SPC及CPK教程(实战篇).ppt

1、1,SPC及CPK 實 戰 篇,2,1六西格碼在控制中的應用,廣義的六西格碼是一個完善的管理工具是品質管理系統的一種說法 單純的六西格碼控制應用是一種質量控制的目標請看以下說法正確與否 我公司已經實施了六西格碼管理 我公司達到了六西格碼的要求 通過六西格碼管理公司品質上了一個台階 ,一六西格碼,3,2六西格碼與不良率:,42,4,43,5,3控制方式与6控制方式的比较：,6,? ? ?,兩個影響量 1的變化 2的變化 ,7,二SPC與CPK,1區別與聯系,CPK判定短期的制程能力可以用來解析目前的制程能力或用來檢驗制程能力是否在管制狀況下 SPK長期的制程能力主要用在制程管制上。 兩者配合使用

2、應該做到 短期=長期,8,2影響量-標准差Sigma,實例(Sigma較大離散性問題),10,3影響量-中心偏移量,11,CPK實例分析(離散性較小中心偏移量影響),12,4CPK 改善的方向及目標,13,5管制图的判断,在計量值服從常態分布的生產特性下最常用的管制圖是Xbar-R管制圖。,常用的控制图 a、X bar R控制图 （计量值、正态分布） b、不合格品百分率p控制图 （计件值、二项分布） c、不合格品数np控制图 (计件值、二项分布) d、缺陷率u控制图 (计点值、泊松分布） e、缺陷数c控制图 (计点值、泊松分布） f、DPMO控制图 (计点值、泊松分布）,14,!,5.1稳定原

3、则-異常處理,原则一:不可超出管制界限,15,14.2,5.1稳定原则-預防處理,原则二:不可呈现规律变动 连续7点上升或下降 呈现规律性波动,具有显著的波动周期,16,5.1稳定原则-預防處理,原则二:不可呈现规律变动 连续7点在管制界限一侧 连续11点中,有10点在管制界限一侧(间断),17,5.1稳定原则-預防處理,原则三:不可过于集中分布 显著多于2/3的点集中在CL附近:即90%的数据在1 线以内 显著少于40%的数据落在1 线以内 数据集中分布在2 到管制线之间(超过2/3) 3点中,有两点接近一侧之管制界限 7点中,有3点以上接近控制界限 原则四:符合过程能力要求,18,5.2长

4、期控制,符合以下条件,可将管制图用于长期控制: 过程稳定 符合过程能力的要求 再收集15组数据,无异常情形 利用已经算出之管制界限进行管制 按要求收集数据,并进行管制分析/控制 在下列情况下,重新计算管制界限: 初次过程能力研究,异常消除时 对4M1E进行重大改进时 产品修正时 经过长期运行后,19,5.3異常處理,可以采取的措施 有效后, 标准化处理,20,三制程管制實例,1CPK解析,目的 通過集中量測解析目前的制程能力得出制程管控要求對制程管控要求進行分析解析出合理的制程管控上下限。 實例分析 以解析錫膏厚度的管控上下限為例 集中量測25組錫膏厚度數據 每組由5個量測點的數據 計算CPK

5、值判定是否合理 計算上下管制線。,21,1.1集中量測25組錫膏厚度數據,22,1.2計算CPK值,Sigma= (Xi-Xbar)2/(n-1) 其中 i=1 to n =0.00312 CP=T/(6*Simga)=(0.16-0.12)/(6*0.00312)=2.13675 K=|Xbar-SL|/T/2=|0.139832-0.140|/0.02=0.0084 CPK=CP(1-K)=2.13675(1-0.0084)=2.1188 判定CPK為2.11881.67屬于制程能力充分的狀態下,23,1.3計算管制上下限,上管制界限:UCL= Xbar +3*Sigma=0.139832

6、+3*0.00312=0.149192,下管制界限:LCL= Xbar - 3*Sigma =0.139832-3*0.00312=0.130472,24,1.4管制圖,25,1.5解析管制上下限,上管制界限:UCL= 0.149192 實際管制上限= 0.150 在實際解析中如果測量的點比較分散可以適當放寬解析上限再定期檢討縮緊管制上限到理論值。,下管制界限:LCL= 0.130472 實際管制下限= 0.130 在實際解析中如果測量的點比較分散可以適當放寬解析下限再定期檢討縮緊管制下限到理論值。,26,2SPC管制, 將CPK解析的管制上下限作為SPC的管制上下線 定時對生產制程進行量測這

7、個時間可以是每天或每班 檢查每次的量測結果是否在管控范圍內 量測點超出管控線需要立即檢討制程尋找出原因 定期(每月或每周)對近期的控制圖進行分析檢查是否有不收控制的趨勢(如周期變動連續7點連續11點等)。,27,2.1SPC管制圖,28,2.2管制圖的難點, CPK解析時存在中心偏移量較大的情況 CPK解析時數據離散性較大Sigma較大 SPC管制時管制上下限太嚴導致經常跑出管制線 量測點都在管制界限內是否代表制程良好,29,3SPC & CPK管制的步驟,四個步驟 3.1 CPK改進 3.2 CPK解析 3.3SPC管制及改進 3.4PDCA,30,3.1CPK改進-中心偏移量,CP=2.1

8、3675 K=0.5084 CPK=1.05,31,3.1CPK解析-消除中心偏移量,CL SL,CP=2.13675 K=0.0084 CPK=2.1188,32,3.1CPK解析-消除中心偏移量（圖）,SL,33,3.2CPK解析-穩定性離散性原則,CPK解析時 Sigma較大 CP 1.67 具體解析過程可以用Xbar-R 管制分析法,難,34,3.2CPK解析-Xbar-R 分析,步驟 1計算XbarRXbar.barRbar 2計算R的管控線并判斷 3剔除異常的點(超出規格的)查找異常的原因 4重復123步驟直到全部在管控范圍內 5計算Xbar的管控線并判斷 6剔除異常的點(超出規格

9、的)查找異常的原因 7重復1到6步驟直到全部在管控范圍內 8落實查找出來的改善措施 9再次復驗。,35,1計算XbarRXbar.barRbar,R.UCL=D4*R.bar =2.12*0.0127=0.02694 R.LCL=D3*R.bar =0*0.013=0,36,2計算R的管控線,此時的X.bar圖,異常點,37,3重新計算-剔除R圖中的不合格點(第2點),剔除后X.bar.bar及R.bar值均發生變化。R圖符合要求。,38,4計算Xbar的管控線,UCL= Xbar.bar+A2*Rbar=0.14043+0.577*0.012=0.147354 LCL= Xbar.bar -A2*Rbar =0.14043-0.577*0.012=0.133506,39,5剔除異常的點(超出規格的)查找異常的原因,異常點,異常點,40,6重新計算-剔除第512點,Xbar.barRbar都需要重新計算檢查R圖符合要求,41,6重新計算-檢查X.bar是否符合管制要求,42,7落實改善措施及延長管制線,將第2點和第512點出現異常的原因進行分析一定要追蹤落實改善 用以下公式得到管制用管制線 UCL= Xbar +3*Sigma LCL= Xbar - 3*Sigma,43,3.3SPC管制及改進,3.1和3.2得到了管制上下