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文档简介
1、1,数字电子技术基础实验,2013.8,2,注意事项,实验前认真预习实验讲义,实验完一周内交报告。 实验过程中遵守纪律,不乱跑,不乱借仪器,开始要检查仪器,结束整理仪器,有异常报告老师。 接电路时,严格按照书上电路图连线,认真检查线路,确保无误时开启电源。 我们实验中都是TTL电平,开关应该在TTL位置,认真检查。 接线要保持导线头笔直,严禁弯曲导线插入线孔。 拔插集成块时动作要轻,防止弄弯管脚。,3,实验箱简介,可调直流信号源05V,可调连续脉冲,固定脉冲,逻辑电平开关,单次脉冲,面包板,逻辑电平显示,电位器,七段数码管显示,GND +5V,4,实验箱简介,可调直流信号源05V:可以产生05
2、V可变直流电压。,GND 5V:GND和5V固定直流电压。,逻辑电平开关:产生0和1逻辑,拨到上面是高电平1,注意TTL开关位置拨在TTL。,逻辑电平显示:显示0和1逻辑,亮是高电平1。,可调连续脉冲:分波段可调脉冲,注意TTL开关位置拨在TTL 。,连续脉冲:固定频率脉冲。,电位器:1K,10K,100K电位器。,七段数码管显示:带七段译码显示。,面包板:连接线路,竖着的5个孔是连通的。,5个孔连通,5,实验2:集成逻辑门参数的测试,74LS20 4输入与非门,6,实验内容及步骤,1.TTL与非门参数的测试(测试时取电源电压Vcc=+5V,注意电流表电流档位,所选量程应大于器件电参数规范值)
3、。, 空载导通电源电流IccL,注意:测试条件; 分清楚管脚; 接完电路应该再仔细检查一遍,注意:虽然7420的两个与非门是独立的,但电源是公用的,所以测得IccL是总和,应该除以2才是结果。,7, 空载截止电源电流ICCH,实验内容及步骤,注意:如果只是一个与非门输入端接地,而另一个输入端开路,测得的电流是IccH+IccL,8,输入短路电流IIS,实验内容及步骤,9, 输入交叉漏电流IIH,实验内容及步骤,10, 输出高电平VOH,实验内容及步骤,可调电源调至0.8V,万用表用电压档,11, 输出低电平VOL,实验内容及步骤,可调电源调至1.8V,万用表用电压档,12, 开门电平VON,输
4、出为0.35V时,再用电压档测试,实验内容及步骤,可调电源调至输出电压为0.35V,13, 关门电平VOFF,实验内容及步骤,输出为2.7V时,再用电压档测试,可调电源调至输出电压为2.7V,14, 扇出系数No,先用导线连接,万用表测输出电压为0.35V时,再用电流档测试IL,实验内容及步骤,可调电阻,15,3TTL与非门逻辑功能的测试,只接其中一个与非门,实验内容及步骤,16,思考题,P.13: 1. 2. 3 .,17,实验3:半加器、全加器及其应用,74LS00 4与非门,18,74LS86 4异或门,19,74LS51 2与或非,20,74LS283 四位超前进位全加器,21,可以用
5、74LS00与非门实现或的关系:,可以用74LS00与非门实现非的关系:,22,实验内容及步骤,1. 半加器逻辑功能的测试,23,2. 全加器逻辑功能的测试,实验内容及步骤,24,3. 中规模集成全加器,实验内容及步骤,根据图3-4(b)所给引脚功能图连线,输入端A、A3、A2、A1和B4、B3、B2、B1数码分别接数据开关SW上,输出端S4、S3、S2和S1分别接显示器L1、L2、L3和L4,C4接万用表,最低位进位C0接地。,做完不要拆电路,接着做4,25,4. 用74LS283中规模集成全加器构成的码组变换,实验内容及步骤,用3的电路,把A变为0011即可。,26,思考题,P.18: 1
6、. 2.,27,实验4:编码器、译码器、显示器及其应用,74LS147 10-4线BCD优先编码器,28,74LS42 4-10线译码器,29,74LS248 七段显示译码器,30,实验内容及步骤,1.测试10-4线优先编码器74LS147的逻辑功能,31,2.测试74LS42四线十线译码器的逻辑功能,实验内容及步骤,32,3.74LS42四线十线译码器的应用,实验内容及步骤,33,4.中规模集成七段显示译码器(74LS248)及七段数码显示器的测试,实验内容及步骤,34,思考题,P.23: 1. 2.,35,实验5:数据选择器及其应用,74LS153是一个双四选一数据选择器,36,74LS0
7、0 4与非门,37,实验内容及步骤,1. 测试74LS153的逻辑功能,将地址A1、A0分别接数据开关SW1、SW2,使能端接数据开关SW3,输出端Q接发光二极管显示器L1,38,2. 用74LS153实现下列函数,并用实验方法列出其真值表,实验内容及步骤,提示:An、Bn是地址端,Cn-1的原变量和反变量构成D0D3,39,3. 用四选一数据选择器实现一个八选一数据选择器。,实验内容及步骤,课本P.189,可以用74LS00与非门实现或的关系:,40,思考题,P.26: 1. 2.,41,实验6:触发器及其应用,74LS00 4与非门,42,74LS112 双下降沿JK触发器,CLK1、CL
8、K2 时钟输入端(下降沿有效)J1、J2、K1、K2 数据输入端Q1、Q2、/Q1、/Q2 输出端SD1、SD2 直接置位端(低电平有效)RD1 、RD2 直接复位端(低电平有效),43,74LS74 双D触发器,44,实验内容及步骤,1. 基本R-S触发器,用74LS00与非门组成一个基本R-S触发器,45,.型锁存器,实验内容及步骤,用74LS00与非门组成一个D锁存器,46,.JK触发器,实验内容及步骤, 测试74LS112异步置位端Sd和异步复位端Rd 的功能, 测试74LS112 JK触发器的逻辑功能,47,4. D触发器,实验内容及步骤, 测试74LS74异步置位端Sd和异步复位端
9、Rd 的功能, 测试74LS74 D触发器的逻辑功能,48,思考题,P.31: 1. 2. 3.,49,实验7:计数器及其应用,74LS90 2-5-10 进制计数器,50,74LS193 4位2进制计数器,51,实验内容及步骤,1.测试74LS90的的逻辑功能, 按功能表测试其功能。在CP端加单次脉冲信号(用逻辑开关产生单次脉冲),用发光二极管指示器(LED)显示各输出端Q的状态(注意各Q端顺序),并列表记录结果。 使器件按8421BCD码计数,用显示译码器、七段LED数码管配合显示计数过程(用1Hz时钟脉冲输出),记录显示结果。,复0置9及计数功能表,52,2.测试74LS193的逻辑功能
10、,实验内容及步骤, 图7-2(C)功能表测试其功能, 将CP+接“1”,而CP-接逻辑开关A,按动逻辑开关一次,使计数器清“0”。 用万用表5V档测量Q-端,按动A逻辑开关十六次,观察L1L4的显示状态及万用表的变化情况,列表计录显示结果,说明计数器完成什么计数功能,指出电压表发生了什么变化,在什么状态下发生的。,53,思考题,P.38: 2. 3.,54,实验8:移位寄存器及其应用,74LS194 双向移位寄存器,55,实验内容及步骤,1.测试74LS194的的逻辑功能,按图接线,数据输入端A、B、C和D分别接SW1、SW2、SW3和SW,输出端QA、QB、QC和QD分别接L1、L2、L3和L4,Cr接逻辑开关、CP接逻辑开关B,56,2. 2.二进制数码的串、并行转换,实验内容及步骤,令74LS194的QA为最低位,QD为最高位。串行输入或输出一个四位二进制数。实验时,应注意正确选择何种移位方式操作。 串行输入、并行输出:设串行输入1010,先用右移方式,后用左移方式,实现并行输出,记录输出结果。 并行输入、串行输出:设并行输入1001。采用左移方式实现串行输出,记录输出结果。,57,思考题,P.44: 1. 2.,58,实验9:555定时器及其应用,NE555 定时电路,59,实验内容及步骤,1.用555定时器构成一施密特触发器,输入信号Vi如
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