门电路功能测试

门电路功能测试Tag内容描述：<p>1、实验一 门电路逻辑功能及测试1、 实验目的1、熟悉门电路逻辑功能。2、熟悉数字电路实验箱及示波器使用方法。二、实验仪器及器件1、示波器；2、实验用元器件：74LS00 二输入端四与非门 2 片74LS20 四输入端双与非门 1 片74LS86 二输入端四异或门 1 片74LS04 六反相器 1 片三、实验内容及结果分析实验前检查实验箱电源是否正常。然后选择实验用的集成电路，按自己设计的实验接线图接好连线，特别注意Vcc 及地线不能接错(Vcc=+5v，地线实验箱上备有)。实验中改动接线须先断开电源，接好后再通电实验。1、测试门电路逻辑功能 选用双四输入与非。</p><p>2、实验1 门电路功能测试及组合逻辑电路设计实验目的（1） 掌握常用门电路的逻辑功能及测试方法。（2） 掌握用小规模集成电路设计组合逻辑电路的方法。实验仪器设备与主要器件数字电路实验箱一个;双踪示波器一台；稳压电源一台；数字万用表。74LS00(四2输入与非门)一片；74LS10(三3输入与非门)一片；74LS20(二4输入与非门)一片。实验原理TTL集成逻辑电路的种类繁多，现以74LS00为例介绍其内部电路结构和工作原理。如图所示，当输入信号A、B中有一个是低电平时，T1必有一个发射结导通，并将T1的基极电位钳在0.9V（设定VIL=0.2V,VBE=0.7V）。这。</p><p>3、电子科技大学中山学院学生实验报告系别：机电工程学院 专业：自动化 课程名称：数字逻辑设计及应用实验班级： 姓名： 学号： 组别：实验名称：实验一 TTL逻辑门功能测试及应用 实验时间： 成 绩： 教师签名： 批改时间：1.实验目的(1)熟练掌握QuartusII下数字逻辑电路的设计流程与设计方法；(2)加深对常用逻辑门逻辑功能的认识，并培养利用基本逻辑门进行功能变换扩展的能力。2.实验设备(1)硬件：PC机 一台数字电路实验教学平台 一台 (2)软件：Quartus II 集成开发环境3.实验内容(1) 熟悉Quartus II 集成开发环境,建立工程文件；(2) 编写。</p><p>4、中专实验报告课程名称：_______________实验项目名称：实验二 基本门电路的逻辑功能测试班级：__________________姓名：____________同组者：____________日期：_____________指导教师：_____________成绩：___________一、实验目的：熟悉各种门电路的逻辑功能。二、实验器材：数字电路实验仪一台双踪示波器一台74LS00（二输入端四与非门）二片、74LS20（四输入端双与非门）、74LS86（二输入端四异或门）一片、74LS04（六反相器）一片三、验内容与步骤：门电路逻辑功能的测试。1、在本实验中，采用74LS20（四2输入双与非门）一只、其管脚。</p><p>5、实验三:集成门电路功能测试一、 实验预习1. 逻辑值与电压值的关系 2. 常用逻辑门电路逻辑功能及其测试方法 3. 硬件电路基础实验箱的结构基本功能和使用方法二、 实验目的测试集成门电路的功能三、 实验器件集成电路板万用表四、 实验原理TTL与非门74LS00的逻辑符号及逻辑电路:双列直插式集成与非门电路CT74LS00:数字电路的测试: 常对组合数字电路进行静态和动态测试,静态测试是在输入端加固定的电平信号,测试输出壮态,验证输入输出的逻辑关系动态测试是在输入端加周期性信号,测试输入输出波形,测量电路的频率响应常对时序电路进行单拍和连。</p><p>6、实验一 门电路逻辑功能测试一实验目的1.熟悉集成门电路的工作原理和主要参数2.熟悉集成门电路的外型引脚排列及应用事项3.验证和掌握门电路的逻辑功能二理论准备使用最广泛的数字集成门电路为TTL和CMOS两种1.TTL门电路TTL集成电路除了标准形式(74系列)外,还有其它四种结构形式:高速TTL(74H系列),低功耗TTL(74L系列)这两种结构与标准TTL主要区别是电路中各电阻不同,另两种是肖特基TTL(74S系列)和低功耗肖特基TTL(74LS系列)2.基本CMOS门电路CMOS逻辑门电路是在TTL电路问世之后,所开发出的第二种广泛应用的数字集成器件,从发展趋势来看,CMOS电。</p><p>7、实验1 门电路逻辑功能测试一实验目的1 熟悉数字逻辑实验装置的有关功能和使用方法2掌握门电路的逻辑功能,熟悉其外形和外引线排列3学习门电路的测试方法二实验仪器1综合实验装置一套2器件:74LS00二输入端四与非门2片74LS86两输入端四异或门1片三实验原理1 基本门电路有与门或门和非门常见的与门有:74LS08(四2输入与门)74LS09(四2输入与门OC门)74LS11(三3输入与门)74LS15(三3输入与门OC门)74LS21(双4输入与门)常见的或门有:74LS32(四2输入或门)常见的非门有:74LS04(六反相器)74LS05(六反相器OC门)2常见的复合逻辑门常见的与非门有:74LS00(四。</p><p>8、数字电子技术实验,实验一 门电路功能测试及参数测量,一、实验目的、要求： 1、掌握门电路功能验证方法； 2、掌握门电路参数测量方法； 3、了解门电路参数的意义； 4、掌握数字电路实验箱的正确使用方法。,二、实验器材、设备： 1、数字万用表 2、74LS00一个 3、数字电路实验箱,实验一 门电路功能测试及参数测量,实验一 门电路功能测试及参数测量,三、实验原理 1、集成电路封装 基本封装包括双列直插式封装和扁平式封装。双列直插式封装主要用于科研院所，可以在插座上插拔，而扁平式封装主要用于电子产品中。 双列直插式封装集成电路引脚。</p><p>9、5 实验一 逻辑门电路功能测试与组合 一 实验目的 1 熟悉电子实验箱的功能及使用方法 2 认识集成电路的型号 外形和引脚排列 学习在实验箱上实现数字电路的方法 2 掌握逻辑门电路逻辑功能的测试 使用的基本方法 3 掌握逻辑门电路的替换方法 二 实验用元器件 四2输入与非门74002 二4输入与非门74201 四异或门74861 四2输入或门74321 六非门74041 二4输入与门74211。</p>