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文档简介

电子元器件失效分析技术及经典案例培训课程背景: 电子产品在不断与失效作斗争中不断提高可靠性,失效分析是与产品失效作斗争的最有效的工具。失效分析是故障归零的关键技术:产品故障归零技术上要求“定位准确,机理清楚,故障再现,措施有效,举一反三”,显然,失效分析实现“机理清楚”,只有在失效机理的指引下才能确定正确的“故障再现”的应力,只有在机理的指引下,才能确定引起故障的原因,对故障实施改进、控制才能做到“措施有效”。课程概要及收益:“电子元器件失效分析技术与经典案例”分为两讲,第一讲和第二讲是“电子元器件失效分析技术”,这一讲中首先简单讲述电子产品(包括各种元器件、集成电路、组件等)失效分析的主要术语,失效分析的程序和方法。重点通过具体的分析案例,剖析失效分析的程序和方法各个节点的分析要点和分析技巧。通过学习让学员掌握怎样开展失效分析工作,采用什么分析仪器设备提取失效样品的失效证据,怎样研判失效证据与样品失效的关系,从而诊断失效样品的失效机理;掌握分析设备的应用技巧和失效分析中的关键问题。第三讲是“失效分析经典案例”,通过典型的失效分析案例的剖析,加深失效分析程序和方法的掌握,通过典型的失效分析案例讲述各种元器件、各种失效机理的分析、诊断方法,并在失效分析的案例中培训学员怎样考虑问题、怎样采用合适的分析手段(分析仪器、设备)提取证据,怎样识别各种失效机理的表现特征,怎样对获得的各方面的信息、证据进行综合分析以达到对失效产品进行准确诊断的目的。【主办单位】中国电子标准协会【协办单位】深圳市威硕企业管理咨询有限公司课程对象:电子元器件、电路板或整机企业的设计工程师、质量工程师、工艺工程师、可靠性工程师、失效分析工程师;课程大纲:课程大纲根据报名学员要求,上课时会有所调整.第一讲 失效分析概论1.基本概念2.失效分析的定义和作用3.失效模式4.失效机理5.一些标准对失效分析的要求6.标准和资料 第二讲 失效分析技术和设备1. 失效分析基本程序a.基本方法与程序b.失效信息调查与方案设计c.非破坏性分析的基本路径d.半破坏性分析的基本路径e.破坏性分析的基本路径f.报告编制2. 非破坏性分析的基本路径a.外观检查b.电参数测试分析与模拟应力试验c.检漏与PINDd.X光与扫描声学分析3. 半破坏性分析的基本路径a.开封技术与可动微粒收集b.内部气氛检测(与前项有冲突)c.不加电的内部检查(光学.SEM与EDS.微区成分)d.加电的内部检查(微探针.红外热像.EMMI光发射.电压衬度像.束感生电流像.电子束探针).4. 破坏性分析的基本路径a.去除钝化层技术(湿法.干法)b.剖切面技术及分析(切片)5. 分析技术与分析设备清单 第三讲 失效分析典型案例1. 系统设计缺陷引起的失效2. CMOS IC 闩锁效应失效3. 静电损伤失效4. 过电损伤失效5. 热应力失效6. 机械应力损伤失效7. 电腐蚀失效8. 污染失效9. 热结构缺陷引起过热失效10.其他缺陷引起的失效11.寿命失效师资介绍:李老师 我国电子产品失效分析领域权威专家.24年来一直从事电子产品可靠性技术研究工作,曾经主持参加众多军用电子元器件可靠性研究课题,多次获得各级科研成果奖项,先后参与失效分析经典案例100例和电子元器件失效技术的编写。曾为:华为、中兴集团、海尔集团、美的集团、厦华、飞通、广东核电等上百家企业进行内训及公开授课,学员累计数千人。主要培训的企业有:美的失效分析实验室建设技术咨询和失效分析技术培训,海尔检测中心的技术咨询和失效分析技术培训,广东核电进行电子元器件老化技术,继电器老化管理,板件老化管理培训,中兴通讯的失效分析技术培训,富士康失效

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