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第十一章 原子光谱分析法第十一章 原子光谱分析法 本章简要介绍 原子发射光谱法 atomic emission spectrometry AES 原子吸收光谱法 atomic absorption spectrometry AAS 原子荧光光谱法 atomic fluorescence spectrometry AFS 第一节 原子发射光谱法 第一节 原子发射光谱法 AES 一 分析过程 二 谱线强度 三 分析仪器 四 分析方法 一 分析过程一 分析过程 图11 1 获得样品发射光谱的示意图 光谱分析的基本原理光谱分析的基本原理 每一种元素的原子及离子激发以后 都能辐射出一组表征该元素的特 征光谱线 其中有一条或数条辐射的强度最强 最容易被检出 所以 也常称做最灵敏线 如果样品中有某些元素存在 那么只要在合适的激发条件下 样品就 会辐射出这些元素的特征谱线 在感光板的相应位置上就会出现这些 谱线 一般根据元素灵敏线的出现与否就可以确定样品中是否有这些元素存 在 这就是光谱定性分析的基本原理 光谱线的强度 反映在感光板上就是谱线的黑度 在一定条件下 元 素的特征谱线的强度或黑度随着元素在样品中的含量或浓度的增大而 增强 利用这一性质来测定元素的含量便是光谱半定量分析及定量分 析的依据 光电光谱仪光电光谱仪 如果用光电接收装置来代替感光板接收 测量和记录谱线的强度 这 种仪器便称为光电光谱仪 利用一台光电光谱仪可以用多个光电接收装置同时接收一个样品中多 种元素的特征光谱线 经过电子计算机处理 可以给出多种元素的谱 线强度的信号以及被测元素的含量或浓度 现代光电光谱仪把激发 测量 计算 记录等几个环节连结在起 分 析速度极快 二 谱线强度二 谱线强度 1 玻尔兹曼分布定律 2 谱线强度 3 影响谱线强度的主要因素 4 光谱背景 1 玻尔兹曼分布定律 玻尔兹曼分布定律 谱线的产生是由于电子从高能级向低能级跃迁的结果 即原子或离 子由激发态跃迁到基态或低能态时产生的 在热力学平衡条件下 某元素的原子或离子的激发情况 即分配在各激发态和基态的原子 浓度遵守统计热力学中的麦克斯韦 玻尔兹曼 Maxwell Boltzman 分布定律 即 11 1 式中 Ni和N0 单位体积内处于第i个激发态和基态的原子数 gi和g0 第i个激发态和基态的统计权重 是和相应能级的 简并度有关的常数 其值为2J 1 Ei 由基态激发到第i激发态所需要的能量 激发电位 K 波尔兹曼常数 T 光源温度 绝对温度 玻尔兹曼分布定律玻尔兹曼分布定律 玻尔兹曼分布定律表明 处于不同激发态的原子数目的多少 主要与 温度和激发能量有关 温度越高越容易把原子或离子激发到高能级 处于激发态的数目就越 多 而在同一温度下 激发电位越高的元素 激发到高能级的原子或 离子数越少 就是对同一种元素而言 激发到不同的高能级所需要的 能量也是不同的 能级越高所需能量越大 原子所在的能级越高 其 数目就越少 2 谱线强度 谱线强度 图11 2 能级跃迁示意图 谱线强度谱线强度 电子在不同能级之间的跃迁 只要符合光谱选律就可能发生 而这种 跃迁发生可能性的大小称为跃迁几率 设电子在某两个能级之间的跃迁几率为A 这两个能级的能量分别为 Ei和E0 发射的谱线频率为v 则一个电子在这两个能级之间跃迁时 所放出的能量 即这两个能级之间的能量差 Ei E0 hv 因在热力 学平衡条件下 共有Ni个原子处在第i激发态 故产生的谱线强度 I 为 11 2 将式 11 1 代入式 11 2 则有 11 3 谱线强度谱线强度 对上式进行简化 可将原子线的谱线强度写为 11 4 此式中 K0为式 11 3 中各常数项合并而来的原子线常数 N为等离 子体中该元素处于各种状态的原子总数 3 影响谱线强度的主要因素 影响谱线强度的主要因素 1 激发电位 2 跃迁几率 3 统计权重 4 光源温度 5 原子密度 1 激发电位激发电位 由于谱线强度与激发电位成负指数关系 所以激发电位越高 谱线强 度就越小 这是因为随着激发电位的增高 处于该激发态的原子数就迅速减少的 缘故 因为每一种元素都有不同的激发电位 就是同一种元素产生不 同波长辐射时也有不同的激发电位 所以其谱线强度都是不同的 由 于激发到第一激发态时的激发电位是该元素中所有激发电位中最小 的 所以主共振线通常是该元素所有谱线中最强的谱线 实践证明 激发电位较低的谱线都比较强 而激发电位高的谱线都比 较弱 甚至由于激发电位太高 用一般激发光源无法使之激发 而使 该谱线不能产生 2 跃迁几率跃迁几率 跃迁几率是指电子在某两个能级之间每秒跃迁的可能性的大小 可以 通过实验数据计算出来 对于遵守光谱选律的那些跃迁 一般跃迁几 率在106 109s 1之间 跃迁几率是与激发态寿命成反比的 即原子处于 激发态的时间越长 跃迁几率就越小 产生的谱线强度就弱 例如产生NaI330 232nm谱线的跃迁几率比产生NaI588 996nm谱线的跃 迁几率小约22倍 因而谱线强度也相应弱得多 3 统计权重统计权重 谱线强度与激发态和基态的统计权重之比gi g0成正比 4 光源温度光源温度 温度升高 谱线强度增大 但随着温度 的升高 虽然激发能力增强 易于使原 子激发 却同时也增强了原子的电离能 力 即该元素离子数不断增多而使原子 数不断减少 致使原子线的强度反而减 弱 而一级离子线强度则逐渐增强 若 温度继续上升 还会造成一级离子线强 度逐渐减弱 二级离子线强度增加的现 象 所以谱线强度随温度的变化是比较 复杂的 一些谱线强度与温度的关系如 图11 3所示 由图可知 各种谱线的强度都不是温度 越高而越强的 只有在各自合适的温度 范围内 谱线才有最大的强度 在进行 光谱分析时 只有控制在这个温度范围 内 才能获得最高的灵敏度 对多元素 同时测定 宜采用折衷温度 5 原子密度原子密度 谱线强度与进入光源的原子密度成正比 或者说与原子总数成正比 对于光谱定量分析来说 所要测定的往往是样品中被测元素的含量或 质量分数 在一定的工作条件下 原子总数与被测元素含量之间有确 定的正比例关系 这就是说样品中被测元素的含量越大 进入光源的 该原子总数就越多 发出的谱线强度就越强 需要指出的是 实际分 析工作中并不是测量出谱线的强度之后按照公式计算来进行定量分析 的 这是因为要准确地测量出谱线的绝对强度是比较因难的 还有许 多不易控制的影响谱线强度的因素同时存在 公式中的一些物理量不 易测精确 所以按公式计算难于获得正确的分析结果 目前进行定量 分析多采用相对或比较的方法 虽然并不是按照公式进行定量分析 但这些公式说明了哪些是影响谱线强度的主要因素 对光谱定量分析 具有理论指导意义 其它因素其它因素 另外 谱线强度还受许多其它因素的影响 如狭缝的宽度 曝光时 间 光源 光谱仪 激发的方式和条件 样品的状态 大小 形状 组成的改变及各种干扰等等 这些因素之间往往还有一定的内在关 系 所以在进行光谱分析时要综合考虑许多因素 选择最佳的工作条 件 才能获得理想的分析结果 要经常采取一些必要的措施控制工作条件 抑制各种干扰 以提高分 析的灵敏度和准确度 4 光谱背景 光谱背景 1 分子辐射 2 谱线的扩散 3 固体的连续光谱 4 离子和电子复合 1 分子辐射分子辐射 样品物质在激发时与周围的气体及其它物质作用会生成一些热稳定性 好的氧化物 氮化物等分子形式的化合物 并在光源的作用下辐射出 分子的带状光谱 如在空气中使用石墨电极时 碳就会与空气中的氮在高温下生成氰 它在360 450nm波长范围内会辐射出几个很强的氰分子谱带 若被测 元素的灵敏线在此波长范围内 氰带就会影响被测元素的测定 甚至 使得分析无法进行 若改用金属电极或在不含氮的气氛中进行激发就 可以有效地消除氰带的干扰 2 谱线的扩散谱线的扩散 有些金属元素如Zn Al Mg Ti Pb等会产生很强的扩散谱线 当 被测元素的灵敏线附近有这些强扩散线时 也会造成光谱背景干扰 3 固体的连续光谱固体的连续光谱 炽热的电极头及光源中某些熔融的固体质点会辐射出连续光谱 这是 因为无论固体的结构如何 组成固体的分子或原子总是在其正常位置 附近运动 能量的变化具有任意值 即在非量子化能级上跃迁而发射 连续光谱 这种连续光谱背景的强度 主要取决于固体的温度 在一 般的电弧和火花光源中 在可见区具有较大的强度 对于炽热的电极 头所辐射的连续光谱 可以选用适当的中间光栏把电极头的辐射挡 掉 使其不能进入光谱仪的入射狭缝 4 离子和电子复合离子和电子复合 在光源中离子和电子在复合形成中性原子的过程中 也会辐射出连续 的光谱背景 尤其是在使用激发能力较强的光源时 例如火花 这种 背景尤为明显 另外像金属一类的固体物质中自由电子很多 它在与 金属离子复合时也是一种非量子化的能量变化 也会发射出连续的光 谱背景 背景的大小还与狭缝的宽度有关 一般狭缝越宽 背景越严重 所以 为了减小背景 应选择合适的狭缝宽度 为了保证光谱分析的准确度 及灵敏度等 在选择分析条件时 要尽量降低或消除背景 必要时必 须进行背景扣除 三 分析仪器三 分析仪器 光谱分析仪器主要由光源 光谱仪及检测器所组成 1 光源 常用的光源有直流电弧 交流电弧 电火花及电感偶合等离子炬 ICP 等 1 直流电弧 弧焰温度约为4000 7000K 可激发70种以上的元素 绝 对灵敏度高 重现性差 适用于光谱定性分析 2 交流电弧 弧温高于直流电弧 稳定性好 适用于一般的光谱定性 分析和定量分析 3 高压火花 火花放电温度可达10000K以上 产生的谱线主要是离子 线 但因电极头温度低 稳定性高 重现性好 适用于金属 合金等 均匀样品的定量分析 4 电感偶合等离子炬 ICP 常用的ICP 光源的激发温度为 4000 6500K 稳定性好 线性分析范围大 绝对灵敏度高 适用于光 谱定性分析和定量分析 2 光谱仪 光谱仪 利用色散元件和光学系统将光源发射的复合光按波长排列 并用适当 的接收器接收不同波长的光辐射的仪器叫光谱仪 光谱仪有棱镜 摄谱仪和光电直读光谱仪等3类 其中摄谱仪应用最 广泛 摄谱仪又可分为棱镜摄谱仪和光栅摄谱仪 棱镜摄谱仪利用光的折射 原理进行分光 而光栅摄谱仪则利用光的衍射现象进行分光 棱镜摄 谱仪主要由照明系统 准光系统 色散系统及投影系统等部分组成 如图11 1所示 光栅摄谱仪在结构上不同于棱镜摄谱仪之处 主要在于用衍射光栅代 替棱镜作色散元件进行分光 其光学系统如图11 4所示 光源B发射 的辐射经三透镜照明系统L均匀地通过狭缝S 经平面反射镜P反射至 凹面反射镜M下方的准光镜O1上 以平行光束照射光栅G 由光栅色 散成单色平行光束 再经凹面反射镜M上方的投影物镜O2聚焦而形成 按波长顺序排列的光谱 并记录在感光板F上 图11 4 WSP 1型平面光栅光学系统示意图 O1 准光镜 O2 投影物镜 3 检测方法与检测器 检测方法与检测器 在原子发射光谱法中 常用的检测方法有 目视法 摄谱法和光电法 3种 1 目视法 用眼睛观察谱线强度的方法 又称看谱法 这种方法仅适 用于可见光波段 2 摄谱法 摄谱法用感光板记录光谱 将光谱感光板置于摄谱仪焦面 上 接受被分析样品的光谱而感光 再经过显影 定影等过程后 制 得光谱底片 其上有许许多多黑度不同的光谱线 用映谱仪观察谱线 的位置及大致强度 进行光谱定性分析及半定量分析或采用测微光度 计测量谱线的黑度 进行光谱定量分析 3 光电法 光电法用光电倍增管检测谱线的强度 光电倍增管不仅起 到光电转换作用而且还起到电流放大作用 由于光电倍增管具有灵敏 度高 放大系数可达108 109 线性响应范围宽 光电流在10 8 10 3A范围内与光通量成正比 响应时间短 约10 9s 等优点 因此广泛 用于光谱分析仪器中 具有这类检测装置的光谱仪称为光电直读光谱 仪 或光量计 四 分析方法与应用四 分析方法与应用 1 光谱定性分析 2 光谱半定量分析 3 光谱定量分析 1 光谱定性分析 光谱定性分析 由于各种元素的原子结构不同 在光源的激发作用下 样品中每种元 素都发射自己的特征光谱 光谱定性分析一般多采用摄谱法 样品中所含元素只要达到一定的含 量 都可以有谱线摄谱在感光板上 摄谱法操作简便 价格便宜 快 速 在几小时内可将含有的数十种元素定性检出 它是目前进行元素 定性检出的最好方法 1 元素的分析线与最后线元素的分析线与最后线 每种元素发射的特征谱线有多有少 多的可达几千条 当进行定性分 析时 不需要将所有的谱线全部检出 只需检出几条合适的谱线就可 以了 进行分析时所使用的谱线称为分析线 如果只见到某元素的一条谱 线 不能断定该元素确实存在于样品中 因为有可能是其它元素谱线 的干扰 检出某元素是否存在 必须有2条以上不受干扰的最后线与 灵敏线 灵敏线多是共振线 最后线是指当样品中某元素的含量逐渐 减少时 最后仍能观察到的几条谱线 它也是该元素的最灵敏线 2 分析方法分析方法 目前最通用的方法是铁光谱比较法 它采用铁的光谱作为波长的标 尺 来判断其它元素的谱线 铁光谱作标尺有如下特点 谱线多 在 210 660nm范围内有几千条谱线 谱线间相距都很近 在上述波长 范围内均匀分布 对每一条铁谱线波长 人们都己进行了精确的测 量 在实验室中有标准光谱图对照进行分析 标推光谱图是在相同条件下 在铁光谱上方准确地绘出68种元素的逐 条谱线并放大20倍的图片 铁光谱比较法实际上是与标准光谱图进行 比较 因此又称为标准光谱图比较法 在进行分析工作时 将样品与 纯铁在完全相同条件下并列并且紧挨着摄谱 摄得的谱片置于映谱仪 放大仪 上放大20倍 再与标准光谱图进行比较 比较时首先须将谱 片上的铁谱与标推光谱图上的铁谱对准 然后检查样品中的元素谱 线 若样品中的元素谱线与标准图谱中标明的某一元素谱线出现的波 长位置相同 即为该元素的谱线 判断某一元素是否存在 必须由其 灵敏线来决定 铁光谱比较法可同时进行多元素定性鉴定 2 光谱半定量分析 光谱半定量分析 光谱半定量分析可以给出样品中某元素的大致含量 若分析任务对准 确度要求不高 多采用光谱半定量分析 如对钢材与合金的分类 矿 产品位的大致估计等等 特别是分析大批样品时 采用光谱半定量分 析 尤为简单而快速 光谱半定量分析常采用摄谱法中的比较黑度法 这个方法须配制一个 基体与样品组成近似的被测元素的标准系列 在相同条件下 在同一 块感光板上标准系列与样品并列摄谱 然后在映谱仪上用目视法直接 比较样品与标准系列中被测元素分析线的黑度 若黑度相同 则可作 出样品中被测元素含量与标准样品中某一个被测元素含量近似相等的 判断 3 光谱定量分析 光谱定量分析 在一定条件下 样品发射的光谱中某元素的谱线强度 I 和样品中该元 素含量满足关系 I acb 11 5 式中 a和b在一定条件下为常数 此式为光谱定量分析的基本关系式 为了消除工作条件改变对测定结 果的影响 常使用内标法 即在被测元素的谱线中选一条线作为分析 线 在基体元素的谱线中选一条与分析线激发电位和电离电位相近的 谱线作为内标线 这两条谱线组成所谓分析线对 分析线与内标线的 绝对强度的比值称为相对强度 内标法就是借测量分析线对的相对强 度 R 来进行定量分析的 其基本关系式为 11 6 式中 I1和I2 分析线和内标线的谱线强度 b和A 在一定条件下均为常数 Acb I I Rlglglglg 2 1 定量分析定量分析 采用摄谱法进行定量分析时 通常用感光板记录的谱线黑度S来表征 谱线强度I S与I的关系为 11 7 将式 11 6 代入式 11 7 得 11 8 两式中 S 分析线对的黑度差 为感光板的衬度 由上式可见 S与lgc成线性关系 实际工作中常采用三标准样品 法 即将3个或3个以上的标准样品和被测样品在相同实验条件下摄 取光谱于同一感光板上 用各个标准样品分析线对的黑度差与标准 样品中欲测组分的含量 c 的对数绘制工作曲线 内标工作曲线 然 后由被测样品光谱中测得分析线对的黑度差 从工作曲线上即可查 得样品中欲测组分的含量 图11 5为内标法工作曲线 图11 5 内标法工作曲线 第二节 原子吸收光谱法 第二节 原子吸收光谱法 AAS 原子吸收光谱法又称为原子吸收分光光度法 它是基于从光源辐射出 的具有待测元素特征谱线的光 通过样品蒸气时被蒸气中待测元素基 态原子所吸收 从而由辐射特征谱线光被减弱的程度来测定样品中待 测元素含量的方法 一 光吸收定律和吸收系数 二 原子吸收分光光度计 三 原子吸收定量分析 一 光吸收定律和吸收系数一 光吸收定律和吸收系数 在一定实验条件下 吸光度与浓度的关系服从朗白 比尔定律 即在 一定浓度范围和一定吸收光程的情况下 吸光度与待测元素浓度 c 的 关系可表示为 A lg I0 I k c 11 17 此式为原子吸收光谱法中常用的定量分析公式 二 原子吸收分光光度计二 原子吸收分光光度计 原子吸收分光光度计依次由光源 原子化器 单色器 检测器等4个 主要部分组成 图11 10 原子吸收分光光度计示意图 a 单光束型 b 双光束型 三 原子吸收定量分析三 原子吸收定量分析 1 干扰及其消除 1 光谱干扰 2 分子吸收 3 电离干扰 4 化学干扰 5 物理干扰 2 定量分析方法 定量分析方法 当待测元素质量分数不高时 在吸收光程固定的情况下 样品的吸光 度与待测元素的质量分数成正比 根据这一原理即可进行定量分析 定量分析的方法常用的有标准曲线法 标准加入法和质量分数直读 法 1 标准曲线法标准曲线法 原子吸收分光光度法所用的标准曲线法与可见及紫外分光光度法一 样 是用优级纯金属或试剂配制与待测样品基体相同的含有不同质量 分数待测元素的一系列标准溶液 分别测出其吸光度 绘制吸光度 A 质量分数 c 或相当于这种关系 标准曲线 根据测出的样品的吸光度 在标准曲线上即可查出样品中待测元素的 质量分数 标准曲线法简便 快速 但仅适用于组成简单的样品 2 标准加入法标准加入法 在低质量分数范围内A与c呈线性关系 的情况下 可用标准加入法进行测 定 取若干份 最少4份 体积相同的样 品溶液 从第二份开始分别按比例加 入不同量的待测元素的标淮溶液 然 后将备份溶液用溶剂稀释至一定体 积 设样品中待测元素的质量分数为 cx 加入标准溶液后样液浓度分别为 cx c0 cx 2c0 cx 4c0 分别测得其吸 光度为Al A2及A3 以A对c作图 得 到如右图所示的直线 与横坐标交于 cx cx即为所测样品中待测元素的质量 分数 使用标准加入法时应注意以下几点使用标准加入法时应注意以下几点 待测元素的质量分数与其对应的吸光度应呈线性关系 最少采用4个 点 包括样品溶液 来作外推曲线 并且第一份加入的标准溶液与样品 溶液的质量分数之比应适当 可通过试喷样品溶液和标准溶液 比较 两者的吸光度来判断 此法只能消除基体效应带来的影响 不能消 除分子吸收 背景吸收等的影响 如形成斜率太小的曲线 容易引进 较大的误差 3 质量分数直读法质量分数直读法 质量分数直读法是在工作曲线的直线范围内 应用仪器中的标尺扩展 或数字直读装置进行测量 吸喷标准溶液 把仪表指示值调到相应的 质量分数指示值 使待测样品的质量分数在仪表上直接读出来 这与 溶液的pH测定一样 此法免去了绘制标准曲线的手续 分析过程快 速 应用此法时需注意以下几点 必须用标准溶液反复进行校正后再进行 测定 必须保证整个测量范围内吸光度和质量分数间有良好的线性关 系 保证仪器工作条件稳定 保证标准溶液与样品溶液的操作条件完 全相同 第三节 原子荧光光谱法第三节 原子荧光光谱法 原子荧光光谱法是在1964年以后发展起来的分析方法 原子荧光光谱法是以原子在辐射能激发下发射的荧光辐射强度进行定 量分析的发射光谱分析法 气态自由原子吸收光源的特征辐射后 原子的外层电子跃迁到较高能 级 然后又跃迁返回基态或较低能级 同时发射出与原激发辐射波长 相同或不同的辐射即为原子荧光 原子荧光是光致发光 也是二次发光 当激发光源停止照射之后 再 发射过程立即停止 一 原子荧光类型和荧光强度 二 仪器 三 分析方法 一 原子荧光类型和荧光强度一 原子荧光类型和荧光强度 原子荧光可分为共振荧光 非共振荧光与敏化荧光3种类型 原子荧 光产生的过程如图2 4所示 共振荧光强度最大 最为常用 当仪器与操作条件一定时 原子荧光强度与被测元素质量分数成正 比 即 If Kc 11 22 此式为原子荧光定量分析的基础 二 仪器二
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