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文档简介

电子技术实验 50403007 实验一门电路的逻辑功能及测试 1 门电路逻辑功能测试异或门逻辑功能测试逻辑门传输延迟时间测量利用与非门控制输出 实验内容 2 实验芯片介绍 实验原理 3 1 测试门电路逻辑功能 实验操作 与非门的功能测试 4 实验操作 操作说明 5 2 异或门逻辑功能测试 实验操作 6 3 逻辑门传输时间的测试 实验操作 构成以下电路 输入200KHZ的连续脉冲 用双踪示波器测量输入输出相位差 计算每个门的平均延迟时间的TPD值 注 7 实验原理 平均延迟时间 平均延迟时间的大小反映了TTL门的开关特性 主要说明门电路的工作速度 导通延迟时间tPHL 从输入波形上升沿的中点到输出波形下降沿的中点所经历的时间 截止延迟时间tPLH 从输入波形下降沿的中点到输出波形上升沿的中点所经历的时间 与非门的传输延迟时间tpd是tPHL和tPLH的平均值 一般TTL与非门传输延迟时间tpd的值为几纳秒 十几个纳秒 8 4 利用与非门控制输出 实验操作 用一片7400构成以下电路 S接任何一个电子开关 用示波器观察S对输出脉冲的控制作用 记录波形图 9 注意事项 每次实验前先检查实验箱电源是否正常 然后选择实验用的集成电路芯片 按自己设计的实验接线图接好连线 特别注意Vcc 电源 及GND 地线 不能接错 线接好后经检查无误方可通电实验 实验中改动接线须先断开电源 接好线后再通电实验 10 实验目的 内容 画出逻辑电路图 在电路图上标明接线时使用的集成块名称和引脚号 作为实验接线图 按照实验操作过程记录 整理实验内容和结果 填好测试数据 分析 确认实验结果的正确性 说明实验结论 在实验总结中写上实验中遇
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