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文档简介

由UV-vis光谱求样品的Eg,一半导体禁带求导公式,通常(ahv)是有单位的，(eV)1/2.cm-1/2或(eV)1/2.cm-1/2。由上述公式可知，（ahv）1/2和(ahv)2只与hv成线性关系，能用于估算Eg。由朗伯-比尔定律知，A=abc，a是吸光系数，b是比色皿或者薄膜样品厚度，c是浓度。b，c是固定值，a=A/bc=A/K。禁带公式可写成如下形式：,K值的大小对Eg没有影响，以hv为横坐标，以或为纵坐标，作图，再做切线，即可得到Eg。hv用1024/波长代替。前者为直接半导体禁带宽度值，后者为间接半导体禁带宽度值。A(Absorbance)即为紫外可见漫反射中的吸光度。,Kubelka-Munk公式,A=-lg(R)（1）F(r)=(1-R)2/2R=a/s（2）R为反射率,a吸收系数，s反射系数求禁带宽度：利用第一个公式求每个吸光度对应的R，用E1240/波长，做横坐标，利用第二个公式求F（R），再用做纵坐标，做图，再做切线，即得带隙图谱,二求半导体禁带实例,将紫外可见分光漫反射数据导入到excell，然后进行数据处理，下面用第一个公式进行数据处理：,下面用Kubelka-Munk公式处理：,三关于K值大小对结果的影响,同一组数据在不同的处理方法下得到的Eg.以下也是这一组数据的处理,由上图可
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