GB11209-89磁性橡胶磁性能的测定方法(pdf 6页)

中华人民共和国国家标准磁性橡胶磁性能的测定方法Gs 1 1 2 0 9 一8 9Ma g n e t i c r u b b e r -D e t e r mi n a t i o nm e t h o d o f ma g n e t i c p r o p e r t i e s1 主题内容与适用范围 本标准规定了在闭合磁路中测i ii 永磁性橡胶的剩磁、矫顽力、最大磁能积等磁性能的侧定方法。 本标准适用于各向同性的永磁性橡胶磁性能的测定;也适用于各向同性的水磁性橡塑材料磁性能的侧定。 注:对磁性像胶制品在常温及经高、低温处理后表面磁通密度的测定方法见附录4 02 引用标准G B 2 9 4 1 橡胶试样停放和试验的标准温度、 湿度及时间3 术语3 . 1 剩磁 ( B, ) 在所绘退磁曲线上 对应磁场强度H=。 这 一 点的 磁通密度值，单位Wb , m l 韦伯 / 平方米) 。3 . 2 矫顽) ( Hc B ) 在所绘退磁曲线上 对应 磁通密度B二0 这一 点的磁场强度值，单位k A / m( 千 安培/ 米) 。3 . 3 最大磁能积 ( B H) 。 二 二 退磁曲线上 各点相应的B 和H乘积 ， 最大值，单位k J m ( 千 焦耳/ 立方米) 。4 方法提要 首先用磁化装置将永磁性橡胶进行磁化， 通过绕在试样上 的测U 线圈和电f - 积分器、 磁场探测器以及 磁性能侧试有关 仪器等组成的测试装置，并由记录装置 描绘出 饱和磁滞回线， 求得剩磁矫顽力，最大磁能积值。5 仪器 磁性能测试仪器卞要由磁化装置、磁性能测试装置和记录装置组成 ( 见图1 ) 。5 . 1 磁化装置由磁辆极头、 磁化绕组和磁化电源组成。5 . 1 . 1 磁辆与极头应由矫顽力不大于I O O A ; m的软磁材料制成，其结构应对称。为 减小磁通密度迅速变化而产生的A流，最好用迭片铁心制成，极头间距离在一 定范围内 连续可ilk . 极面应平 整， 光 洁度不 低于 3 .2d， 两 极 面 应 平 行 并 与 磁 场 方 向 垂 直 。5 . 1 . 25. 1 . 3磁化绕组应尽量靠近试样并互相对称，磁化电源应具有足够的容址;在测量时其轴线与 极头 轴线一致。，磁化电流的变化速度每分 钟不超过0 . 1 06 0其洲肯 杭构应能在筷个测a范围内连续而平稳地改变磁场。5 . 1 . 4 磁化装置应能使试 样磁化到饱和的磁化场 ( E l m a x ) 其场必须人f 8 0 0 k A mo5 . 2 磁性能测试装置:由紧绕于试样上 的B 测4i : 线 圈和与其 连接的感应电压积分器、 冲击脸f i 卜 、 份场探测器及相应的测a 仪器等组成。中华人民共和国化学工业部1 9 8 9 一 0 2 - 1 0 批准， 9 9 0一 o f - 0 1 实施GB 1 1 2 0 9 一 .3 1 ; .5 . 2 . 1 B测嗽线圈是由氏径为必0 . 1 5 M m左右的漆包线或纱包线制成。5 . 2 . 2 磁场探测器是用扁平 线圈、 磁位计或霍尔 探头配合相应仪器组成。其总的测U 误差不应超过士2%。5 . 3 记录装置:能同时记录磁通密度和磁场强度的变化值， 绘出退磁曲线。其U程可调， 在记录范围内有很好的线性关系。磁化摘，盛性能测试致，记录装理图 1 磁性能测试仪结构不意图1 一磁化绕组:2 一磁场探测器3 一磁骊:4 一试样.5 一R测缝绕圈卜 极头试样 试样为矩形或圆形截面的柱体，并满足以F 公式:Dy2 . 0 L ， ， 。 。 ， 。 ( 1 )式中:D 试样的圆形截面直径或矩形截面的最长边长，C M; L 试样的长度 ( 厚度) ，c m。 但试样的长 度 ( 厚度) 应在。 . 8 一工 ， O c m a6 . 2 试样必须保证为各向同 性的磁性橡胶或橡塑材料，并保证试样的密实程度均匀一致。6 . 3 试样表面应清洁光滑， 无疵点，无杂质， 无气泡。6 . 4 试样两 端面间的平行度以及与试样轴线的垂直度应小于 0 . 2 %,6 . 5 试样停放的标准温度、 湿度及制样后至试脸之间的时间间隔均按GB 2 9 4 1 中的有关规定执行。7 试验步骤了1 试样磁化的准备7 . 1 . 1 将B测徽线圈均匀单层地紧绕于试样中部，与试样两端面对称。缠绕匝数按经验公式求出: ， . S 、 。 ( I C 县 N 变 化 率( % ) “ 一 几 石 甲 = x 1 0 0 ” ” “ “ “ ” ” ” “ “ “ ” “ “ ” 1 toB, 常温测得试样上三点表面磁通密度平均值;B Z 持续高温处理后对应三 点表面磁通密度平 均值。持续低温处理 后表面磁通密度的测定 O FT- i 0 ; I 9 0 箱的有X I_ 作空间与每批试样的体积之比不应小于五 倍，箱内风速1 一2 m s oA 3 . 2 将试样经过常温条件下测得表面磁通密度较强的值选三点并标出，再取加和平均值B , p置于低温试验箱内，使试样任一表面和相对的箱壁之间最小距离应不小于l o a n， 以。 . 7 一1 C i r r速度把箱温下降至一 2 5 12 C ，此时开始计时，保温持续时间可根据用户 对制品要求而 选定4 8 h2 0 0 h , 2 4 0 h , 3 6 0 h 等。当到达规定时M后， 把箱温以0 . 7 一1 C m i n 的速度回升全1 5 C 。关 1 L f试 样，在室温条件下恢复6 h 后，用毫特斯拉计按A 1 . 1 方法测量在低温处理后原先所标出的对从的表面磁通密度加和平均值B Z oA 3 . 3 除得出持续低温处理后表面磁通密度值外计算:， 并可比较与常温时磁性能的变化率。 可 按公式( A 2 )变化率 ( % )_B l 一 B 2 Blx 1 0 0 . ， . . . . . ( A 2 )式中:B, -常温 测得试样上三