JC-3165测试系统使用手册.doc

北京集诚泰思特测试技术有限公司日期：2006年7月3北京集诚泰思特测试技术有限公司 JC-3165测试系统使用手册目 录第一部分 JC-3165测试系统使用操作说明1第二部分 JC-3165测试系统硬件使用手册41系统简介42系统硬件说明52.1数字机柜系统说明62.1.1系统总线控制器62.1.2图形控制器72.1.3算法图形产生器72.1.4通道板82.1.5定时产生器92.1.6精密测量单元（PMU）92.1.7被测数字器件电压源（DPS1）102.1.8被测数字器件电压源DPS3_4（仅限于纯数字系统）102.1.9模拟信号转接板102.1.10数字系统底板112.1.11混合信号测试台112.2模拟机柜系统说明132.2.1程控电压源（VS）132.2.2被测器件电压、电流源（DPS）132.2.3精密测量单元（PMU）142.2.4模拟通道矩阵142.2.516Bit高精度电压表142.2.616Bit高精度电压参考源142.2.7波形分析器142.2.8波形产生器15第三部分 JC-3165数字菜单软件使用手册161系统软件介绍162菜单方式系统软件使用说明18第四部分 JC-3165测试系统编程手册37数字电路部分38一概述39二使用标准图形文件39三系统接口卡的部分相关测试语句41四直流测量单元(PMU)的使用41五被测器件电源(DPS)的使用42六功能测试相关函数(PATTERN.H)的使用43七定时产生器相关函数(TG.H)的使用44八探针台、HANDLE连接信号及测试按钮、“测试”、“PASS”、“FAIL”灯的编程45九算法图形产生器（APG）的使用48十MDC图形文件格式说明49十一算法图形文件格式说明51十二测试程序实例（74LS32C）52十三MDC图形文件实例（74LS00）56十四算法图形测试程序实例（HM62256）57十五算法图形文件实例（HM62256）61十六用学习法生成图形的程序范例63十七JC-3165测试(数字部分)系统诊断程序66模拟电路部分67一概述68二JC3165测试系统的测试程序所含头文件说明68三3165测试系统的测试语句说明69四JC-3165测试(模拟部分)系统诊断程序83Windows环境下编程85一概述86二使用 BORLAND C+ Builder 编程87三图形界面（ GUI ）程序的编程88四相关函数及语句91五prnf函数及prn函数91六模拟器件测试格式化输出函数97七Windows测试程序所含头文件说明97八Windows图形界面测试程序运行时按钮及菜单说明98JC-3165测试系统校准程序说明100一DPS1100二DPS2100三DPS3100四DPS4100五VS1101六VS2101七PMU 加压测流101八PMU 加流测压101九WA (波形分析器)102十WG (波形产生器)102十一DAC_OUT (高精度程控电压基准)102十二ADC (高精度电压表)102第五部分 JC-3165测试系统校准&自检使用手册103一JC-3165测试系统自检（诊断）说明104二JC-3165测试系统自校准软件说明1081准备工作1082软件校准1083硬件校准1124波形产生器和波形分析器校准1135备注114第六部分 JC-3165测试系统软件安装说明1151Windows XP操作系统1152Windows 98操作系统115119北京集诚泰思特测试技术有限公司 第一部分 JC-3165测试系统使用操作说明第一部分 JC-3165测试系统使用操作说明1. 检查JC-3165测试系统的电源：JC-3165测试系统用电规范为：220V10%， 50Hz，且须良好接地。2. 打开计算机电源，进入WINDOWS98操作系统后。3. 启动JC-3165测试系统：1) 合上(往上拨)机柜后面板的电源开关。（绿灯亮）2) 检查系统的红色急停键是否弹出。若没有弹出则将系统的急停键沿箭头方向旋转，使之弹出。3) 旋转启动钮（钥匙），启动JC-3165测试系统。（大小机柜无先后要求）4. JC-3165测试系统自检： (可执行Sys_Tst系统诊断程序(该程序放在D:BC3162BSYS_TST目录下)。 也可启动RW3162后点击菜单测试仪自检后选择运行,还可用资源管理器到D：BC3162B 目录下点击下列单个的功能板测试程序检查.)1) 运行计算机接口自检程序PCI_TST.EXE(Win XP系统下为PCI_TEST.EXE) 。若显示OK！ 则表示计算机接口卡自检PASS。2) 运行测试系统接口自检程序IF_TST.EXE 。若显示OK！ 则系统接口自检PASS。3) 运行精密测量单元PMU自检程序 PMU_TST.EXE 。4) 运行程控电压/电流源DPS3/4、VS1/2 自检程序 DPS_TST.EXE 。上述（接口、PMU、DPS）自检程序通过的情况下，运行以下自检程序：5) 运行驱动、比较高低电平及数字程控电压源DVS1、DVS2自检程序 DVS_TST.EXE 。6) 运行定时产生器自检程序TMG_TST.EXE。若OK！ 则定时产生器自检PASS。7) 运行图形控制器自检程序PTN_TST.EXE。（时间较长）8) 运行图形控制器复杂指令自检程序INS_TST.EXE。9) 运行数字通道（驱动比较器）自检程序MEM_TST.EXE。（时间较长）10) 在测试头插上通断检测板,运行数字通道管脚继电器自检程序T_BOARD.EXE。（要输入检测的通道数）(以下仅适用于3165)11) 运行算法图形产生器自检程序APG_TST.EXE。12) 运行算法图形产生器(与测试头)连接性自检程序APGC_T.EXE。13) 如有波形产生器，运行波形产生器的自检程序 WG_TST.EXE 。14) 如有波形采集和分析器，运行波形采集和分析器的自检程序 WA_TST.EXE 。15) 在测试头上插上通断检测板，运行模拟通道矩阵自检程序MA_TST.EXE。16) 运行继电器控制位自检程序 CBIT_TST.EXE。5. 运行测试程序：1) 启动RW3162，点击装入程序调入要执行的EXE程序的程序名，点击运行菜单执行程序。2) 启动JC3162,用菜单程序执行数字芯片测试。3) 使用Windows 98操作系统时，用“资源管理器”找到要编辑的C文件，双击启动Win-TC编辑、编译运行。使用Windows XP操作系统时，用“资源管理器”找到要编辑的BPR或CPP文件，双击启动Borland C+ Builder编辑、编译运行。4) 如已生成了EXE文件，在命令提示符下键入要执行的程序名。（或用“资源管理器” 双击EXE文件）5) 如要跟踪程序，在DOS提示符下键入TC 要执行程序的程序名 。TC （Turbo-C 2.0） 的详细用法可参考有关的书。如在 TC 环境下执行程序时显示内存不足，可用 BC （Borland C+ 3.0）环境跟踪程序。6. 运行数字芯片菜单测试程序：启动JC3162，点击文件 -打开调入要执行的tst程序，点击测试- 测试菜单执行程序。7. 关闭系统。1) 旋转启动钮（钥匙） 。（红灯灭）或按机柜前面板红色急停键。然后再将其沿箭头方向旋转，使其弹出。2) 关闭机柜后面板电源开关。3) 按计算机操作说明（如在DOS提示符下先退出DOS，返回Windows98操作系统，）关闭计算机。8. JC-3165测试系统有关的程序：程序名说明程序通常所在目录RW3162.exe3165测试程序运行环境C:Program Filesrw3162JC3162.exe3165数字芯片菜单测试程序D:jc3162SYS_TST.exe3165系统自检程序D:BC3162Bsys_tstSYS_CAL.exe3165系统校准程序D:BC3162BcalCompileDlg.exe3165图形文件编译程序D:jc3162GEN_MPD.exe3165图形文件编译程序D:BC3162BGEN_MDC.exe3165图形文件反编译程序D:BC3162B9.注意事项。l 数字通道不要让 15伏 或 退出， 或窗口右上方的关闭按钮 ，退出系统。22菜单和工具条功能说明 ：新建测试程序，用于建立新的测试程序：打开测试程序文件，选择测试程序 菜单：文件 打开。快捷键：Ctrl+O：关闭测试程序，清屏幕，总清设备 菜单：文件 关闭。快捷键：Ctrl+C：保存测试程序文件 菜单：文件 保存。快捷键：Ctrl+S ：保存当前测试结果：运行测试程序，执行测试程序一次 菜单：测试 测试。快捷键：F2：check按钮，用于切换测试状态或编辑状态，选中为测试状态，单击测试按钮或按设备测试开关进行测试，取消为编辑状态，编辑测试程序。快捷键：F4：check 按钮，用于失效停止状态的切换，选中为失效停止测试：Radio 按钮，显示所有测试项：Radio 按钮，显示失效项：Radio按钮，统计显示：导入管脚定义，编辑管脚组，显示管脚与通道对应关系 菜单：编辑 - 管脚定义。快捷键：F5：编辑参数，添加测试项，编辑各测试项参数，单项测试检查 菜单：编辑 参数编辑。 快捷键：F6：编辑测试序列，将需要测试的项目加入到测试序列，测试时，只测试在测试序列中列出的测试项目。 菜单：编辑 编辑测试序列。快捷键：F7：选项，设置测试方式，显示方式，数据输出方式 菜单：测试 选项。快捷键：F8菜单 ： 新批号：用于修改、编辑器件批号序列号：用于修改、编辑器件序列号保存统计数：用于将测试统计结果保存到指定文件23编写测试程序方法编写一个新的测试程序的标准步骤包括：l 编写测试程序的图形文件l 新建测试程序名称l 导入测试图形的管脚定义l 编辑测试项目参数l 编辑测试序列l 保存测试程序231编写测试程序的图形文件按照本说明中4.图形文件编写方法格式编写好器件的图形文本文件。2. 3. 2新建一个测试程序名称选择工具条中按钮，弹出新建对话框（图三）。图三 新建测试程序名称选择器件类型，键入测试程序名称，单击确定按钮。如有错误，系统弹出相应信息框提示，直到无误。新建测试程序名称成功后，新建的测试程序名称以 .tst为后缀，显示在标题栏和视图窗口中的蓝色背景区。 新建器件类型新建测试程序名称时，要选择器件类型，如果新建测试程序的器件不是已有的类型，必须新建器件类型。方法如下：在图三对话框中，单击“类型”选项卡，弹出类型页（图四）。在此页中可以添加新的器件类型，也可以删除已有类型。图四233导入测试图形的管脚定义新建测试程序的管脚定义应与其图形文件中的管脚定义相同，图形文件已定义管脚，在此只需导入。选择工具条中 按钮，或菜单：编辑 - 管脚定义，或快捷键：F5，弹出定义管脚对话框（图五）。图五选择导入按钮，弹出打开文件对话框（图六）。图六选择要导入的图形文件名，单击打开按钮。导入的图形文件管脚定义的全部信息显示在图五对话框中。图形文件文本框显示导入的图形文件名。管脚属性页显示器件管脚名，测试仪通道及管脚类型。管脚通道对应表属性页显示器件管脚号与测试仪通道的对应关系。为编程方便，系统提供管脚组定义。选择管脚组选项卡，单击添加，弹出定义管脚组对话框（图七）。定义管脚组名及相应的管脚名后，按确定按钮。图七VCC电源属性页设定被测器件VCC电源对应的通道号（图八）。图八234编辑测试项目参数图九选择工具条中 按钮，或菜单：编辑 编辑参数，或快捷键：F6。弹出编辑测试项目对话框（图九）。在此对话框中单击鼠标右键，弹出下图快捷菜单，各菜单项功能同图九对话框右侧相对应的按钮功能，使用各菜单编辑测试项目。各按钮功能：1. :将键盘输入的测试名添加到测试名下拉选择框中。 :将测试名从测试名下拉选择框中删除。 3 ：在测试名下拉选择框中选择要添加的测试名或键盘输入要添加的测试名，单击此按钮，或快捷键：ALT+A，输入的测试名将添加到测试项列表中，可以根据需要添加一个或多个测试项目，只有按后，测试项列表中的项目保存到测试程序中，添加的内容才有效。4. ：在测试名下拉选择框中选择要插入的测试名或键盘输入要插入的测试名，在测试项列表中选择插入位置，单击此按钮，或快捷键：ALT+I，输入的测试名将插入到测试项列表中选择位置的前面，可以根据需要插入一个或多个测试项目，只有按后，测试项列表中的项目保存到测试程序中，插入的内容才有效。5. ：在测试项列表中选择要修改的测试项，在测试名下拉选择框中选择修改后的测试名或键盘输入修改后的测试名，单击此按钮，或快捷键：ALT+M，修改后的测试名显示到测试项列表中。可以根据需要修改一个或多个测试项目。按 按钮后，测试项列表中的项目保存到测试程序中，修改的测试项目才有效。6.：在测试项列表中选择要删除的测试项，可以根据需要删除一个或多个测试项目。按按钮后，测试项列表中的项目保存到测试程序中，删除的测试项目才从测试程序中删除。7.：在测试项列表中选择要编辑的测试项，单击此按钮，或快捷键：ALT+E，弹出测试项参数编辑对话框（图十）。图十在此对话框中设置电源、电平、测试模式、定时、格式化方式、测试条件等参数。在电源框组中，输入的电源电压范围：15V，箝位电流最大值为250mA。在电平框组中，设置输入和输出电平，输入高、低电平范围：0V+15V，输出高、低电平范围：0V+12V。在测试模式框组中，有三种测试模式选择，FUN（功能测试），PMU（精密测量单元测试），DPS（程控电源测流）。在定时框组中，设置周期，输入定时，输出选通等时间参数，输入的定时以NS为单位。在格式化框组中，设置管脚的格式化方式。其中两按钮功能：完成管脚格式化的添加、修改操作。单击按钮，或快捷键：ALT_F，弹出格式化方式对话框（图十一）。格式化方式有四种：NRZ（非归零），RO（归一）,RZ（归零）,NRZ0（非归零），在方式选择框中选择一种，在管脚名选择框中选择要格式化的管脚名。单击按钮，在图十中的格式化框组中添加一个格式化方式。单击按钮，将修改图十中格式化框组中选择的格式化方式。单击按钮，定义的格式化方式无效。图十一：删除格式化框组中选择的格式化方式。在测试条件框组中，设置测试条件、测试的限值和测试图形。其中两按钮功能：删除测试条件框中选择的测试条件。：完成测试条件的添加、修改操作。测试条件框输入的条件依赖于测试模式框中的选择。下面分别说明。1) 测试模式选择FUN 单击 按钮，或快捷键ALT+E，弹出功能测试图形对话框（图十二）。图十二在此对话框中输入测试图形索引号和超时设定时间，该图形索引号是指图形文件中定义的测试功能的索引号；超时设定时间是指在功能测试时，设置图形运行的时间长度，超时自动退出，返回测试失效。用于GONP 指令执行匹配时使用。在Apgen框组中选择是否使用自动算法产生器APG。测试存储器时，要选择APG，将通道板转换为地址板使用。选择Apgen0：不使用APG。选择Apgen1：使用APG一块板。（使用8位地址）选择Apgen2：使用APG两块板。（使用16位地址）选择Apgen3：使用APG三块板。（使用24位地址）单击 按钮，或快捷键：ALT+A，在图十测试条件框组中添加一个功能测试，注意：测试条件框中只能有一个条件。单击 按钮，或快捷键：ALT+M，修改图十测试条件框组中已选择的功能测试条件。2) 测试模式选择PMU单击 按钮，或快捷键：ALT+E，弹出定义PMU限值对话框（图十三）。 图十三在此对话框中，选择测试方式，需要测试的管脚名，输入测试图形索引号，以及相关测试数据。测试方式有二种选择：FVMI：加压测流。FIMV：加流测压。选择FVMI：施加值编辑框输入施加的电压，输入范围：15V。箝位值编辑框输入电流箝位值，输入范围：0250mA。下限值、上限值编辑框输入测量电流期望值的限值。延时编辑框输入的时间是硬件施加后到回读数据之间的延迟时间。选择FIMV：施加值编辑框输入施加的电流，输入范围：250mA。箝位值编辑框输入电压箝位值，输入范围：015V。下限值、上