式在底片上存储被摄物体的光强和位相；再现，即用光衍射原理来重现被记录物体的三维形状。 全息术与普通照相相比具有以下特点： 三维性。全息术能获得物体的三维信息，成立体像。 抗破坏性。全息图的一部分就可以再现出物体的全貌，仅成像的亮度降低、分辨力下降，而且全息图不怕油污和擦伤。 信息容量大。 光学系统简单，原则上无须透镜成像。,44,5-3 激光全息干涉测试技术,3.1 全息术及其基本原理 全息图的记录 设参考光波为 因为参考光波是平面波， 则振幅恒定，位相随y值变， 以O点为参考，任一点 P(x, y) 的位相将比入射到

23、O点光波的位相延迟了 令 则有,45,5-3 激光全息干涉测试技术,3.1 全息术及其基本原理 全息图的记录 对于物体光波，由于入射到全息底片上各点的振幅和位相均为(x, y)的函数，故P(x, y)点物体光波电场分布为,注意与参考光波的比较,全息底片仅对光强起反应，而光强可表示为光波振幅的平方，即,46,该式表明，全息底片上的光强分布按正弦规律分布，而且干涉条纹的亮度和形状主要由物光波决定，因此物体光波的振幅和相位以光强的形式记录在全息底片上。 全息底片经过显影和定影处理后，就成为全息图(又称全息干板)。,47,5-3 激光全息干涉测试技术,3.1 全息术及其基本原理 物光波的再现 如果处理

24、过的全息干版的透过率和曝光光强成线性关系，则其透过率为,48,如果用和参考光一样的光波再现全息图，则得到的透射光波为,第二项正好是一个常数乘上一个物体光波，它表示一个与物体光波相同的透射光波，这个光波具有原始光波所具有的一切性质，如果迎着该光波观察就会看到一个和原来一模一样的“物体”。所以，这个透射光波是原始物体波前的再现。 第三项也含有物体光波的振幅和位相信息，它所表示的光波是比照明光波更偏离z轴的光束波前。 前的负号预示着再现光波对原始物体光波在相位上是共轭的，若原来物体光波是发散的话，则该光波将是会聚的。 第一项是在照明光束方向传播的光波，它经过全息图后不偏转，但是振幅会发生变化。,49

25、,5-3 激光全息干涉测试技术,3.1 全息术及其基本原理 物光波的再现 如果再现过程中用另外方向的光束作为照明光波，再现像会随之变化。,50,重要性质：由图明显看出，由于全息图记录的是物体光波和参考光波产生的干涉条纹，它分布于整个全息图上，因此，如果全息图缺损一部分，仅减少了干涉条纹所占的面积，降低了再现象的亮度和分辨力，而对再现像的位置和形状是毫无影响的。这就是说，全息图对缺损、划伤、油污、灰尘等没有严格要求，这一点在应用中具有重要意义。,51,5-3 激光全息干涉测试技术,3.1 全息术及其基本原理 全息术对光源的要求 由全息术的原理知道，全息图的记录和再现依赖于光的干涉和衍射效应。因此

26、，全息术对所用光源的要求不仅同普通照相一样具有能使底片得以曝光的光能输出，而且应具有为满足光束的干涉和衍射所必须的时间相干性和空间相干性一般选择激光器。,全息底片的要求 全息底片一般采用在玻璃板基片上涂敷一层光敏卤化物 膜层（俗称照相乳胶）制成的全息干板。对全息底片主要要求是分辨力。一般干涉条纹的密度是800lp/mm。因此，全息底片的分辨力要求是很高的，普通底片不能满足要求。,52,5-3 激光全息干涉测试技术,3.2 全息干涉测试技术 全息干涉测试技术是全息术应用于实际最早也是最成熟的技术，它把普通的干涉测试技术同全息术结合起来，具有许多独特的优势：,1）全息干涉技术则能够对任意形状和粗糙

27、表面的三维表面进行测量，测量不确定度可达光波波长数量级。 2）全息图的再现像具有三维性质，因此全息干涉技术可以从不同视角观察一个形状复杂的物体，一个干涉全息图相当于用一般干涉进行多次观察。 3）全息干涉技术是比较同一物体在不同时刻的状态，因此，可以测试该段时间内物体的位置和形状的变化。 4）全息干涉图是同一被测物体变化前后的状态的记录，不需要比较基准件，对任意形状和粗糙表面的测试比较有利。,53,全息干涉测试技术的不足是其测试范围较小，变形量仅几十微米左右。 全息干涉方法包括： 单次曝光法（实时法）； 二次曝光法； 多次曝光法； 连续曝光法（时间平均法）； 非线性记录； 多波长干涉； 剪切干涉

28、等多种形式。,54,5-3 激光全息干涉测试技术,3.2 全息干涉测试技术 静态二次曝光全息干涉法 原理：二次曝光全息干涉法是将两个具有一定位相差的光波分别与同一参考光波相干涉，分两次曝光记录在同一张全息底片上。当用与参考光完全相同的再现光照射该全息图时，就可以再现出两个互相重叠的具有一定位相差的物光波。当迎着物光波观察时，就可以观察到在再现物体上产生的干涉条纹。,55,5-3 激光全息干涉测试技术,3.2 全息干涉测试技术 静态二次曝光全息干涉法,设第一次曝光时物光波为： 设参考光为： 则第一次曝光在底片上的曝光量为：,设第二次曝光时物光波为： 设参考光仍为： 则第二次曝光在底片上的曝光量为

29、：,56,5-3 激光全息干涉测试技术,3.2 全息干涉测试技术 静态二次曝光全息干涉法,两次曝光后，全息底片上总的曝光量分布为,若把曝光时间取为1，并假设底片工作在线性区，比例系数取为1，则底片经过显影、定影处理后得到全息图的振幅透射比分布为,57,5-3 激光全息干涉测试技术,3.2 全息干涉测试技术 静态二次曝光全息干涉法,用与参考光完全相同的光波再现全息图，则透射全息图的光波复振幅分布为,背景光,两次曝光时两个物光波相干叠加的合成波产生干涉,合成波的共轭波也产生干涉,58,5-3 激光全息干涉测试技术,3.2 全息干涉测试技术 静态二次曝光全息干涉法,现在将两物光波的复振幅分布代入第二

30、项，则有：,其相应的强度分布为：,透射光波中出现条纹。该条纹是由物体在前后两次曝光之间变形引起位相分布 的变化引起的。,59,5-3 激光全息干涉测试技术,3.2 全息干涉测试技术 实时法全息干涉 原理：将对物体曝光一次的全息图经显影和定影处理后在原来摄影装置中精确复位，再现全息图时，再现像就重叠在原来的物体上。若物体稍有位移或变形，就可以看到干涉条纹。,设物光波和参考光波在全息底片上形成的光场分布分别为：,经过曝光、显影和定影处理后得到的全息底片透射率分布为：,60,5-3 激光全息干涉测试技术,3.2 全息干涉测试技术 实时法全息干涉 把经过处理后获得的全息图复位，并用原参考光波R和变形后

31、的物光波A1同时照射全息图，设变形后的物光波,透过全息图的光场复振幅分布是,61,62,5-3 激光全息干涉测试技术,3.2 全息干涉测试技术 实时法全息干涉 由第二项和第四项光叠加后的复振幅分布为,叠加后的光强分布是 干涉后的光强分布仅仅与原物光波和变形后的物光波的相位差有关。当这一相位差分别等于的偶数倍或奇数倍时，就分别得到亮条纹或暗条纹。,实时法全息干涉技术在实际工作中要求全息图必须严格复位，否则直接影响测试准确度。,63,5-3 激光全息干涉测试技术,3.2 全息干涉测试技术 时间平均法 多次曝光全息干涉技术的概念可以推广到连续曝光这一极限情况，结果得到所谓的时间平均全息干涉测试技术。

32、这种方法是对周期性振动物体做一次曝光而形成。当记录的曝光时间大于物体振动周期时，全息图上就会有效地记录许多像的总效果，物体振动的位置和时间平均相对应。当这些光波又重新再现出来时，它们在空间上必然要相干叠加。由于物体上不同点的振幅不同而引起的再现波相位不同，叠加结果是再现像上必然会呈现和物体的振动状态相对应的干涉条纹，亦即产生和振动的振幅相关的干涉条纹。其再现像光强分布为,时间平均全息干涉技术是研究正弦振动的最好工具，也可以用于研究非正弦运动，是振动分析的基本手段。,64,5-3 激光全息干涉测试技术,3.2 全息干涉测试技术 计算全息干涉技术 含义：全息图是具有黑度连续变化的照片。如果不用实际

33、物体来形成黑度变化，而是用数字计算机来实现这些连续的黑度变化，就有可能利用计算机人为地制造一个想象中的物体。所谓的计算全息就是利用计算机产生全息图。,优势：计算全息技术为精密测试提供了一个制作标准的崭新途径。例如，非球面的检测、各种复杂三维形状的检测等，可以人为地制作一个标准的非球面波面来检验工件，为大型精密加工、汽车、航空航天、造船等工业的轮廓检验提供了新手段。同时，计算全息技术也为光学滤波、信息存储等光学信息处理提供了新途径。,65,5-3 激光全息干涉测试技术,3.3 全息干涉测试技术应用 全息技术是一门正在蓬勃发展的光学分支，其应用渗透到各个领域，已成为近代科学研究、工业生产、经济生活

34、中十分有效的测试手段，广泛应用于位移测量、应变测量、缺陷检测、瞬态测试等方面，在某些领域里的应用具有很大优势。,缺陷检测,66,5-4 激光外差干涉测试技术,67,5-4 激光外差干涉测试技术,引言：单频激光干涉仪的光强信号及光电转换器件输出的电信号都是直流量，直流漂移是影响测量准确度的重要原因，信号处理及细分都比较困难。 为了提高光学干涉测量的准确度，七十年代起有人将电通讯的外差技术移植到光干涉测量领域，发展了一种新型的光外差干涉技术。 概念：光外差干涉是指两只相干光束的光波频率产生一个小的频率差，引起干涉场中干涉条纹的不断扫描，经光电探测器将干涉场中的光信号转换为电信号，由电路和计算机检出

35、干涉场的相位差。 特点：克服单频干涉仪的漂移问题； 细分变得容易； 提高了抗干扰性能。,68,5-4 激光外差干涉测试技术,4.1 激光外差干涉测试技术原理 外差干涉技术原理 设测试光路和参考光路的光波频率分别为和+，则干涉场的瞬时光强为,干涉场中某点（x，y）处光强以低频随时间呈余弦变化,69,5-4 激光外差干涉测试技术,4.1 激光外差干涉测试技术原理 外差干涉技术原理 在干涉场中，放入两个探测器，一个放在基准点(x0, y0)处，称之为基准探测器，其输出基准信号i(x0, y0, t)，另一个放在干涉场某探测点(xi, yi)处，称之为扫描探测器，输出信号为i(xi, yi, t) 。

36、将两信号相比，测出信号的过零时间差t，便可知道二者的光学位相差,由控制系统控制扫描探测器对整个干涉场扫描，就可以测出干涉场各点的位相差。,70,71,5-4 激光外差干涉测试技术,4.1 激光外差干涉测试技术原理 激光外差干涉仪的光源 外差干涉需要双频光源。其频差根据需要选定。 1）塞曼效应He-Ne激光器可得到12MHz的频差,2）双纵模He-Ne激光器频差约600MHz（较大）,3）光学机械移频 当干涉仪中的参考镜以匀速v 沿光轴方向移动时，则垂直入射的反射光将产生的频移为 。 如果圆偏振光通过一个旋转中的半波片，则透射光将产生两倍于半波片旋转频率f 的频移，即 。,72,4-4 激光外差

37、干涉测试技术,4.1 激光外差干涉测试技术原理 激光外差干涉仪的光源,3）光学机械移频 在参考光路中放入一个固定的1/4波片和一旋转的1/4波片，如果固定1/4波片的主方向定位合适，它可以把入射的线偏振光转变为圆偏振光。该圆偏振光两次穿过旋转的1/4波片，使其产生2f的频移。圆偏振光再次穿过固定1/4波片后又恢复为线偏振光，但频率已发生偏移 。 垂直于入射光束方向移动（匀速）光栅的方法也可以使通过光栅的第n级衍射光产生的 频移，此处f 是光栅的空间频率，V是光栅移动速度。,4）声光调制器 利用布拉格盒（BraggCell）声光调制器可以起到与移动光栅同样的移频效果。这时超声波的传播就相当于移动

38、光栅，其一级衍射光的频移量就等于布拉格盒的驱动频率f，而与光的波长无关。,73,4-4 激光外差干涉测试技术,4.2 激光外差干涉测试技术应用 激光外差干涉测长,74,4-4 激光外差干涉测试技术,4.2 激光外差干涉测试技术应用 激光外差干涉测量微振动,频率fs信号由声光调制器的信号源直接输入混频器与拍频信号混频，把多普勒频移fD解调出来。,75,5-4 激光外差干涉测试技术,4.2 激光外差干涉测试技术应用 激光外差干涉在精密定位中的应用,该干涉仪系统有以下两个特点： (1)仪器分辨力由于多普勒频差增加一倍而增加一倍；(2)平面反射镜相对于光轴的任何偏斜只会使反射回的光束偏移，而不会偏斜。

39、,76,5-5 激光移相干涉测试技术,77,5-5 激光移相干涉测试技术,5.1 激光移相干涉测试技术原理 参考波前为 被测波面的波前为,w(x,y)是被测波面(位相)。,干涉条纹的光强分布为,78,4-5 激光移相干涉测试技术,5.1 激光移相干涉测试技术原理 对被测波面上所有的点，I(x, y, li)是li的余弦函数，因此可以写出它的傅立叶级数形式,将I(x, y, li)按三角函数展开有,可得,式中存在a、b、w(x, y)三个未知量，要从方程中解出w(x, y)，至少需要移相三次，采集三幅干涉图。,79,4-5 激光移相干涉测试技术,5.1 激光移相干涉测试技术原理 对每一点(x,

40、y)的傅立叶级数的系数，还可以用三角函数的正交性求得,便于实际的抽样检测，用和式 代替积分,n为参考镜振动一个周期中的抽样点数。,80,4-5 激光移相干涉测试技术,5.1 激光移相干涉测试技术原理 于是，可得,特殊地，取四步移相，即n=4，使 得,81,4-5 激光移相干涉测试技术,5.1 激光移相干涉测试技术原理 为了提高测量的可靠性，消除大 气湍流、振动及漂移的影响，可 以测量傅氏级数的系数在p个周 期中的累加数据，用右式来求,从最小二乘法意义上看，上式所表达的傅里叶系数是波面轮廓的最好拟合。得,在被测表而上任意点(x, y)的波面w(x, y)的相对位相是由在该点的条纹轮廓函数的np个

41、测定值拟合计算得到的。,82,4-5 激光移相干涉测试技术,5.2 激光移相干涉测试技术的特点 1）激光移相干涉测试技术原理上采用上述最小二乘法拟合来确定被测波面，因此可以消除随机的大气湍流、振动及漂移的影响，这是这种测试技术的一大优点。,2）是可以消除干涉仪调整过程中及安置被测件的过程中产生的位移、倾斜及离焦误差（数字化处理）。,3）是可以大大降低对干涉仪本身的准确度要求。波面位相信息是通过计算机自动计算、存贮和显示的。这就在实际上有可能先把干涉仪系统本身的波面误差存贮起来，而后在检测被测波面时在后续的波面数据中自动减去，使干涉仪制造时元件所需的加工精度可以放宽。当要求总的测量不确定度达到1

42、/100波长时，干涉仪系统本身的波面误差小于一个波长就可以了。,83,4-5 激光移相干涉测试技术,5.3 激光移相干涉测试技术应用例,性能： 测量点数：1024点 测量平面最大直径为125mm； 测量不确定度达1/100波长。,84,4-5 激光移相干涉测试技术,5.3 激光移相干涉测试技术应用例,85,4-7 纳米技术中的干涉测试技术,86,4-7 纳米技术中的干涉测试技术,引言： 1986年G.Binnig和H.Rohrer发明了扫描隧道显微镜(STM)，人类第一次观察到了物质表面的单原子排列状态。此后，相继出现了一系列新型的扫描探针显微镜：原子力显微镜（AFM）、激光力显微镜（LFM）

43、、磁力显微镜(MFM)、弹道电子发射显微镜（BEEM）、扫描离子电导显微镜（SICM）、扫描热显微镜（STP）、光子扫描隧道显微镜（PSTM）、扫描近场光学显微镜（SNOM）等，远远超出了光学方法已经取得的成就。 现代扫描显微镜技术吸取了光学技术的精华，光子扫描隧道显微镜利用了光纤探针和全反射时的瞬衰场，横向分别率达到1/10波长，垂直分辨率也在纳米数量级；扫描近场光学显微镜则使用小孔光天线，分辨率突破了瑞利限制，已经达到了1/10波长数量级。,87,4-7 纳米技术中的干涉测试技术,引言： 除了PSTM、SNOM直接使用光学原理工作外，其它扫描显微镜常常用光学方法作为位移传感器，干涉方法是主要的手段。 这类干涉仪不同于一般的位移干涉仪，它的量程很小，远远不到半个波长，但是分辨率要求很高（1nm）。 这种情况下噪声成为影响性能根本原因。主要噪声源有： 探测器的散粒噪声； 负载电阻的Johnson噪声； 激光的相对强度噪声； 激光的相位噪声； 干涉系统的非线性漂移； 机械系统的热噪声等。,88,4-7 纳