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内校作业指导书

内校作业指导书。内校作业指导书。4、 校正周期。5、 内校程序。5.1 深度尺内校程序。文件编号。A/0。适用于本公司所有内校的测量和监控设备。4.1 内校范围。修订日期。修订内容。卡尺内校作业指导书。修订。修订内容摘要。批准。系统文件新制定。

内校作业指导书Tag内容描述:<p>1、内校作业指导书1、 目的对于现有证实产品符合规定要求的监视和测量装置仪器设备进行内校,以达到测量的精度。2、 范围适用于所有监视和测量装置仪器的内校管理。3、 校正环境以现场操作之温度、湿度为准。4、 校正周期内校为3个月,外校为1年。5、 内校程序51 深度尺内校程序511 校正基准:标准量块(外校合格的标准量块)或外校的深度尺。512 校正步骤:校正前1、 检查深度尺是否有碰伤、锈蚀、带磁或其他缺陷;2、 检查深度尺的刻度线及数值是否清晰可见;3、 检查是否有影响测量精度的外观缺陷;4、 尺框在尺身上移动应平稳,无卡住现。</p><p>2、东莞捷众实业有限公司内校作业指导书文 件 类 型文件编号版本状态制订日期页次三级文件WI-003A/02016-5-251/31、目的合理有效的校验测量和监控设备,使与产品质量直接相关的测量和监控设备处于受控状态。2、适用范围适用于本公司所有内校的测量和监控设备。3、权限无4、内容4.1 内校范围测量和监控设备的精确度不会对产品的质量产生明显的影响,如卡尺、针规、自制检具等。4.2校验环境4.2.1 校验测量监控设备所要求的温度为常温。4.2.2 校验测量监控设备所要求的湿度为常湿。4.3 校验周期4.3.1内校仪器(如卡尺等)视仪器使用频率至少半年。</p><p>3、公司LOGO公司名称文件编号*-QCW-A003内校作业指导书版 / 次A/2页次6/6修 订 履 历 记 录修订日期修订内容版次修订人2005-7-10新制作A/0*2010-9-2整合卡尺、分厘卡、深度尺三阶文件及增加校验周期A/1*2011-8-3增加5.0参考文件内容与6.5.3内容修改A/2*持有部门:_________________生效日期:______________________核 准:审核:/修订:*日 期:日期:/日期:2010-8-31. 目的:为确保公司产品质量满足客户的要求.2. 范围。</p><p>4、卡尺内校作业指导书修订日期修订单号修订内容摘要页次版次修订审核批准2011/03/30/系统文件新制定4A/0/批准:审核:编制:卡尺内校作业指导书1.目的确保校准结果的准确性,使校准作业规范化。2.范围本标准适用于本公司现有各种类型之卡尺,包括高度尺、游标卡尺、带表卡尺。电子数显卡尺。3.定义无4.权责卡尺保管人:负责所属卡尺维护和保养。品保部:卡尺专用量块的维护和保养。校验人:卡尺内校结果的记录和校验标识标签。</p><p>5、卡尺内校作业指导书修订日期修订单号修订内容摘要页次版次修订审核批准2011/03/30/系统文件新制定4A/0/批准:审核:编制:卡尺内校作业指导书1.目的确保校准结果的准确性,使校准作业规范化。2.范围本标准适用于本公司现有各种类型之卡尺,包括高度尺、游标卡尺、带表卡尺。电子数显卡尺。3.定义无4.权责卡尺保管人:负责所属卡尺维护和保养。品保部:卡尺专用量块的维护和保养。校验人:卡尺内校结果的记录和校验标识标签。</p>
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