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文档简介

可靠性型式试验大纲 可靠性型式试验大纲拟制: 审核: 批准: 1.进行可靠性型式试验的产品范围影视系统、广播系统、烟火报警系统、照明系统2.可靠性型式试验目的各项试验的主要目的在于全面考核影视系统、广播系统、烟火报警系统、照明系统的可靠性。3.试验依据GB/T2423.1-1993电工电子产品基本环境试验规程:低温试验GB/T2423.2-1993电工电子产品基本环境试验规程:高温试验GB/T2423.4-1993电工电子产品基本环境试验规程Db:交变湿热试验方法TB/T3021-2001铁道机车车辆电子装置TB/T3058-2002铁路应用机车车辆设备冲击和振动试验TB/T 3021-20014.试验要求及准备4.1试验所用的计量器具示值应准确、合格有效,计量器具应在检定周期内。4.2试验用的样品应为工厂检验合格的产品。4.3型式试验在正常试验大气条件下进行。5.试验内容、要求及方法5.1性能试验5.1.1绝缘测试 所有设备的电源输入、输出端口接线对设备的金属外壳用直流500V兆欧表进行绝缘电阻测试,常态下其阻值不低于20M(湿热试验后其阻值不低10M)。5.1.2耐压试验 所有设备的电源输入、输出端口接线对设备的金属外壳施加AC1200V 50Hz交流电压,历时1min,应无击穿或闪络。5.1.3输入电源波动试验室温下,对系统施加DC70V、DC80V、DC90V、DC100V、DC110V电压,分别测试对应的输入电流值、功率值,系统均能正常工作。5.2低温试验该试验按GB/T2423.1试验A进行。将系统设备在不通电的情况下放置于试验箱中。在等于或大于O.5h内将箱温从正常试验环境温度2510逐渐降至-253,在试验箱中达到热稳定后,被试品放置2h。然后进行常规性能检测。A.系统不产生故障和损坏; B.系统工作正常。5.3高温试验该试验按GB/T2423.2试验B进行。装置通电后,放在试验箱内,在等于或大于0.5h内将箱温从正常试验环境温度2510逐渐升高到702(建议602)。待温度稳定后,保温6h,然后在已升高的温度下进行常规性能检测。A. 系统不产生故障和损坏; B. 系统工作正常。5.4交变湿热试验试验箱中的空气温度和湿度应该可控并应提供实时记录这些数据的手段。5.4.1试验条件:温度:+55和+25; 周期数:2(呼吸效应); 时间:224h。5.4.2试验方法: 先将箱温调至253并保持此值,相对湿度调至45%75%进行2h6h稳定温度处理。在最后1h内,将箱内相对湿度提高至不低于95%,温度仍保持253。稳定阶段之后循环开始,使箱温在2.5h3h内由253连续上升到552,这期间除最后15min内相对湿度不低于90%外,升温阶段相对湿度都不应低于95%,以使试品表面产生凝露,但不得在大型试验样品上产生过量凝露。然后在温度为552的高温高湿环境下保持到从循环开始算起12h0.5h止。这一阶段的相对湿度,除最初的15min和最后的15min不低于90%外,均应为(933)%。然后在3h6h内,将箱温由552降至253。最初1.5h的降温速率为10h,这期间的相对湿度除最初的15min内不低于90%外,其他时间均不低于95%。降温之后,温度保持253,相对湿度不低于95%,从循环开始算起24h为一周期。两周期试验结束后,将样品放在正常的试验大气条件下恢复1h2h,去除表面水滴。恢复后立即进行外观检查、绝缘试验和性能试验,系统设备应无异常。5.5振动试验本试验按TB/T3058规定的1类A级的功能性随机振动试验进行试验。 5.5.1试验条件频率范围:5150Hz;垂向:0.75m/s2 RMS 横向:0.37m/s2 RMS 纵向:0.5m/s2 RMS5.5.2试验后外观和结构检查试验后,无机械损伤及紧固件松动、脱落。进行常规性能检验,检验时间不小于10min。5.6冲击试验本试验按TB/T3058规定的1类A级的冲击试验进行试验。 5.6.1试验条件垂向:峰值加速度A为30m/s2,标称持续时间D为30ms;横向:峰值加速度A为30m/s2,标称持续时间D为30ms;纵向:峰值加速度A为50m/s2,标称持续时间D为30ms;5.6.2冲击次数施加18次冲击,即三个正交平面上正向和反向各三次。 5.6.3试验后外观和结构检查试验后,无机械损伤及紧固件松动、脱落。进行常规性能检验,检验时间不小于10min。5.7电磁兼容性试验5.7.1电源过电压、浪涌和静电放电试验试验按照TB/T 3021-2001的第12.2.6条进行试验:l 电源:波动范围:DC70DC110V,短时中断:100ms;l 浪涌电压:2KVl 静电放电:接触放电6KV,空气放电8KV5.7.2电快速瞬变脉冲群抗扰度试验试验按照TB/T 3021-2001的第12.2.7条进行试验:l 电源输入、输出端: 2KV,5KHzl I/O端:2KV,5KHz; /(是否为DC100V控制I/O口)5.7.3射频干扰试验试验按照TB/T 3021-2001 的第12.2.8.1条进行试验:l 传导干扰:3V.rmsl 辐射干扰:10V/m5.7.4射频骚扰试验试验按照TB/T 3021-2001 的第12.2.8.2条进行试验:表2骚扰试验限值类型频率范围MHz允许值传导干扰0.150.579dB()0.53073dB()辐射干扰3023040dB(/m)230100047dB(/m)5.8低温存放试验该试验按GB/T2423.1进行试验。试验温度应为-40且持续时间最少为16h。试验完毕后,应在箱内温度恢复到室温后才取出被试产品。然后在环境温度下进行常规性能检测:A.系统不

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