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文档简介

利用TFC求膜层的N与K图文教程1 首先利用晶控控制沉积单层膜，厚度约47个1/4个中心波长，这里假设在K9基底上沉积单层ZnS薄膜，晶控显示厚度390nm；2 然后利用分光光度计测量单层膜的反射率或透射率，测量范围最好宽些，这里测量4001500nm，利用list选项导出所测量数据，并保存为TXT格式，这里命名ZnS.TXT,如图所示：3. 打开TFC，选择modifymaterials4继续选择Add Material,填写材料名称，选择合适的N与K的拟合公式，这里选择Cauchy与Sellmeier公式，如果不合适，可试选别的公式，点OK结束。5试填写A0与B1等各系数，以后熟练可凭经验填写，点击Fit Data选项结束此步。/ M+ p& V3 z- f) A6根据实际情况填写各选项，点击Set Constraints结束此步。$ K* h* x0 s) N- p( f7. 填写薄膜厚度与是否优化，点OK离开。8. 回到上界面，点击Computer进行计算。9.下面为计算结果图，如果感觉结果可接受点击Accept选项，如不接受，点击Reject选项返回重选拟合公式，修改拟合公式系数或膜厚等参数继续计算。10结果处理：感觉结果可接受点击Accept选项，出现下面界面，点击convert选项，填写材料名
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