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文档简介

1、第五讲 X 射线荧光光谱法 （X-ray Fluorescence Spectrometry, XRFS）5-1 基本原理 X 射线产生 连续 X 射线 特征 X 射线 X 射线的吸收、散射和衍射5-2 X 射线荧光光谱5-3 X 射线荧光光谱分析仪器5-4 X 射线荧光光谱分析方法及应用,5-1 基本原理一、X 射线产生 X 射线：波长 l 在 0.001 50 nm 的电磁波 X 射线产生： X 射线管 阳极靶材料：一般为重金属，如 Mo, Au, Fe 真空：10 4 Pa,二、 连续 X 射线产生：高速电子与金属靶材原子之间的碰撞强度： Iin = k Z i V 2这里：k 为常数；

2、Z 金属靶材的原子序数； i 和 V 为X光管的电流和电压,三、 特征 X 射线产生：高速电子作用下，金属靶材中内层电子跃迁 发射特征 X射线特征谱线的标示：Moseley定律 波长Z 原子序数K、S 为常数,四、 X 射线的吸收、散射和衍射 1. X 射线的吸收 X 射线的吸收遵守吸收基本定律（朗伯-比尔定律） 2. X 射线的衍射晶体中X射线的相干散射作用,5-2 X 射线荧光光谱一、X 射线荧光光谱的产生 荧光X射线 俄歇电子（Auger电子）二、 X 射线荧光光谱的应用 定性分析 定量分析,5-3 X 射线荧光光谱仪器一、仪器分类 1）波长色散型 平面色散型 曲面色散型 2）能量色散型

3、二、仪器结构, 相关技术 1）X 光源 2）分光系统准直器分光晶体：平面分光晶体、曲面分光晶体布拉格方程(Bragg Equation): n l = 2d Sin q 3) 检测器正比计数器闪烁计数器半导体计数器,准直器, 相关技术 曲面晶体 X 射线荧光光谱仪（全反射 X 射线荧光光谱仪) Total Reflection X-Ray Fluorescence Spectrometer, TRXRFS, 相关技术能量色散型X射线荧光光谱仪 脉冲高度分析器,5-4 X 射线荧光分析方法一、定性分析二、定量分析1）标准曲线法2）内标法3）增量法（标准加入法）4）数学计算法 三、应用, 应用举例海洋沉积物中常量元素含量分析Si，Al，Ca，Mg： （0.x xx%）Mn，Fe，Ni，Cu，Co，Cd：（0.00 x 0.x%, about xx ppm）方法选择：1）常量元素：AES、AAS、XRFS（前两种方法需要高倍数稀释） 2）微量元素：AES、AAS,参考书目1）谢忠信等著， X 射线光谱分析，科学出版社，北京，19822）赵藻藩，周性尧，张悟铭，赵文宽编，“仪器分析”，高等

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