现代材料分析
X射线透射学、X射线衍射学、X射线光谱学。X射线透射学的研究对象有人体。X射线衍射学是根据衍射花样。X射线光谱学是根据衍射花样。第二篇 X 射线衍射 第四章 物相分析。物质对射线的衍射产生了衍射花样或衍射谱。热分析是在程序温度控制下测量物质的物理性质与温度关系的一类技术。
现代材料分析Tag内容描述:<p>1、第一章1. X射线学有几个分支?每个分支的研究对象是什么?答:X射线学分为三大分支:X射线透射学、X射线衍射学、X射线光谱学。X射线透射学的研究对象有人体,工件等,用它的强透射性为人体诊断伤病、用于探测工件内部的缺陷等。X射线衍射学是根据衍射花样,在波长已知的情况下测定晶体结构,研究与结构和结构变化的相关的各种问题。X射线光谱学是根据衍射花样,在分光晶体结构已知的情况下,测定各种物质发出的X射线的波长和强度,从而研究物质的原子结构和成分。2. 试计算当管电压为50 kV时,X射线管中电子击靶时的速度与动能,以及所发。</p><p>2、现代材料分析方法期末试卷 1一、单项选择题(每题 2 分,共 10 分) 1成分和价键分析手段包括【 b 】 (a)WDS、能谱仪(EDS)和 XRD (b)WDS、EDS 和 XPS (c)TEM、WDS 和 XPS (d)XRD、FTIR 和 Raman 2分子结构分析手段包括【 a 】 (a)拉曼光谱(Raman)、核磁共振(NMR)和傅立叶变换红外光谱(FTIR) (b) NMR、FTIR 和 WDS (c)SEM、TEM 和 STEM(扫描透射电镜) (d) XRD、FTIR 和 Raman 3表面形貌分析的手段包括【 d 】 (a)X 射线衍射(XRD)和扫描电镜(SEM) (b) SEM 和透射电镜(TEM) (c) 波谱仪(WDS)和 X 射线光。</p><p>3、第二篇 X 射线衍射 第四章 物相分析, 定性分析 定量分析方法,晶体的特征的衍射花样用于定性分析,衍射线条的位置和强度用于定量分析。,衍射特点,物质对射线的衍射产生了衍射花样或衍射谱,对于给定的单晶试样,其衍射花样与入射线的相对取向及晶体结构有关;对于给定的多晶体也有特定的衍射花样。衍射花样具有三要素:衍射线(或衍射斑)的位置、强度和线型。测定衍射花样三要素在不同状态下的变化,是衍射分析应用的基础。,基于衍射位置的应用, 点阵参数的精确测定,膨胀系数的测定; 第一类(即宏观残余,物体宏观体积内存在并平衡的应。</p><p>4、第五章 原子力显微镜 Atomic Force Microscope __ AFM,原于力显微镜与前几种显微镜相比有明显不同,它用一个微小的探针来“摸索”微观世界. AFM超越了光和电子波长对显微镜分辨率的限制,在立体三维上观察物质的形貌,并能获得探针与样品相互作用的信息典型AFM的侧向分辨率(x,y方向)可达到2nm,垂直分辩牢(Z方向)小于0.1 nmAFM具有操作客易、样品准备简单、操作环境不受限制、分辨率高等优点。,第15章,其他显微分析方法,一、原子力显微镜原理,AFM的原理较为简单,它是用微小探针“摸索”样品表面来获得信息如图3.1所示,当针尖接近样品时。</p><p>5、第七章 热分析技术,热分析是在程序温度控制下测量物质的物理性质与温度关系的一类技术 。如释放出结晶水和挥发性物质,热量的吸收或释放,增重或失重,发生热-力学变化和热物理性质和电学性质变化等。,程序控制温度:指用固定的速率加热或冷却。 物理性质物理性质:包括物质的质量、温度、热焓、尺寸、机械。,7.1 热分析简史 7.2 差热分析基本原理 7.3 差示扫描量热分析 7.4 热重分析 7.5 差热分析的定性和定量鉴定,第七章 热分析技术,第七章 热分析技术,7.1 热分析简史 1780 年,英国的Higgins 使用天平研究石灰粘结剂和生石灰受热重量变。</p><p>6、奥氏体 Austenite 也称为沃斯田铁或 Fe 是钢铁的一种显微组织 通常是 Fe中固溶少量碳的无磁性固溶体 碳溶解在 铁中形成的一种间隙固溶体 呈面心立方结构 无磁性 奥氏体是一般钢在高温下的组织 其存在有一定的温度和成分范围 奥氏体一般由等轴状的多边形晶粒组成 晶粒内有孪晶 在加热转变刚刚结束时的奥氏体晶粒比较细小 晶粒边界呈不规则的弧形 经过一段时间加热或保温 晶粒将长大 晶粒边界可趋向。</p>