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文档简介

基于正交表对PCB钻孔工艺参数的分析与优化摘要:在印制电路板(pcb)上加工微孔的数量越来越多,孔径比越来越小(目前孔径比已达1:20),加工精度要求也越来越高。对钻孔加工中影响钻孔质量的各种工艺参数进行了分析,应用正交试验的设计方法,找出影响pcb孔质量的主要因素;方差分析和极差分析的结果表明转速、进刀速和孔限是最显著的三个因素;最后确定一组最佳的钻孔工艺参数用于指导工艺参数的优化设计。关键词:印制电路板(pcb)正交表因素水平参数优化0 引言目前,全球pcb产业产值占电子元件产业总产值的四分之一以上,是各个电子元件细分产业中比重最大的产业,产业规模达400亿美元。pcb钻孔技术发展迅速,逐步向微孔、盲孔、高密度孔发展,目前pcb成孔方式主要是采用数控机械钻孔1。随着电子科技的高速发展,对于pcb孔的要求也越来越高,现在国内外pcb钻孔技术仍然存在一些问题,如多层板高密度的孔很难控制孔径圆度,孔位精度值会偏低,且会出现残胶、披锋、孔壁粗糙等现象。孔位精度是评价钻孔质量的一个重要指标,影响孔位精度的因素有许多,如对主轴转速、进刀速度、退刀速度、下钻深度、孔限、叠板数、钻头研磨次数等。这些因素之间存在相互作用,故实际生产中很难把握各个因素的参数。实际生产中,工程师根据自己的经验来确定工艺参数的,一方面试验次数要比较多,另一方面也难以确定pcb最佳的参数组合。本文采用了正交试验设计方法,应用数理统计方法分析试验数据,得到影响pcb钻孔各因素的敏感程度及最佳钻孔工艺参数。1 钻孔的工艺参数分析根据专业知识和实践经验,找出对指标有影响的一切可能的因素,然后分类。一类因素的值是固定的,实验当中就取这个定值;另一类因素是变化的,用水平来表示因素的变动范围。对于非连续性的水平,只能取几个值;对于连续性的水平,可在范围内取几个水平,这里对钻孔每个因素取2水平进行分析,具体取值见表1。2 正交试验的设计及方差分析2.1 正交表的设计 在多因素试验中,不仅各个因素的水平改变时对试验指标有影响,而且各因素的联合搭配对试验指标也有影响,后一种影响叫做因素的交互作用。建立正交表之前要进行表头设计,在试验中,因为要考虑各因素间的交互作用,所以因素不能随便入列2。本试验考虑7因素,交互作用考虑8个,总共有15个,每因素取2水平,所以选用l16(215)的正交表。交互作用列表所占的列是一定的,表头设计如表2所示。2.2 正交试验的结果分析 试验结果用cpk(complex process capability index,制程能力指数)来表示钻孔的质量,cpk值越大钻孔质量就越好,cpk值由专业检测机器测出。根据表头设计、影响钻孔因素列出正交表l16(215),根据这个表的16个方案执行试验,得到的cpk值分别为:0.994、1.128、1.030、0.984、1.249、1.437、1.589、0.918、1.241、1.957、1.261、1.334、2.022、1.306、1.615及1.877,将这16个值填入到l16(215)表格中进行偏差、方差及显著性分析,结果表明各因素对pcb钻孔参数影响主次的顺序为:由此可得出影响pcb钻孔工艺参数的显著因素为a-转速,d-孔限,b-进刀速。3 主要因素的参数优化根据前面分析结果,将主轴转速、进刀速、孔限这3个因素作为主要影响因素,并把它作为实验因素,将其它因素设为固定条件,以便确定主要影响因素的最佳参数。为了更准确的分析,采用三水平的正交表l9(34),考虑到现实的一些情况及钻孔成本,各因素的水平数值设定见表3,根据这个表做9次试验得到的结果填入表3。3.1 参数的确定 为了直观分析因素与指标的关系,采用绘制趋势图,用因素的水平作横坐标,指标的cpk值作纵坐标,画出因素与指标的关系(趋势图),如图1,从图中可以看出:3.1.1 主轴转速以a2为最佳,a2水平过后指标值呈下降趋势,所以取水平160krpm。3.1.2 进刀速呈上升趋势,可取b3=24um/r,水平也可适当调高一点。3.1.3 孔限水平在d1、d2时,效果都一样,并考虑到孔限极差小,应取d2=1500。因此,可以确定主要工艺参数的最佳水平组合为a2b3d2。3.2 效果验证 根据正交表试验分析结果和实际情况的分析,确定出最佳pcb工艺钻孔参数:转速160krpm,进刀速24um/r,孔限1500,退刀速1000mm/min,研磨次数3次,上拉高度4mm,钻头型号选用p0353。将这一组工艺参数应用于某客户的实际生产中进行验证,其中的5次操作结果cpk值分别是2.025、2.124、2.011、2.357和2.184 ,均值达到2.14。可以看得出采用这一组工艺参数操作的稳定性很好,改善的效果也很明显。4 结语应用本文得到的工艺参数,钻孔质量中的孔位精度得到明显改善,表明此试验设计对实际生产具有重要的指导意义,不仅提高了钻孔质量,而且缩短工艺参数优化的时间。参考文献:1王健石.印制电路板技术标准手册m.中国标准出版社,2007.4.2翟颖妮.基于正交试验的作业车间瓶颈识别方法j.计算机集成制造系统.2010年9月,第16卷第9期:1945-1952.3

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