《ACSM单板及编程》PPT课件.ppt

MakeTestingMoreValuable,AccoTEST硬件单板及编程-ACSM_PLUS,ACSM_PLUS,特性,ACS:每模块四通道输出（共享同一交直流信号产生单元）可输出交流信号：正弦波、方波、三角波和锯齿波正弦波输出THD可达-80dB（Vpp=10V，Freq=1.0KHz）ACM:每模块四路交流表（共享同一路AD）高阻抗差分输入低速测试模式200KHz16Bits高速测试模式10MHz12Bits可测量DC、RMS、THD、SNR、SINAD等参数THD测量可达-85dB（正弦波Vpp=10V，Freq=1.0KHz）工作模式支持4工位并行测试支持乒乓（StationA/StationB）测试,技术指标,ACSM_PLUS,原理框图,ACSM_PLUS,外观结构及地址开关,ACSM_PLUS,与测试盒连接,ACSM_PLUS,工位绑定,注意：因ACSM_PLUS的四通道输出共享同一交直流信号产生单元，因此：1.单工位配置时：ACS_CH0、ACS_CH1、ACS_CH2、ACS_CH3需串行使用；2.双工位配置时：ACS_CH0、ACS_CH1需串行使用；ACS_CH2、ACS_CH3需串行使用。,ACSM_PLUS(BYTEchannel),ACSM_PLUS(),ExampleACSM_PLUSacsm0(0);/Logicalchannel0StsSetModuleToSite(MD_ACSMPLUS,SITE_1,0,-1);/setchannel0toSITE1StsSetModuleToSite(MD_ACSMPLUS,SITE_2,1,-1);/setchannel1toSITE2StsSetModuleToSite(MD_ACSMPLUS,SITE_3,2,-1);/setchannel2toSITE3StsSetModuleToSite(MD_ACSMPLUS,SITE_4,3,-1);/setchannel3toSITE4,ParameterschannelACSM_PLUS逻辑通道号。范围03。,Remarks定义一路ACSM_PLUS通道，并指定使用的逻辑通道号。,voidInit(),Init(),Exampleacsm0.Init();/初始化ACSM_PLUS模块,Remarks初始化ACSM_PLUS模块。所有输入输出继电器断开，ACS部分的RAM和ACM部分的RAM内部数据保持不变，不做清零处理。DDS部分复位；参考电压归零，FPGA内部模块控制数据复位。,voidACSDutConnect(void),ACSDutConnect(),Exampleacsm0.ACSDutConnect();/闭合ACS部分输出继电器,Remarks闭合ACS部分输出至用户DUT板的继电器。,ACS,voidACSDutDisConnect),ACSDutDisConnect(),Exampleacsm0.ACSDutDisConnect();/断开ACS部分输出继电器,Remarks断开ACS部分输出至用户DUT板的继电器。,voidEnableACS(void),EnableACS(),Exampleacsm0.EnableACS();/启动ACS部分的信号输出,Remarks启动ACS部分的信号输出。,ACS,voidDisableACS),DisableACS(),Exampleacsm0.DisableACS();/停止ACS部分的信号输出,Remarks停止ACS部分的信号输出。,intACSConfig(intwavetype,doublewavefreq,doublewavevpp,doublewaveoffsetv,intwavefilter),ACSConfig(),Exampleacsm0.ACSDutConnect();/接通acsm0输出继电器acsm0.ACSConfig(SINE_WAVE,10,8.0,2.0,ACS_FILTER_OFF);acsm0.EnableACS();,Remarks配置ACS部分输出正弦波、方波、三角波或直流电平。注意：当输出波形选择DC_WAVE直流电平输出时，只有偏置电压waveoffsetv有效，即输出直流电平值。,ACS,ParameterswavetypeSINE_WAVE正弦波（缺省）SQUARE_WAVE方波TRI_WAVE三角波DC_WAVE直流电平Wavefreq输出波形频率，单位：KHz，范围：0.05KHz200KHzWavevpp输出波形峰峰值，单位：V，范围：0.0V+20.0Vwaveoffsetv输出波形偏置电压，单位：V，范围：-10.0V+10.0VWavefilterACS_FILTER_OFF不选择低通滤波器ACS_FILTER_100K选择100KHz低通滤波器ACS_FILTER_200K选择200KHz低通滤波器ACS_FILTER_10M选择10MHz低通滤波器,intACSSineConfig(doublewavefreq,doublewavevpp,doublewaveoffsetv,intwavefilter),ACSSineConfig(),Exampleacsm0.ACSDutConnect();/接通acsm0输出继电器acsm0.ACSSineConfig(10.0,8.0,2.0,ACS_FILTER_OFF);acsm0.EnableACS();,Remarks配置ACS部分输出正弦波。,ACS,Parameterswavefreq输出正弦波频率，单位：KHz，范围：0.05KHz200KHzwavevpp输出正弦波峰峰值，单位：V，范围：0.0V+20.0Vwaveoffsetv输出正弦波偏置电压，单位：V，范围：-10.0V+10.0VWavefilterACS_FILTER_OFF不选择低通滤波器ACS_FILTER_100K选择100KHz低通滤波器ACS_FILTER_200K选择200KHz低通滤波器ACS_FILTER_10M选择10MHz低通滤波器,intACSTriangleConfig(doublewavefreq,doublewavevpp,doublewaveoffsetv,inttritype),ACSTriangleConfig(),Exampleacsm0.ACSDutConnect();/接通acsm0输出继电器acsm0.ACSTriangleConfig(10.0,8.0,2.0,NORMAL_TRI);acsm0.EnableACS();,Remarks配置ACS部分输出三角波。,ACS,Parameterswavefreq输出三角波频率，单位：KHz，范围：0.05KHz200KHzwavevpp输出三角波峰峰值，单位：V，范围：0.0V+20.0Vwaveoffsetv输出三角波偏置电压，单位：V，范围：-10.0V+10.0Vtritype输出三角波类型选择：NORMAL_TRI标准三角波UP_TRI正向锯齿波DOWN_TRI负向锯齿波,intACSSquareConfig(doublewavefreq,doublewavevpp,doublewaveoffsetv,doublewaveduty);,ACSSquareConfig(),Exampleacsm0.ACSDutConnect();/接通acsm0输出继电器acsm0.ACSSquareConfig(10.0,4.0,2.0,0.5);acsm0.EnableACS();,Remarks配置ACS部分输出方波。,ACS,ParametersWavefreq输出方波频率，单位：KHz，范围：0.05KHz200KHzwavevpp输出方波峰峰值，单位：V，范围：0.0V+20.0Vwaveoffsetv输出方波偏置电压，单位：V，范围：-10.0V+10.0Vwaveduty输出方波占空比，范围：0.01.0(0.0%100%),intACMLMeaDutDC(inttestvrange,double*buf),ACMLMeaDutDC(),Exampledoubleadresult4=0.0;acsm0.ACMLMeaDutDC(LADC_VR_5V,adresult);,RemarksACM低速LADC测量模式下，测量用户DUT板直流信号，测量结果为直流电平。低速LADC测量是利用16位200KHz的ADC芯片进行采样，采样点数固定为100点。,ACM_LADC,ParametersTestvrangeLADC_VR_10V,LADC_VR_5V,LADC_VR_2V,LADC_VR_1V,LADC_VR_20V,LADC_VR_50V,LADC_VR_100V*bufACM低速LADC测量模式下，测量结果存放首地址。buf是double类型数组首地址，buf4。,intACMLMeaDutAC(inttestvrange,inttestcouple,intsamplenum,double*buf),ACMLMeaDutAC(),Exampledoubleadresult4=0.0;acsm0.ACMLMeaDutAC(LADC_VR_5V,DC_COUPLE,2048,adresult);RMS-SetTestResult(0,0,adresult0);,RemarksACM低速LADC测量模式下，测量用户DUT板的交流信号，测量结果为有效值。低速LADC测量是利用16位200KHz的ADC芯片进行采样。最好采样被测信号的整周期。,ACM_LADC,ParametersTestvrangeLADC_VR_10V,LADC_VR_5V,LADC_VR_2V,LADC_VR_1V,LADC_VR_20V,LADC_VR_50V,LADC_VR_100VTestcoupleDC_COUPLE：选择直流耦合（缺省）AC_COUPLE：选择交流耦合samplenumACM低速LADC测量模式下，测量采样点数，范围：1060000。*bufACM低速LADC测量模式下，测量结果存放首地址。buf是double类型数组首地址，buf4。,intACMLMeaDutData(inttestvrange,inttestcouple,intsamplenum,double*buf),ACMLMeaDutData(),ACM_LADC,ParametersTestvrangeLADC_VR_10V,LADC_VR_5V,LADC_VR_2V,LADC_VR_1V,LADC_VR_20V,LADC_VR_50V,LADC_VR_100VTestcoupleDC_COUPLE：选择直流耦合（缺省）AC_COUPLE：选择交流耦合samplenumACM低速LADC测量模式下，测量采样点数，范围：1060000。*bufACM低速LADC测量模式下，存放数据结果的数组，由用户定义，如：doubleresult2048=0.0;注意：1.Buf数组长度需不小于samplenum的值，否则可能会发生不可预期的错误。2.建议把该数组定义成全局变量。,RemarksACM低速LADC测量模式下，测量用户DUT板信号，返回所有测量的时域数据。低速LADC测量是利用16位200KHz的ADC芯片进行采样。,ACMLMeaDutData(),Exampledoubleresult2048=0.0;acsm0.ACMLMeaDutData(LADC_VR_5V,DC_COUPLE,2048,result);,注意：由于返回的是所有测量数据，因此根据采样点数，数组buf的空间应足够大，四工位的数据都将置于buf数组中。例如，采样点数为1000，四工位测试，则buf定义buf4000。单工位测试，采样数据置于buf0buf999，其他无效。双工位测试，第一工位采样数据置于buf0buf999，第二工位采样数据置于buf1000buf1999，其他无效。四工位测试，第一工位采样数据置于buf0buf999，第二工位采样数据置于buf1000buf1999，第三工位采样数据置于buf2000buf2999，第四工位采样数据置于buf3000buf3999，其他无效。,ACM_LADC,intACMLMeaDutTHD(inttestvrange,inttestcouple,intsamplenum,intharmnum,intharmtype,double*buf),ACMLMeaDutTHD(),Exampledoubleadresult4=0.0;acsm0.ACMLMeaDutTHD(LADC_VR_5V,DC_COUPLE,2048,20,TOTAL_HARM,adresult);/lowspeedmode,sample=2048,20harmonic,readTHDTHD-SetTestResult(0,0,adresult0);,RemarksACM低速LADC测量模式下，测量用户DUT板正弦波交流信号总谐波失真度。低速LADC测量是利用16位200KHz的ADC芯片进行采样。,ACM_LADC,ParametersTestvrangeLADC_VR_10V,LADC_VR_5V,LADC_VR_2V,LADC_VR_1V,LADC_VR_20V,LADC_VR_50V,LADC_VR_100VTestcoupleDC_COUPLE：选择直流耦合（缺省）AC_COUPLE：选择交流耦合SamplenumACM低速LADC测量模式下，测量采样点数，范围：1060000harmnumACM低速LADC测量模式下，测量谐波次数，范围：250HarmtypeTOTAL_HARM：总谐波（缺省）ODD_HARM：奇次谐波EVEN_HARM：偶次谐波*bufACM低速LADC测量模式下，测量结果存放首地址。buf是double类型数组首地址，buf4。,intACMGetFFTResult(intTestVRange,intTestCouple,intSampleNum,double*buf);,ACMGetFFTResult(),RemarksACM低速LADC测量模式下，测量用户DUT板交流信号，测量结果为FFT变换值。低速LADC测量是利用16位200KHz的ADC芯片进行采样。最好采样被测信号的整周期。,ACM_LADC,ParametersTestvrangeLADC_VR_10V,LADC_VR_5V,LADC_VR_2V,LADC_VR_1V,LADC_VR_20V,LADC_VR_50V,LADC_VR_100VTestcoupleDC_COUPLE：选择直流耦合（缺省）AC_COUPLE：选择交流耦合samplenumACM低速LADC测量模式下，测量采样点数，范围：1060000*bufACM低速LADC测量模式下，存放FFT变换结果的数组，由用户定义，如：doublefft_result2048=0.0;注意：1.Buf数组长度需不小于samplenum的值，否则可能会发生不可预期的错误。2.建议把该数组定义成全局变量。,Note:因ACM的四个通道共享一路AD，因此当多工位测试时，所有工位的测试数据都将保存到buf数组中。因此buf数组的空间应该大于等于“工位数*采样点数”。例如，采样点数为1024，四工位测试，则buf需定义为buf4096。其中：Site1的采样数据置于buf0buf1023；Site2的采样数据置于buf1024buf2047；Site3的采样数据置于buf2048buf3071；Site4的采样数据置于buf3072buf4095；,ACM_LADC,ACMGetFFTResult(),Exampledoublefft_result2048=0.0;acsm0.ACMGetFFTResult(LADC_VR_5V,DC_COUPLE,2048,fft_result);,intACMGetFFTDataBlackmanHarris(intTestVRange,intTestCouple,intSampleNum);,ACMGetFFTDataBlackmanHarris(),RemarksACM低速LADC测量模式下，加窗测量用户DUT板交流信号。与函数ACMGetFFTResultBlackmanHarris（）配合使用。,ACM_LADC,ParametersTestvrangeLADC_VR_10V,LADC_VR_5V,LADC_VR_2V,LADC_VR_1V,LADC_VR_20V,LADC_VR_50V,LADC_VR_100VTestcoupleDC_COUPLE：选择直流耦合（缺省）AC_COUPLE：选择交流耦合samplenumACM低速LADC测量模式下，测量采样点数，范围：1060000,intACMGetFFTResultBlackmanHarris(intTestVRange,intTestCouple,intSampleNum,double*level10,double*window,double*buf);,ACMGetFFTResultBlackmanHarris(),RemarksACM低速LADC测量模式下，测量用户DUT板交流信号。测量结果为加窗后FFT变换值以及平均值。与函数ACMGetFFTResultBlackmanHarris（）配合使用。,ACM_LADC,ParametersTestvrangeLADC_VR_10V,LADC_VR_5V,LADC_VR_2V,LADC_VR_1V,LADC_VR_20V,LADC_VR_50V,LADC_VR_100VTestcoupleDC_COUPLE：选择直流耦合（缺省）AC_COUPLE：选择交流耦合samplenumACM低速LADC测量模式下，测量采样点数，范围：1060000*level10ACM低速LADC测量模式下，测量信号平均值存放首地址。level10是double类型数组首地址。*windowACM低速LADC测量模式下，由用户输入窗函数数据存放首地址。窗函数需用户定义。如：doublebhwin2048=0.0;注意：1.window数组长度需不小于samplenum的值，否则可能会发生不可预期的错误。2.建议把该数组定义成全局变量。,ACMGetFFTResultBlackmanHarris(),Exampledoublelevel4=0.0;doublebhwin2048=0.0;doubleresult2048=0.0;/用户生成窗函数数据doubleq;for(inti=0;iSetTestResult(0,0,adresult0);,RemarksACM高速HADC测量模式下，测量用户DUT板交流信号，测量结果为有效值。高速HADC测量是利用12位10MHz的ADC芯片进行采样。最好采样被测信号的整周期。,ACM_HADC,ParametersTestvrangeLADC_VR_10V,LADC_VR_5V,LADC_VR_2V,LADC_VR_1V,LADC_VR_20V,LADC_VR_50V,LADC_VR_100VTestcoupleDC_COUPLE：选择直流耦合（缺省）AC_COUPLE：选择交流耦合samplenumACM高速HADC测量模式下，测量采样点数，范围：1060000*bufACM高速HADC测量模式下，测量结果存放首地址。buf是double类型数组首地址，buf4。,intACMHMeaDutData(intTestVRange,intTestCouple,intSampleNum,double*buf);,ACMHMeaDutData(),ACM_HADC,ParametersTestvrangeLADC_VR_10V,LADC_VR_5V,LADC_VR_2V,LADC_VR_1V,LADC_VR_20V,LADC_VR_50V,LADC_VR_100VTestcoupleDC_COUPLE：选择直流耦合（缺省）AC_COUPLE：选择交流耦合SamplenumACM高速HADC测量模式下，测量采样点数，范围：1060000*bufACM高速HADC测量模式下，测量所有数据存放首地址。buf是double类型数组首地址，定义为全局变量。,RemarksACM高速HADC测量模式下，测量用户DUT板信号，测量返回所有测量数据。高速HADC测量是利用12位10MHz的ADC芯片进行采样。,Example:doubleresult20000=0.0;acsm0.ACMHMeaDutData(LADC_VR_5V,DC_COUPLE,20000,result);,ACMHMeaDutData(),ACM_HADC,注意：由于返回的是所有测量数据，因此根据采样点数，数组buf的空间应足够大，四工位的数据都将置于buf数组中。例如，采样点数为10000，四工位测试，则buf定义buf40000。单工位测试，采样数据置于buf0buf9999，其他无效。双工位测试，第一工位采样数据置于buf0buf9999，第二工位采样数据置于buf10000buf19999，其他无效。四工位测试，第一工位采样数据置于buf0buf9999，第二工位采样数据置于buf10000buf19999，第三工位采样数据置于buf20000buf29999，第四工位采样数据置于buf30000buf39999，其他无效。,ProgrammingReviews(1)-ACS信号输出,正弦波输出：acsm0.ACSDutConnect();/接通acsm0输出继电器delay_ms(1);acsm0.ACSSineConfig(10.0,8.0,2.0,ACS_FILTER_OFF);/配置acsm0输出Fosc=10.0KHz，Vpp=8V，Dcoffset=2V的正弦信号,不使用ACS板内滤波器acsm0.EnableACS();delay_ms(1);,ProgrammingReviews(1)-ACS信号输出,三角波输出：acsm0.ACSDutConnect();/接通acsm0输出继电器delay_ms(1);acsm0.ACSTriangleConfig(10.0,8.0,2.0,NORMAL_TRI);/配置acsm0输出Fosc=10.0KHz，Vpp=8V，Dcoffset=2V的三角波信号acsm0.EnableACS();delay_ms(1);,ProgrammingReviews(1)-ACS信号输出,方波输出：acsm0.ACSDutConnect();/接通acsm0输出继电器delay_ms(1);acsm0.ACSSquareConfig(10.0,4.0,2.0,0.5);/配置acsm0输出Fosc=10.0KHz，Vpp=4V，Dcoffset=2V，占空比50%的方波信号acsm0.EnableACS();delay_ms(1);,时域图,正常波形时域图,失真波形时域图,在时域波形上可以对波形的频率、波形峰峰值进行分析，得出准确的测试值。,频域图,正常波形频域图,失真波形频域图,在频域波形上可以对波形的SINAD、SNR、THD进行定量的分析。,RMS,THD,SNR,SINAD定义,RMS：有效值RMS也称为均方根值。正弦量的有效值等于其幅值的倍。,THD：THD定义为总谐波失真，指谐波信号与有用信号功率之比，通常用dB表示。将1KHz信号作用到输入端，THD是在2KHz、3KHz、4KHz等整数频点的输出与1KHz频点输出能量的比。,SNR：信噪比。即有用信号与噪声信号功率之比，数值越大，效果越好。通常用dB表示。,SINAD：总谐波失真+信噪比。即有用信号与（噪声信号+谐波信号）功率之比。通常用dB表示。,注意：1.测量RMS，THD，SNR，SINAD时，最好采样被测信号的整周期。2.为快速傅里叶变换(FFT)，采样点数必须是2的整数幂。测量THD，SNR，SINAD时最好采样被测信号的整周期，因此要求输入信号的周期也是2的整数幂。如果条件输入频率f=1KHz，则频率需调整为f=（1000/1024）KHz=0.9765625KHz。如果条件输入频率f=2KHz，则频率需调整为f=（2000/1024）KHz=1.953125KHz。3.测试THD,SNR,SINAD采样点数计算方法：若在200KHz下采样，则采样间隔为5us，对于输入信号1KHz(周期1ms)的信号来说，采样一个周期所需点数为1ms/5us=200，对于THD，SNR，SINAD来说，一般需采样几个整周期，且采样点数为2的整数幂。建议采样5个周期（1024点）或者10个周期(2048点)。,ProgrammingReviews(2)-RMS测试,doubleadresult4=0.0;intsiteID=0;/sinewaveoutput：acsm0.ACSDutConnect