多晶体射线衍射分析方法详解

多晶体射线衍射分析方法当前第1页\共有66页\编于星期五\18点引言X射线衍射方法照相法X射线衍射仪法粉末法劳埃法转晶法聚焦法平板底片法德拜法X射线衍射方法就是根据x射线衍射原理，进行材料微观结构测定、分析的技术。当前第2页\共有66页\编于星期五\18点Ewald球与实验方法当前第3页\共有66页\编于星期五\18点对于粉末试样，当一束X射线从任意方向照射到粉末样品上时，总会有足够多的晶面满足布拉格方程。在与入射线呈2θ角的方向上产生衍射，衍射线形成一个相应的4θ顶角的反射圆锥。各个圆锥均由特定的晶面反射引起的。圆锥的轴为入射束，特定晶面的衍射束均在反射圆锥面上。图示绘出了衍射线的空间分布(绘出了三个衍射圆锥)知识回顾：什么是粉末法？粉末法的原理？当前第4页\共有66页\编于星期五\18点

第一节德拜照相法

在粉末法中，如何记录下这些衍射花样（同时包括衍射方向和强度）呢？其中一类方法照相法。照相法：以光源（X射线管）发出的特征X射线照射多晶体样品，使之产生衍射，并用照相底片记录衍射花样的方法。比如采用平板底片或圆筒形底片等。当前第5页\共有66页\编于星期五\18点Debye照相法现已很少用当前第6页\共有66页\编于星期五\18点德拜-谢乐法：德拜法的主要特点：用细圆柱状试样和环带状底片。将一个长条形底片圈成一个圆，以试样为圆心，以X射线入射方向为直径放置圈成的圆底片。这样圆圈底片和所有反射圆锥相交形成一个个弧形线对，从而可以记录下所有衍射花样，这种方法就是德拜-谢乐照相法。当前第7页\共有66页\编于星期五\18点记录下衍射花样的圆圈底片，展平后可以测量弧形线对的距离2L，进一步可求出L对应的反射圆锥的半顶角2θ，从而可以标定衍射花样。当前第8页\共有66页\编于星期五\18点当前第9页\共有66页\编于星期五\18点一、德拜相机德拜相机是圆筒形的。结构：主要由相机圆筒、光栏、承光管和位于圆筒中心的试样架构成。与圆筒内壁周长相等的底片，圈成圆圈紧贴圆筒内壁安装。X射线从滤光片进入前光阑，照射细圆柱试样后再进入后光阑(承光管)。当前第10页\共有66页\编于星期五\18点相机圆筒常常设计为内圆周长为180mm和360mm，对应的圆直径为φ57.3mm和φ114.6mm。这样的设计目的是使底片在长度方向上每毫米对应圆心角2°和1°，为将底片上测量的弧形线对距离2L折算成4θ角提供方便。当前第11页\共有66页\编于星期五\18点二、德拜法的实验条件1、试样试样尺寸为mm的细圆柱状样品。试样要求：第一、试样粉末尺寸大小要适中；粉末颗粒通常在10-3~10-5cm之间（过250~300目筛），每个颗粒又可能包含了好几颗晶粒。第二、试样粉末不能存在应力。脆性材料可以用碾压或用研钵研磨的方法获取；对于塑性材料(如金属、合金等)可以用锉刀锉出碎屑粉末。当前第12页\共有66页\编于星期五\18点2、阳极靶和滤波片的选择阳极靶的选择：Z靶≤Z样+1，或Z靶>>Z样。滤波片的选择：当Z靶≤40时，Z滤=Z靶-1；当Z靶>40时，Z滤=Z靶–2。获得单色光的方法除了滤波片以外，还可以采用单色器。当前第13页\共有66页\编于星期五\18点3、X射线管的电压和电流通常管电压为阳极靶材临界电压（VK）的3～5倍，此时特征谱与连续谱的强度比最大。管电流可以尽量选大（可缩短摄照时间），但以不超过X射线管的额定功率为限。4、确定曝光时间

德拜法的摄照时间以h计。当前第14页\共有66页\编于星期五\18点三、德拜花样的指数标定（即指标化）德拜相的指标化：就是确定照片上各线条（弧对）的晶面指数。指数标定步骤:第一步：测量每一衍射线对的几何位置（2θ角）及其相对强度；第二步：根据测量结果标定每一对衍射线的晶面指数。(即每对弧线代表一个(hkl)面网)当前第15页\共有66页\编于星期五\18点1、衍射花样照片的测量与计算

衍射线条几何位置的测量：①对各弧线对标号；②测量弧线对之间的距离2L；③计算出与2L对应的4θ角。当前第16页\共有66页\编于星期五\18点衍射线条强度的测量：德拜花样衍射线弧对的强度通常是相对强度。当要求精度不高时，这个相对强度常常是估计值，按很强（VS）、强（S）、中（M）、弱（W）和很弱（VW）分成5个级别。精度要求较高时，则可以用黑度仪测量出每条衍射线弧对的黑度值，再求出其相对强度。精度要求更高时，需要依靠X射线衍射仪来获得衍射花样！

当前第17页\共有66页\编于星期五\18点2、衍射花样的指数标定（在衍射仪法中介绍）当前第18页\共有66页\编于星期五\18点第二节X射线衍射仪法

X射线（多晶体）衍射仪是以单色X射线照射多晶体样品，并用辐射探测器记录衍射花样的衍射实验装置。X射线衍射仪测量的优点：方便、快速、准确、自动化程度高等。当前第19页\共有66页\编于星期五\18点衍射仪外观图当前第20页\共有66页\编于星期五\18点X射线衍射仪的基本组成部分：X射线发生器

测角仪（核心部分）辐射探测器辐射测量电路当前第21页\共有66页\编于星期五\18点粉末多晶法

-衍射仪法X射线衍射仪是采用衍射光子探测器和测角仪来记录衍射线位置及强度的分析仪器

.X射线衍射仪的主要组成部分有X射线衍射发生装置、测角仪、辐射探测器和测量系统，除主要组成部分外，还有计算机、打印机等。当前第22页\共有66页\编于星期五\18点

当前第23页\共有66页\编于星期五\18点

当前第24页\共有66页\编于星期五\18点当前第25页\共有66页\编于星期五\18点当前第26页\共有66页\编于星期五\18点当前第27页\共有66页\编于星期五\18点高分辨衍射仪（D8-Discovre型，Bruker公司1999年产品）当前第28页\共有66页\编于星期五\18点测角仪简介测角仪是X射线的核心组成部分试样台位于测角仪中心，试样台的中心轴ON与测角仪的中心轴(垂直图面)O垂直。试样台既可以绕测角仪中心轴转动，又可以绕自身中心轴转动。当前第29页\共有66页\编于星期五\18点当前第30页\共有66页\编于星期五\18点当前第31页\共有66页\编于星期五\18点当前第32页\共有66页\编于星期五\18点当前第33页\共有66页\编于星期五\18点一、测角仪

1、测角仪的构造和工作原理构造：

(1)样品台（小转盘H）：样品表面与O轴重合(2)X射线源S：X射线管的线状焦点S与O轴平行；(3)

测角仪圆G：以样品为圆心，过X射线源S和探测器接收点C(实际是F)的圆。当前第34页\共有66页\编于星期五\18点(4)

测角仪支架E：狭缝I、光阑F和计数管C固定于支架E上；支架可以绕O轴转动（即与样品台的轴心重合）；支架的角位置2θ可以从刻度盘K上读取。当前第35页\共有66页\编于星期五\18点(5)

测量动作：θ-2θ联动即样品和计数管的转动角速度保持1：2的速比。为何采用-2联动？当前第36页\共有66页\编于星期五\18点为何采用-2联动？设计1:2的角速度比，是保证当计数器处于2θ角的位置时，试样表面与入射线的掠射角为θ，从而使入射线与衍射线以试样表面法线为对称轴，在两侧对称分布。辐射探测器接收到的衍射是那些与试样表面平行的晶面产生的衍射。（虽然有些晶面不平行于试样表面，尽管也产生衍射，但衍射线进不了探测器，不能被接收。）当前第37页\共有66页\编于星期五\18点联动扫描过程中，探测器沿测角仪圆由低2θ角到高2θ角转动，当转到适当的位置时便可接收到一根反射线，这样逐一探测和记录下各条衍射线的位置（2θ角度）和强度，获得衍射谱。如图，横坐标为2；纵坐标为衍射强度。探测器的扫描范围可以从-20º到+165º；2测量的绝对精度0.02。测角仪用于测量和记录各衍射线的布拉格角、强度、线形等数据。当前第38页\共有66页\编于星期五\18点衍射仪法和德拜照相法的花样比较当前第39页\共有66页\编于星期五\18点2、测角仪的聚焦原理聚焦圆：由X射线源S、样品表面平面位置O、探测器接收点F，由此3点构成了聚焦圆。根据聚焦原理：“同一圆周上的同弧圆周角相等”，当一束X射线从S照射到试样表面AOB上，它们的同一（HKL）的衍射线的会聚点F必落到同一聚焦圆上。这时圆周角∠SAF=∠SOF=∠SBF=π-2θ。测角仪的衍射线的聚焦条件是根据聚焦原理设计的。当前第40页\共有66页\编于星期五\18点设测角仪圆半径为R，聚焦圆半径为r，可以证明：r=R/2sinθ

讨论：①探测器在运转过程中，聚焦圆时刻变化着。当θ→0º，r→∞；θ→90º，r→rmin=R/2。②使得衍射仪采用平板试样。其目的：使试样表面始终保持与聚焦圆相切，近似满足聚焦条件。当前第41页\共有66页\编于星期五\18点测角仪的光路布置测角仪要求与Ｘ射线管的线焦斑联接使用，线焦斑的长边与测角仪中心轴平行。采用狭缝光阑和梭拉光阑组成的联合光阑。当前第42页\共有66页\编于星期五\18点3、测角仪的光路布置测定时，可根据样品的情况选择各狭缝的宽度。狭缝宽度影响衍射线的峰形及强度！狭缝光阑的宽度以度（）来计量，有一系列的尺寸供选用。当前第43页\共有66页\编于星期五\18点a对称Bragg反射（b=aq;q(q)/2q）

b不对称Bragg反射准聚焦几何（ba）被测晶平面与试样表面的夹角Y=q-a当前第44页\共有66页\编于星期五\18点当前第45页\共有66页\编于星期五\18点类型

名

称

扫描模式符号特性

1

对称偶合非对称

CBDMCBD，TMCBDSTD，TSTDADA，TADA

b=aq;q(q)/2q

baq;q(qw0)/2q

baq;q(a0)/2q

baq;qk(a)/2qk

1222

II

非对称偶合非对称非偶

MCBD，TMCDDSTD，TSTDADA，TADA

q(qw0)/2q

baq;q(a0)/2q

baq;qk(a)/2qk

222

III表面反射

透过反射

CBD，MCBD，STD，ADATMCBD，TSTD，TADA

00<a<2q2q<a<1800-q

各种扫描模式及其特性一览表CommonBraggDiffraction,Match,TransmissionSampleTiltingDiffraction,AngularDispersionAnalysis,当前第46页\共有66页\编于星期五\18点偶合扫描模式有对称和非对称之分，这里对称与否是指入射线和反射线相对于试样表面而言的，而对晶面来说都是对称的．这是布拉格定律所规定的．有七种不同的扫描模式，它们之间有共性也有特性．从表中看出，对称模式只有一种“CBD”，该模式同时具有对称、偶合及表面反射三者的特征，因而它出现在I及III中，其它六种都是非对称偶合或非对称非偶合扫描模式．当前第47页\共有66页\编于星期五\18点

STD模式覆盖了现有的许多非偶合衍射设备，如薄膜分析用：

1、GAD（glancingangleX-raydiffractometry):这是一种掠角入射技术，其入射角a处于0.6~10

之间，所以穿透深度很浅：t=0.13a/m

2、TFD（thinfilmdiffractometry):这是一种平行光入射技术，其入射角a处于1~100

之间，当a小时，X射线穿透深度也浅

3、S-B(Seemann-Bohlindiffractometry),早期的非偶合薄膜分析设备，3－6度，胶片记录。

当前第48页\共有66页\编于星期五\18点影响衍射线强度的各种因素因素可调节的各因子以提高强度1、仪器特性2、试样性质3、制样及实验条件4、衍射几何因子IAR

mI，A，rV,K当前第49页\共有66页\编于星期五\18点二、探测器与记录系统

1、辐射探测器作用：接收样品衍射线（光子），并将光信号转变为电（瞬时脉冲）信号。目前主要有3种辐射探测器（也称为计数管）：

正比计数器、闪烁计数器、Si（Li）探测器。其中常用的是正比计数器和闪烁计数器。当前第50页\共有66页\编于星期五\18点正比计数器

原理：利用x射线对气体的电离效应和气体放大原理设计成的。X射线光子使计数器内惰性气体电离，所形成的电子流在外电路中产生一个电脉冲。脉冲大小与入射X射线光子能量成正比，可与脉冲高度分析器联用。当前第51页\共有66页\编于星期五\18点闪烁计数器

工作原理：x射线能激发某些闪烁晶体(如磷光体)发射可见荧光，并通过光电倍增管转换和放大为能够测量的电流；由于输出的电流和X光子的能量成正比，因此也可与脉冲高度分析器联用，从而用来测量衍射线的强度。闪烁计数器由磷光体及光电倍增管组成。当前第52页\共有66页\编于星期五\18点2、辐射测量电路

将探测器接收的信号转换成电信号并进行计量后输出可读取数据的电子电路部分。组成主要有：①脉冲高度分析器②定标器③计数率器当前第53页\共有66页\编于星期五\18点三、实验条件及计数测量方法

1、试样衍射仪法试样是平板状。可以是金属、非金属的块状、片状或各种粉末。试样要求：①试样晶粒大小要适宜，在1μm～5μm左右最佳。②试样不能有择优取向(织构)存在。否则探测到的X射线强度分布不均匀。③不宜有应力存在。应力将使衍射峰宽化，2θ角测量精度下降。④试样表面的平整度越高越好，但在表面平整的过程中注意不要引入摩擦应力。⑤试样厚度也有一个最佳值（与μ有关）。当前第54页\共有66页\编于星期五\18点2、实验参数选择与德拜法中一样的实验参数：阳极靶和滤波片的选择；X射线管的电压和电流。与德拜法不同的实验参数：狭缝光栏宽度、时间常数和扫描速度。物相分析时，扫描速度常用3～4

/min。当前第55页\共有66页\编于星期五\18点3、扫描方式

多晶体衍射仪扫描方式分为连续扫描和步进扫描两种。（1）连续扫描（最常用）：在选定的2θ角范围内，计数管以一定的扫描速度与样品(台)联动，连续测量各衍射角相应的衍射强度，获得I—2θ曲线。连续扫描方式扫描速度快、效率高。一般用于对样品的全扫描测量（如物相定性分析）。要扫测时设定起始角、终止角、扫描速度等参数。当前第56页\共有66页\编于星期五\18点（2）步进扫描计数器首先固定于起始的2位置，按设定的定时计数或定数记时、步进宽度(Δ2)和步进时间(Δt，行进一个步进宽度所需时间)，逐点测量各衍射角2所对应的衍射相对强度。常用于精确测量衍射峰的强度、确定衍射峰位、线形分析等定量分析工作。步进扫描测量精度较高，但费时，一般仅用于测量2范围不大的一段衍射图。当前第57页\共有66页\编于星期五\18点四、多晶衍射花样的指数标定指数化：就是定出各衍射线的hkl。

当前第58页\共有66页\编于星期五\18点首先，计算与2θ衍射峰对应的面间距d。然后，标定晶面指数。标定方法分两种：如果样品晶体结构已知，可以立即标定每根衍射线的晶面指数；如果样品晶体结构未知，则需要参考试样的化学成分、加工工艺过程等进行尝试标定。当前第59页\共有66页\编于星期五\18点例：立方系晶体衍射花样标定对单一物相，介绍立方晶系晶体指标化的数值计算法。原理：衍射线的q角越小，指数越低，根据晶系定出衍射线指数。对于立方晶系，有：上式中，对于同一物质的同一衍射花样中的各条衍射线是相同的，所以它是常数。因此，衍射花样中的各条线对的晶面指数平方和（h2+k2+l2）与sin2θ一一对应。当前第60页\共有66页\编于星期五\18点令N=h2+k2+l2，则有：根据立方晶系的消光规律，相应的N值序列规律如下：点阵类型N值序列比简单立方1:2:3:4:5:6:8:9:10:···体心立方2:4:6:8:10:12:14:16:18:···面心立方3:4:8:11:12:16:19:20:24:···当前第61页\共有