徐大文数字电子技术实验报告.doc

长江职业学院工学院 数字电子技术实验报告模拟、数字及电力电子技术 实验报告专 业： 学 号： 班 级： 姓 名： 实验一 仪器使用和门电路测试一、实验目的1、熟悉CJ-A型多功能数字电路实验仪的结构和使用方法；2、掌握逻辑笔和数字万用表的使用方法；3、掌握TTL 与非门组件主要参数和逻辑功能的测试方法。4、学会用门电路解决实际问题。二、实验仪器与器材1、CJ-A型多功能数字电路实验仪台；2、逻辑笔支；3、数字万用表块；4、TTL 与非门组件 74LS00 1 片、74LS10 1 片、74LS04 1 片。三、预备知识1、TTL集成门电路介绍以半导体器件为基本单元，集成在一块硅片上，并具有一定的逻辑功能的电路称为逻辑集成电路。输入端和输出端都采用双极型三极管的逻辑电路称为三极管-三极管逻辑电路，简称TTL电路。TTL电路的开关速度较高，其缺点是功耗较大。TTL集成电路品种齐全，种类繁多，应用十分普遍。它有74、74H、74S、74LS四个系列。其中：74是标准系列；74H是高速系列，是在74系列基础上改进得到的；而74S是肖特基系列，是在74H系列基础上改进得到的；74LS是低功耗肖特基系列，是在74S基础上改进得到的，它具有最佳的综合性能，是TTL集成电路的主流，是应用最广的系列。2、TTL与非门的主要参数低电平输入电流IIL：指输入为低电平时的输入电流，也就是当前级输出为低电平时，本级输入电路造成的前级灌电流。高电平输入电流IIH: 指输入为高电平时的输入电流，也就是当前级输出为高电平时，本级输入电路造成的前级拉电流。空载导通功耗： 指与非门空载时电源总电流Icc与电源电源Vcc的乘积。输出高电平UOH：指TTL与非门的一个或几个输入为低电平时的输出电平。输出低电平UOL：指TTL与非门的输入全为高电平时的输出电平。3、集成门电路介绍名 称：四2输入与非门 芯片型号：74LS00 逻辑关系：引脚分布：如图1-1 图 1-1 名 称：六反相器 名 称：三3输入与非门 芯片型号：74LS04 芯片型号：74LS10 逻辑关系：Y=A 逻辑关系：Y= A B C 引脚分布：如图1-2 引脚分布：如图1-3 图1-2 图1-3四、实验原理1、TTL与非门主要参数的测试电路，如下图所示：a、输出高电平测试 b、输出低电平测试2、TTL与非门逻辑功能的测试电路(图1-4)： 说 明： L3、L2、L1分别为实验仪上方的数码管输入插孔。其中L3、L2用于显示输入信号A、B的状态，L1用于显示输出信号Y的状态。K2、K1为二进制输入开关，用于改变输入信号A、B的状态。五、实验内容和步骤1、实验仪器和工具的使用学用万用表测试实验仪打开实验仪的电源开关，用万用表的电阻档检查芯片插座各插孔与连接导线用的插孔间的通断情况；然后再用万用表的直流电压档检查实验仪内部的直流稳压电源是否为+5V电压。测试结果记录：测试逻辑开关和数码管取1根导线，将它的一端插入逻辑开关的输出插孔，另一端与数码管的输入插孔相连接，然后分别将开关拨上和拨下，观察数码管状态的变化。正常情况下，开关拨向上方时输出高电平，所接数码管显示1，开关拨向下方时输出低电平，数码管显示0。测试结果记录：掌握逻辑笔的使用方法利用逻辑笔检查数字电路实验仪实验区芯片插座的各插孔与连接导线用的插孔间的通断情况；然后将逻辑笔接到逻辑开关的输出插孔，测试逻辑开关的功能。再用逻辑笔测试实验仪上所提供的连续脉冲信号(只测最右边一个输出)，数一数在60s时间内有多少个脉冲，然后估算该信号的频率。测试结果记录：2、TTL与非门逻辑功能测试（1）按图1-4所示的电路测试TTL与非门的逻辑功能：用开关K2和K1改变与非门输入端的状态为00、01、10、11时，观察数码管L1状态的变化，并作好相应的记录。 L3(A)L2(B)L1(Y)（1）根据所提供的集成电路芯片，自行设计来实现一个三输入或门的功能，并将实现的步骤详细描述出来。设计过程记录如下：六、报告要求记录本次实验中所得到的各种数据，根据测试得到的数据判断所测与非门的逻辑关系是否正确。七、思 考 题1、简述数字万