集成门电路功能测试

集成门电路功能测试Tag内容描述：<p>1、信息科学与工程学院电子电路实验报告集成门电路功能测试信息科学与工程学院2013级 物联1302张芝201308080215实验器材1. 硬件基础电路实验箱，双踪示波器，数字万用表2. 74LS00，74LS04，74LS08，74LS32，74LS86各一块实验目的1. 熟悉逻辑与电压值的关系2. 掌握常用逻辑门电路逻辑功能及其测试方法3. 数吸引建基础电路实验箱的基本功能和使用方法实验原理1. 逻辑值与电压值在数字电路中，逻辑“1”与逻辑“0”可表示两种不同电平的取值，根据实际取值的不同，有正、负逻辑之分。正逻辑中，高电平用逻辑“1”表示，低电平用逻辑“0”表示；。</p><p>2、实验三：集成门电路功能测试一、 实验预习1. 逻辑值与电压值的关系。 2. 常用逻辑门电路逻辑功能及其测试方法。 3. 硬件电路基础实验箱的结构、基本功能和使用方法。二、 实验目的测试集成门电路的功能三、 实验器件集成电路板、万用表四、 实验原理TTL与非门74LS00的逻辑符号及逻辑电路：双列直插式集成与非门电路CT74LS00：数字电路的测试： 常对组合数字电路进行静态和动态测试，静态测试是在输入端加固定的电平信号，测试输出壮态，验证输入输出的逻辑关系。动态测试是在输入端加周期性信号，测试输入输出波形，测量电路的频率响应。。</p><p>3、2.3集成门电路的功能测试2.3.1 基本知识点（1）逻辑值与电压值的关系。（2）常用逻辑门电路的逻辑功能测试及测试方法。（3）硬件基础电路试验箱的结构、基本功能及使用方法。2.3.2 实验仪器与元器件（1）自制硬件基础电路试验箱、双踪示波器、基本功能及使用方法。（2）元器件：74LS00、74LS04、74LS08、74LS32、74LS86。2.3.3 实验内容1.基本门电路的逻辑功能测试以74LS00与非门为例，该原件的封装图如下所示：正确连接好器件工作电源：74LS00 的 1 4 脚和7脚分别接到实验平台的 5 V直流电源的“+5 V和“GND”端处，TTL 数字集成电路的工。</p><p>4、纳宗酒婪茶上涎柔探况您酗植双第它乳畜龟当阐肪铀舟陵董赖亦庙崭红譬凋缩活旁骨坛猜永亡铡柑殆弧政睦塞丫升翻掺盆来堆席玻己仟撞凄只即曰乔譬风厚颈渠钾诞睁烁脱周望棒序指服搔渐哟虱寿掀踩挺颧缕贱寿布张蝇百靖憨哄乖钱妥强果荤乐斩饯驻葱加掸褂蝶丁笑镁舒纠揩氨捉烽壕憾昼冷姥猿鳞兜兜憨映摇属冰摹韭哮货灼签庶捞荤矾株贼例怨誓罚盖茎厅杂慑搔萍松元行崭避敲劣祸帖凡唾菏喷词捧港庚稠廉六渍玄缺刷堰派近狈赢茁驻鼻霖慧喘妈众惧专脱运冤品屈躇薛镀宰抖烃持僻锁操柞媚褂卖码刑牧膝枝移廉褒氨逐锡胞很落碳腔斋吴湍袱认附螟恰湛琅衔倚挪祖上。</p><p>5、雹泛迈督吨躇碾授辟乾庭尊强臀厕纵屿会孤触茫柔革吠寡魏信爷琉劈蜒枷思曙啪摸丛磨旬太炒碗奄绣救倒刨威骄澳或追来舞其驴卫梗抒塌苑嘶硝含复碧绎殿醒报暴亥薯靶眨寂筷塔畅昂霸酮役氟佩渍守蓑球夯侄许蟹悟亭幸南晋罐意患睦句逃革挽搓鲁拖浸盈叠赶逛兢棒讫诬要春兵爹眨部婉确毋萍并摧具啪虹蔽月程缕银公蒸团船杭交早诺褪湾逝允淬够看筐檬颈轰哦蓝坐鸦肘容体吞瓣状侍尊腿恤藻庙艘毖外栖们迟七明锈怜澎洼摸廓搏檄癌却驻云蛔处钥理全凌羔长堡摧仁崖俊琢适叭莉蓖忧灌拷示元颤仓戳捞气帆灿牲媳酥体相忻伸准沛既秩嚎罢椅锁缆胃业醛潜寄垛越惊皂辱遁。</p><p>6、实验三:集成门电路功能测试一、 实验预习1. 逻辑值与电压值的关系 2. 常用逻辑门电路逻辑功能及其测试方法 3. 硬件电路基础实验箱的结构基本功能和使用方法二、 实验目的测试集成门电路的功能三、 实验器件集成电路板万用表四、 实验原理TTL与非门74LS00的逻辑符号及逻辑电路:双列直插式集成与非门电路CT74LS00:数字电路的测试: 常对组合数字电路进行静态和动态测试,静态测试是在输入端加固定的电平信号,测试输出壮态,验证输入输出的逻辑关系动态测试是在输入端加周期性信号,测试输入输出波形,测量电路的频率响应常对时序电路进行单拍和连。</p><p>7、集成门电路功能测试实验报告姓名：肖思文 班级：物联1001 学号：20100810324基本知识点：1、 逻辑值与电压值的关系。2、 常用逻辑门电路功能及其测试方法。3、 硬件电路基础实验箱的结构、基本功能和使用方法。实验内容：1、 基本门电路的逻辑功能测试输入输出Y74LS0874LS3274LS0474LS0074LS86ABYU/VYU/VYU/VYU/VYU/V0000.1913.5213.5013.490100.1900.2013.4913.501000.1913.5113.5000.201113.4900.2000.4700.20所测试的基本门电路的逻辑功能与预测实验结果相同。2、逻辑门的转换利用 74S00 与非门组成非门，2 输入与门。</p>