MOS晶体管基本特性表征.ppt_第1页
MOS晶体管基本特性表征.ppt_第2页
MOS晶体管基本特性表征.ppt_第3页
MOS晶体管基本特性表征.ppt_第4页
MOS晶体管基本特性表征.ppt_第5页
已阅读5页，还剩15页未读， 继续免费阅读

下载本文档

版权说明：本文档由用户提供并上传，收益归属内容提供方，若内容存在侵权，请进行举报或认领

文档简介

MOSFETBasicCharacterization(MOS晶体管基本特性表征),WenyuGao2008/04/18,MOSFET的特性曲线与特征参数短沟效应(SCEmajority-carrier(多子),minority-carrier(少子).Accumulation(积累),depletion(耗尽),inversion(反型)。,N+poly,PW,e,e,e,+,h,h,h,NMOSFET,NMOSCapacitor,C-V特性曲线-cont1,Poly等效厚度与其掺杂浓度有关，一般Lmin器件便于电路设计；机理是Pocket注入和B横向扩散。SCEVth随沟道缩短而变小；机理是SDEpn结自建电场引起的耗尽层；SDE越深，SCE越严重；一般要求Vth(Lrule-1)/Vth(Lrule)90%。,CDctrl与短沟效应,SCE越小、CDctrl越好，Lg(nom)就可以越小，Idsat就可以更大。练习：一个产品的电路设计时器件尺寸选在Lg(nom)(绿园圈所示),红线工艺和黑线工艺比较，CDctrl一定，产品有何优点？蓝线工艺和红线工艺比较，CDctrl一定，产品有何优点？,Ioff限定时:Lg(nom)=Lg(min)+CDctrl,MOSFET的特性曲线与特征参数短沟效应(SCEDoublehump在衬底加压和高温下更加明显。
人人文库> 全部分类> 教育资料 > 课件下载

温馨提示

  • 1. 本站所有资源如无特殊说明，都需要本地电脑安装OFFICE2007和PDF阅读器。图纸软件为CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.压缩文件请下载最新的WinRAR软件解压。
  • 2. 本站的文档不包含任何第三方提供的附件图纸等，如果需要附件，请联系上传者。文件的所有权益归上传用户所有。
  • 3. 本站RAR压缩包中若带图纸，网页内容里面会有图纸预览，若没有图纸预览就没有图纸。
  • 4. 未经权益所有人同意不得将文件中的内容挪作商业或盈利用途。
  • 5. 人人文库网仅提供信息存储空间，仅对用户上传内容的表现方式做保护处理，对用户上传分享的文档内容本身不做任何修改或编辑，并不能对任何下载内容负责。
  • 6. 下载文件中如有侵权或不适当内容，请与我们联系，我们立即纠正。
  • 7. 本站不保证下载资源的准确性、安全性和完整性, 同时也不承担用户因使用这些下载资源对自己和他人造成任何形式的伤害或损失。

最新文档

评论

0/150

提交评论