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文档简介

资料一:超声波考试二级资料1.超声波从一种介质进入另一种介质后其声束与法线所成的夹角称为:ba.入射角;b.折射角;c.扩散角;d.反射角。2.用标准来校正仪器或装置的过程称为:da.角度调整;b.扫描;c.距离-幅度变化修正;d.标定。3.利用阴极发射的电子束在荧光屏上显示图象的电子管叫做:ca.放大管;b.脉冲管;c.阴极射线管;d.扫描管。4.因表面粗糙使超声波束产生漫射叫做:ba.角度调整;b.散射;c.折射;d.扩散。5.相同波型的超声波反射角:aa.等于入射角;b.与使用的耦合剂有关;c.与使用频率有关;d.等于折射角。6.声束与缺陷主反射面所成的角度叫做:ca.入射角;b.折射角;c.缺陷取向;d.上述三种都不对。7.持续时间很短的冲击电能叫做:da.连续波;b.直流峰值电压;c.超声波;d.电脉冲或脉冲。8.超声检验中, 脉冲的持续时间叫做:aa.脉冲宽度;b.脉冲振幅;c.脉冲形状;d.反射。9.超声波射到界面波上,在同一介质中改变其传播方向的现象叫做:da.发散;b.扩散;c.角度调整;d.反射。10.超声波从一种介质进入另一种介质而改变传播方向的现象叫做:aa.折射;b.扩散;c.角度调整;d.反射。11.在阴极射线管中由电子束冲击而发光的内涂层面叫做:ca.电子轰击;b.电子放大器;c.荧光屏;d.电子计算机。12.同种固体材料中,在给定频率下产生波长最短的波动型式是:da.纵波;b.压缩波;c.横波;d.表面波。13.当频率和材料一定时,通常横波对小缺陷的检测灵敏度高于纵波,因为:aa.横波比纵波波长短;b.横波在材料中不易发散;c.横波的质点振动方向对缺陷较敏感;d.横波比纵波的波长要长。14.一般地说如果频率相同,则在粗晶材料中穿透力最强的振动型式是:aa.纵波;b.切变波;c.横波;d.上述三种的穿透力都相同。15.晶片与探测面平行,使超声波垂直于探测面进入被探材料的检验方法称为:aa.直射法;b.斜射法;c.表面波法;d.上述三种都不对。16.由发射探头发射的超声波,通过试件传递后再由另一接收探头接收的检验方法称为:ca.表面波法;b 斜射法c.穿透法d.直射法。17.把电能转变成超声声能或把超声声能变成电能的器件叫做:da.发射器;b.辐射器;c.分离器;d.换能器。18.超声波波形上的某一点到相邻的同相(位)点之间的距离叫做:ba.频率;b.波长;c.速度;d.脉冲长度。19. 超声波通过材料的传递速度就是:aa.声能传递速度;b.脉冲的重复频率;c.脉冲的恢复速率;d.超声响应速度。20.超声波探伤中最常用的换能器是利用:ba.磁致伸缩原理;b.压电原理;c.波型转换原理;d.上述都不对。21.具有机械性能和电性能稳定,不被液体溶解且耐老化等优点的换能器材料是:ca.硫酸锂;b.钛酸钡;c.石英;d.酒石酸钠。22.公式Sin1/C1=Sin2/C2叫做:da.声阻抗比例公式;b.相位变化公式;c.近场公式;d.折射定律。23.公式Sin1/C1=Sin2/C2用于确定:aa.角度的相互关系;b.相速度;c.缺陷类型;d.上述三种都包括。24.缺陷所反射的声能大小取决于:da.缺陷大小;b.缺陷取向;c.缺陷类型;d.上述三种都包括。25.超声波通过二种材料的界面传递,如果第一介质声阻抗较大,但声速与第二介质相同,折射角:ca.大于入射角;b.小于入射角;c.与入射角相同;d.在临界角之外。26.下列频率中导致衰减损失最大的频率是:da.0.5MHz;b.1.25MHz;c.2.5MHz;d.5MHz。27.材料的声速与密度的乘积称为:ba.材料的折射率;b.材料的声阻抗;c.材料的弹性常数;d.材料的泊松比。28.在声波到达底面之前,由于声束扩散在试件侧面可能导致:ca.多次底面反射;b.多次界面反射;c.波型转换;d.入射声能的损失。29.在检验大锻件时,通常使用:ca.轴向检验;b.径向检验;c.a和b两种检验都用;d.低频和高频检验。30.被放大的信号幅度与缺陷的反射面积成正比地增大,放大器的这一非饱和的放大区域称为:ba.灵敏度范围;b.线性范围;c.选择性范围;d.分辨力范围。31.超声波在水/铝界面(从水中入射)上的反射角:ca.近似为入射角的1/2;b.近似为入射角的4倍;c.等于入射角;d.是入射角的0.256倍。32.传递速度略小于横波,不向材料深处传播的超声波是:aa.表面波;b.切变波;c.爬行波;d.纵波。33.粗晶探伤通常选用的超声波频率为:ba.2.5MHz;b.1.25MHz;c.5MHz;d.10MHz。34.超声波探伤用的横波,具有的特性是:aa.质点振动方向垂直于传播方向,传播速度约为同材料中纵波速度的1/2;b.在水中传播时因波长较长,衰减小,故有很高的灵敏度;c.因为横波对表面变化不敏感,故从耦合液体传递到零件时有高的效率;d.上述三种都不适用于横波。35.横波探伤常用于:aa.焊缝、管材探伤;b.测定金属制品的弹性特性;c.探测厚板的分层缺陷;d.簿板测厚。36.造成超声测厚时有显著误差的是:ba.验频率以恒定速度变化;b.实际传播速度偏离给定材料所假设恒定的数值;c.换能器与测量零件之间用水作耦合剂;d.上述三种都不会引起误差。37.一般要探测板材焊缝中沿熔合线取向的缺陷时,最好使用:da.表面波的斜射接触法;b.垂直纵波接触法;c.表面波水浸法;d.横波斜射法。38.超声波检验装置中, 显示超声波信号反射幅度与声波传递时间或反射体深度关系的脉冲显示法叫做:ba.连续波显示法;b.A扫描显示;c.B扫描显示;d.C扫描显示。39.在水/钢界面上,水中入射角为7,在钢中主要存在的振动波型是:ca.纵波;b.横波;c.a和b两种波都存在;d.表面波。40.液体中能存在的波型是:aa.纵波;b.横波;c.a和b两种波都存在;d.表面波。41.超声波探伤仪在单位时间内产生的脉冲数量叫做:da.脉冲长度;b.脉冲恢复时间;c.超声波频率;d.脉冲重复频率。42.在超声波探伤仪中, 同时激发和校准其它部分工作的电路单元叫做:da.显示装置或阴极射线管;b.接收器;c.标志电路或范围标志电路;d.同步器或计时器。43.超声波探伤仪中,产生高电压脉冲以激发探头工作的电路单元叫做:ca.放大器;b.接收器;c.脉冲发射器;d.同步器。44.超声波探伤仪中,产生时间基线的部分叫做:aa.扫描电路;b.接收器;c.脉冲器;d.同步器。45.要在阴极射线管荧光屏上显示零件和缺陷的俯视图就应该采用:da.自动计数装置;b.A扫描显示;c.B扫描显示;d.C扫描显示。46.使一种波产生90折射的入射角叫做:ba.垂直入射角;b.临界角;c.最小反射角;d.上述三种都不对。47.用水浸法检验铝时,(纵波入射)第一临界角约为:ba.8;b.14;c.26;d.32。48.压缩波或疏密波因为其质点位移平行于传播方向,所以称为:aa.纵波;b.横波;c.兰姆波;d.表面波。49.水浸法检验中衰减最快的波型是:da.纵波;b.切变波;c.横波;d.表面波。50.横波的质点振动:ba.平行于波的传播方向;b.垂直于超声波的传播方向;c.限于材料表面并作椭圆运动;d.在平面中与波的传播方向成45偏振。51.铝中超声纵波的传播速度为635000cm/s,频率1MHz.此超声波的波长为:ca.6.35cm;b.3.17mm;c.6.35mm;d.31700A(埃)。52.超声纵波从水中倾斜入射到金属材料时,折射角主要取决于:ba.水与金属的阻抗比;b.水与金属的相对声速;c.超声波的频率;d.水与金属的密度比。53.在接触法探伤时,要在被测材料中激发出横波,可以:da.把X切割石英直接放在材料表面并通过油膜耦合;利用试件相对侧面上的两个换能器;a.把球面声透镜放在换能器表面上;d.把换能器安装在塑料斜楔上,使声束以某个角度进入工件。54.如果超声波的频率增加,则一定直径晶片的指向角将:aa.减小;b.保持不变;c.增大;d.随波长均匀变化。55.下列材料中声速最低的是:aa.空气;b.水;c.铝;d.不锈钢。56.超声波从水中以5角入射到钢内,此时的横波折射角:aa.小于纵波折射角;b.等于纵波折射角;c.大于纵波折射角;d.为零。57.下列材料中声速最高的是:ca.水;b.空气;c.铝;d.钢。58.2.5MHz探头所用锆钛酸铅晶片的厚度约为:ca.1.5mm;b.0.05mm;c.0.8mm;d.随晶片直径变化。59.超声波换能器通常是用压电材料制作的,下述材料哪一种不是压电材料:da.锆钛酸铅;b.石英;c.钛酸钡;d.镍。60.钢中声速最大的波型是:aa.纵波;b.横波;c.表面波;d.在一定材料中声速与所有波型无关。61.声阻抗是:ba.用于计算反射角;b.材料的密度与声速的乘积;c.由折射定律得到;d.用于确定谐振值。62.检验簿板时,可使超声波声束直接垂直于表面,而观察:ba.界面反射振幅;b.多次反射图形;c.所有的界面反射;d.上述三种都不对。63.用以简要地表达整个探伤仪原理或功能, 并由线条或箭头表示信号或能量通路的图形叫做:ca.电路图;b.设计图;c.方块图;d.上述三种都不对。64.在金属凝固过程中未逸出的气体所形成的孔洞叫做:da.破裂;b.冷隔;c.分层;d.气孔。65.在浇注熔融金属时,由飞溅、翻浪,浇注中断或来自不同方向的两个金属流相遇而引起的缺陷叫做:ba.破裂;b.冷隔;c.分层;d.气孔。66.对材料施加应力并在释放应力后不导致变形的最大单位应力叫做:da.材料的弹性介质;b.材料的泊松比;c.材料的杨氏模量;d.材料的弹性极限。67.两种材料的声速比叫做:da.界面的声阻抗;b.杨氏模量;c.泊松比;d.折射率。68.在弹性极限内, 应力与拉伸之比称为:ca.杨氏模量;b.弹性模量;c.a和b都对;d.折射率。69.在两个不同材料的界面上决定反射量的因素是:da.折射率;b.超声波的频率;c.杨氏模量;d.声阻抗。70.用声速和频率描述波长的方程为:ca.波长=声速频率;b.波长=2(频率速度);c.波长=速度频率;d.波长=频率速度。71.超声波到达两个不同材料的界面上,可能发生:da.反射;b.折射;c.波型转换;d.上述三种都有。72.用水浸法检验零件时, 通常用于产生横波的方法是:da.用纵波垂直于界面发射到零件中去;b.用两种不同振动频率的晶片;c.用Y切割石英晶体;d.适当地倾斜探头。73.在超声波探伤中.常用手指沾油摸工件表面,观察信号是否跳动,作为鉴别缺陷信号的一种方法:da.在任何情况下都是正确的;b.仅适用于纵波探伤;c.仅适用于横波探伤;d.某些情况下不适用,例如对IIW试块的R100曲面就是如此。74.波束指向角是晶片的尺寸和它所通过的介质中声波波长的函数,并且:aa.频率或晶片直径减小时增大;b.频率或晶片直径减小时减小;c.频率增加而晶片直径减小时增大;d.频率增加而晶片直径减小时减小。75.超声波的波长:ba.与声速和频率成正比;b.与速度成正比而与频率成反比;c.与速度成反比而与频率成正比;d.等于速度和频率的乘积。76.常用于探伤的压电晶体,其基频主要取决于:ca.施加电压脉冲的长度;b.仪器的脉冲放大器的放大特性;c.压电晶体的厚度;d.上述三种都不对。77.材料的声阻抗:da.与密度成正比,与声速成反比;b.与密度成反比,与声速成正比;c.与密度和声速成反比;d.等于密度和声速的乘积。78.声速主要取决于:ca.密度;b.弹性;c.a和b都是;d.声阻抗。79.铸件往往难以检验,因为:ba.晶粒结构非常致密;b.晶粒结构粗大;c.流线均匀;d.缺陷任意取向。80.兰姆波可用于检验:da.锻件;b.棒坯;c.铸锭;d.簿板。81.确定波束指向角的公式是:da.Sin=直径平方/4倍波长;b.Sin直径=频率波长;c.Sin=频率波长;d.Sin=1.22波长/直径。82.探伤仪的分辨力主要与:ba.扫描电路有关;b.频带宽度有关;c.脉冲振铃时间有关;d.放大倍数有关。83.探头发射的声能聚集而形成声束线聚焦应选用的声透镜为:aa.圆柱曲面;b.球面曲面;c.凸面形;d.凹面形。84.热转换、粘滞、弹性迟滞、散射是四种不同机械作用,它们导致声能:aa.衰减;b.折射;c.波束扩散;d.饱和。85.铝中声速约为6.25106mm/s,声束通过25mm铝的时间约为:ba.1/8s;b.4s;c.4ms;d.0.2510-4s。86.与表面光滑的零件相比,检验粗糙零件时一般应采用:aa.较低频率探头和较粘的耦合剂;b.较高频率探头和较粘的耦合剂;c.较高频率探头和粘度较小的耦合剂;d.较低频率探头和粘度较小的耦合剂。87.用斜射法检验焊接区域时,一旦有反射信号时,则表明焊缝可能有:da.夹渣;b.裂纹;c.未焊透;d.上述三种都可能。88.在A型扫描显示中,电子束在阴极射线管荧光屏上均匀重复移动所形成的水平线叫做:ba.方波图形;b.扫描线;c.标志图形;d.上述三种都不对。89.能沿圆滑过渡的边角传播而几乎不造成反射的超声波为:ba.横波;b.表面波;c.切变波;d.纵波。90.一个经校正的超声探测系统,从铝试块中深度为75mm,直径为4mm平底孔上得到50mm的波高显示,在检验铝锻件时,表面状态和材质都与试块相同,若从深度为75mm处得到50mm波高显示,则缺陷的面积可能是:ba.与直径4mm平底孔的面积相同;b.大于直径4mm平底孔的面积;c.稍小于直径4mm平底孔的面积;d.约为直径4mm平底孔的面积。91.超声换能器发射的超声波在整个传播距离上实际上是:ca.几乎没有能量峰值起伏的平面波;b.有能量峰值起伏的活塞波,其强度随传播距离一直保持恒定;c.有能量峰值起伏,但在一定的峰值后其强度随传播距离而减小;d.上述三种都不对。92.超声波从材料1进入材料2,随声阻抗比Z1/Z2的增大而透过的声压:aa.减小;b.增大;c.不变;d.可增大或减小。93.一般不用低频声波检测簿板,因为:ca.低频声波衰减小;b.波长不适合;c.近表面分辨力不够;d.上述三种实际上都不会限制这样的检验。94.在水浸检验中,探头与试件间水距:ca.应尽可能的小;b.使二次界面波在底面回波之前;c.使二次界面波在底面回波之后;d.应尽可能的大。95.传导超声能量最好的是:aa.铝锻件;b.钢锭;c.铝铸件;d.铝锭。96.开槽的超声参考试块可用于:ca.确定缺陷深度;b.评定表面缺陷;c.作为评定长条形缺陷的标准;d.作评定点状缺陷的标准。97.在检验零件时,若无缺陷显示,则操作者应注意底面回波高度的剧烈下降,引起这种情况的原因可能是:da.大而平的缺陷与入射声束取向不良;b.疏松;c.大晶粒;d.上述三种都可能引起这种情况。98.锻件中缺陷的取向通常为:ba.杂乱;b.平行于晶粒流向;c.垂直线于晶粒流向;d.与晶粒流向成45角。99.容易探测到的缺陷尺寸一般不小于:da.波长的一半;b.1个波长;c.1/4波长;d.若干波长。100.靠近探头的长条形缺陷并不一定都能探测到,因为:ca.声束扩散;b.材质衰减;c.仪器阻塞效应;d.折射。101.自动探伤中可能的最大扫查速度主要决定于:ca.探头效率;b.声耦合问题;c.检验装置的脉冲重复频率;d.阴极射线管荧光屏的余辉时间。102.把某些材料所具有的能使电能与机械能相互转换的特性称为:ba.波型转换;b.压电效应;c.折射;d.阻抗匹配。103.管子的槽形参考标准应把槽加工在:aa.内外表面;b.只在内表面;c.只在外表面;d.从内表面到壁厚1/2深度。104.表面波能检查的深度一般不大于:ca.10mm;b.4mm;c.1个波长;d.4倍波长。105.用纵波水浸法检验钢材时,为了防止在第一次底面回波前出现二次界面回波,在25mm 水距时能探测最大厚度:ba.50mm的钢;b.100mm的钢;c.150mm的钢;d.200mm的钢。106.探测面与工件底面不平行时:aa.导致荧光屏图象中失去底面回波;b.难以对平行于入射面的缺陷进行定位;c.通常表示在金属中存在疏松状态;d.减小试验的穿透力。107.凹面缺陷将:ba.引起声能扩散;b.引起反射波束聚焦,焦点决定于缺陷的曲率;c.引起超声波波长改变;d.上述三种都不对。108.用水浸法检验厚度逐渐变化的工件时应:aa.在整个探测表面上保持水距一致;b.保证最大水距;c.保证声束的入射角恒定为15;d.保证声束对探测面的角度为5。109.对板材作斜射法检验时,常常会漏掉:ca.垂直线于声波的裂纹;b.任意取向的夹杂物;c.平行于表面的裂纹;d.一系列小缺陷。110.用单斜探头检查厚焊缝常易漏掉:ba.线状夹渣;b.与探测面垂直的大而平的缺陷;c.密集气孔;d.未焊透。111.用超声波检验复层材料时,容易探出脱粘的条件是两种材料的:ba.声阻抗相差大;b.声阻抗相差小;c.衰减小;d.声速相差小。112.用=Sin-1(1.22/D)算出的指向角,适用于声轴声压Po与边缘声压PB的比(PB/Po)为:ca.50%;b.90%;c.0;d.1%;e.一切情况。113.纵波声束斜射到两种固体界面上发生反射(或折射)时,反射横波的反射角(或折射横波的折射角)比反射纵波的反射角(或折射纵波的折射角):ba较大;b.较小;c.有时大有时小。114.要声束在介质2中聚焦能把聚焦探头的透镜(透镜材料为1)制成凹面的条件是:ba.C1C2;b.C1C2;c.Z1Z2;d.Z1Z2。115.聚焦探头的焦距f,相对于其不聚焦来说一定是:ba.f大于近场长度;b.f小于近场长度;c.f等于近场长度;d.f任选。116.检验近表面缺陷,最有效的方法是:da.可变角探头;b.直探头;c.斜探头;d.收/发联合双晶探头。117.一个垂直线性好的探伤仪,荧光屏上的波幅从80%处降至5%时,应衰减:da.6dB;b.18dB;c.32dB;d.24dB。118.一般地说,在远场同一深度的平底孔直径增大一倍,其回波声压提高:ca.一倍;b.9dB;c.12dB;d.24dB。119.在远场,同直径平底孔声程从100mm增大到300mm,若不计材质衰减,则声压减少:da.三倍;b.12dB;c.24dB;d.以上三个答案都不对。120.在远场,同声程的横孔从2mm增大到8mm,其回波声压提高:ba.四倍;b.6dB;c.12dB;d.9dB。121.在远场,同直径横孔声程增大1倍,不计材质衰减,则声压减少:ba.6dB;b.9dB;c.3dB;d.12dB。122.用直探头在工件端面探测离侧壁极近的小缺陷时,探头最不利的探测位置是:aa.尽可能靠近侧壁;b.离侧壁10mm;c.离侧壁一个探头直径的距离处;d.离侧壁二个探头直径的距离处。123.探测厚焊缝中垂直于表面的缺陷最适用的方法是:da.聚焦探头;b.直探头;c.斜探头;d.串列双斜探头。124.用单探头法探测二个表面平整,但与入射声束取向不良的缺陷(二缺陷的取向相同且无工件界面的影响),它们的当量:ca.面积大的,当量也一定大;b.面积大的,当量不一定比面积小的为大;c.面积大的,当量反而比面积小的要小;d.它们的当量相等。125.用单探头法为要发现与声束取向不良的缺陷,应该采用的频率:ca.愈高愈好;b.愈低愈好;c.不太高的频率;d.较寻常为高的频率。126.如果探测面毛糙,应该采用:aa.不太高频率的探头;b.较高频率的探头;c.硬保护膜探头;d.上述三种均无需考虑。127.直探头探测厚250mm及500mm两饼形锻件,若后者探测面毛糙,与前者耦合差4dB,材质衰减均为0.004dB/mm,前者的底面回波调至示波屏满幅度的80%,则后者的底面回波应为满幅度的:ca.5%;b.10%;c.20%;d.40%.128.探头的近场长度由下式决定,(式中波长,f频率,D晶片直径,a晶片半径):ca.N=1.22;b.N=;c.N=;d.都不对。129.超声波垂直于界面入射时,其反射声压系数为:aa.;b.;c.130.一般认为超声波探伤用活塞探头,其声场的不扩散区域长度等于:ba.一倍近场N;b.1.6N;c.3N。附: 参考答案1. b 21. c 41. d 61. b 81. d 101. c 121. b2. d 22. d 42. d 62. b 82. b 102. b 122. a3. c 23. a 43. c 63. c 83. a 103. a 123. d4. b 24. d 44. a 64. d 84. a 104. c 124. c5. a 25. c 45. d 65. b 85. b 105. b 125. c6. c 26. d 46. b 66. d 86. a 106. a 126 a7. d 27. b 47. b 67. d 87. d 107. b 127. c8. a 28. c 48. a 68. c 88. b 108. a 128. c9. d 29. c 49. d 69. d 89. b 109. c 129. a10. a 30. b 50. b 70. c 90. b 110. b 130. b11. c 31. c 51. c 71. d 91. c 111. b12. d 32. a 52. b 72. d 92. a 112. c13. a 33. b 53. d 73. d 93. c 113. b14. a 34. a 54. a 74. a 94. c 114. b15. a 35. a 55. a 75. b 95. a 115. b16. c 36. b 56. a 76. c 96. c 116. d17. d 37. d 57. c 77. d 97. d 117. d18. b 38. b 58. c 78. c 98. b 118. c19. a 39. c 59. d 79. b 99. d 119. d20. b 40. a 60. a 80. d 100. c 120. b资料二: 射线检测的原理介绍1898年11月8日,伦琴发现了X射线,从此无损检测技术开始发生了质的变革。它使固体内部 的缺陷得以直观地显现出来。X射线是一束光子流。在真空中,它以光速直线传播,本身不带电,故不受电磁场的影响。 具有波粒二象性。从物理学中,我们知道,凡具有加速度的带电粒子都会产生电磁辐射。因此当电子在高压电场的作用 下,高速运动时,突然撞击到靶面,(会产生很大的负加速度)从而形成了所谓的韧致辐射。简单地说,它是由高速 运动的电子撞击靶面而产生的。另一方面,当电子的动能足够大时,将会把靶面原子的内层电子轰击出来,在原位置 形成孔穴,而此刻,外层的电子(位于高能级)产生跃迁以填补该孔穴。同时,它将多余的能量以X射线的形式放出, 形成所谓的标识X射线。标识射线的波长是不连续的。它取决于靶面的材料。它通常用于对材料的化学成分进行定性分 析。在无损检测探伤中,一般用前者。X射线具有很强的穿透能力。在媒体的界面,它的折射率很小,几乎为1。从而使我们可以按几何方式来计算成像的比例。由韧致辐射产生的X射线,具有连续谱线。它的波长取决于电场的电压和场内的电子流。其强度表示为:I=其中,K-系数;i-管电流; U-管电压;Z-靶的原子序数。 穿透物体后,射线的强度为:I1=Io X exp(-ud),射线入射强度减弱一半的吸收物质厚度称为半价层。 宽容度(L)指胶片有效密度范围对应的曝光范围。在胶片特性曲线上,就用接近在线部分的起点和终点在横坐标上相对应的曝光量对数表示,显然梯度大的胶片其宽容度必然小。 线型象质计应放在射线源一侧的工件表面上被检焊缝区一端(被检区长度的l4部位)。金属丝应横跨焊缝并与焊缝方向垂直,钢丝置于外侧。当射线源一侧无法放置象质计时,也可放在胶片一侧的工件表面上,但象质指数应提高一级,或通过对比试验,使实际象质指数达到规定的要求。象质计放在胶片一侧工件表面上时,应附加“F”标记以示区别。中心透照环焊缝时,每隔如”放置一个象质计。多个管子接头在一张底片上同时显示时,至少应放一个象质计,且置于最边缘的那根管子上。 象质计的线径d与线号象质指数之间的关系: d de,z 610lgd金属丝象质计的相对灵敏度: S = A X 10O,如一底片上可识别的最小线径,照厚度。 射线照相对比度公式: 射线照相对比度(底片对比度)D是主因对比度tri和胶片对比度r共同作用工件表面距离,QI件表面至胶片距离。 为保证射线照相的清晰度,标准对透照距离的最J前防限制:象质等级透照距离(焦点至工件表面距离)入K值为了评价X射线在胶片上的成像质量,人们通常用像质计作为检测标准。线型像质计的摆放,应在射线源一边。灵敏度的计算为:m=di/DpX100%射线照相影响质量的基本因素有:黑度,黑度与照相灵敏度 S三大要素(照相对比度面D,不清晰度U和颗粒度Gr)的关系。 照相对比度 照相不清晰度Un,m,u 照相颗粒度r胶片种类,V,显影 胶片固有不清晰度产生的主要原因:由于照射到胶片上的射线在乳剂层科发出的电子的散射而产生的。固有不清晰主发取决于射线的能过,其次取决于胶片路和显影条件。射线底片上细节影象的可识别性与图象的大小、胶片的粘度、底片黑皮、观条件及观片者等因素有关。底片黑度增大时,4hat增大,胶片的粒度越小, 散射线是射线与物质作用产生。物质的厚度越大,射线的照射面积越大,试件内部产生散射线越大,n值越大,底片对比度D便减小。凡是被射线照射到的物体,例如试件、暗袋、桌面、墙壁、地面,甚至空气都成为散射源。其中最大的散射源往往是试件本身。要想完全排除散射线的影响是不可能的,只能在实际透照过程中根据具体情况加以限制,一般可采取下列措施:限制辐射场:将辐射场缩小到所进行的射线透照工作所必需的程度,可以有效地限散射线的控制措施:选择合适的射线能量,使用铝箔增感屏,其次还有:背防护板;错罩和光栅;厚度)悄物;滤板;遮蔽物;修磨试件。 一次透照范围内试件的最大厚度与最小厚度之比民 1.4,属于大厚度比工件,即变截面工件,对射线照相质量的不利影响主要表现在两个方面:因厚度差较大导致底片黑度差较大,而底片黑度过低或过高都会影响用相灵敏度;厚度变化导致散射I增大,产生边蚀效应。为此,可采用特殊技术措施;适当提高管电压技术,双胶片技术补偿技术。适当提高管电压技术是透照变截工件最常采用的,也是最简便的方法。可获得更;mn 在X射线照相中,在能穿透工件的前提下,尽可能选择较低管电压,从而得到较大的衰减系数和较小的散射比,即14rtl值尽可能大,以便提高射线照相灵敏度。一般说来,射线源都有一定的几何尺寸,当缺陷尺寸比焦点尺寸d大得多时,焦点对透照底片对比度D的影响可忽略不计。当缺陷尺寸f(小于焦点尺寸)时,就会出现由焦点尺寸f引起的透照几何条件的影响,此时底片对对比度必须进行修正。当金属丝(缺陷)直径d减少时,会使d用变大,(d1),形状修正系数。急剧减小。因此,要考虑修正系数。对凸D的影响。当d大时,金属丝的“几何因素修正系数。”随几何间距与金属丝直径比值d用的急剧增大而减小。对细小缺陷(或细金属丝)来说,由于的较小,D也较少,所以在底片上较难识辩其影象。问题: A:正在工作的一台X射线机窗口的辐射场内的射线剂量率为40RminM,无遮挡,不计空气吸收和散射线的情况下,距焦点 20米处的射线照射剂量率为多少 Rmin?以19ImR为射线工作人员一天的安全剂量限度,距焦点20米处,一分钟内的射线剂量是安全剂量的多少倍?在该处停留的时间为多少秒下,才能保证不超过射线工作人员一天的安全剂量?(两位有效数字)。解:P140Rmin,R1=1M,R220M,由距离平方反比公式:P1:P2 = (R2:R1)2得:P2=0.1(R/min)2:100/19 = 5.33:t = 19/100/60 = 11.4秒 B: 对某射线源铅的半价层为lmm,若采用铅做防护层,已知该防护层两侧射线剂量率分别为3.62R/h及10mR/h,求此防护层的厚度? 解:D=0.693/u (D半价层) 得:u = 0.693mm-1 I = I0 X e-ud d = Ln(3620/10)/ 0.693 = 8.5mm C:有一混凝土防护墙的探伤室,装一台Ir192 r射线机,经测试,操作室内最大剂量率为0.066Rem/h,要使剂量率降至2.1mRem/h,求还需加衬多少mm厚的铅板(u=1.386cm-1)?解: P = P0 X e-ud 得:d = Ln(P0/P)/ u = Ln(66/2.1)/ 0.1386 = 25mmX射线数字成像概述:实时成像系统及工业CT数字射线照相系统是在普通的工业电视系统上,增加了计算机图象处理的结果。通常它由如下部分组成:(见下图)X射线机头及高压发生器; 高压控制柜 图象增强器-模拟或数字式 工作平台; 信号采集卡; 计算机; 图象处理软件 闭路监视系统; 环境监视器系统; 报警式自动门等组成.像采集基本知识:视频采集, 即将视频转换成PC机可使用的数字格式。专业图象采集卡是将视频信号经过AD转换后,经过PCI总线实时传到内存和显存。在采集过程中,由于采集卡传送数据采用PCI Master Burst方式,图象传送速度高达33MB/S,可实现摄像机图像到计算机内存的可靠实时传送,并且几乎不占用CPU时间,留给CPU更多的时间去做图像的运算与处理。图象速率及采集的计算公式帧图像大小(Image Size)WH(长宽)-您必须首先了解需要采集多大的图象尺寸?颜色深度d(比特数)-希望采集到的图象颜色(8Bit灰度图象?还是16/24/32Bit真彩色?)帧 速f-标准PAL制当然就是25帧,非标准就没准了!500-1000帧都有可能数 据 量Q(MB)-图象信号的数据量采 样 率A(MB)-采集卡的采样率,通过其产品手册可知计算公式 Q=WHfd/8判断标准如果AQ1.2,则该采集卡能够胜任采集工作。 视频源使用各种图象采集卡,首先需要您提供采集或压缩用的视频源。视频源可以是VCD影碟机、已有的录像带、摄录机、LD视盘、CCD摄像头、监视器的视频输出等等。 一台摄录机和使用摄录机录制的录像带. 一台盒式录像机或磁带录像机和已录制的录像带. LD光盘播放机LD光盘或VideoCD播放机和VCD 摄录机或CCD摄像机 在工业影像中,视频源常常是CT、X光机、超声、内窥镜、甚至MRI核磁共振等等。 各种工业、军事上的高速非标准视频信号,如每秒200帧、500帧、甚至上千帧(如用DALSA、PULNIX等高档数字像机作为视频源)其它标准图像源设备必须使用NTSC或PAL格式,有复合视频或S-Video,甚至RGB输出接口;非标准信号需要得到其行频、场频等信息,可用示波器或微视测试卡。如需声音采集则还需要单声道或立体声的RCA音频输出接口。您可使用我们提供的视频信号线将视频源设备与PC机的图象采集卡相应端口相连。资料三:射线检测技术(级)屠耀元华东理工大学无损检测教研室1997.1-2005.1第一章 射线检测原理一、原子1原子的概念: * 定义:组成单质和化合物分子的最小微粒,由原子核和核外电子构成。2、原子的构成: * 原子是由原子核和核外电子所构成。 * 电子围绕原子核作行星运动;电子在一定轨道上饶核运动。 图11 3、原子的的主要参数 a、质量:几乎集中在原子核内,核的密度非常大!(大的难以想象)如果:把核集中在 1cm3 的体积内,那么:这1cm3 的体积内核的总重量为一亿吨! (108吨:一万万吨!) b、大小:原子半径 10-8 cm 数量级。 原子核半径10-13cm数量级。原子核的半径为原子半径的十万分之一小。 c、电荷:原子核带正电;电子带负电;原子为中性。d、原子的构成:原子核(质子 + 中子)+ 电子 数量关系:原子量 = 质子数 + 中子数 A=Z+N 例:60钴 60=27+33 质子数Z=核的正电荷数=电子数=原子序数 4原子结构理论-玻尔理论(玻尔模型) * 20世纪初二种不同的原子结构模型 1903年:汤姆森假设:核子与电子在原子内均匀分布 1911年:卢瑟福模型:行星分布(电子绕着原子核作行星式运动) * 散射实验否定了汤姆森假设,肯定了卢瑟福模型 * 卢瑟福模型不完善,1913年玻尔提出了完善的原子结构模型-玻尔模型 * 玻尔理论(玻尔模型)的要点: a、原子只能存在一些不连续的稳定状态,这些稳定状态各有一定的能量E1、E2、E3.En。处于稳定状态中运动的电子虽然有加速度,但不发生能量辐射。能量的改变,由于吸收或放射辐射的结果或由于碰撞的结果。 b、原子从一个能量为En的稳定状态过度到能量为Em的稳定状态时,它发射(或吸收)单色的辐射,其频率决定于下列关系式(称为玻尔频率条件): h=En-Em En、Em分别为较高、较低能级的能量值。稳定状态的改变(或能量的改变)是不连续的。5、玻尔理论中的几个概念: * 基态:原子处于最低能量的状态称为基态,是稳定状态; * 激发态:电子获得能量从低能级轨道进入高能级轨道,该过程称为激发;此时原子处于高能量状态,称为激发态, 激发态是不稳定的状态; * 原子的状态特性:任何不稳定状态的原子必将自动的回到稳定状态即回到基态;该过程将释放出原子高于基态的能量,即产生辐射。释放能量的过程可以一次回到基态,也可以逐次回到基态;* 跃迁:电子从一个轨道向另一个轨道的运动,称为跃迁(包括从低到高;或从高到低的运动)

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