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6sigma黑带改善 降低高内阻不良率项目 部 门： 项目黑带： 开始时间：2008.3.18 完成时间：2008.8.30 Six sigmaSix sigma制造三部高内阻改善项目制造三部高内阻改善项目 Six sigmaSix sigma 团队成员团队成员 方案规划、协调过程 相关事宜，进度跟踪 和控制，主导数据收 集和原因分析,协调改 善方案 协调公司资源对本项 目予以人员、物质等 支持和指导 负责方案培 训、指导， 客户和专业 信息收集、 分析指导 负责滚槽B 班人员改善 项目措施执 行和控制 负责滚槽A 班人员改善 项目措施执 行和控制 负责项目改 善方案、措 施的跟进， 实验验证 制造三部高内阻改善项目制造三部高内阻改善项目 负责设备的 管理和维护 ,原因分析 和改进项目 Six sigmaSix sigma dataDefineMeasureAnalyzeImproveControl 3.18-4.30 完成现现状分 析和目标标定 义义，完成项项 目财务财务 收益 估算 4.30-5.30 完成主要X的 MSA，并找 到主要的X项项 目 5.30-6.30确认认主要X 6.30-7.30 寻寻找对对策控 制X，使X得 到有效控制 7.30-8.30 有效改善对对 策的标标准化 ，进进一步控 制X 项目进度表项目进度表 制造三部高内阻改善项目制造三部高内阻改善项目 Six sigmaSix sigma Define 阶段 制造三部高内阻改善项目制造三部高内阻改善项目 选题 理由 VOPCTQMSA Y现状 能力 Y分布 规律 目标 设定 财务 分析 Six sigmaSix sigma D 阶 段 的 思 路 项目选择的理由 明确客户需求 确定关键CTQ Y的分布规律 预算财务收益 制造三部高内阻改善项目制造三部高内阻改善项目 MSA Y的现状水平 Y的目标制订 现状分析 VOC/VOB调查 高内阻不良品的解剖小组讨论关键CTQ确定 确定关键CTQ的计算公式 图表展示Y现状 对Y的现状进行统计 确定Y和各小y的目标 按目标进行收益评估 Six sigmaSix sigma VOC声音：发给客 户高内阻电芯数量 增多且不稳定 High IR Cell quantity in each batch out shipment to SMP PCS Batch 制造三部高内阻改善项目制造三部高内阻改善项目 选题 理由 VOPCTQMSA Y现 状 能力 Y分 布 规律 目标 设定 财务 分析 07年高内阻Y的不良率分布 Six sigmaSix sigma制造三部高内阻改善项目制造三部高内阻改善项目 汇总07年10-12月份高内阻电芯占生产电芯不良率为:13800PPM；而占工序检测次 品数不良率为: 24610PPM；右表为各月份高内阻电芯占批次不良最高比率的两个 批次。 批次 高内阻最高 不良批次 不良率 10月 4VM7 H258.18% 11月 4VM7J132.32% 4VM7K082.49% 12月 4VM8K27 2.05% 4VM8K29 2.01% 选题 理由 VOCCTQMSA Y现状 能力 Y分布 规律 目标 设定 财务 分析 08年高内阻Y的公布:对比07年无明显下降趋势 Six sigmaSix sigma制造三部高内阻改善项目制造三部高内阻改善项目 汇总1-4月份高内阻电芯占生产电芯不良率为:10200PPM；而占工序检测次品 数不良率为: 15830PPM；右表为各月份高内阻电芯占批次不良最高比率的两个 批次。 批次 高内阻不良 率 1月 4VM7L012.04% 4VM7 L101.69% 2月 4VM7L272.23% 4VM7L282.22% 3月 4VM8B16 2.38% 4VM8B19 2.11% 4月 4VM8C202.96% 4VM8C212.58% 选题 理由 VOCCTQMSA Y现状 能力 Y分布 规律 目标 设定 财务 分析 Six sigmaSix sigma 1.提高极耳焊接 合格率。 2. 提高卷绕焊接 合格率。 1.降低高内阻比 率,高内阻不良 品不流出厂。 2. 降低品质失败 成本。 高内阻出货为零 内部顾客VOP 制程QC 内部顾客VOB 公司领导 外部顾客VOC 客户 VOC&VOB&VOP汇总 1、提高制程能力,减少高内阻电芯比率 2、降低品质失败成本 选题 理由 VOCCTQMSA Y现 状 能力 Y分布 规律 目标 设定 制造三部高内阻改善项目制造三部高内阻改善项目 Six sigmaSix sigma制造三部高内阻改善项目制造三部高内阻改善项目 选题 理由 VOPCTQMSA Y现状 能力 Y分布 规律 目标 设定 财务 分析 NG OK OK OK OK NG 领取高内阻电池 放电 测量电池内阻值 解剖顶 盖 测量帽盖内阻值 判定高内阻原因:帽盖内阻NG 测量正极耳与钢壳内阻值 检查正极耳状态 解剖查看负极点焊情况 解剖钢 壳 测量极组内阻值 NG 判定高内阻原因:极组内阻NG 判定高内阻原因：负极耳虚焊 1.判定高内阻原因:正极耳抽出 NG 2.电芯内部不明断路NG 高内阻电池原因分析解剖流程图 Six sigmaSix sigma制造三部高内阻改善项目制造三部高内阻改善项目 图二：测帽盖内阻图三：测卷芯内阻 图四：负极耳虚焊图五：负极耳弯折未焊接图六：负极耳弯折，半个焊点 图一：用管钳解剖 选题 理由 VOPCTQMSA Y现状 能力 Y分布 规律 目标 设定 财务 分析 解剖寻找Y的CTQ Six sigmaSix sigma制造三部高内阻改善项目制造三部高内阻改善项目 解剖507pcs高内阻电芯，进行原因分析，不良原因结果如下： 选题 理由 VOPCTQMSA Y现状 能力 Y分布 规律 目标 设定 财务 分析 Six sigmaSix sigma O 高内阻 I Y:负极耳虚焊 选题 理由 VOCCTQMSA Y现 状 能力 Y分布 规律 目标 设定 制造三部高内阻改善项目制造三部高内阻改善项目 滚槽负极点焊 f (X) 目前Y的CTQ Six sigmaSix sigma 选题 理由 VOCCTQMSA Y现 状 能力 Y分布 规律 目标 设定 制造三部高内阻改善项目制造三部高内阻改善项目 量具 R&R 方差分量 来源 方差分量 贡献率 合计量具 R&R 0.02055 0.33 重复性 0.02055 0.33 再现性 0.00000 0.00 测量人员 0.00000 0.00 部件间 6.26445 99.67 合计变异 6.28500 100.00 研究变异 %研究变 来源 标准差(SD) (6 * SD) 异 (%SV) 合计量具 R&R 0.14335 0.8601 5.72 重复性 0.14335 0.8601 5.72 再现性 0.00000 0.0000 0.00 测量人员 0.00000 0.0000 0.00 部件间 2.50289 15.0173 99.84 合计变异 2.50699 15.0419 100.00 由无人员误差，测量系统非常好。 MSA测量系统 ：%研究变异 30%,测量系 统合格 Six sigmaSix sigma制造三部高内阻改善项目制造三部高内阻改善项目 选题 理由 VOPCTQMSA Y现状 能力 Y分布 规律 目标 设定 财务 分析 y1:负极耳虚焊94.28% Y的类别所占工序不良率所占产出率PPM 9617PPM 按08年1 月至4月 份止产出 的高内阻 不良品数 ， 不良率合 计是 10200PP M计算得 出 按二八法则提取对 高内阻影响最大的 y，结合y的现状能 力，分析得出: 高内阻不良是： Y负极耳虚焊， 数量占各项目Y 的94.28% 选题 理由 VOCCTQMSA Y现状 能力 Y分布 规律 目标 设定 财务 分析 制造三部高内阻改善项目制造三部高内阻改善项目Six sigmaSix sigma 负极耳虚焊分布机台 左图是从解剖电芯的数据 ，分析负极耳虚焊所 产出的设备分布规律 柏拉图，从图中可得出： 2#滚槽机负极耳虚焊数量 占三台机器所产出的 70.6%，为三台机器中最 高。 故：后续改善可着重分析 2#滚槽机点焊工序。 Six sigmaSix sigma制造三部高内阻改善项目制造三部高内阻改善项目 参照汇总至参照汇总至0808年年4 4月份止高内阻电芯现状月份止高内阻电芯现状, , 按达到按达到0 0缺陷的方向提高缺陷的方向提高70%70%的比率的比率 计算：总体目标计算：总体目标= =10200PPM10200PPM* *（1 1 0.70.7）= =3100PPM3100PPM 故：项目目标是将高内阻不良率降低至3100PPM以下。 选题 理由 VOCCTQMSA Y现 状 能力 Y分布 规律 目标 设定 综合Y的分布规律和 历史数据， 得出：主要改善方向 是对滚槽机负极耳 点焊工序进行改善， 从而降低高内阻电芯 的产出。 目标如左图 Six sigmaSix sigma制造三部高内阻改善项目制造三部高内阻改善项目 选题 理由 VOPCTQMSA Y现 状 能力 Y分 布 规律 目标 设定 财务 分析 财务分析： 高内阻电芯的不良率， 由10200PPM减少到3100PPM， 统计08年高内阻降档数据分析， 1、降为B品的数量为8.82%, 成本损失6元人民币； 2、降为C品的数量为91.18%， 成本损失为10元人民币。 注：损失价格从财务部门获得。 故按月200万电芯计算得出， 每年节约成本约人民币: 1,643,882元 Six sigmaSix sigma Measure 阶段 制造三部高内阻改善项目制造三部高内阻改善项目 影响CTQ的 主要原因 主要XDOEFMEA Six sigmaSix sigma制造三部高内阻改善项目制造三部高内阻改善项目 影响CTQ的 主要原因 主要XFMEADOE 员工技能 不熟练 隔膜堵孔 焊接异常未检查 确认焊针 钢壳镀层脱落 焊 接 不 良 人设备 材料 环境 方法 焊接压力过大或过小 焊接时间过小 焊接电流过小 预压时间过短 焊接后延时过小 钢壳表面污迹 钢壳表面镀 层不均匀 极耳压痕深浅差异 极耳表面污迹 焊针表面油污 焊针尺寸不合理 焊针表面氧化、杂质 焊针材质、针头变形 焊针偏心隔膜堵孔 未定量更换焊针 未定时巡检 焊针更换频次不合理 巡检频次不 合理 焊针维护不 规范 工作台面不清洁 交叉污染 焊接不良原因 鱼骨图 Six sigmaSix sigma制造三部高内阻改善项目制造三部高内阻改善项目 影响CTQ的 主要原因 主要XFMEADOE Six sigmaSix sigma制造三部高内阻改善项目制造三部高内阻改善项目 影响CTQ的主 要原因 主要XFMEADOE 滚槽负极耳点焊因果矩阵图: 根据流程图的项目，用因果 矩图分析， Y有两个项目： 1 、焊接强度； 2、焊接外观。 结果： 1、红色区域是对负极耳点焊 有重要影响的项目； 2、黄色区域是对负极耳点焊 次重要影响的项目； 3、蓝色区域是对负极耳点焊 次要影响的项目。 Six sigmaSix sigma制造三部高内阻改善项目制造三部高内阻改善项目 影响CTQ的主 要原因 主要XFMEADOE FMEA: 制作FMEA， 将对负极耳焊 接有轻微影响 的日常项目管 控起来，将其 影响减至最低 。 后续做优化焊 接参数DOE实 验。 Six sigmaSix sigma制造三部高内阻改善项目制造三部高内阻改善项目 影响CTQ的 主要原因 主要XFMEADOE 根据大家的专业知识和专业技能经验，找到9个影响点焊强度的因子： 升压时间-R1；焊接时间-W1；焊接压-P；显示/焊接电流-Heat1； 冷却时间-CO；下降后延时；焊完后延时；预压时间-SQ1；保压时间-HO。 据以往工艺参数实验数据，可判定预压时间（SQ1）和保压时间（HO），对焊接强度 无影响，固本次DOE实验将此两项目参数根据以往结论固定，分别设定为50*10ms 和0ms。 此次点焊DOE实验设计定为：7因子，两水平，加7个中心点，得出机器A、B侧实验 次数分别为39次，先在滚槽1#机上进行（后续完成再分别做2#滚槽机和3#滚槽机）。 实验目的：筛选出7个主因子中的主要影响因子，查看其交互作用，再得出因子X与 焊接强度Y之间的函式，得出发展方向，再进行下一步优化和固定因子水平，得出 最佳焊接参数，提升制程点焊一致性。 附：焊接打磨统一由机电科专业人员进行，以保障焊针的实效性。 后续优化焊针针头标准。 下页附DOE实验设计具体参数设置表 Six sigmaSix sigma制造三部高内阻改善项目制造三部高内阻改善项目 DOE具体参数设置表（1#滚槽机） 影响CTQ的 主要原因 主要XFMEADOE 实 验 结 果 ： 焊 接 强 度 Y Six sigmaSix sigma制造三部高内阻改善项目制造三部高内阻改善项目 DOE因子实验结果（1#滚槽机） 影响CTQ的 主要原因 主要XFMEADOE Six sigmaSix sigma制造三部高内阻改善项目制造三部高内阻改善项目 因子显著性分 析矩阵图: 根据DOE因子分 析，影响焊接强 度Y的是两个显 著主因子，如下 ： 1 、焊接时间； 2、焊接压力。 结论： 除上述两个主因 子对