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文档简介

1、3.3CMOS逻辑门电路的不同输出结构及参数3.3.1 CMOS逻辑门电路的保护和缓冲电路3.3.2 CMOS漏极开路和三态门电路3.3.3 CMOS逻辑门电路的重要参数3.3.1输入保护电路和缓冲电路采用缓冲电路能统一参数,使不同功能的集成逻辑门电路具有相同的输入和输出特性。VDDvo基vi功输入保护缓冲电路 基本逻辑功能电路 输出缓冲电路 本逻辑能电路 1. 输入端保护电路:(1) 0 vI VDD + vDF二极管导通电压:vDFD2 -分布式二极管(iD大)VDDCPD 导通, D 截止D1TP12RsvIvO(3) vI - vDFD2TNCNv= - vD 导通, D 截止IDF2

2、1当输入电压不在正常电压范围时,二极管导通,限制了电容两端电压的增加,保护了输入电路。RS和MOS管的栅极电容组成积分网络,使输入信号的过冲电压延迟且衰减后到栅极。vI 被限制在(VDD + vDF)内(2)CMOS逻辑门的缓冲电路输入、输出端加了反相器作为缓冲电路,所以电路的逻辑功能也发生了变化。增加了缓冲器后的逻辑功能为与非功能ALBL =A + B =A BA B L3.3.2CMOS漏极开路(OD)门和三态输出门电路VDD1. CMOS漏极开路门ATP11.)CMOS漏极开路门的提出1B输出短接,在一定情况下会产生低阻通路,大电流有可能导致器件的损毁,并且无法确定输出是高电平还是低电平

3、。与非门 G1VDDCTP20D与非门 G2TN2TN1VDDTP1ABTN11与非门 G1VVDDDDRRPPLLAABB与非门与非门 GG11CD与非门 G2(2)漏极开路门的结构与逻辑符号漏极开路门输出连接VDD电路逻辑符号漏极RP开路输出LLABLAALBBC D(a) 工作时必须外接电源和电阻;(b) 与非逻辑不变(c) 可以实现线与功能;L = ABCD= AB + CD(2) 上拉电阻对OD门动态性能的影响Rp的值愈小,负载电容的充电时间电路带电容负载VDD常数亦愈小,因而开关速度。RP但功耗大,且可能使输出电流超过允许的最大值IOL(max) 。Rp的值大,可保证输出电流不能超

4、过允许的最大值IOL(max)、功耗小。但负载电容的充电时间常数亦愈大,开关速度因而愈慢。1ABLC D CL0当VO=VOL 时,+V DDRPIOL(max)IIL(total)0k1nm1IIL最不利的情况:只有一个 OD门导通,为保证OD门输出低电平时, 其输出电流不超过允许的最大值 IOL(max)且VO=VOL(max) ,RP 不能太小。VDD -VOL(max)I OL(max) =R+ I IL(total)p(min)VDD - VOL(max)Rp(min) = I- IOL(max)IL(total)当VO=VOH 时,为使得高电平不低于规定的VIHI的最小值,则R 的

5、选择不能过p大。R 的最大值R:kpp(max)VDD -VIH(min)=Rp(max)+ IInmOH(total)IH(total)IOZIIH+V DDRPOH(total)IIH(total)IILPN011导通截止100导通截止1002.三态(TSL)输出门电路VDDB 1ENT截止1L0T 截止ACENA L逻辑功能:高电平有效的同相逻辑门使能EN输入A输出L1001110高阻0 1100010三态门电路的应用数据总线DG2GnG1ENENEN 0 DA 0 DB 1 DN任何时刻只能有一个门的使能端为有效,其他门输出高阻3.3.3CMOS逻辑门电路的重要参数1. 输入和输出的高

6、、低电平输入低电平的上限值VIL(max)输入高电平的下限值VIL(min)输出高电平的下限值VOH(min)输出低电平的上限值VOH(max)vOvI驱动门 G1负载门G2vO+VDDvI输出高电平VOH(min)输高输出V输低电平OL(max)低0G1 门 vO 范围G2 门 vI 范围+VDD入 电平VIH(min)VIL(max)入 电平01. 输入和输出的高、低电平类 型 参数/单位4000V= 5V DD IO = 1mA74HCV= 5V DD I O = 0.02mA74HCTV= 5V DD I O = 0.02mA74LVCV= 3.3V DD I O = 0.1mA74A

7、UCV= 1.8V DD I O = 0.1mAVIL(max) /V1.01.50.80.80.6VOL(max) /V0.050.10.10.20.2VIH(min) /V4.03.52.02.01.2VOH(min) /V4.954.94.93.11.7高电平噪声容限(VNH/V)0.951.42.91.10.5低电平噪声容限(VNL/V)0.951.40.70.60.42. 噪声容限在保证输出电平不变的条件下,输入电平允许波动的范围。它表示门电路的抗干扰能力负载门输入高电平时的噪声容限:当前级门输出高电平的最小VNHvOvI值时允许负向噪声电压的最大值。VNH =VOH(min)VIH

8、(min)负载门输入低电平时的噪声容限:当前级门输出低电平的最大VNL值时允许正向噪声电压的最大值VNL =VIL(max)VOL(max)VOL(max0G2 门 vI 范围G1 门 vO 范围+VDD1 输入VIH(min)VIL(max)00 输入1 输出+VDDVOH(min)VNHVNL0 输出驱动门负载门噪声vov I3.传输延迟时间传输延迟时间是表征门电路开关速度的参数,它说明门电路在输入脉冲波形的作用下,其输出波形相对于输入波形延迟了多长的时间。传输延迟时间与电源电压VDD及负载电容大小有关。表中为各个非门的参数。CMOS电路传输延迟时间 50% 50%输入tPLHt PHL9

9、0%90%输出 50% 50%10%10%tftr类型参数74HC VDD=5 V74AHCVDD=5V74LVCVDD=3.3V74AUCVDD=1.8VtPLH或tPHL(ns)63.82.50.84. 功耗静态功耗:指的是当电路没有状态转换时的功耗,即门电路空载时电源总电流ID与电源电压VDD的乘积。动态功耗:指的是电路在输出状态转换时的功耗, 对于TTL门电路来说,静态功耗是主要的。CMOS电路的静态功耗非常低,CMOS门电路有动态功耗5. 延时-功耗积是速度功耗综合性的指标.延时-功耗积,用符号DP表示。几种CMOS系列非门的DP见下页。几种CMOS系列非门的DP性能比较系 列 参数

10、/单位74HC04 (VDD=5V)74AHC04 (VDD=5V)74LVC04 (VDD=3.3V)74AUC04 (VDD=1.8V)功耗电容CPD/pF2112817传输延迟时间tpd/ns(CL=15pF)63.82.50.8功耗PD /mW(10MHz)96.82.51延时功耗积DP/pJ5425.846.250.86. 扇入与扇出数扇入数:取决于逻辑门的输入端的个数。扇出数:在正常工作情况下,所能带同类门电路的最大数目。(a)带拉电流负载当负载门个数增加时,总的拉电流将增加,会引起输出高电平的降低。但不得低于输出高电平下限值,这就限制了负载门的个数。IOH高电平扇出数:IIHI OH ( 驱动门)=NOHI IH (负载门)IIHIOH :驱动门输出高电平时的输出电

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