GB-T19443-2004标称电压高于1000V的架空线路用绝缘子-直流系统用瓷或玻璃绝缘子元件-定义、试验方法和接收准则.pdf

I C S 2 9 . 0 8 0 . 1 0一一K 48访日中 华 人 民 共 和 国 国 家 标 准 G B / T 1 9 4 4 3 -2 0 0 4 标称电压高于 i 0 0 0 v的架空线路 用绝缘子直流系统用瓷或 玻璃绝缘子元件 定义、 试验方法和接收准则 I n s u l a t o r s f o r o v e r h e a d l i n e s w i t h a n o mi n a l v o l t a g e a b o v e 1 0 0 0 V - C e r a mi c o r g l a s s i n s u l a t o r u n i t s f o r d . c . s y s t e ms - D i f i n i t i o n s ， t e s t m e t h o d s a n d a c c e p t a n c e c r i t e r i a （ I E C 6 1 3 2 5 ： 1 9 9 5 ， MOD)2 0 0 4 - 0 2 - 0 4发布2 0 0 4 - 0 8 - 0 1 实施 r fP ,K K A*% TO M发 “免费标准网( w w w . f r e e b z . n e t ) 标准最全面免费标准网( w w w . f r e e b z . n e t ) 无需注册 即可下载G B / T 1 9 4 4 3 -2 0 0 4 前言 本标准修改采用I E C 6 1 3 2 5 ; 1 9 9 5 标称电压高于1 0 0 0 v的架空线路用绝缘子直流系统用瓷或玻璃绝缘子元件定义、 试验方法和接收准则（ 英文版） 。 本标准编写规则按 G B / T 1 . 1 -2 0 0 0 ， 技术内容和文本结构与 I E C 6 1 3 2 5 基本相同。 附录 A列出了本标准章条编号与 I E C 6 1 3 2 5 章条编号的对照一览表 。 考虑到我国环境， 在采用 I E C 6 1 3 2 5 时， 本标准做了一些修改。有关技术性差异已编人正文并在它们所涉及的条款的页边空白处用垂直单线标识。附录B给出了这些技术性差异及其原因的一览表。 对 I E C 6 1 3 2 5 ， 本标准主要变化如下 ： 增加了“ 1 5 . 2 直流湿耐受电压试验” , 1 5 的标题改为“ 直流干、 湿耐受电压试验” ； 考虑到我国特殊环境需求， 新增加了“ 2 1 直流人工污秽耐受电压试验” ； 为便于应用， 增加了“ 2 3 . 1 绝缘子的尺寸特性” 。2 3 标题改为“ 绝缘子的尺寸特性和检查” ； 为强调试验之间的影响 ， 在 2 4 . 1 和 2 5 . 1 中， 增加了“ 机（ 械） 电破坏负荷试验之前应先按 3 0 进 行温度循环试验” 的要求。 本标准的附录A、 附录B 、 附录C 、 附录D 、 附录E和附录F是资料性附录。附录D与I E C 6 1 3 2 5 附录A等同。I E C 6 1 3 2 5 的附录B （ 文献目录） ， 本标准未予列出。 本标准由中国电器工业协会提出。 本标准由全国绝缘子标准化技术委员会归口。 本标准起草单位 ： 中国电力科学研究院、 西安 电瓷研究所、 大连电瓷厂、 南京 电气集团有 限责任公司、 中南电力设计院、 福建省电力工业局。 本标准主要起草人： 刘燕生、 宿志一、 林荣伟、 马文辉、 李大楠、 蔡梅成、 谢思先、 张俊峰。标准下载网()免费标准网( w w w . f r e e b z . n e t ) 标准最全面免费标准网( w w w . f r e e b z . n e t ) 无需注册 即可下载 G B / T 1 9 4 4 3 -2 0 0 4 标称电压高于 1 0 0 0 V的架空线路用绝缘子 直流系统用瓷或玻璃绝缘子元件 定义、 试验方法和接收准则 第一节总论1 范围 本标准适用于标称电压高于 1 0 0 0 v的直流架空电力线路用瓷或玻璃绝缘子串元件。 本标准不适用于有机复合绝缘子。 本标准对绝缘子在直流电压下其他状况的应用由有关技术委员会考虑。 本标准规定了： 绝缘子技术要求 、 尺寸与特性； 检验这些特性规定值的条件 ； 接收准则。 本标准规定了与 I E C 6 0 3 8 3 - 1 相类似的基本特性试验。 为保证直流绝缘子长期性能令人满意， 必须增加一些试验。目前， 这些增加的试验仅与盘形悬式绝缘子有关。 鉴于缺乏有关直流线路长棒形绝缘子性能的有效数据 ， 目前还不可能规定或确认直流下适于这样的绝缘子的试验。 本标准不包括特定运行条件下的绝缘子选择要求或特殊试验， 例如， 由特定运行条件引起的老化。 注 1 ： 本标准不包括无线电干扰试验和绝缘子组试验。 这些问题和有关的试验方法在下列标准和 I E C出版物中论 述： J B / T 3 5 6 7 , I E C 6 0 3 8 3 - 2 a 注2 ： 用于牵引 线路的绝 缘子除了 本标准的 许多要求和 试验以 外， 还 要求其他一些 试验， 可参见I E C 6 0 3 8 3 - 1 02 规范性引用文件 下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件， 其随后所有的修改单（ 不包括勘误的内容） 或修订版均不适用于本标准， 然而， 鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注 日 期的引用文件， 其最新版本适用于本标准 。 G B / T 1 . 1 -2 0 0 0 标准化工作导则第1 部分： 标准的结构和编写规则 G B / T 2 9 0 0 . 8 -1 9 9 5 电工术语绝缘子（ n e q I E C 6 0 0 5 0 - 4 7 1 ; 1 9 8 4 ) G B / T 2 9 0 0 . 1 9 -1 9 9 4 电工术语高电压试验技术和绝缘配合 G B / T 4 0 5 6 高压线路悬式绝缘子连接结构和尺寸（ G B / T 4 0 5 6 -1 9 9 4 , e g v I E C 6 0 1 2 0 : 1 9 7 4 ) G B / T 1 6 9 2 7 . 1 -1 9 9 7 高电压试验技术第一部分 ： 一般试验要求（ e q v I E C 6 0 0 6 0 - 1 : 1 9 8 9 ) G B / T 1 9 0 0 1 -2 0 0 0 质量管理体系要求（ i d t I S O 9 0 0 1 : 2 0 0 0 ) J B / T 3 5 6 7 高压绝缘子无线电干扰试验方法（ e q v I E C 6 0 4 3 7 ; 1 9 9 7 ) J B / T 3 5 6 8 盘形悬式绝缘子串元件的热机械性能试验方法（ e q v I E C 6 0 5 7 5 : 1 9 7 7 ) J B / T 5 8 9 6 -1 9 9 1 常用绝缘子术语 J B / T 6 7 4 7 直流系统用高压绝缘子人工污秽试验方法固体层法（( e q v I E C 6 1 2 4 5 : 1 9 9 3 ) J B / T 8 1 7 7 绝缘子金属附件热镀锌层通用技术条件标准下载网()免费标准网( w w w . f r e e b z . n e t ) 标准最全面免费标准网( w w w . f r e e b z . n e t ) 无需注册 即可下载G B / T 1 9 4 4 3 -2 0 0 4 J B / T 8 1 8 1 绝缘子串元件球窝联接用锁紧销（ e q v I E C 6 0 3 7 2 : 1 9 8 4 ) I E C 6 0 3 0 5 标称电压高于1 0 0 0 V的架空线路绝缘子交流系统用瓷或玻璃绝缘子元件盘形悬式绝缘子元件的特性 I E C 6 0 3 8 3 - 1 标称电压高于1 0 0 0 V的架空线路绝缘子第一部分： 交流系统用瓷或玻璃绝缘子元件定义 ， 试验方法和接收准则 I E C 6 0 3 8 3 - 2 标称电 压高于1 0 0 0 V的架空线路绝缘子 第二部分： 交流系统用绝缘子串和 绝缘子组定义 ， 试验方法和接收准则 I E C 6 0 4 3 3 标称电压高于1 0 0 0 V的架空线路绝缘子 交流系统用瓷绝缘子 长棒形绝缘子特性 I E C 6 0 6 7 2 - 1 陶瓷和玻璃绝缘材料第 1 部分： 定义和分类 I E C 6 0 6 7 2 - 3 陶瓷和玻璃绝缘材料第3 部分： 材料性能 I E C 6 0 7 9 7 架空线路用瓷或玻璃绝缘子串元件的绝缘件破损后的 残余强度 I E C 6 1 2 1 1 标称电压高于1 0 0 0 V的 架空线路绝缘用瓷或玻璃绝缘子： 击穿试验3 术语和定义 G B / T 2 9 0 0 . 8 , G B / T 2 9 0 0 . 1 9 , J B / T 5 8 9 6 确立的以及下列术语和定义适用于本标准。 本标准所用的术语“ 绝缘子” ， 指的是被试验的试品。3 . 1 绝缘子串 i n s u l a t o r s t r in g 由一个或多个绝缘子串元件组成 ， 用来给予架空导线挠性支持 ， 主要承受张力。3 . 2 批l o t 同一制造厂提交的一批绝缘子， 它们有相同的结构并且在大致类似的生产条件下制造。一批或多批绝缘子可以一起提交接收， 提交的批可以是订货量的全部或一部分。3 . 3 闪络f l a s h o v e r 在绝缘子外部的一种击穿性放电， 使正常情况下承受运行电压的那些部件发生电气连接。 注： 本标准所用的术语“ 闪络” ， 包括沿绝缘子表面发生的闪络以及通过绝缘子附近的空气火花放电造成的击穿性 放电。3 . 4 雷电冲击干耐受电压d r y l ig h t n i n g im p u l s e w i t h s t a n d v o l t a g e 在规定试验条件下， 绝缘子在干燥条件下能耐受的雷电冲击电压。3 . 5 5 0 %雷电冲击干闪络电压 5 0 % d r y l i g h t n i n g im p u l s e f la s h o v e r v o l t a g e 在规定试验条件下， 使干燥的绝缘子产生 5 0 闪络概率的雷电冲击电压值， 用 U 5 。 表示 。3 . 6 直流干、 湿耐受电压d r y o r w e t d . c , w i t h s t a n d v o l t a g e 在规定试验条件下 ， 绝缘子在干燥或湿条件下能耐受的直流电压。3 . 7 机电破坏负荷e l e c t r o m e c h a n ic a l f a i l i n g l o a d 在规定试验条件下 ， 绝缘子串元件或刚性绝缘子在试验时达到的最大负荷 。标准下载网()免费标准网( w w w . f r e e b z . n e t ) 标准最全面免费标准网( w w w . f r e e b z . n e t ) 无需注册 即可下载 G B / T 1 9 4 4 3 -2 0 0 43 . 8 机械破坏负荷m e c h a n i c a l f a i l i n g l o a d 在规定试验条件下， 绝缘子串元件或刚性绝缘子在试验时达到的最大负荷 。3 . 9 残余机械强度r e s i d u a l m e c h a n i c a l s t r e n g t h 在规定试验条件下 ， 用规定方法机械损坏绝缘件后 ， 绝缘子所能达到的最大机械负荷 。3 . 1 0 S F , 击穿耐受电压S F 6 p u n c t u r e w i t h s t a n d v o l t a g e 在规定试验条件下 ， 绝缘子串元件在 S F 。 中所能耐受的直流电压 。3 . 1 1 离子迁移 i o n m i g r a t i o n 直流电压下绝缘子电介质中离子的迁移。它可能导致绝缘子电气或机械特性的变化。3 . 1 2 预期电荷f Q 6 6 e x p e c t e d c h a r g e Q 5 0 预期 5 0 年期间在参考大气条件和所施加 电压下 ， 通过绝缘子的全部电荷量。Q s 。 取决于绝缘子电介质的电阻特性。3 . 1 3 体积电阻e l e c t r ic a l b o d y r e s i s t a n c e 在绝缘子的帽和脚之间测得的直流电阻。3 . 1 4 热破坏t h e r m a l r u n a w a y 具有负电阻温度系数的固体内部产生的热大于外部散发的热时发生的一种破坏现象 。3 . 1 5 锌套z i n c s le e v e 熔合在绝缘子钢脚根部的金属锌 ， 作为消耗电极来保护钢脚免受电解腐蚀 。3 . 1 6 锌环z i n c c o l la r 熔合在绝缘子帽底部的金属锌 ， 它作为消耗电极来保护帽免受电解腐蚀。3 . 1 7 冲击过电压击穿耐受电 压 i m p u l s e o v e r v o l t a g e p u n c t u r e w i t h s t a n d v o l t a g e 在规定的试验条件下， 绝缘子能耐受的冲击电压峰值。3 . 1 8 爬电距离c r e e p a g e d i s t a n c e 在正常施加运行电压的绝缘子间沿绝缘子瓷或玻璃件表面的最短距离或最短距离之和。3 . 1 9 偏移 d i s p l a c e m e n t s3 . 1 9 . 1 轴向或径向偏移 a x i a l o r r a d i a l d i s p l a c e m e n t 绝缘子绕其轴旋转一周， 在其规定的一点上的最大的位置变化量。3 . 1 9 . 2 角偏移a n g u l a r d i s p l a c e m e n t 两个连接件对应平面之间， 绕绝缘子轴的角度偏差。3 . 2 0 标准短串s h o r t s t a n d a r d s t r i n g 标准短串用来检验仅对绝缘子串有意义的元件特性：标准下载网()免费标准网( w w w . f r e e b z . n e t ) 标准最全面免费标准网( w w w . f r e e b z . n e t ) 无需注册 即可下载G B / T 1 9 4 4 3 -2 0 0 4 对盘形悬式绝缘子元件： 最少由 5 个绝缘子元件组成 ， 且串长不超过 1 . 5 m. 对长棒形绝缘子元件： 准备成串使用时， 串长度在1 M-2 m之间； 准备单独使用且元件长度 小于 1 m 时， 元件本身可以作为一个标准短串。3 . 2 1 机械等同设计m e c h a n i c a l ly e q u i v a l e n t d e s i g n 机械上等同设计的绝缘子代表的是 由同一工厂用相同的材料和相同的工艺方法制造的， 具有相 同的强度等级 ， 相同的连接尺寸， 相同的绝缘件和金属部件连接结构， 并且附加有以下特性的绝缘子。 对长棒形绝缘子 ： 公称杆径相同； 公称伞间距相同或较大 ； 公称伞伸出相同或较小 ； 公称爬 电距离相同或较小 ； 公称干弧距离相同或较小。 对盘形悬式绝缘子 ： 公称直径相同或较小 ； 公称爬电距离相同或较小。3 . 2 2 规定特性s p e c i f i e d c h a r a c t e r i s t ic s 规定特性是 ： 标准中规定的电压、 机械负荷或其他特性的数值 ； 供需双方协议的任何特性的数值。 规定的耐受和闪络电压是标准大气条件（ 见1 2 ) 下的值。 第二节绝缘子4 绝缘子分类和型式 架空线路用绝缘子按其结构可分为两种类型。 类型A： 是指通过固体绝缘材料的最短击穿路径的长度长于或等于电弧距离一半的绝缘子或绝缘子元件。如带有外部附件的长棒形绝缘子。 类型 B ： 是指通过固体绝缘材料的最短击穿路径的长度短于电弧距离一半的绝缘子或绝缘子元件。如盘形悬式绝缘子。5 绝缘材料 本标准包括的直流架空线路绝缘子 的绝缘材料有： 一 一 陶瓷材料 ， 瓷； 钢化玻璃， 是通过热处理在其内部造成可控制的机械应力的玻璃 。 注 1 ： 关于陶瓷和玻璃绝 缘材料的 定义和分类的进一步 信息可以 在I E C 6 0 6 7 2 - 1 和I E C 6 0 6 7 2 - 3 中 找到。 注2 ： 本标准中所用术语“ 陶瓷材料（ C e r a m i c m a t e r i a l ) ” 是指瓷材料， 与北美习惯相反， 不包括玻璃。6 直流绝缘子元件的特有特性和特点 应指明， 直流绝缘子的特殊使用要求决定了其应采用特殊的绝缘材料和结构。因此， 本标准包括了检验绝缘子材料和结构特性的特殊试验。直流人工污秽试验方法见J B / T 6 7 4 7 , 由于污秽条件下的直流引起的腐蚀问题 ， 盘形悬式绝缘子的钢脚上必须使用锌套 （ 见 3 6 ) 。在某些免费标准网( w w w . f r e e b z . n e t ) 标准最全面免费标准网( w w w . f r e e b z . n e t ) 无需注册 即可下载 G B J T 1 9 4 4 3 -2 0 0 4使用场合也可以采用锌环对帽加强腐蚀保护（ 见3 7 ) 0 直流线路用绝缘子元件的特性： 对所有绝缘子 a ) 规定的重要尺寸 ， 包括爬电距离（ 盘形悬式绝缘子参见附录 C的表 C . 1 ) ; b ） 用标准短串确定的规定雷电全波冲击干耐受电压； c ) 规定的单个绝缘子正极性直流干、 湿耐受电压（ 盘形悬式绝缘子参见附录C的表C . 1 ) ; d ) 规定的机电或机械破坏负荷（ 盘形悬式绝缘子参见附录 C的表 C . 1 ) o e ) 优良的绝缘子外形（ 盘形悬式绝缘子的直流污耐压特性参见附录F表F . 1 ) . 仅对 B型绝缘子 f ) 规定的在 S F , 中正极性直流击穿耐受电压（ 盘形悬式绝缘子参见附录 C的表 C . 1 ) ; 9 ） 规定的冲击过电压击穿耐受电压； h ) 体积电阻。 此外， 绝缘子元件应能通过本标准所述的下列试验： i 离子迁移试验1 ) ； j ） 热破坏试验) ) ； k ） 钢脚锌套试验（ 仅对 B型绝缘子） 。7 绝缘子的标志 每一个绝缘子都应在其绝缘件或金属部件上标志有制造商的名称或商标和制造年份 。此外， 每个绝缘子串元件还应标志有其规定的机电或机械破坏负荷值。这些标志应清晰而耐久。 可使用相应产品标准中所规定的产品型号。I E C 6 0 3 0 5和 I E C 6 0 4 3 3中所包括的代号也可以使用。 第三节试验分类、 抽样规则和程序8 试验分类 试验分为以下三类 ：8 . 1 型式试验 型式试验的目的是检验由绝缘子结构所决定的主要特性。试验通常在少量的绝缘子上进行， 对一种新结构或新制造的绝缘子只进行一次。以后， 只有在结构或制造工艺改变时才重做试验。当这种改变仅影响某些特性时， 则仅重复进行与这些特性有关的试验。如果机械上等同设计和相同制造工艺 的绝缘子具有有效试验合格证书， 那么对新设计的绝缘子就没有必要再做机械和热机型式试验。机械上等同设计的定义见 3 . 2 1 。电气上等同设计的概念不适用于高压直流绝缘子。 型式试验结果可以由购方认可的试验证书证明， 也可由有资格 的机构认可的试验证书证明。对于机械试验 ， 型式试验证书从证书签发时起有效期为十年。在上述期限内， 只要型式试验结果和后来相应的抽样试验结果无重要差异， 型式试验证书保持有效。型式试验和抽样试验结果的比较方法参见附录 Do 对于电气型式试验 ， 型式试验证书的有效性没有时间限制 。 型式试验绝缘子的选取应从满足所有有关抽样试验（ 与型式试验相同的项 目除外） 和逐个试验要求的绝缘子批 中随机抽取。 1 ) 目 前， 此试验仅对盘形悬式绝缘子有效。免费标准网( w w w . f r e e b z . n e t ) 标准最全面免费标准网( w w w . f r e e b z . n e t ) 无需注册 即可下载G B / T 1 9 4 4 3 -2 0 0 48 . 2 抽样试验 抽样试验是为了检验绝缘子随制造工艺和部件材料质量而发生变化的特性 。 抽样试验用作接收试验， 试验用样品随机从 已符合逐个试验要求的批中抽取 。 注： 本标 准计量统计法所选用的接收 常数和样本大小与I E C 6 1 3 2 5 相同。 I E C 6 0 5 9 1 : 1 9 7 8额定电压高于 1 0 0 0 V 的架空线路用瓷或玻璃绝缘子机械和机电试验应用统计控制法的抽样规则和接收判据 给出了绝缘子元件的 试验结果统计评估方法。8 . 3 逐个试验 逐个试验是要剔除有缺陷的元件， 在制造过程中对每个绝缘子都要进行。 注 1 ： 在某些情况下， 当型式试验、 抽样试验和逐个试验作为一个整体对一种新设计的绝缘子进行试验时， 称其为 “ 定型” 试验。 注 2 ： 本标准中， 逐个试验是对全部绝缘子进行的。9 质t保证 经供需双方协议 ， 可以使用本标准要求的质量保证程序， 以证实绝缘子在制造过程 中的质量。 推荐G B / T 1 9 0 0 1 为绝缘子质量体系的指导准则， 也可以使用其他制定完好的质量保证体系国家标准。1 0 型式试验和抽样试验程序1 0 . 1 型式试验用绝缘子的抽取 试验用绝缘子数量按第六节表 4 和表 5的规定 ， 从 己满足抽样和逐个试验要求 的绝缘子批中抽取 。 注： 抽取通常由制造者进行。1 0 . 2 抽样规则和抽样试验程序 抽样试验试品数量采用三种样本， E 1 , E 2 和E 3 。样本的大小按批量在表1 中选取。当绝缘子多于1 0 0 0 0只时， 应将其分成 由 2 0 0 0 到 1 0 0 0 0 能独立评价的批。 抽样试验绝缘子应从批中随机抽取。需方有权进行抽样 。 试品应按表4 和表 5 进行抽样试验， 在试品未通过某一项试验时， 可采用有关的重复试验程序（ 见1 0 . 3 ) 。 进行过抽样试验并且可能影响其机械或电气性能的绝缘子不应再在运行中使用。 表 1 绝缘子抽样试验样本数f一井 二 于 州1 0 . 3 抽样试验的重复试验程序 抽样试验的重复试验程序， 按以下规定进行 ： 如果仅有一个绝缘子或金属附件抽样试验不合格， 应对等于原来经受试验的两倍新试品进行重复试验。重复试验应包括不合格的试验项目和该项目之前且对原试验结果有影响的试验项目。 如果有两个或更多的绝缘子或金属附件在抽样试验中任何一项不合格， 或在重复试验时发生任何不合格， 则认为整批产品不符合本标准， 并且应由制造厂将其收回。 如果能清楚识别不 合格的原因， 制造厂可以在该批中挑选剔除所有具有这种缺陷的绝缘子。在一免费标准网( w w w . f r e e b z . n e t ) 标准最全面免费标准网( w w w . f r e e b z . n e t ) 无需注册 即可下载 G B / T 1 9 4 4 3 -2 0 0 4个批被分为较小批的情况下， 如果有一个批不合格 ， 调研 可以扩大到其他各批 。然后， 可以将挑选过的各批或部分批重新提交试验 。此时抽取试品的数量是第一次试验时抽取数量的三倍 。重复试验应包括不合格的试验项 目和该项 目之前且对原试验结果有影响的试验项 目。如果有任何一个绝缘子在重复试验时不合格， 则认为整批产品不符合本标准。 第四节电气试验的程序 这一章给出了本标准所列各类型绝缘子的电气试验程序和要求， 试验项目表在第 3 8 章中给出。1 1 离压试验的一般要求 a ) 雷电冲击和直流耐受电压试验程序应按G B / T 1 6 9 2 7 . 1 , b ) 雷电冲击电压应以预期峰值表示。 。 ） 当试验时的大气条件与标准值（ 见 1 2 . 1 ) 不同时 ， 必须按 1 2 . 2 进行校正。 d ) 开始高压试验前， 绝缘子应清洁而干燥。 e ) 应采取特别的预防措施来避免绝缘子表面凝露， 尤其是相对湿度较高的时候 。例如， 在试验开 始前 ， 绝缘子应在试验场所的环境温度下保持足够的时间以达到热平衡 。除非供需双方有协 议， 如果相对湿度超过 8 5 则不应进行干试验。 f ) 闪络或耐受试验时 ， 连续施加电压的间隔时间应足够长， 以避免前次施加电压的影响。1 2 电气试验的标准大气条件和校正因数1 2 . 1 标准参考大气条件 标准参考大气条件应按G B / T 1 6 9 2 7 . 1 01 2 . 2 大气条件的校正因数 校正因数应根据G B / T 1 6 9 2 7 . 1 确定。如果试验时的大气条件与标准大气条件不同， 则应计算空气密度和湿度的校正因数并确定乘积 K=K, X KZ ， 然后按下列方式校正试验电压 ： 耐受电压（ 雷电冲击， 直流干） ： 施加的试验电压KX规定的耐受电压 闪络电压（ 雷 电冲击 ， 直流干） ： 记录的闪络电压测得的闪络电压=K1 3 电气试验的安装布置 雷电干冲击和直流干、 湿耐受电压试验适用于下列绝缘子的安装布置 ： 盘形悬式元件或长棒形元件组成的标准短 串； 长度大于1m的长棒形绝缘子串元件或打算单独作为一个串使用的长棒形元件； 单个盘形悬式绝缘子元件。 应使用接地钢丝绳或其他适合的导体把绝缘子串元件或绝缘子串垂直悬挂在支撑结构上。绝缘子最上端与支撑结构之间的距离不应小于 1 m。在绝缘子 串长度的 1 . 5 倍距离内不应有其他物体 。把一段直而光滑的金属棒或金属管导体连接到绝缘子串元件或绝缘子串下端 的金具上 ， 并使其处于水平位置。从瓷或玻 璃件最 下 面的伞 裙到导 体上 表面 的距 离应尽 可能 短， 但 应 大于最 下端 绝缘 子直径的0 . 5 倍 。 导体的直径应为 2 5 m m. 导体的长度应为 3m, 应采用预防措施避免从导体端部闪络 。 试验电压应施加在导体与地之间。1 4 雷电冲击电压试验 单个绝缘子和标准短串的雷电全波冲击干耐受电压通常可按G B / T 1 6 9 2 7 . 1 的升降法， 测定5 0 免费标准网( w w w . f r e e b z . n e t ) 标准最全面免费标准网( w w w . f r e e b z . n e t ) 无需注册 即可下载G B / T 1 9 4 4 3 - 2 0 0 4闪络电压来确定 。 注： 经供需双方协议， 耐受电压可由G B / T 1 6 9 2 7 . 1 的 1 5 次冲击法来检验。1 4 . 1 试验程序 应采用1 . 2 / 5 0 标准雷电冲击波（ 见G B / T 1 6 9 2 7 . 1 ) ， 在第1 1 章和第1 2 章的规定条件下进行试验。 应采用正和负极性两种冲击波。然而， 若能证明其中一种极性下耐受电压较低时， 可以只用该种极性进行试验。 试验的绝缘子数量按1 0 . 1 ,1 4 . 2 接收准则 用上述程序测定的5 0 雷电冲击闪络电压， 应按1 2 . 2 校正。 当绝缘子的5 0 雷电冲击闪络电压不低于 1 / 0-1 . 3 0D =1 . 0 4 0 倍规定雷电冲击耐受电压时， 绝缘子通过了该试验。式中， 。 为标准偏差（ 假设等于3 ) . 试验中绝缘子不应损坏。但是 ， 在绝缘件表面允许有轻微痕迹或有水泥或其他胶装材料的小碎片。1 5 直流干、 湿耐受电压试验1 5 . 1 直流干耐受电压试验巧 1 . 1 试验程序 试验回路应符合G B / T 1 6 9 2 7 . 1 0 绝缘子应在第 1 1 章和第 1 2 章的规定条件下进行试验。 施加在绝缘子上的试验电压 ， 应是按试验时的大气条件校正过的规定正极性直流干耐受电压 （ 见1 2 . 2 ) ， 试验电压应在此值下保持 1 m i n , 试验的绝缘子数量按1 0 . 1 01 5 . 1 . 2 接收准则 当对一个绝缘子元件试验时， 如果试验时未发生闪络或击穿， 则试验通过。 当对三个绝缘子元件试验时， 如果所有元件都未发生闪络或击穿 ， 则试验通过。 当订货有特殊要求时， 可从7 5 直流干耐受电压起， 以每秒2 该电压的升压速率来测定绝缘子的闪络电压。闪络电压应是 5 次连续闪络的平均值， 并且应校正到标准大气条件（ 见1 2 . 2 ) 01 5 . 2 直流湿耐受电压试验1 5 . 2 . 1 试验程序 试验回路、 淋雨条件和湿试验程序应符合G B / T 1 6 9 2 7 . 1 , 施加在绝缘子上的试验电压应该 是规定的正极性直流湿耐受 电压。试验 电压应在此值下保持1 mi n , 试验的绝缘子数量按1 0 . 1 , 湿试验不进行湿度校正， 其空气密度校正问题正在考虑中。1 5 . 2 . 2 接收准则 当对一个绝缘子元件试验时 ， 如果试验时未发生湿闪络或击穿 ， 则试验通过。 当对三个绝缘子元件试验时， 如果所有元件都未发生湿闪络或击穿， 则试验通过。1 6 S F 。 击穿耐受试验1 6 . 1 试验方法 把绝缘子放置在一种允许施加规定电压而不发生闪络或预放电的S F , 气体绝缘介质中， 此时存在有少量其他气体不会影响试验结果。应注意， 尘粒的存在可能导致过早闪络。 试验容器可以用绝缘或导电材料制成 ， 但要足够大 ， 以防止对容器壁闪络。气体绝缘介质的压力应保证施加试验电压后不发生闪络。通常采用的压力值是（ 0 . 2 - 0 . 4 ) MP a , 温度应为（ 2 5 士1 5 ) 0C,免费标准网( w w w . f r e e b z . n e t ) 标准最全面免费标准网( w w w . f r e e b z . n e t ) 无需注册 即可下载 GB / T 1 9 4 4 3 - - 2 0 0 4 注： 大于0 . 4 M P a 的压力不会有效地提高闪络电压。 将绝缘子放在容器中， 注人绝缘介质并施加电压。对绝缘子钢脚施加正极性直流电压， 并尽快升高至规定的S F 。 击穿耐受电压值（ 至少等于1 . 5 倍规定的直流干耐受电压） 。为了减小钢脚周围的电压梯度， 可参照附录 E图 E . 1 的安装布置对与钢脚连接的绝缘子帽施加电压。 电压应保持2 0 m i n , 试验的绝缘子数量按 1 0 . 1 ,1 6 . 2 接收准则 若绝缘子头部没有发生击穿， 则试验通过。 局部放 电或存在有尘粒能够导致在绝缘子帽的外面发生闪络。在这种情况下， 应检查试验条件并重新试验。1 7 冲击过 电压击穿耐受试验 绝缘子试品应经受如 I E C 6 1 2 1 1 所述的冲击过 电压击穿耐受试验， 并采用 I E C 6 1 2 1 1 所述 的接收准则和重复试验程序。 型式试验和抽样试验的绝缘子数量按表4 和表5 ,1 8 离子迁移试验1 8 . 1 用于计算预期电荷 q。 的参考条件 参考条件如下： 预期寿命 5 0 年； 设定绝缘子承受的电压7 0 0 0 0 V ; 温度为正态分布， 平均温度M= 2 5 C， 标准偏差。 =1 0 0C,1 8 . 2 试验的有效性 离子迁移试验是用通过绝缘子的电荷量来表征的， 等于或小于按本标准参考条件计算 的电荷量的所有实际条件都是有效的。当绝缘子安装地点的条件会导致较高的计算预期电荷量时， 则应进行能够产生这一较高电荷量的新试验 。1 8 . 3 试验程序1 8 . 3 . 1 体积电阻测f 对 1 0只绝缘子， 分别在（ 9 0 士2 ) 0C, ( 1 2 0 士2 ) 0C, ( 1 5 0 士2 ) 的温度下测量相应的绝缘子体积电阻R s o . R i z 。 和 R i c o o测量时， 为避免表面电流产生的误差， 应使用导电涂层或屏蔽罩作保护电极将表面电流旁路掉， 附录E图E . 2 示出了一种推荐布置。 应在铁帽达到规定温度至少2h 后进行测量。 应在施加电压至少 1 5 m i n 后测量并记录电流值， 体积电阻应取每个绝缘子三次读数的平均值。 用下面公式确定 9 0 0C - 1 2 0 0C , 9 0 一1 5 0 0C 温度范围的温度系数 A: R o 1 e (A l ( 27 3 + e, ， ） 瓜 e (A / (2 7 3 + 6, ) ) 系数A用于估算离子迁移试验的承受时间和把测得的体积电阻校正至相对参考温度。 某种绝缘子的 凡o , R , 2。 和 R , S。 应是在 1 0片绝缘子上测得并经校正的R s o . R iz 。 和 凡：。 的平均值。1 8 . 3 . 2 计算预期电荷Q 5 0 用体积电阻测量中得到的该型绝缘子在9 0 的参考电阻R , 。 和对应 9 0 0C -1 2 0 得到的A的平均值 ， 计算绝缘子在一1 5 至6 5 温度区间内某一温度的 R ( B ) 值 ， R ( B ) 值的计算公式如下： R ( O ) e c n / c 2 7 3 1 0 ” 瓦不”e ta % (z 7s s0 ) )免费标准网( w w w . f r e e b z . n e t ) 标准最全面免费标准网( w w w . f r e e b z . n e t ) 无需注册 即可下载G B / T 1 9 4 4 3 -2 0 0 4 对于从一1 5 至6 5 的每一个温度在5 0年里所占的时间t ( 0 ) （ 以秒计） ， 可以从一个均值为M=2 5 0C， 标准偏差。 =1 0 的正态分布来计算， 计算公式如下： ： （ 。 ） 2 一二 (B - M 一一 竺X 3 6 0 0 X 2 4 X 3 6 5 X ： 。 a 丫 乙兀 在每一温度 8 下的总电荷量 Q （ ； ） 由下式求出： 八 V X t ( 8） Q （ B ) 二 诀 丫 斧 升 二 、 、 o R ( B） 式 中： V=7 0 0 0 0 V 总的预期 电荷量 Q s 。 由下式给出： 二 .+n t ( 8 ) Q S 。 V ）：r , , n . 一 “。 u1s c 尺 （ 。 ） 预计试验室试验时间 D（ 以天计） 是试验 电压 、 烘箱温度和通过的总电荷量（ Q 5 0 ） 的函数， 由下式给出： 。Q s o X R 人。 ） D 二 共 李 哭 二 共 牛一 TA W 二 一3 6 0 0 只2 4 X V 试 验 为给出一个适当的计划试验时间， B a ， 和V j4 。 应在下列限制区间选择： -1 - 6 5 0 0 0 V 镇v ii t o 镇+7 5 0 0 0 V 9 0 0C 镇气。 簇1 3 0 0C1 8 . 3 . 3 试验方法 把洁净的绝缘子放置在烘箱内， 给绝缘子钢脚施加直流 电压， 铁帽通过一适 当的电流测量装置接地， 紧靠铁帽附近的瓷件外表面安装一个保护电极以消除表面泄漏电流的影响（ 参见图E . 2 ) . 在烘箱温度达到规定8 ,it 验 温度并保持2 h后， 开始施加电压V 试 。 。温度和电压应维持在士5 内，应每 4h 测量通过每个绝缘子的电流， 并用来计算通过绝缘子的 日 平均电荷量。 试验可以中断， 如果中断， 重新升温到规定温度并稳定 2h 后可以继续开始试验 ， 并且把新通过的电荷量与中断前已通过的电荷量相加。 电压应加在每个绝缘子上 ， 当某绝缘子的各 日平均 电荷量的总和达到 Q 5 。 时， 可以除去该绝缘子上的电压或断开其与地的连接。当所有的绝缘子各日平均电荷量的总和都达到Q I。 时， 应卸除电压并将它们冷却 ， 然后按 1 5 . 1 的规定进行正、 负极性的直流干耐受电压试验 。两种极性电压应等于规定 的正极性直流干耐受电压按标准大气条件的校正值 。1 8 . 4 接收准则 试验中， 任何绝缘子击穿或损坏， 或者直流干耐受试验时闪络， 则此绝缘子设计不合格。1 9 体积电阻试验1 9 . 1 试验程序 体积电阻的测量应在铁帽温度（ 1 2 0 土2 ) 时， 按离子迁移型式试验程序（ 见 1 8 . 3 . 1 ) 进行。1 9 . 2 接收准则 在铁帽温度（ 1 2 0 士2 ) 下测得的单个体积电阻值， 应处在离子迁移型式试验中得到的校正过的参考体积电阻的5 0 %-2 0 0 写范围之内， 应对抽样试验中测得的铁帽温度进行校正。 用于这一校正的系数， 应该采用在离子迁移型式试验体积电阻测量中得到的， 相应于9 0 0C 1 5 0 0C温度范围的温度系数 A的平均值。 第 1 0 . 3 的重复试验程序适用于本试验。2 0 热破坏试验 烘箱温度： s 0 0C免费标准网( w w w . f r e e b z . n e t ) 标准最全面免费标准网( w w w . f r e e b z . n e t ) 无需注册 即可下载 G B / T 1 9 4 4 3 -2 0 0 4 钢脚上施加 的电压 ： S F L 3 0 0 k N时， 施加1 2 5 k V直流电压， 允许电压有一0 一5 的相对误差。 注： S F L 额定机械（ 机电） 破坏负荷。 绝缘子表面应清洁干燥。2 0 . 1 时间 最少预热 8 h ; 8 0 下施加电压 8 h ; 等待期时间3 0 m i n ; 在规定试验电压下耐受1 m i n e2 0 . 2 试验程序 预热 ： 试品放在空气加热的烘箱内， 将烘箱内的空气加热到8 0 C， 在该温度下应最少保持8h 。连续记录烘箱内的空气温度 ， 在预热的 8h中不允许空气温度降到 8 0 以下 。 施加电压 ： 预热 8 h后， 应在 8 0 下连续施加 8 h 试验电压。试验中， 连续记录的烘箱空气温度和电压不应低于规定值。 等待期时间 ： 施加电压 8h 后 ， 停止施加电压和加热。烘箱门仍保持关闭 ， 绝缘子应在该处保留 3 0 m i n , 注： 烘箱冷却速度并不重要。 击穿检验 ： 在等待期时间后， 应对绝缘子施加规定的试验电压并保持1 min ， 检验其是否发生击穿。2 0 . 3 接收准则 如果试验时有任一绝缘子击穿或破碎， 则此绝缘子设计不合格。2 1 直流人工污秽耐受电压试验 直流人工污秽耐受电压试验是为了得到被试绝缘子在典型污秽条件下的污耐压特性， 厂家应提供短串（( 3 片 串） 绝缘子的最大直流人工污秽耐受电压与盐密关系的曲线 。2 1 . 1 试验程序 有关试验用电源设备、 雾、 试品准备以及施加试验电压的方法和最大耐受电压的确定等均应符合J B / T 6 7 4 7 。 试验采用固体层法 ， 在绝缘子短串（( 3 片 串） 或标准短串上进行。 直流绝缘子和普通标准型绝缘子的人工污秽耐受电压对比试验应在同样试验条件下进行。试验电压极性的选择同1 4 . 1 ,2 1 . 2 接收准则 每片被试绝缘子的最大直流人工污秽耐受电压， 在灰密为 1 . 0 m g / c m , 和等值附盐密度分别为0 . 0 3 m g / c m 和 0 . 1 mg / c m ， 下， 比相同强度等级 的普通标准型绝缘子（ 瓷绝缘子： X P - 1 6 0 , X P - 2 1 0 , X P -3 0 0 ； 玻璃绝缘子： L X Y - 1 6 0 , L X Y - 2 1 0 , L X Y - 3 0 0 ) 的提高百分率参见附录F表F . 1 ,2 2 逐个电气试验 绝缘子串元件应经受连续施加的交流电压 ， 电压施加于两金属件之间。 交流电压可以是工频或高频 。 工频试验时， 试验 电压应连续施加（( 3 - 5 ) m i n ， 并且应足够高以产生间断 的火花放 电（ 至少几秒钟免费标准网( w w w . f r e e b z . n e t ) 标准最全面免费标准网( w w w . f r e e b z . n e t ) 无需注册 即可下载G B / T 1 9 4 4 3 - 2 0 0 4一次） 。 高频试验时， 应是频率为（ 1 0 0 - 5 0 0 ) k H： 的适当衰减的交流电压。试验电压应连续施加 3s ， 并且应足够高以产生连续的火花放电。应施加至少2 min的工频电压或用其他合适的方法检查绝缘子在高频试验期间或试验后是否击穿。 试验中击穿的绝缘子应报废剔除。 除非另有规定， 该试验应在逐个机械试验后进行 ， 以剔除在机械试验中可能损坏的绝缘子。 第五节机械试验和其他试验的程序 本章给出了不同类型绝缘子的机械试验程序和要求。对于机械试验和其他试验， 某些试验程序对型式和抽样试验是通用的， 但接收准则可能不同。2 3 绝缘子的尺寸特性和检查2 3 . 1 绝缘子的尺寸特性 绝缘子应按本标准或规定程序批准的图样制造， 其基本结构型式 、 主要尺寸特性参见附录 C的表C . 1 和图 C . 1 图 C . 3 ,2 3 . 2 尺寸检查 应按相应的图样检查试验绝缘子的尺寸， 要特别注意任何规定专门公差的尺寸（ 如I E C 6 0 3 0 5中规定的结构高度） 和影响互换性 的细节（ 如 G B / T 4 0 5 6 所涉及的连接尺寸） 。 绝缘子串的标准连接（ 如球窝连接尺寸） 应取E . I 和E . 2 样本数检查， 对于其他尺寸（ 如结构高度H、 盘径D、 爬电距离L等） 和其他类型的绝缘子仅应取E . 2 样本数检查。 盘形悬式绝缘子元件结构高度H的偏差： 士（( O . 0 3 H +0 . 3 ) m m ; 盘形悬式绝缘子元件6 片串结构高度偏差： 士1 9 m m; 除非另有协议， 尺寸偏差应符合如下规定 ： 当 d 3 0 0 m m时 ， 士（ 0 . 0 2 5 d +6 ) m m, 此偏差适用于未标注专 门偏差的所有尺寸（ d为被检查的尺寸， m m) , 上面给出的偏差适用于爬电距离， 即使其被规定为最小公称值。 第1 0 . 3 的重复试验程序适用于本试验。2 4 机电破坏负荷试验2 4 . 1 试验程序 本试验适用于能以内部放电来表示绝缘件机械破坏的绝缘子元件。 机电破坏负荷试验之前应先按3 0 进行温度循环试验。 绝缘子串元件应单独承受5 0 k V的工频电压并同时在两金属附件上施加拉伸负荷。在整个试验期间应保持此电压。 试验机连接件的基本尺寸 ， 对球窝和槽形连接 的绝缘子应按照 G B / T 4 0 5 6 。在型式和抽样试验中， 应使用相同强度的连接件（ 标准型或加强型） 。 拉伸负荷应迅速而平稳地从零升到规定机电破坏负荷的7 5 %， 然后以每分钟1 0 0 至3 5 规定机电破坏负荷的速度（ 相当于在 1 5 s -4 5 s 时间内达到规定机电破坏负荷） 逐渐增加到第 3 章定义的破坏负荷并记录该数值。2 4 . 2 接收准则 用机械（ 电） 破坏负荷试验中的各个破坏负荷X计算平均值X和标准偏差v_ 1 。所用符号如下： S F L ： 规定的机械（ 电） 破坏负荷 ；免费标准网( w w w . f r e e b z . n e t ) 标准最全面免费标准网( w w w . f r e e b z . n e t ) 无需注册 即可下载 G B / T 1 9 4 4 3 -2 0 0 4 X T : 型式试验的平均破坏负荷 ； X, ： 抽样试验的平均破坏负荷； X Z ： 重复试验的平均破坏负荷； Q T : 型式试验的标准偏差； 。 ， ： 抽样试验的标准偏差 ； O 2 ： 重复试验的标准偏差； C o , C , , C Z , C 3 ： 接收常数。 如果 X T S F L +C o a T ， 则型式试验通过。 如果 X , ）S F L +C , a l ， 则抽样试验通过。 如果S F L +二。 ， （灭 , S F L + C 3 a 2 ， 则重复试验通过。其中， 均值X ： 和标准偏差(7 2 是从重复试验中得到的。 如果重复试验未通过 ， 则认为该批绝缘子不符合本标准， 并应进行调查 ， 以找出不合格的原因（ 在把一批分为若干小批的情况下， 若一个小批不符合要求 ， 调查可以扩展到其他小批） 。 机械（ 电） 型式试验结果和抽样试验结果比较的方法参见附录 D o 注： 计算标准偏差时， 应注意它是样本偏差， 其分母是 n -1 .2 4 . 3 型式试验常数 用下列常数检验绝缘子串元件机电破坏负荷、 机械破坏负荷和热机性能试验的型式试验结果。 样本大小等于5 时， G二1 . 2 ； 样本大小等于1 0 时， C 。 二0 . 7 2 02 4 . 4 抽样试验常数 应采用表 2 的常数检验绝缘子机械（ 电） 破坏负荷试验的抽样试验结果。 表 2 抽样试验的常数一一 1 s 121.42 1.71. 2 1.51. 42 ,.,.,.,.l7, ,.,.,2 5 机械破坏负荷试验2 5 . 1 试验程序 绝缘子串元件应单独承受施加在两金属附件上的拉伸负荷 。 机械破坏负荷试验之前应先按 3 0 进行温度循环试验。 试验机连接件的基本尺寸， 对球窝和槽形连接的绝缘子应按照 G B / T 4 0 5 6 。在型式和抽样试验中， 应使用相同强度的连接件（ 标准型或加强型） 。 拉伸负荷应迅速而平稳地从零升到规定的机械破坏负荷的7 5 ， 然后以每分钟 1 0 0 至3 5 规定机械破坏负荷的速度（ 相当于在 1 5 s -4 5 s 时间内达到规定机械破坏负荷） 逐渐增加到第 3 章定义的破坏负荷， 并记录该数值 。2 5 . 2 接收准则 见2 4 . 2 。2 6 热机性能试验2 6 . 1 试验程序 绝缘子元件应经受 4 次 2 4 h 冷 、 热循环 ， 并且同时施加拉伸负荷 ， 该拉伸负荷应保持在规定机械免费标准网( w w w . f r e e b z . n e t ) 标准最全面免费标准网( w w w . f r e e b z . n e t ) 无需注册 即可下载G B / T 1 9 4 4 3 -2 0 0 4（ 电） 破坏负荷的6 0 0 0 -6 5 之间。每 2 4 h循环应从冷却开始， 先冷却到一（ 3 0 士5 ) 0C， 随后加热到+( 4 0 士5 ) C。 应注意冷热循环的温度偏差 ， 以确保记录的冷热温差不小于 7 0 K。每一温度循环中， 在最高和最低温度上应至少延续4h 。温度变化的速率不是特别重要， 取决于试验设备。所有的温度应在其中一个绝缘子的金属附件上或附近测量。 应在第一次冷热循环之前 ， 在室温下对绝缘子施加拉伸负荷。在每一次加热周期结束时， 应完全卸除负荷， 并重新施加， 最后一次除外。第4 次2 4 h 循环后， 等降到室温后再卸除拉伸负荷。该试验程序参见附录E图E . 3 ， 其他有关要求按7 B / T 3 5 6 8 0 热机循环后的绝缘子的机 电破坏负荷试验（ 见 2 4 ） 或机械破坏负荷试验 （ 见 2 5 ） 应在绝缘子元件卸除热机试验拉伸负荷的同一天进行。 注 1 ： 在经受热循环和机械负荷时， 绝缘子元件可以相互申联和并联连接， 当并联连接时， 绝缘子元件应施加相等的 负荷 。 注 2 ： 可卸开的连接钢脚， 例如用于长棒形绝缘子的， 因为它们不是绝缘子内部结构的一部分 ， 所以不应包括在机械 试验 中。2 6 . 2 接收准则 热机循环后的绝缘子的机械（ 电） 破坏负荷试验接收准则同 2 4 . 2 。在冷热循环中， 如果任何一个绝缘子不合格， 则认为该批绝缘子不符合本标准。2 7 残余机械强度试验2 7 . 1 预试验 残余强度试验之前应先按 3 0 进行温度循环试验。 注： I E C 6 0 7 9 7 中解释了进行温度循环试验的原因。2 7 . 2 试 品的准备 将温度循环试验后的绝缘子 ， 采用机械的方法（ 如锤击） 打掉其绝缘件伞盘 。铁帽最大直径以外不应有伞盘的剩余部分 。2 7 . 3 试验程序 试品应单独承受施加在两金属部件上的拉伸负荷（ 见2 5 . 1 ) 。拉伸负荷应从零迅速而平稳地增加到约为完好绝缘子的规定机械（ 电） 破坏负荷的4 0 0 0 ， 然后以每秒为规定机械（ 电） 破坏负荷。 . 5 0 0 1 0 0的速率逐步增加直到发生破坏。 试验 中达到的最大负荷作为试品的残余强度 。2 7 . 4 试验结果 残余强度试验中， 在最大负荷下试品可以呈现出两种可能发生破坏的方式： 铁帽和钢脚分离， 例如钢脚被拉出， 或 ； 金属部件破坏（ 铁帽或钢脚） 。 应记 录每一个试品的破坏方式 。2 7 . 4 . 1 符号和说明 X s 分离负荷 X g 一 分离负荷的平均值 、分离负荷的标准偏差 X b 金属件破坏负荷 S F L（ 完好） 绝缘子的规定破坏负荷2 7 . 5 型式试验的接收准则 如果分离破坏的数 目不少于 1 0 : 当 了 , O . 6 5 S F L +1 . 6 4 5 a ， 并且每个X e S F L ， 则试验通过。免费标准网( w w w . f r e e b z . n e t ) 标准最全面免费标准网( w w w . f r e e b z . n e t ) 无需注册 即可下载 G B / T 1 9 4 4 3 -2 0 0 4 如果分离破坏的数 目少于 l 0 : 当每个 X,0. 6 5 S F L， 并且每个 X b S F L， 则试验通过。2 7 . 6 抽样试验的接收准则 当每个 X,0. 6 5 S F L ， 并且每个 Xb S F L， 则试验通过。 第1 0 . 3 的重复试验程序适用于本试验。2 7 . 7 型式试验和抽样试验结果的比较 残余强度试验不进行型式试验和抽样试验结果的比较 。2 8 轴向、 径 向和角度偏移的检验2 8 . 1 试验程序 在绝缘子串元件两端安装适当的连接件并施加轻微的拉力， 连接件应符合G B / T 4 0 5 6 。在槽型连接的情况下， 有必要增加一个衬垫使连接金属附件对准中心。两个连接件应在同一垂线上， 且能自由旋转。 对盘形悬式绝缘子元件： 上部连接件应该是窝或槽， 以便绝缘子在试验中用它的脚球或扁脚悬挂起来， 而铁帽由下部连接件来安装。两个测量装置A和B的布置参见附录E图E . 4 a ， 以便它们能分别与绝缘件最大直径上的点和最外侧伞棱的端部相接触 。将绝缘子旋转 3 6 0 0 ， 记录测量装置读数的最大变化量。 注： 测盘装置 A的读数变化包括绝缘件平面度的变化。通常能接收的变化量在规定的最大值以内。 平面度造成的 过多变化量会导致用装置 A测得的变化量超过规定的最大值。 对长棒形绝缘子元件： 测量装置B的布置参见附录E图E . 4 b ， 以使它尽可能靠近并接触到绝缘子中部的绝缘件杆部。将绝缘子旋转3 6 0 0 ， 记录测量装置读数的最大变化量。 此外， 连接件的角偏移a 应使用合适的方法测量， 参见附录E图E . 5 ,2 8 . 2 盘形悬式绝缘子的接收准则 除非另有规定， 最大变化量允许值为 ： A上的轴向偏移（ 位置最大变化量） ： 绝缘子公称盘径的4 写； B上的径向偏移（ 位置最大变化量） ： 绝缘子公称盘径的3 %a 第1 0 . 3 的重复试验程序适用于本试验。2 8 . 3 长棒形绝缘子的接收准则 除非另有规定 ， 最大变化量允许值为： B上的径向偏移（ 位置最大变化量） ： 当绝缘子长度成7 5 0 m m时， 绝缘子长度的1 . 4 ; 当绝缘子长度7 5 0 m m时， 绝缘子长度的 1 . 2 %. 连接件角度偏移 a的值不应超过下列值： 对于 槽 形连 接a 镇 4 0 ; 对于球窝连接a 毛1 5 0 ; 一 一 对于其他连接件配合 a （ 1 5 0 , 除非供需双方另有协议 。 第1 0 . 3 的重复试验程序适用于本试验。2 9 锁紧装置的检验 本试验适用于球窝连接的绝缘子串元件 ， 试验包括四部分 ： 锁紧装置的质量要求； 锁紧状态检查 ； 锁紧装置的位置（ 仅对开口销） ； 操作试验。 第1 0 . 3 的重复试验程序适用于本试验。免费标准网( w w w . f r e e b z . n e t ) 标准最全面免费标准网( w w w . f r e e b z . n e t ) 无需注册 即可下载G B / T 1 9 4 4 3 -2 0 0 42 9 . 1 锁紧装置的质f要求 绝缘子或附件制造厂应检查锁紧装置是否符合 J B / T 8 1 8 1 的要求。绝缘子制造厂应有有效的试验证书确认进行了检验 。 注： 如果不能证明提交验收的绝缘子上所装的锁紧装置是属于已取得合格证书的同一批， 则可按 J B / T 8 1 8 1 对锁 紧装置进行试验。被试锁紧装置的数量不大于 1 0 . 2 给出的抽样数量 E 2 .2 9 . 2 锁紧状态检查 对于盘形悬式绝缘子， 将绝缘子连接成两个元件的串。对长棒形绝缘子， 用相应的连接球头安装绝缘子元件 。使锁紧装置处于锁紧位置， 然后通过施加与运行中经受相类似的动作来进行检查， 不应发生串或连接球头的连接脱开的情况。2 9 . 3 锁紧装置的位里 对于开口销 ， 在锁紧位置时销腿不应伸出帽窝人 口， 并能把直径等于锁孔眼直径一半的尖头工具插人销孔眼中， 以便拉动开口销从锁紧位置到连接位置。 注 1 ： 连接和锁紧位置的说明见 J B / T 8 1 8 1 0 注 2 ： 对于开口销， 应注意的是， 在将其置人锁紧位置时， 过重打击销子头部会引起变形， 以致影响锁紧能力。还应 注意， 张开开口销末端时产生的变形不要影响开口 销的功能。 注 3 ： 对于标准连接 1 1 ， 允许开口 销的销腿伸出帽窝入口不大于 5 m m a2 9 . 4 操作试验的程序 使锁紧装置位于锁紧位置。 对于开 口销 ： 通过一个合适的装置， 沿轴线方向对开 口销的孔眼施加拉伸负荷 F . 对 于 W 销 ： 使用一个截面尺寸为F S X T （ 这些尺寸见J B / T 8 1 8 1 ) 的矩形钢棒， 沿着销子轴线方向把负荷F施加在销子的两个圆弧形端头上。 逐渐增加负荷， 直到锁紧装置移动到连接位置。应连续进行三次从锁紧到连接位置的操作。对于每一次操作， 记录使锁紧装置从锁紧位置移动到连接位置的负荷F 。此后， 施加2 9 . 5 接收准则中所示的负荷 F m . x ， 不应出现锁紧销从窝中完全脱出的现象。2 9 . 5 操作试验接收准则 三次操作负荷值应在表3 所给出的F m n 和F - 、 之间， 如表3 示： 表3 锁紧销三次操作负荷值的范围fTz 11kf:F$T*A 16A_ 16$,20,24YJ650 N) ojj 2: Xf:FV*A 28 fQ 32,Fmr口 W ImFmj. / Fm.x /N N25 25025 250F-.Tj(XIT#T?W it 9 16 91 24,7 FAWiTAS,0 F.=100 N,F,x=650 N.3 0 温度循环试验3 0 . 1 瓷绝缘子串元件的试验程序 带有完整金属附件 （ 如果有的话） 的瓷绝缘子， 应不经过中间容器迅速而完全地浸人到温度 比试验用冷水高出 7 0 K的热水池 中， 并浸泡 T m ln免费标准网( w w w . f r e e b z . n e t ) 标准最全面免费标准网( w w w . f r e e b z . n e t ) 无需注册 即可下载 G B / T 1 9 4 4 3 -2 0 0 4 对于 A型绝缘子 ： T =( 1 5 十0 . 7 m) min ， 最长为 3 0 m i n ( 式 中 m为绝缘子质量， 以 k g 计） 。 对于B型绝缘子： T =1 5 min , 然后将它们取出（ 不经中间容器） 迅速而完全地浸入冷水池中， 浸泡相同的时间。此冷热循环应连续进行三次。从一个水池转放到另一个水池的时间应尽可能短， 不能超过3 0 s o 三次循环完成后， 应检查绝缘子有无裂纹 ， 然后进行下面的检验 。 对于A型绝缘子： 逐个进行8 0 规定机械破坏负荷的1 min机械负荷试验。 对于 B型绝缘子： 按 2 2 规定程序进行 1 mi n 的工频火花放电试验。3 0 . 2 厚剖面或特大型绝缘子的特殊试验程序 对特大型绝缘子或厚剖面绝缘子元件， 本标准3 0 . 1的规定可能太苛刻， 经双方协议可按温差5 0 K进行试验。当具有下列特征之一时， 被认为是特大型绝缘子或厚剖面绝缘子元件 ： L 1 2 0 0 m m, D 2 L 8 0 X1 0 6 m m 3 , d 9 0 m m, 0 2 5 mm. 其 中： L 绝缘子长度； D 最大外径； d 实心绝缘子杆径（ 图 E . 6 ) ; 0 - 最大厚度（ 图E . 6 ) ， 定义为通过绝缘子轴线的剖面轮廓能作出的最大内接圆直径。3 0 . 3 补充规定 a ) 温度循环试验用水池水量应足够大， 以使绝缘子的浸入不致引起水温的变化超过士5 K. b ) 禁止使用中间容器的限制并不排除使用具有低热容系数并能让水 自由进人的金属网篮。3 0 . 4 接收准则 绝缘子应经受本试验而没有裂纹、 击穿或机械破坏。 第1 0 . 3 的重复试验程序适用于本试验。3 1 热展试验引 1 试验程序 将 已用热空气或其他适当的方法加热到至少高出水温 1 0 0 K且温度 均匀的绝缘子 ， 迅速而完全地浸人温度不超过 5 0 的水中。 绝缘子在水中应至少保留2 min .引. 2 接收准则 绝缘子应能承受本试验而没有裂纹。 第 1 0 . 3的重复试验程序适用于本试验。3 2 孔隙性试验3 2 . 1 试验程序 从绝缘子上或经协议从靠近绝缘子烧成的样块上取下的瓷碎片， 浸人压力不小于1 5 X 1 0 N/ m “ 的1 的品红酒精溶液（ 1 0 0 g变性酒精中含 1g品红） 中， 并保持一段时间。时间（ 以h计） 与压力（ 以N / m 计） 的乘积不小于1 8 0 X 1 0 6 。然后从溶液中取出碎片， 洗净、 凉干再敲碎。3 2 . 2 接收准则 用肉眼检查新敲碎的表面不应有任何染料渗人。最初敲碎时出现颜色进人小裂纹的现象可以不考虑。 第 1 0 . 3 的重复试验程序适用于本试验。3 3 锌层试验 除非下面另有规定 ， J B / T 8 1 7 7 适用于本试验。 注： 经供需双方协商， 对过分粗糙加工造成的小面积锌层损坏可以进行修补， 但须使用专用低熔点锌合金焊条。 修免费标准网( w w w . f r e e b z . n e t ) 标准最全面免费标准网( w w w . f r e e b z . n e t ) 无需注册 即可下载G B / T 1 9 4 4 3 -2 0 0 4 补层的厚度至少应等于锌层的厚度， 允许修补面积不大于 4 0 m m 2 ， 并仅限于在未装配的金属附件的特殊局部 缺陷上进行。3 3 . 1 试验程序 除锌套（ 见3 6 ） 和锌环（ 当采用时， 见3 7 ） 的检查外， 金属附件在进行外观检查后接着用磁力试验法检测锌层的质量 。如对磁力法所得结果存有异议时， 应进行下列之一的仲裁试验： 对于铸件、 锻件和经协议的垫圈用称量法检验， 按J B / T 8 1 7 7 要求进行。 对于螺栓、 螺母及垫圈用显微镜法检验， 按J B / T 8 1 7 7 要求进行。 注： 经供需双方协议， 也可以采用其他试验方法， 例如硫酸铜浸演法或气体定量法进行试验。协议中应确定选择的 方法及其适用范围和通用试验条件。硫酸铜浸演法， 可以测量锌层的连续性。3 3 . 1 . 1 外观 部件应进行 目力检查 。3 3 . 1 . 2 用磁力试验法检测镀锌 试验应在 J B / T 8 1 7 7 所述条件下进行。对试品按其尺寸进行（( 3 - 1 0 ) 次测量 ， 这些测量应均匀而随机地分布于整个被测表面， 允许避开边缘和尖端处。 注： 磁力法测量锌层质量是非破坏性的， 它简单、 快速并有足够的精度 ， 而且适合于大多数的情况。因此， 该方法被 规定为基本试验方法。3 3 . 2 接收准则3 3 . 2 . 1 外观试验的接收准则 锌层应连续 、 尽可能均匀光滑（ 以免搬运时损伤） ， 并不含有对其规定用途有害的物质。 外露表面不允许有目 测可见的缺锌缺陷。 锌层应有足够的附着力， 能经受常规条件下的搬运而不起皮和剥落。 第1 0 . 3的重复试验程序适用于本试验。 注： 带有螺纹的部件应加工好螺纹后再镀锌。除非供需双方另有协议 ， 螺母等在镀锌后攻丝和防护。3 3 . 2 . 2 锌层质f值 的接收准则 由测量的算术平均值得 出的锌层质量值应不小于下面的规定值 。 除非当镀锌件使用在特别严酷的条件下， 由供需双方协议采用更高的值（ 例如任何单独的螺栓、 螺母和垫片的平均值为5 0 0 g / m 2 ) 。下列最小标准值是适用的； 镀锌层最小平均质量值 ： a ) 对铁和钢的铸件和锻件 全部样品为6 0 0 g / m 2 ， 任何单个样品为5 0 0 g / m 2 a b ） 对螺栓 、 螺母和垫片 全部样品为3 7 5 g / m ， 任何单个样品为3 0 0 g / m , 注： 对应于 6 0 0 , 5 0 0 , 3 7 5 , 3 0 0 g / m 2 样品的近似厚度分别为 8 5 , 7 0 , 5 4 , 4 3 tL m。然而， 如果全部样品的平均值合格， 而仅仅一个单个样品的平均值不合格， 应按 1 0 . 3的程序进行重复试验。如果各个单个样品合格， 而全部样品 的平均 值不 合格， 则 采用称量法或显微镜法 进行仲 裁试验（ 见3 3 . 1 ) ,3 4 逐个外观检查 应对每个绝缘子进行外观检查， 并按图样检查绝缘件上安装的金属附件。3 4 . 1 瓷绝缘子 绝缘子的釉色应接近于图样规定的颜色。釉色的某些变化是允许 的， 不能作为拒收此绝缘子的理由。这 同样适用于釉层较薄而釉色较淡的表面 ， 例如在小半径的边缘上。 图样上规定的上釉面应覆盖有光滑发亮而坚硬的釉， 釉面不应有裂纹和其他有损于良好运行特性的缺陷。 釉 的缺陷包括缺釉点 、 碎渣 、 釉 中杂质和针孔。免费标准网( w w w . f r e e b z . n e t ) 标准最全面免费标准网( w w w . f r e e b z . n e t ) 无需注册 即可下载 G B / T 1 9 4 4 3 -2 0 0 4 每个绝缘子元件的外观缺陷允许值（ 它适合于各种绝缘子） 规定如下： 每个绝缘子的釉缺陷总面积不应超过： ( 1 0 0 十D X F -2 0 0 0 ) m m 2 ; 任何单个釉缺陷的面积不应超过： ( 5 0 + DX F - 2 0 0 0 0 ) m m 2 . 式 中： D, F分别为绝缘子的最大直径和爬 电距离， 单位均为 mm. 实心长棒形绝缘子杆体上不允许有釉缺陷。 伞裙釉层杂质（ 例如上伞部钵屑） 总面积不应超过 2 5 mm ， 单个杂质不应凸出釉面 2 mm以上。杂质堆积物（ 如沙粒） 可作为单个的釉缺陷， 其包容面的面积应计人釉缺陷总面积之内。 釉面直径小于 1 m m的极小针孔 （ 如在上釉过程 中由于灰尘颗粒造成的） 不包括在釉缺陷总面积内。然而， 在任何一个 5 0 m m X 1 0 m m的面积里， 针孔的数量应不超过 1 5 个。另外， 绝缘子元件上针孔的总数应不超过 ： ( 5 0 +DX F -1 5 0 0 ) 个 ， 式中 D和 F见上面定义 。3 4 . 2 玻瑞绝缘子 绝缘件上不应有折痕、 气孔等损害良 好运行性能的表面缺陷， 玻璃体中不能有直径大于5 m m的气泡。3 5 逐个机械试验 A型绝缘子串元件应经受8 0 规定机械破坏负荷的拉伸负荷至少1 m i n , B型绝缘子串元件应经受5 0 规定机电破坏负荷的拉伸负荷至少3 s o 试验时， 绝缘子破坏或金属附件破裂或分离的应该报废。 注： 对某些瓷材料绝缘子， 逐个机械试验后 ， 可使用超声波探伤检查其内部缺陷。3 6 锌套试验3 6 . 1 锌套的一般要求 锌套应采用纯度不低于 ”. 8 的锌制造 。锌套 的熔合 面积至少应是锌套与钢脚 间界面面积 的8 0 %， 锌套外露部分的重量应至少为5s ， 外露尺寸大约是总长度的5 0 %3 6 . 2 型式试验程序 制造厂应提供制造锌套用锌的纯度证明。 应对绝缘子施加等于6 5 规定机械（ 电） 破坏负荷的拉伸负荷并保持1 m i n 。然后卸除负荷， 拆下钢脚， 检查锌套有无裂纹。 如果施加负荷后， 锌套没有出现放射状裂纹或在锌套与钢脚间界面上没有环形裂缝， 则该加锌套的钢脚合格 。 然后使钢脚承受拉伸负荷直到破坏， 检查熔合面， 其面积应不小于锌套与钢脚间界面面积的8 0 %（ 熔合面黯淡， 不反光） 。3 6 . 3 抽样试验程序 制造厂应提供制造锌套用锌的纯度证明。 被试钢脚的数量应为 E ， 样本的一半， 钢脚可以取 自 做过机械（ 电） 破坏负荷抽样试验的绝缘子。 锌套外露部分的重量应大于5 9 。 金属熔合的质量可以通过从钢脚上剥离锌套来确定 。通过加在钢脚上的极限强度负荷 ， 可以方便地将锌套从钢脚上剥离。 应检查熔合表面， 其面积应不小于锌套与钢脚间界面面积的8 0 （ 熔合面黯淡， 不反光） 。3 7 锌环试验3 7 . 1 锌环的一般要求 锌环应采用纯度不低于 ”. 8 的锌制造， 其熔合面积应不小于环帽衔接部分的 8 0 ， 锌环重量应至少为5 g 并位于帽口周围。免费标准网( w w w . f r e e b z . n e t ) 标准最全面免费标准网( w w w . f r e e b z . n e t ) 无需注册 即可下载G B / T 1 9 4 4 3 -2 0 0 43 7 . 2 型式和抽样试验程序 制造厂应提供制造锌环用锌的纯度证明。 锌环与帽之间的外侧结合面应经受 目力检查。锌环在整个帽口四周应呈现出一圆弧形的良好贴边（ 通常是斜起的弯月面） 。 注： 规定一个量化锌环熔合面积的再现性试验方法是不可能的。上面目 力检查已证明是可靠的代用方法。 可以通过尺寸计算来核实锌环的重量。 第六节绝缘子串元件试验3 8总则 下列试验适用于绝缘子串元件。某些试验仅适用于某些类型和材料； 确定适用于被试绝缘子的试验项目见表4和表5 。每个方框内第一行的数字代表每项试验应提交的绝缘子数量。代号E , , E 2 , 凡对应于1 0 . 2 表 1 的样本数。每个方框内第二行指出了该项试验在本标准中相应的章条。 适用的机械型式试验和尺寸检查如参照表（ 表 4和表 5 ) 中所示， 对于给定 的绝缘子或等 同设计的绝缘子（ 详见 8 . 1 ) 仅进行一次 。 适用的抽样试验按参照表中给出的样本E , , E ： 或凡 进行， 这些样本的大小按 1 0 . 2 表 1 确定。抽样试验的试验次序应按表中规定进行。然而， 在进行了两个样本都要做的试验之后， 在其他样本进行试验前， 仅使用样本 E , ( E ： 或 凡 ） 进行试验是可以的。 适用的逐个试验应在供货的每一个绝缘子上进行 。 表 4 盘形悬式绝缘子参照表一免费标准网( w w w . f r e e b z . n e t ) 标准最全面免费标准网( w w w . f r e e b z . n e t ) 无需注册 即可下载 G B T 1 9 4 4 3 -2 0 0 4 表 4 （ 续）于免费标准网( w w w . f r e e b z . n e t ) 标准最全面免费标准网( w w w . f r e e b z . n e t ) 无需注册 即可下载G B / T 1 9 4 4 3 -2 0 0 4 表 5 长棒形绝缘子参照表#14 A #1t31Avi A B10 10R 4$?&1x1 1 J-Z 1SS0 1 :.I 1SS0. 14,13 -.-1 1t2.3 I A ,1 5Kga41tMY14 - 24,24. 2 -5VL*194A