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文档简介

1、1/30,LCM 生產流程,2/30,TFT-LCD製程簡述,Array Thin-Film Transistor,Cell Liquid Crystal,Module,Array:電晶體矩陣,Cell:顯示單元體,Module:成品模組,3/30,TFT-LCD,TFT : Thin Film Transistor,LCD : Liquid Crystal Display,LCM: Liquid Crystal Module,4/30,名詞解釋,STN :Supper Twisted Nematic 超扭曲向列 C/F: Color Filter 彩色濾光片 Spacer: 間隔粒子, IT

2、O: Indium Tin Oxide(氧化銦錫)電極電路 Polarizer: 偏光片 Seal:框膠 BM: Black Matrix 黑色矩陣 AVBU:Audio 此顯微鏡的物鏡鏡頭有5x,10 x,20 x等;目鏡是10 x,對應放大倍數為50,100,200 x.,21/30,現中尺寸產品中: 8D1采用全檢方式; 其它的机种均采用抽檢方式;,檢查方式分為全檢和抽檢兩種,22/30,FPC對位偏移,線路腐蝕,壓痕不良,Bump NG,23/30,FPC Introduction,FPC: Flexible Printed Circuit (軟性电路板),作用:用于实装有driver

3、 IC的Cell基板或PCB板等界面上之配线板.,7D,導光點的排列順序: 越靠近燈源導光點越小越稀; 越遠離燈源導光點越大越密.,41/30,DL / DIF: Diffuser Lower (下擴散片) 作用: 將來自導光板之光源加以擴散,使光線均勻柔和,并隱藏導光點,使從正面看不到其輪廓; 特征: 正面較粗糙, 類似毛玻璃,霧霧的; 反面光滑.,DL Introduction,42/30,BEF: Brightness Enhancement Film (增光片) 作用: 為棱鏡片,又是集光片(Lens sheet)導正經由擴散片之散射光源及提高正 面亮度具有增光集光 的作用;,BEF

4、Introduction,43/30,DBEF: Multeity Dual Brightness Enhancement Film (多層膜增光片) 作用: 進一步導正經光源,提高正面亮度,增光集光;,DBEF Introduction,44/30,LED (Light Emitting Diode): 发光二极管,CCFL(Cold Cathode Fluorescent Lamp) : 冷阴极射线管,LED & CCFL Introduction,45/30,前制程加工,撕反射片上離形膜,貼鋁箔膠帶(防電磁幹擾),貼雙面膠帶(固定材料),46/30,導光板半成品組裝,+,47/30,B/

5、L & ASM 組裝流程,1.FILM材的組立(膠框,下擴散片,BEF,DRPF,),2.導光板半成品組裝,3.蓋鐵框,4.Panel組裝,48/30,Panel,鐵框,100%,6%,Module Introduction,49/30,MO產品擺放標准,5.6A,7D,8D1,7A,8D2,10.2D1,50/30,MD-MA 模組製程,MO FMA & Rework材制損退料不良品 Rework絕對不良品報廢處理組裝良品由FT終檢接收,51/30,FT 終檢,52/30,Aging將成品(module)或是半成品(Panel)進行老化測試,以增加產品的可靠性.即利用高溫動態的方式使製程中品

6、質較不好的產品,提前發生故障,以確保出貨的品質,BI: Burn-In Test,BI Introduction,(燒機/老化測試),53/30,Aging 的原理,一般的電子產品, 在使用中的前幾天內, 發生故障的機率最高, 而一般電子產品在高溫操作下一個小時, 即相當於正常溫度操作下的數天, Aging即利用此原理, 在高溫下動作幾個小時, 加速產品的老化, 從而使不良品提早於工廠內即可發現.,54/30,目的 a.利用電檢治具將不良品檢出 b.保証出貨品質,增強客戶信譽度.,FD: Final Display,FD Introduction,(最終畫面檢測),55/30,檢查鐵框,檢查偏光片,檢查易撕貼,檢查FPC,FV: Final Visual,FV Introduction,(最終外觀檢測),56/30,檢查燈源線,

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